CN201852543U - 一种测量矢高的仪器 - Google Patents

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    • G—PHYSICS
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Abstract

一种测量矢高的仪器，包括底座（8）、直线导轨（10）、支撑座及旋转盘（7）、导轨滑块（11）上带有一测量装置可在直线导轨（10）的滑槽内上下滑动，立板（8）的顶端由有顶部挡板（12）固定，其特征在于：所述的支撑座及旋转盘（7）上设有抛光磨具测量座（5）和旋转夹紧手柄（6）。采用本实用新型结构，通过更换抛光磨具测量座上的校正块，它既可以测量磨具的凸面，也可以测量凹面，而且量程大、精度高，使用方便。精度达到0.001mm，准确性达到0.006mm，量程达到50mm。

Description

一种测量矢高的仪器
技术领域
本实用新型涉及一种测量仪器，它能够测量磨具或镜片的矢高，此矢高测量工具即能够测量模具或镜片的凹面，也能够测量模具或镜片的凸面，而且此工具采用固定位置测量方式，非手持式，从而保证了测量的稳定性。
背景技术   
镜片的屈光度取决于前后表的弯度和镜片的折射率。而车房镜的生产，屈光度的准确性同样取决于这3个因素。所以半成品前表面的准确性、生产设备的可靠性、以及生产过程中使用的磨具表面的弯度必须进行严格控制。
目前国内也有部分厂商生产测量磨具的矢高仪，校正用的矢高仪、测量镜片表面的矢高仪等。但这些矢高仪只能测量凸面，或者只能测量凹面或者只能校正设备用，不能一个仪器测量几种表面，而且均采用手持方式，造成精度不高。
发明内容
针对以上不足，本实用新型的目的在于提供一种测量矢高的仪器，通过更换抛光磨具测量座上的校正块，实现测量磨具的凸面、凹面，而且量程大、精度高，使用方便。
本实用新型的技术方案是通过以下方式实现的：一种测量矢高的仪器，包括底座、直线导轨、支撑座及旋转盘、所述的底座的上面设有支撑座及旋转盘和弹簧及弹簧导柱，侧面设有立板，立板上设有直线导轨，导轨滑块上带有一测量装置，沿着直线导轨的滑槽内上下滑动，立板的顶端由有顶部挡板固定，其特征在于：所述的支撑座及旋转盘上设有抛光磨具测量座和旋转夹紧手柄。
所述的测量装置是由测量表、测量头和测量手柄组成。
所述的抛光磨具测量座上可设有镜片测量座、安装校正块、镜片测量使用校正块或磨具测量使用校正块。
采用本实用新型结构，通过更换抛光磨具测量座上的校正块，它既可以测量磨具的凸面（测量磨具和半成品前表面），也可以测量凹面（设备校正），而且量程大（46mm的测量范围）、精度高（精确到千分位），使用方便（数显，字体大，容易读数）。精度达到0.001mm，准确性达到0.006mm，量程达到50mm。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
由图1知，是本实用新型的结构示意图。由底座8、直线导轨10、支撑座及旋转盘7、所述的底座8的上面设有支撑座及旋转盘7和弹簧及弹簧导柱4，侧面设有立板9，立板9上设有直线导轨10，导轨滑块11上带有一测量装置可在直线导轨10的滑槽内上下滑动，立板8的顶端由有顶部挡板12固定，其特征在于：所述的支撑座及旋转盘7上设有抛光磨具测量座5和旋转夹紧手柄6。测量装置是由测量表1、测量头3和测量手柄2组成。抛光磨具测量座5上可设有镜片测量座、安装校正块、镜片测量使用校正块或磨具测量使用校正块。
该测量矢高的仪器采用固定位置安装方式，非手持式。此仪器可测量模具或镜片的凸面，也能够测量模具或镜片的凹面。
测量矢高的仪器通过更换磨具测量座5和镜片测量表座分别进行车房抛光磨具的测量和半成品凸面的测量。
测量矢高的仪器的调校通过安装校正块、镜片测量使用校正块和磨具测量使用校正块完成。所以校正块的加工精度要求很高。

Claims (3)

1.一种测量矢高的仪器，包括底座（8）、直线导轨（10）、支撑座及旋转盘（7）、所述的底座（8）的上面设有支撑座及旋转盘（7）和弹簧及弹簧导柱（4），侧面设有立板（9），立板（9）上设有直线导轨（10），导轨滑块（11）上带有一测量装置可在直线导轨（10）的滑槽内上下滑动，立板（8）的顶端由有顶部挡板（12）固定，其特征在于：所述的支撑座及旋转盘（7）上设有抛光磨具测量座（5）和旋转夹紧手柄（6）。
2.根据权利要求1所述的一种测量矢高的仪器，其特征在于：所述的测量装置是由测量表（1）、测量头（3）和测量手柄（2）组成。
3.根据权利要求1所述的一种测量矢高的仪器，其特征在于：所述的抛光磨具测量座（5）上可设有镜片测量座、安装校正块、镜片测量使用校正块或磨具测量使用校正块。
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