CN201819667U - 一种高精度测量仪器 - Google Patents
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Abstract
本实用新型是一种高精度测量仪器，尤其涉及一种高精度电子数显千分尺的结构设计。其特征在于，它包括固定的尺架(101)和尺杆(102)，所述尺架(101)套在所述尺杆(102)的一端，所述尺架(101)呈半圆形；所述尺架(101)还包括测砧(103)、锁紧装置(104)和隔热装置(105)；所述隔热装置(105)位于尺架(101)表面上，测钻(103)位于所述尺架(101)的上端的一侧；所述锁紧装置(104)位于尺架(101)上端的另一侧；所述测钻(103)与所述锁紧位置(104)是位于所述尺架(101)的两侧。该实用新型使工作人员以及非工作人员操作简单，测量可靠，读数直观，功能齐全，降低成本等优点。
Description
发明领域
本实用新型是一种高精度测量仪器，尤其涉及一种高精度电子数显千分尺的结构设计。属于机械工业领域。
背景技术
目前，一些工作人员还在普遍用机械式千分尺，读数时，先以微分筒的端面为准线，读出固定套管下刻度线的分度值(只读出以毫米为单位的整数)，再以固定套管上的水平横线作为读数准线，读出可动刻度上的分度值，读数时应估读到最小刻度的十分之一，即0.001毫米。如果微分筒的端面与固定刻度的下刻度线之间无上刻度线，测量结果即为下刻度线的数值加可动刻度的值；如微分筒端面与下刻度线之间有一条上刻度线，测量结果应为下刻度线的数值加上0.5毫米，再加上可动刻度的值，有的千分尺的可动刻度分为100等分，螺距为1毫米，其固定刻度上不需要半毫米刻度，可动刻度的每一等分仍表示0.01毫米。有的千分尺，可动刻度为50等分，而固定刻度上无半毫米刻度，只能用眼进行估计。对于已消除零误差的千分尺，当微分筒的前端面恰好在固定刻度下刻度线的两线中间时，若可动刻度的读数在40-50之间，则其前沿未超过0.5毫米，固定刻度读数不必加0.5毫米；若可动刻度上的读数在0-10之间，则其前端已超过下刻度两相邻刻度线的一半，固定刻度数应加上0.5毫米。当测微螺杆与测砧接触后，可动刻度上的零线与固定刻度上的水平横线应该是对齐的，如果没有对齐，测量时就会产生系统误差——零误差。如无法消除零误差，则应考虑它们对读数的影响。对于存在零误差的千分尺，测量结果应等于读数 减去零误差，即物体长度＝固定刻度读数+可动刻度读数-零误差。像上述这样一个繁琐的工作程序，给工作人员增加工作量，新员工难以接收，操作复杂，效率低，测量读数误差大等缺点。
发明内容
为了解决目前市场上测量工具充在不足之处，特研制了一种本实用新型中提到的高精度测量仪器，测量系统中应用了光栅测长技术和集成电路等。其主要特征在于，它包括固定的尺架101和尺杆102，所述尺架101套在所述尺杆102的一端，所述尺架101呈半圆形；所述尺架101还包括测砧103、锁紧装置104和隔热装置105；所述隔热装置105位于尺架101表面上，测钻103位于所述尺架101的上端的一侧；为了获得正确的测量结果，应减少温度对测量结果的影响，检定该测量仪的各项技术参数是在一定的温度条件下进行的，使用测量仪进行精密测量时，应该与检定该测量仪相同的环境下进行，这样可以少温度差引起的测量误差。当不能满足这一要求时，应该使被测件和所使用的测量仪在同一条件放置一段时间，使它们的温度相同后再进行测量。测量时，第一要用手拿住隔热板，第二动作要快，以防手的温度传到尺架上，致使尺架变形，引起测量仪示值误差的变化。这点尤为重要。所述锁紧装置104位于尺架101上端的另一侧；所述测钻103与所述锁紧位置104是位于所述尺架101的两侧；所述尺杆还包括测微螺杆106、数显装置107、固定套管108、微分筒109、旋钮110、测力装置111和棘轮旋柄112；所述测微螺杆106、数显装置107、固定套管108、微分筒109、旋钮110、测力装置111、棘轮旋柄112位于所述尺杆上；所述位 于尺杆的顺序从左往右依次是：测微螺杆106、数显装置107、固定套管108、微分筒109、旋钮110、棘轮旋柄112和测力装置111；所述固定套管108纵刻线与其轴线不平行时，必将导致测微螺杆106运动方向与所述固定套管108纵刻线不平行；所述数显装置107还包括按键113、容栅传感器114、液晶显示屏115、扬声器201；容栅传感器114是一大类变面积原理的电容传感器，它的电极不止一对，电极排列呈梳状，故称为容栅传感器。这是数显卡尺的核心组成部分，它具有三大优点：
a、为同组中有多个电极或多个电极并联，极大地提高了灵敏度；
b、一个大极距内有多个发射电极，可细分，实现小位移测量；在定尺上有多个大电极，可计数，实现大位移测量；
c、由于增加了反射电极，通过它的电容耦合和电荷传递作用，使得传感器的活动部分(动尺)与测量线路之间没有活动的引线。
所述按键113、液晶显示屏位于所述数显装置107面向工作人员的一面；所述扬声器201位所述数显装置107的后面。
所述容栅传感器114由动尺3a和定尺3b两部分组成；所述动尺3a上有发射极(301)6组：A、B、C、D、E、F，每组有8个电组，还有一个接收极302；所述动尺3a还包括集成电路芯片，所述集成电路芯片安装在所述动尺3a的正面；所述动尺3b还包括反射极303和屏蔽极304。
进一步，所述测量仪可以准确读出0.01毫米的数值。
本实用新型是一种高精度测量仪器，它读数直观，无视差，尤其对于视力差的人使用非常方便；进行公制或英制测量时，只按一下按钮即可，不需要换算；可进行相对测量和绝对测量；可储存数据；无声测力；可以在测量范围内 任意位置置“0”；进行比较测量时，可以直接读出工件的偏差值等诸多优点。
附图说明
图1为一种精度测量仪器主视结构示意图
图2为一种精度测量仪器后视结构示意图
图3-a为容栅传感器中动尺结构示意图
图3-b为容栅传感器中定尺结构示意图
具体实施方式
一种高精度测量仪器，尤其涉及一种电子数显千分尺，该千分尺包括固定的尺架(101)和尺杆(102)，所述尺架(101)套在所述尺杆(102)的一端，所述尺架(101)呈半圆形；所述尺架(101)还包括测砧(103)、锁紧装置(104)和隔热装置(105)；所述隔热装置(105)位于尺架(101)表面上，测钻(103)位于所述尺架(101)的上端的一侧；所述锁紧装置(104)位于尺架(101)上端的另一侧；所述测钻(103)与所述锁紧位置(104)是位于所述尺架(101)的两侧；所述尺杆还包括测微螺杆(106)、数显装置(107)、固定套管(108)、微分筒(109)、旋钮(110)、测力装置(111)和棘轮旋柄(112)。
根据上述结构可制得工厂中测量不同物体所需要的各种千分尺，在使用千分尺测量中，吸人正确操作千分尺，才能保证测量效率和测量结果的精度以及确保千分尺不受操作不发生工伤事故，其实际操作方法如下：
第一，根据实际测物情况选择不同的千分尺。应要从两方面着手，1、根据被测尺寸的公差大小选择千分尺。2、根据被测工件尺寸的大小选择千分尺的测量范围。
第二，检查千分尺的外观质量和各部位的相互作用。
第三、校对千分尺“0”位。
第四，正确使用千分尺。要正确使用微分筒子和测力装置，当千分尺的两个测量面与被测表面快接触时，就不要旋转微分筒子，而要旋转测力装置，使两测量面与被测面接触，等到发出“咔咔”响声后，按照液晶显示屏上的数值进行计数。
Claims (8)
1.一种高精度测量仪器，其特征在于，它包括固定的尺架(101)和尺杆(102)，所述尺架(101)套在所述尺杆(102)的一端，所述尺架(101)呈半圆形。
2.根据权利要求1所述的一种高精度测量仪器，其特征在于，所述尺架(101)还包括测砧(103)、锁紧装置(104)和隔热装置(105)。
3.根据权利要求1所述的一种高精度测量仪器，其特征在于，所述隔热装置(105)位于尺架(101)表面上，测钻(103)位于所述尺架(101)的上端的一侧；所述锁紧装置(104)位于尺架(101)上端的另一侧；所述测钻(103)与所述锁紧位置(104)是位于所述尺架(101)的两侧。
4.根据权利要求1所述的一种高精度测量仪器，其特征在于，所述尺杆还包括测微螺杆(106)、数显装置(107)、固定套管(108)、微分筒(109)、旋钮(110)、测力装置(111)和棘轮旋柄(112)。
5.根据权利要求1所述的一种高精度测量仪器，其特征在于，所述测微螺杆(106)、数显装置(107)、固定套管(108)、微分筒(109)、旋钮(110)、测力装置(111)、棘轮旋柄(112)位于所述尺杆上；所述位于尺杆的顺序从左往右依次是：测微螺杆(106)、数显装置(107)、固定套管(108)、微分筒(109)、旋钮(110)、棘轮旋柄(112)和测力装置(111)。
6.根据权利要求5所述的一种高精度测量仪器，其特征在于，所述数显装置(107)还包括按键(113)、容栅传感器(114)、液晶显示屏(115)、扬声器(201)。
7.根据权利要求6所述的一种高精度测量仪器，其特征在于，所述按键(113)、液晶显示屏位于所述数显装置(107)面向工作人员的一面；所述扬声器(201)位所述数显装置(107)的后面。
8.根据权利要求6所述的一种高精度测量仪器，其特征在于，所述容栅传感器(114)由动尺(3a)和定尺(3b)两部分组成；所述动尺(3a)上有发射极(301)6组：A、B、C、D、E、F，每组有8个电组，还有一个接收极(302)；所述动尺(3a)还包括集成电路芯片，所述集成电路芯片安装在所述动尺(3a)的正面；所述动尺(3b)还包括反射极(303)和屏蔽极(304)。
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| CN2010201487924U CN201819667U (zh) | 2010-03-18 | 2010-03-18 | 一种高精度测量仪器 |
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| CN (1) | CN201819667U (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102679827A (zh) * | 2012-05-22 | 2012-09-19 | 东北林业大学 | 一种用于高精度数显式螺旋测微器上的测量及显示装置 |
| CN105115398A (zh) * | 2015-09-14 | 2015-12-02 | 苏州东方模具科技股份有限公司 | 测取玻璃模具基准定位孔至合模面距离用的测具 |
| CN105783632A (zh) * | 2015-12-26 | 2016-07-20 | 深圳市易特科信息技术有限公司 | 电阻螺杆测量装置 |
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2010
- 2010-03-18 CN CN2010201487924U patent/CN201819667U/zh not_active Expired - Fee Related
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