CN201852543U - 一种测量矢高的仪器 - Google Patents
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Abstract
一种测量矢高的仪器,包括底座(8)、直线导轨(10)、支撑座及旋转盘(7)、导轨滑块(11)上带有一测量装置可在直线导轨(10)的滑槽内上下滑动,立板(8)的顶端由有顶部挡板(12)固定,其特征在于:所述的支撑座及旋转盘(7)上设有抛光磨具测量座(5)和旋转夹紧手柄(6)。采用本实用新型结构,通过更换抛光磨具测量座上的校正块,它既可以测量磨具的凸面,也可以测量凹面,而且量程大、精度高,使用方便。精度达到0.001mm,准确性达到0.006mm,量程达到50mm。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测量仪器,它能够测量磨具或镜片的矢高,此矢高测量工具即能够测量模具或镜片的凹面,也能够测量模具或镜片的凸面,而且此工具采用固定位置测量方式,非手持式,从而保证了测量的稳定性。
背景技术
镜片的屈光度取决于前后表的弯度和镜片的折射率。而车房镜的生产,屈光度的准确性同样取决于这3个因素。所以半成品前表面的准确性、生产设备的可靠性、以及生产过程中使用的磨具表面的弯度必须进行严格控制。
目前国内也有部分厂商生产测量磨具的矢高仪,校正用的矢高仪、测量镜片表面的矢高仪等。但这些矢高仪只能测量凸面,或者只能测量凹面或者只能校正设备用,不能一个仪器测量几种表面,而且均采用手持方式,造成精度不高。
发明内容
针对以上不足,本实用新型的目的在于提供一种测量矢高的仪器,通过更换抛光磨具测量座上的校正块,实现测量磨具的凸面、凹面,而且量程大、精度高,使用方便。
本实用新型的技术方案是通过以下方式实现的:一种测量矢高的仪器,包括底座、直线导轨、支撑座及旋转盘、所述的底座的上面设有支撑座及旋转盘和弹簧及弹簧导柱,侧面设有立板,立板上设有直线导轨,导轨滑块上带有一测量装置,沿着直线导轨的滑槽内上下滑动,立板的顶端由有顶部挡板固定,其特征在于:所述的支撑座及旋转盘上设有抛光磨具测量座和旋转夹紧手柄。
所述的测量装置是由测量表、测量头和测量手柄组成。
所述的抛光磨具测量座上可设有镜片测量座、安装校正块、镜片测量使用校正块或磨具测量使用校正块。
采用本实用新型结构,通过更换抛光磨具测量座上的校正块,它既可以测量磨具的凸面(测量磨具和半成品前表面),也可以测量凹面(设备校正),而且量程大(46mm的测量范围)、精度高(精确到千分位),使用方便(数显,字体大,容易读数)。精度达到0.001mm,准确性达到0.006mm,量程达到50mm。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
由图1知,是本实用新型的结构示意图。由底座8、直线导轨10、支撑座及旋转盘7、所述的底座8的上面设有支撑座及旋转盘7和弹簧及弹簧导柱4,侧面设有立板9,立板9上设有直线导轨10,导轨滑块11上带有一测量装置可在直线导轨10的滑槽内上下滑动,立板8的顶端由有顶部挡板12固定,其特征在于:所述的支撑座及旋转盘7上设有抛光磨具测量座5和旋转夹紧手柄6。测量装置是由测量表1、测量头3和测量手柄2组成。抛光磨具测量座5上可设有镜片测量座、安装校正块、镜片测量使用校正块或磨具测量使用校正块。
该测量矢高的仪器采用固定位置安装方式,非手持式。此仪器可测量模具或镜片的凸面,也能够测量模具或镜片的凹面。
测量矢高的仪器通过更换磨具测量座5和镜片测量表座分别进行车房抛光磨具的测量和半成品凸面的测量。
测量矢高的仪器的调校通过安装校正块、镜片测量使用校正块和磨具测量使用校正块完成。所以校正块的加工精度要求很高。
Claims (3)
1.一种测量矢高的仪器,包括底座(8)、直线导轨(10)、支撑座及旋转盘(7)、所述的底座(8)的上面设有支撑座及旋转盘(7)和弹簧及弹簧导柱(4),侧面设有立板(9),立板(9)上设有直线导轨(10),导轨滑块(11)上带有一测量装置可在直线导轨(10)的滑槽内上下滑动,立板(8)的顶端由有顶部挡板(12)固定,其特征在于:所述的支撑座及旋转盘(7)上设有抛光磨具测量座(5)和旋转夹紧手柄(6)。
2.根据权利要求1所述的一种测量矢高的仪器,其特征在于:所述的测量装置是由测量表(1)、测量头(3)和测量手柄(2)组成。
3.根据权利要求1所述的一种测量矢高的仪器,其特征在于:所述的抛光磨具测量座(5)上可设有镜片测量座、安装校正块、镜片测量使用校正块或磨具测量使用校正块。
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