CN202057310U - 用于深腔盲孔测量的双远心内窥成像装置 - Google Patents

用于深腔盲孔测量的双远心内窥成像装置 Download PDF

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姜涛
向阳
曹国华
丁红昌
胡磊
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Abstract

本实用新型是一种用于深腔盲孔测量的双远心内窥成像装置,涉及深腔盲孔直径、倒角等物理量的测量。装置包括:五棱镜1、双远心光学系统2、镜筒3、导光光纤4、CCD5、照明镜头6等。利用进给机构将双远心内窥成像装置伸入到被试品深腔中,深腔内壁小盲孔通过五棱镜1视像角转折90度后,通过双远心光学系统2成像到CCD5上,最终显示在图像接收器上,经过图像采集与处理将其小盲孔各项参数求解计算得出测量结果。

Description

用于深腔盲孔测量的双远心内窥成像装置
技术领域
本实用新型涉及一种用于深腔盲孔测量的双远心内窥成像装置,属于计量测试技术领域。 
背景技术
在计量测试领域中,对深腔盲孔进行高精度无损测量一直是精密测量技术中的难题之一。在现有的测量技术中:传统几何量测试用接触式或非接触式传感器都无法进入深腔小盲孔;采用光学测量法,无法实现精确定位、精密瞄准;常规商品化圆度仪受传感器结构和尺寸的限制,无法进行深腔小盲孔测量。 
现有的非接触测量技术主要有光学测量法、气动测量法、电容测量法和光纤测量法。对于非接触测量小盲孔,有一些新方法和专利技术,但是对测量深腔小盲孔都存在一些局限性。例如: 
“基于隧道电流反馈瞄准的小盲孔测量方法及测量装置”【申请号:201010120904.x】,该方法是利用隧道显微镜及移动平台和转台实现小盲孔精密测量,测量精度高,但是该测量装置无法深入深腔中,对于深腔盲孔测量是无效的。 
“微孔自动测量方法及装置”【申请号:02137742.1】,该方法使用显微物镜和CCD采集显微图像,通过图像处理技术测量小孔参数,其缺点是不能精确测量深腔盲孔。 
“细长小孔超精密自动测量系统研究及其精度分析”【刘笃喜,柴艳波,朱名铨,液压与气动,8(2007):50-52】,采用气动测量方法,缺点只能测量通孔,无法测量盲孔。 
“电容传感微小孔径测量方法”【孙长库,王小兵,刘斌,郑义忠,纳米技术与精密工程,4,2(2006):103-106】,该方法仅可以测量直径1.5mm以上的小孔。因此,现有技术不能对深腔盲孔进行精密测量。 
发明内容
本实用新型目的是克服现有技术存在的上述不足,提出一种用于深腔盲孔测量的双远心内窥成像装置。 
本实用新型是这样实现的。见图1所示,用于深腔盲孔测量的双远心内窥成像装置由五棱镜1、双远心光学系统2、镜筒3、导光光纤4、CCD5、照明镜头6等构成;五棱镜1放置该装置的最前端,双远心光学系统2接着五棱镜1放置在装置中,并且五棱镜1出射面法线 与双远心光学系统2中心线平行,1/6′CCD5放置在双远心内窥光学系统的像面上,导光光纤4放置在光学系统的外部,将冷光源出射光导到照明镜头6的位置为其被试品提供照明,五棱镜将被照亮的深腔侧壁的小盲孔转折90°,经过双远心光学系统后成像到CCD上,实现小盲孔的测量。 
本发明的有益效果 
本实用新型之技术效果在于,如图1所示,利用五棱镜及双远心内窥光学系统构成的远心内窥光学系统(如图2所示)及CCD对深腔小盲孔进行成像后实现测量。由于该技术采用双远心内窥光学成像系统,该系统放大倍率为光学系统固有放大倍率与工作距无关,被标定后可实现对深腔盲孔直径、倒角等参数高精度测量。 
附图说明
附图1本实用新型之用于深腔盲孔测量的双远心内窥成像装置示意图; 
附图2本实用新型之双远心内窥光学系统示意图。 
附图1中,1是五棱镜,2是双远心光学系统,3是镜筒,4是导光光纤,5是1/6′CCD,6是照明镜头。 
附图2为双远心内窥光学系统,由五棱镜、物方远心镜组和像方远心镜组组成。 
具体实施方式
测量前,将被试品夹持在固定工装台上,利用进给机构将双远心内窥成像装置伸入到被试品深腔中。测量时,利用进给机构让测量装置在深腔中旋转和平动,通过图像接收器找到被测小盲孔后,小盲孔通过五棱镜1视像角转折90度后,通过双远心光学系统2成像到CCD5上,最终显示在图像接收器上,经过图像采集与处理将其小盲孔各项参数求解计算得出测量结果。 
以上所述为本实用新型的较佳实施例,并非用来限定本实用新型的实施范围,凡依本实用新型明的权利要求范围所作的等效变化与修饰,均属于本实用新型的保护范围内。 

Claims (2)

1.用于深腔盲孔测量的双远心内窥成像装置包括壳体、五棱镜、双远心内窥光学系统、导光光纤、照明镜头、CCD等;其特征在于:五棱镜将深腔侧壁的小盲孔转折90°,经过双远心光学系统后成像到CCD上。
2.根据权利要求1所述用于深腔盲孔测量的双远心内窥成像装置,其特征在于:双远心内窥光学系统由物方远心镜组和像方远心镜组构成。 
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106441159A (zh) * 2016-12-07 2017-02-22 西京学院 一种基于平行成像的光学精细测量的方法
CN110608682A (zh) * 2019-07-10 2019-12-24 长春理工大学 一种机械零部件轮廓测量装置

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