CN202350734U - 粗糙测量仪的深槽传感器 - Google Patents

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韩芬英
郭勇
华强
黄海东
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Abstract

本实用新型公开了一种粗糙测量仪的深槽传感器，所述深槽传感器(1)包括测头(101)、支点(102)、磁芯(103)、线圈(104)、导磁外壳(202)、骨架(203)；所述测头(101)位于支点(102)的左边；所述磁芯(103)和线圈(104)位于支点(102)的右边；所述线圈(104)抱在磁芯(103)上。本实用新型结构简单可靠、测量精度高、外形小巧等优点。该产品适用于生产现场、科研实验室和工厂计量室测量槽宽槽深的表面粗糙度。

Description

粗糙测量仪的深槽传感器
技术领域
本实用新型公开了粗糙测量仪的深槽传感器，尤其涉及一种用于测量槽宽槽深的表面粗糙度的粗糙测量仪用深槽传感器。属于电子测控仪器技术领域。
背景技术
在粗糙测量仪现有技术中，传感器全部一概而论，不能根据不同被测物的种类、规格针对性的选择传感器，导致有些被测物的测量值产生误差、估测，影响测量精度；或者传感器根本接触不到被测物，从而传感器不工作导致无法实现测量。
现有技术中的传感器，种类过少，只能用于一些要求精度不高的产品测量，已经不适合用于一些运转速度快、装配精度高、密封性要求严的产品。
发明内容
本实用新型的目的在于克服上述现有技术中存在的不足之处，从而提供了一种用于槽宽槽深、测量平面、圆柱表面粗糙度的粗糙测量仪用深槽传感器。
本实用新型是通过如下的方法实现的：
一种粗糙测量仪的深槽传感器，其包括测头101、支点102、磁芯103、线圈104、导磁外壳202、骨架203；所述测头101位于支点102的左边；所述磁芯103和线圈104位于支点102的右边；所述线圈104抱在磁芯103上。
所述测头101呈“L”形。
所述测头101包括触针和导头。
所述支点102为顶针式的转轴结构。
所述磁芯103还包活动探头201。
所述线圈104包括初级绕组204和次级绕组205，206。
所述测头101的一端位于被测物301之上。
所述测头101所测的被测物301槽宽大于3mm。
所述测头101所测的被测物301槽深为0～10mm。
所述测头101与被测物301表面垂直接触，用驱动箱以一定的速度拖动传感器。由于被测物301表面轮廓峰谷起伏，测头101在被测物301表面滑行时，将产生上下移动。此运动经支点使磁芯同步地上下运动，从而使包围在磁芯103外面的两个线圈104的电感量发生变化，从而将位移量转换成电信号供后续处理(如图1)。两个次级线圈反相串联(如图2)。并且在忽略铁损、导磁体磁阻和线圈分布电容的理想条件下，其等效电路如图4所示。当初级绕组204加以激励电压U时，根据变压器的工作原理，在两个次级绕组205和206中便会产生感应电势E2a和E2b。如果工艺上保证变压器结构完全对称，则当活动衔铁处于初始平衡位置时，必然会使两互感系数M1＝M2。根据电磁感应原理，将有E2a＝E2b。由于变压器两次级绕组反相串联，因而Uo＝E2a-E2b＝0，即差动变压器输出电压为零。
本实用新型的有益效果：结构简单、外形小巧、携带及联机方便；支点为顶针式的转轴结构，具有灵敏度高、加工方便、线圈的电感量大和抗干扰能力强等优点。
附图说明
图1深槽传感器机械结构示意图
图2深槽传感器原理结构示意图
图3被测物与深槽传感器测量关系示意图
图4深槽传感器等效电路图
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步描述如下：
一种粗糙测量仪的深槽传感器，其包括测头(101)、支点(102)、磁芯(103)、线圈(104)、导磁外壳(202)、骨架(203)；所述测头(101)位于支点(102)的左边；所述磁芯(103)和线圈(104)位于支点(102)的右边；所述线圈(104)抱在磁芯(103)上。
进一步所述测头(101)呈“L”形。
进一步所述测头(101)包括触针和导头。
进一步所述支点(102)为顶针式的转轴结构。
进一步所述磁芯(103)还包活动探头(201)。
进一步所述线圈(104)包括初级绕组(204)和次级绕组(205，206)。
进一步所述测头(101)的一端位于被测物(301)之上。
进一步所述测头(101)所测的被测物(301)槽宽大于3mm。
进一步所述测头(101)所测的被测物(301)槽深为0～10mm。
进一步所述测头(101)的宽度为3mm，所述测头(101)的高度为10mm。
进一步所述深槽传感器具体可测量槽宽大于3mm，槽深小于10mm的沟槽；或者高度小于10mm的台阶的表面粗糙度，也可测量平面、柱面，配合测量平台TA610/TA620使用。

Claims (9)

1.粗糙测量仪的深槽传感器，其特征在于，所述深槽传感器包括测头(101)、支点(102)、磁芯(103)、线圈(104)、导磁外壳(202)、骨架(203)；所述测头(101)位于支点(102)的左边；所述磁芯(103)和线圈(104)位于支点(102)的右边；所述线圈(104)抱在磁芯(103)上。
2.根据权利要求1所述的粗糙测量仪的深槽传感器，其特征在于，所述测头(101)呈“L”形。
3.根据权利要求1所述的粗糙测量仪的深槽传感器，其特征在于，所述测头(101)包括触针和导头。
4.根据权利要求1所述的粗糙测量仪的深槽传感器，其特征在于，所述支点(102)为顶针式的转轴结构。
5.根据权利要求1所述的粗糙测量仪的深槽传感器，其特征在于，所述磁芯(103)还包活动探头(201)。
6.根据权利要求1所述的粗糙测量仪的深槽传感器，其特征在于，所述线圈(104)包括初级绕组(204)和次级绕组(205，206)。
7.根据权利要求1所述的粗糙测量仪的深槽传感器，其特征在于，所述测头(101)的一端位于被测物(301)之上。
8.根据权利要求1所述的粗糙测量仪的深槽传感器，其特征在于，所述测头(101)所测的被测物(301)槽宽大于3mm。
9.根据权利要求1所述的粗糙测量仪的深槽传感器，其特征在于，所述测头(101)所测的被测物(301)槽深为0～10mm。
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