CN202351022U - 一种导引头位标器的光学测试平台 - Google Patents

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CN202351022U CN2011205594633U CN201120559463U CN202351022U CN 202351022 U CN202351022 U CN 202351022U CN 2011205594633 U CN2011205594633 U CN 2011205594633U CN 201120559463 U CN201120559463 U CN 201120559463U CN 202351022 U CN202351022 U CN 202351022U
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王继承
李玉涛
问会青
王卿
吴亚明
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Abstract

本实用新型涉及一种导引头位标器的光学测试平台，包括固定端以及活动端，固定端包括导轨、设置在导轨上并可沿导轨运动的底座、设置于底座上光学夹具、轴承，轴承的外圈与光学夹具固连，轴承的内圈与待测红外光学系统组件固连，活动端包括两维平移台、固定在两维平移台上的支架、固定与支架上的光学显微镜，光学夹具上所夹持的待测红外光学系统组件与光学显微镜处于同一光轴上。本实用新型通过为待测红外光学系统组件提供支撑的光学夹具和轴承，实现了待测红外光学系统组件的转动，通过转动待测红外光学系统组件来观测扫描圆的大小，从而实现了直角三维坐标测量以及圆周测量。

Description

一种导引头位标器的光学测试平台
技术领域
本实用新型属于光学工程应用领域，为导引头位标器提供红外圆锥扫描光学系统光学性能测试的功能。
背景技术
红外圆锥扫描光学系统广泛应用于各种导引头位标器中，为了提高光学系统像质及满足技术要求，就必须对红外光学系统性能进行有效测试和调节。红外位标器光学性能作为红外位标器的重要参数，对其测试方法的研究具有实际意义。由于红外圆锥扫描光学系统工作在高速旋转状态，因此不仅需要对静态下的光学系统性能进行测试，同时需要对动态下的光学系统性能进行测试。对红外位标器进行光学测试时，不仅需要确定光学系统成像焦平面的具体位置，同时需要确定光学系统成像扫描圆的直径。这就要求必须实现直角三维坐标测量以及圆周测量。目前，尚未出现能够满足位标器光学系统技术要求的目的测试平台。
发明内容
为了解决背景技术中存在的上述技术问题，本实用新型提供了一种结构简单、重复性好以及测试精度较高的导引头位标器的光学测试平台。
本实用新型的技术解决方案是：
一种导引头位标器的光学测试平台，其特殊之处在于：所述导引头位标器的光学测试平台包括固定端以及活动端；所述固定端包括导轨1、设置在导轨上并可沿导轨运动的底座2、设置于底座上光学夹具4、轴承5；所述轴承5的外圈与光学夹具4固连，所述轴承5的内圈与待测红外光学系统组件固连；所述活动端包括两维平移台8、固定在两维平移台上的支架7、固定与支架上的光学显微镜6；所述光学夹具4上所夹持的待测红外光学系统组件与光学显微镜处于同一光轴上。
上述光学显微镜是高倍光学显微镜。
本实用新型具有如下优点：
1、本实用新型通过为待测红外光学系统组件提供支撑的光学夹具和轴承，实现了待测红外光学系统组件的转动，通过转动待测红外光学系统组件来观测扫描圆的大小，从而实现了直角三维坐标测量以及圆周测量。
2、本实用新型设计了具有合适参数的高倍光学显微镜，该高倍光学显微镜可提供观察、检测红外光学系统成像质量的显微检测系统。
3、本实用新型采用了两维平移台，从而可以实现两维微调，以确定光学系统最佳像面。
4、本实用新型具有结构简单、制作方便，成本低廉，装夹可靠，减少装夹时间，，重复性好，易于操作，便于观测的优点。
5、本实用新型能够同时实现静态测试和动态测试两种测试，测试精度较高。
附图说明
图1是光学测试平台结构示意图；
图2是红外光学系统光学测试系统原理简图；
其中：1-导轨，2-底座，3-待测光学系统，4-光学夹具，5-轴承，6-光学显微镜，7-支架，8-两维平移台。
具体实施方式
本实用新型目的是为红外圆锥扫描光学系统提供光学性能测试的功能，从而对红外光学系统性能进行有效测试和调节。
参见图1和图2，本实用新型导引头位标器的光学测试平台，包括导轨1、底座2、光学夹具4、轴承5、高倍光学显微镜6、支架7、以及两维平移台8等组成。底座2放置在光学导轨1上，可实现X向大范围移动，同时光学夹具4固定在底座2上，可以通过轴承5进行旋转，实现绕X向圆周方向的测量。高倍光学显微镜6固定在两维平移台8上，可以实现X向以及Z向两维微距移动；整套光学测试平台固定在光学隔震平台上由其提供物理基准并有效隔震。光学测试平台须保证待测光学系统、平行光管、高倍光学显微镜三者的光轴一致。
本实用新型在静态测试时，光源模拟点目标，经过平行光管后，模拟无穷远处的红外平行光，经被测光学系统后，成像在焦平面上，通过调节光学测试平台观测扫描圆与弥散光斑，从而验证待测光学系统是否达到要求。当达到最佳像质时，读取光学系统成像扫描圆直径，并同时确定光学系统焦平面位置。同时，可标记光学系统扫描圆高点。
本实用新型在动态测试时，只需在静态测试基础上开启陀螺控制系统，使红外光学系统高速旋转，然后再调节光学测试平台观测扫描圆与弥散光斑，从而验证待测光学系统是否达到要求。当动态扫描圆不满足要求时，可通过在标记高点加平衡螺钉来测节，直至满足动态要求。
整个测试过程操作方便，经济实用，并能同时实现静态测试和动态测试两种测试，测试精度较高，重复性良好。使用上述测验方法，完成了多套位标器的红外光学系统测试工作，达到了预期的目的和要求。

Claims (2)

1.一种导引头位标器的光学测试平台，其特征在于：所述导引头位标器的光学测试平台包括固定端以及活动端；所述固定端包括导轨(1)、设置在导轨上并可沿导轨运动的底座(2)、设置于底座上光学夹具(4)、轴承(5)；所述轴承(5)的外圈与光学夹具(4)固连，所述轴承5的内圈与待测红外光学系统组件固连；所述活动端包括两维平移台(8)、固定在两维平移台上的支架(7)、固定与支架上的光学显微镜(6)；所述光学夹具(4)上所夹持的待测红外光学系统组件与光学显微镜处于同一光轴上。
2.根据权利要求1所述的导引头位标器的光学测试平台，其特征在于：所述光学显微镜是高倍光学显微镜。
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