CN202304762U - 应变检查仪器 - Google Patents

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Abstract

本实用新型提供一种应变检查仪器，所述应变检查仪器，通过采用发光二极管作为光源，并且在照明装置中配备能够在宽的面积上获得均匀的照射光的机构，实现照明装置的小型化，并且，以简单的结构，实现作为整个检查仪器的轻量化及简单化。在本实用新型的应变检查仪器中，包括：第一偏振片；第二偏振片，所述第二偏振片与所述第一偏振片具有任意距离地设置在该第一偏振片的对面，在所述第一偏振片侧形成检查面；漫射板，所述漫射板设置在所述第二偏振片的与所述第一偏振片侧相反侧的面上；照明装置，所述照明装置从所述漫射板的与所述第二偏振片侧相反的一侧的面对该漫射板照射光；保持器，所述保持器容纳所述照明装置；光源，所述光源配置在所述保持器的底面；在所述应变检查仪器中，所述光源是发光二极管，所述照明装置是使所述发光二极管发出的光均匀地照射的面照明装置。

Description

应变检查仪器
技术领域
本实用新型涉及光学测定仪器，更详细地说，涉及对于透过光的被检查体，利用光通过时产生的光弹性现象，根据作用到被检查体上的外部应力或者存在于被检查体中的内部应力检查应变的仪器。
背景技术
一般地，玻璃制品或者以丙烯酸类树脂为首的树脂制品等，由于加工时的热分布的不均衡等，有时会产生应变，这种应变成为引起强度降低及自然破坏等的主要原因。
因此，在考虑到质量管理及安全等方面时，在制品制造时及制品出厂时等，有必要对于制品内的残留应力设置基准值以进行检查，进行排除超过基准值的制品等质量检查及制品管理。
在玻璃制品或者以丙烯酸类树脂为首的树脂制品等透过光的制品的情况下，作为将制品内的应变可视化并进行检查的方法，广泛采用利用作为光学特性之一的光弹性现象的方法。
这种方法，在物体上产生外部应力或内部应力的情况下，在光通过该物体的内部时，利用光在该部分处双折射的现象，根据双折射的强弱及其分布状况，研究作用到物体上的外部应力或存在于物体的内部的内部应力的状态。
作为更具体的例子，可以列举出正交尼科耳棱镜(Nicol)法。
在这种方法中，以夹着被检查物体的方式，将两个偏振片使其偏光轴相对地旋转移动90度的状态配置，从一个偏振片的外侧向内部照射光，从另一个偏振片的外侧进行观察。
这里，在被检查体的内部不存在应变的情况下，通过第一个偏振片而变成直线偏振光的照射光，保持这种状态地在被检查体中通过，到达第二个偏振片，并且，被以偏光轴旋转移动90度的状态设置的第二个偏振片将照射光隔断。
因此，在从第二个偏振片的外侧观察时，光基本上被隔断，变成黑暗的。
与此相对，在被检查体的内部产生应变的情况下，在应变存在的部分，由于产生双折射，所以，通过第一个偏振片的直线偏振光的照射光，在被检查体中的产生应变的部分中进行双折射。
即，发生光弹性现象。
其结果是，在第二个偏振片的外侧，观察到对应于应变的大小的量的光，应变的分布状态以光的图样(例如，放射状或条纹状)显现。
这里，过去，作为照射上述照射光的装置的光源，利用荧光灯或白炽灯等具有漫射性的光源，但是，在利用荧光灯或白炽灯作为光源的情况下，在光源的特性方面，在照射光中产生色相不均匀或明暗差，这些成为在应变量测定时产生误差的主要原因。
因此，为了谋求照射光的平面均匀化，必须使光源与从光源照射的光最初碰到的漫射板的距离达到相当的程度，难以使照明装置小型化。
另外，由于荧光灯或白炽灯本身发出大量的热，所以，在将它们作为光源使用的情况下，为了不会因为光源本身的发热引起偏振片本身受热而引起应变，有必要在仪器内部确保大的空间及安装空气冷却用的风机等，所以，导致整个仪器的大型化、重量加大及结构的复杂化。
因此，作为光源，摸索采用小型化且能够发出大的光量，并且，与荧光灯及白炽灯相比，自身发出的热量少的发光二极管(LED)。
但是，发光二极管在特性上，照射光的方向性强，只通过将荧光灯或白炽灯换成发光二极管作为光源，很难获得为了检查具有一定大小的被检查体所需要的在宽阔的面积上均匀的照射光。
另一方面，使得照射光的方向性强的光源发出的照射光在宽阔的面积上均匀照射的技术是已知的(专利文献1)。
专利文献1：日本专利申请特开2008-27886号公报
实用新型内容
本实用新型是鉴于上述情况做出的。即，本实用新型的目的是提供一种应变检查仪器，所述应变检查仪器，作为检查玻璃制品等的应变的仪器中使用的照射光的光源，采用发光二极管，通过在照明装置中配备能够在宽阔的面积上获得均匀的照射光的机构，实现照明装置的小型化，并且，制成简单的结构，由此，实现整个仪器的小型化、轻量化及简单化。
为了解决上述课题，根据本实用新型的应变检查仪器，具有：
第一偏振片，
第二偏振片，所述第二偏振片以与所述第一偏振片具有任意的距离地设置在该第一偏振片的对面，在所述第一偏振片侧形成检查面，
漫射板，所述漫射板设置在所述第二偏振片的与所述第一偏振片侧相反的一侧的面上，
照明装置，所述照明装置从所述漫射板的与所述第二偏振片侧相反的一侧的面对该漫射板照射光，
保持器，所述保持器容纳所述照明装置，
光源，所述光源配置在所述保持器的底面，
在所述应变检查仪器中，其中，
所述光源是发光二极管，
所述照明装置是均匀地照射所述发光二极管发出的光的面照明装置。
根据本实用新型的应变检查仪器，采用发光二极管作为照射光的光源，在照明装置中配备能够在宽阔的面积上获得均匀的照射光的机构，由此，实现照明装置的小型化，并且，通过制成简单的结构，实现整个仪器的小型化、轻量化及简单化。
附图说明
图1是表示本实用新型的一种实施形式的应变检查仪器的透视图。
图2是表示根据本实用新型的一种实施形式的应变检查仪器的检偏振器及起偏振器的结构部件的分解图。
图3是表示根据本实用新型的一种实施形式的应变检查仪器的面照明装置及保持器的结构的剖视图。
具体实施方式
下面，参照附图详细说明根据本实用新型的应变检查仪器的一种实施形式。
图1是表示本实用新型的应变检查仪器1的整体图的透视图。
如图所示，应变检查仪器1由矩形的板构件2、嵌入板构件2的检偏振器3、支承板构件2的两个支柱4、兼作支柱4的基座的本体5、和设置在本体5的内部的起偏振器6构成。
图2是表示根据本实用新型的应变检查仪器1的检偏振器3及起偏振器6的结构部件的分解图。
如图所示，检偏振器3由圆板状的第一偏振片7构成。
起偏振器6由以和第一偏振片7夹着被检查体(图中未示出)的方式对面地设置的第二偏振片8、设置在第二偏振片8的下面的漫射板9、设置在漫射板9的下方的面照明装置10、容纳面照明装置10的保持器11、和配置在保持器11的底面中央的发光二极管12构成。
另外，如图2所示，分别构成检偏振器3及起偏振器6的各个部件配置于同一轴(检查轴)上，对于第一偏振片7与第二偏振片8之间的距离没有特定的限制，例如，可以根据被检查体的大小等适当地进行选择。
下面，对于作为本实用新型的特征的结构部分的面照明装置10进行详细地说明。
图3是表示根据本实用新型的应变检查仪器1的面照明装置10及保持器11的结构的剖视图。
如图所示，根据本实施形式的面照明装置10具有壳体18，所述壳体18在底面及侧面分别配备将光反射及漫反射的内侧反射部15及侧面反射部16，并且，在上表面配备作为使光透过、反射及漫反射的发射侧反射机构的发射侧反射部13，并且，在底面中央配备有发光二极管12用的开孔17。
发射侧反射部13配备有中央反射部13a和外方反射部13b，所述中央反射部13a在发光二极管12用的开孔17的正上方部分的规定范围内，所述外方反射部13b位于该中央反射部13a的外周周围。
外方反射部13b由具有规定的反射率且使一部分光透过、反射及漫反射的反射构件构成，中央反射部13a由具有比外方反射部13b的反射率高的反射率的光透过性的反射构件形成。
对于内侧反射部15、侧面反射部16及发射侧反射部13，采用光吸收少的材料。
即，壳体18由于具有其底面的内侧反射部15和侧面的侧面反射部16，所以，从发光二极管12发射的光不被这些反射部吸收，被多重反射。
从而，成为能够基本上利用从发光二极管12发射出来的全部的光的结构。
根据上面说明的面照明装置10，从发光二极管照射的方向性强的光，其中一定量的透过中央反射部13a，剩余的光被中央反射部13a反射。
被中央反射部13a反射的光，一边被内侧反射部15、侧面反射部16及外方反射部13b多重反射，一边透过外方反射部13b。
借此，由于能够限制光量大的中央部分的光透过量，增大中央以外的部分的光透过量，所以，可以谋求照射光的均匀化。
另外，由于能够在壳体18内使从发光二极管照射的光多重反射，所以，与过去的照明装置相比，可以减小高度方向的尺寸，即可以小型化。
这里，外方反射部13b可以配备有随着远离中央而开口面积变大的多个环状或者狭缝状等的开口部14。
从而，由于可以随着远离中央而使光透过量增大，所以，可以使照射光更加均匀化。
另外，对于以中央反射部13a为首的各个部分的具体的材质等，没有特定的限制，可以适当地进行选择。
例如，作为中央反射部13a，可以利用公知的光学反射板，另外，也可以真空镀敷光学反射膜来形成等。
另外，作为发射侧反射部13，也可以采用毛玻璃等光漫射板。
作为面照明装置10，具体地，可以利用特许第4280283号公报记载的装置，作为更具体的制品的例子，可以采用“フラツタ”(株式会社オプトデザイン制)。
在上面的描述中，对于本实用新型的优选实施形式之一进行了说明，但是，不言而喻，本实用新型并不局限于上述实施形式，在不超出本实用新型的主旨的范围内，可以进行各种改变。
例如，在上述实施形式中，作为光源，采用一个发光二极管，但是，发光二极管的个数并不局限于一个，为了获得更多的光量，当然可以将多个发光二极管集中起来使用。
发光二极管可以采用包含由作为光的三原色的红、绿及蓝的发光元件的发光二极管。
另外，发光二极管也可以采用表面安装型。
进而，在上述实施形式中，将发光二极管配置在保持器11的底面中央，但是，只要能够通过改变面照明装置的各部分的反射率等获得均匀的照射光，根据仪器内的设计情况等，配置在保持器11的底面的任意位置。
附图标记说明
1应变检查仪器
2板构件
3检偏振器
4支柱
5本体
6起偏振器
7第一偏振片
8第二偏振片
9漫射板
10面照明装置
11保持器
12发光二极管
13发射侧反射部
13a中央反射部
13b外方反射部
14开口部
15内侧反射部
16侧面反射部
17开孔
18壳体

Claims (4)

1.一种应变检查仪器，根据作用于透过光的物体上的外部应力或存在于物体中的内部应力来检查应变，其特征在于，所述应变检查仪器包括：
第一偏振片；
第二偏振片，所述第二偏振片与所述第一偏振片具有任意距离地设置在该第一偏振片的对面，在所述第一偏振片侧形成检查面；
漫射板，所述漫射板设置在所述第二偏振片的与所述第一偏振片侧相反的一侧的面上；
照明装置，所述照明装置从所述漫射板的与所述第二偏振片侧相反的一侧的面对该漫射板照射光；
保持器，所述保持器容纳所述照明装置；
和光源，所述光源配置在所述保持器的底面，
在所述应变检查仪器中，
所述光源是发光二极管，
所述照明装置是使所述发光二极管发出的光均匀地照射的面照明装置。
2.如权利要求1所述的应变检查仪器，其特征在于，
所述发光二极管是一个发光二极管或者是多个发光二极管的集合体。
3.如权利要求1或2所述的应变检查仪器，其特征在于，
所述发光二极管是包括作为光的三原色的红、绿及蓝的发光元件的发光二极管。
4.如权利要求1至3中任何一项所述的应变检查仪器，其特征在于，
所述发光二极管是表面安装型的。
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