CN202110224U - 联合电压试验测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种联合电压试验测试装置，它包括依次相互连接的工频电压信号整形器、单片机控制中心、驱动器以及高压脉冲变压器，单片机控制中心与触发器连接，工频电压信号整形器将工频电压信号整形并送入单片机控制中心，接收到触发器发送的触发指令的单片机控制中心将工频信号延时，并发出控制指令至驱动器，驱动器驱动高压脉冲变压器输出高压脉冲。本实用新型联合电压试验测试装置通过工频电压信号整形器、单片机控制中心、驱动器、高压脉冲变压器及触发器使得可进行联合电压试验，且具有产生冲击电压的电压波形好，幅值大的优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种联合电压试验测试装置。
背景技术
联合电压试验是两个单独电源产生的电压分别在试品的两端施加对地电压，在试验中可以是雷电冲击，操作冲击，直流或工频交流电压中任意两个电压的联合，其试验电压值是指试品两端最大的电位差，通过加在试品两端的工频电压试验变压器及冲击电压发生器，用示波器测量和记录两个电压波形，试验的方式为在工频电压为峰值时，冲击电压发生器输出反向的冲击波，测出工频电压波形，及雷电电压波形，当工频电压为负峰值时，给出一个正向的冲击电压波，此时试品两端的电压为工频峰值电压叠加冲击电压，即试验电压，但是，目前市场上没有现成可用的进行联合电压试验的测试装置。
实用新型内容
为克服上述缺点，本实用新型提供了一种能够进行雷电冲击、操作冲击与工频交流电压组合的联合电压试验测试装置。
为了达到以上目的，本实用新型采用的技术方案是：一种联合电压试验测试装置，它包括依次相互连接的工频电压信号整形器、单片机控制中心、驱动器以及高压脉冲变压器，所述单片机控制中心与触发器连接，所述工频电压信号整形器将工频电压信号整形并送入单片机控制中心，接收到所述触发器发送的触发指令的单片机控制中心将工频信号延时，并发出控制指令至所述驱动器，所述驱动器驱动所述高压脉冲变压器输出高压脉冲。
优选地，所述工频电压信号整形器包括由单电源供电的运放电路及由电阻及电容构成的滤波电路，所述运放电路包括运算放大器、与所述运算放大器的同相输入端和反相的输入端相连接的两个二极管、与所述运算放大器的反相输入端相连接的电阻，所述电阻的一端接地。
优选地，所述单片机控制中心包括一型号为STC12C5406AD的单片机芯片、与所述单片机芯片的6号、7号管脚连接的晶振及其辅助电路、与所述单片机芯片的4号、5号管脚连接的串口电路及与所述单片机芯片的3号管脚连接的复位 电路。
优选地，所述触发器为一与所述单片机芯片的15号管脚相连接的触发开关按钮。
优选地，所述驱动器采用交直流两用电子开关，所述交直流两用电子开关包括IGBT管，与所述IGBT管串联的桥式整流，与所述IGBT管并联的过电压保护电路，与所述IGBT管串联的过电流保护电路，所述IGBT管的控制极与控制极保护电路连接。
优选地，所述过电压保护电路包括与IGBT管并联的两电容、电阻及二极管。
优选地，所述过电流保护电路包括与IGBT管串联的电感及二极管。
优选地，所述控制极保护电路包括两个反向串联的二极管及一电阻。
由于采用了上述技术方案，不难看出本实用新型联合电压试验测试装置通过工频电压信号整形器、单片机控制中心、驱动器、高压脉冲变压器及触发器使得可进行联合电压试验，且具有产生冲击电压的电压波形好，幅值大的优点。
附图说明
图1为本实施例的系统框图；
图2为本实施例的工频电压信号整形的原理图；
图3为本实施例的单片机控制中心的原理图；
图4为本实施例的驱动器的原理图。
图中：
1-工频电压信号整形器；2-单片机控制中心；3-驱动器；4-高压脉冲变压器；5-触发器；S1-滤波电路；S2-运放电路；Y1-晶振及其辅助电路；COM-串口电路；SW1-触发开关按钮；Q1-IGBT管；R1～R4-电阻；C1、C2、DS1-电容；U3A-运算放大器；D1～D6-二极管；L1-电感。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。
参见图1所示，本实施例的一种联合电压试验测试装置，它包括依次相互 连接的工频电压信号整形器1、单片机控制中心2、驱动器3以及高压脉冲变压器4，单片机控制中心2与触发器5连接，工频电压信号整形器1将工频电压信号整形并送入单片机控制中心2，接收到触发器5发送的触发指令的单片机控制中心2将工频信号延时，并发出控制指令至驱动器3，驱动器3驱动高压脉冲变压器4输出高压脉冲。
如图2所示的工频电压信号整形的原理图，工频电压信号整形器1包括由单电源供电的运放电路S2及由电阻R1及电容C1构成的滤波电路S1，由于输入电压的幅值较高，则采用单电源具有产生的误差较小的优点，其中，运放电路S2包括运算放大器U3A、与运算放大器U3A的同相输入端和反相的输入端相连接的两个二极管D1、D2，与运算放大器U3A的反相输入端相连接的电阻R2，电阻R2的一端接地。
如图3所示的单片机控制中心的原理图，单片机控制中心2包括一型号为STC12C5406AD的单片机芯片、与单片机芯片的6号、7号管脚连接的晶振及其辅助电路Y1、与单片机芯片的4号、5号管脚连接的串口电路COM及与单片机芯片的3号管脚连接的复位电路，触发器5为一与单片机芯片的15号管脚相连接的触发开关按钮SW1，当触发开关按钮SW1按下时，触发器5发送一触发指令至单片机控制中心2。
如图4所示的驱动器的原理图，驱动器3采用交直流两用电子开关，交直流两用电子开关包括IGBT管Q1，与IGBT管Q1串联的桥式整流，桥式整流将输入的交流电转化为直流电，与IGBT管Q1并联的过电压保护电路，与IGBT管Q1串联的过电流保护电路，IGBT管Q1的控制极与控制极保护电路连接，其中，过电压保护电路包括与IGBT管Q1并联的两电容C2、DS1、电阻R3及二极管D6；过电流保护电路包括与IGBT管Q1串联的电感L1及二极管D3；控制极保护电路包括两个反向串联的二极管D4、D5及一电阻R4。
以上实施方式只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人了解本实用新型的内容并加以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围，凡根据本实用新型精神实质所做的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。
Claims (8)
1.一种联合电压试验测试装置，其特征在于：它包括依次相互连接的工频电压信号整形器、单片机控制中心、驱动器以及高压脉冲变压器，所述单片机控制中心与触发器连接，所述工频电压信号整形器将工频电压信号整形并送入单片机控制中心，接收到所述触发器发送的触发指令的单片机控制中心将工频信号延时，并发出控制指令至所述驱动器，所述驱动器驱动所述高压脉冲变压器输出高压脉冲。
2.根据权利要求1所述的联合电压试验测试装置，其特征在于：所述工频电压信号整形器包括由单电源供电的运放电路及由电阻及电容构成的滤波电路，所述运放电路包括运算放大器、与所述运算放大器的同相输入端和反相的输入端相连接的两个二极管、与所述运算放大器的反相输入端相连接的电阻，所述电阻的一端接地。
3.根据权利要求1所述的联合电压试验测试装置，其特征在于：所述单片机控制中心包括一型号为STC12C5406AD的单片机芯片、与所述单片机芯片的6号、7号管脚连接的晶振及其辅助电路、与所述单片机芯片的4号、5号管脚连接的串口电路及与所述单片机芯片的3号管脚连接的复位电路。
4.根据权利要求1或3所述的联合电压试验测试装置，其特征在于：所述触发器为一与所述单片机芯片的15号管脚相连接的触发开关按钮。
5.根据权利要求1所述的联合电压试验测试装置，其特征在于：所述驱动器采用交直流两用电子开关，所述交直流两用电子开关包括IGBT管，与所述IGBT管串联的桥式整流，与所述IGBT管并联的过电压保护电路，与所述IGBT管串联的过电流保护电路，所述IGBT管的控制极与控制极保护电路连接。
6.根据权利要求5所述的联合电压试验测试装置，其特征在于：所述过电压保护电路包括与IGBT管并联的两电容、电阻及二极管。
7.根据权利要求5所述的联合电压试验测试装置，其特征在于：所述过电流保护电路包括与IGBT管串联的电感及二极管。
8.根据权利要求5所述的联合电压试验测试装置，其特征在于：所述控制极保护电路包括两个反向串联的二极管及一电阻。
Priority Applications (1)
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| CN2011201231626U CN202110224U (zh) | 2011-04-23 | 2011-04-23 | 联合电压试验测试装置 |
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| CN (1) | CN202110224U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111983271A (zh) * | 2019-05-21 | 2020-11-24 | 上海海拉电子有限公司 | 一种用于高压绝缘测试的保护电路 |
| CN116699346A (zh) * | 2023-08-08 | 2023-09-05 | 西安高压电器研究院股份有限公司 | 一种工频耐压试验回路与工频耐压试验方法 |
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2011
- 2011-04-23 CN CN2011201231626U patent/CN202110224U/zh not_active Expired - Fee Related
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