CN201732168U - γ谱仪样品测试架 - Google Patents

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田自宁
成智威
贾明雁
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Abstract

本实用新型公开了一种γ谱仪样品测试架，包括上、下底座，上、下底座均呈圆环形，在下底座上竖直均布设置着至少两根向上延伸的固定杆，在上底座上竖直均布设置着至少两根向下延伸的套管，套管与固定杆配合套装在一起，在每根固定杆的下部都分别配合套装设置着垫圈，垫圈的外径与套管的外径相同，两垫圈的高度相同。本实用新型测试架设计具有实用性、通用性、结构简单等特点，可以满足各种样品测量及实验设计需要。

Description

γ谱仪样品测试架
技术领域
 本实用新型涉及一种用于γ谱仪样品测量和实验的测量装置，特别是γ谱仪样品测试架。
背景技术
目前，公知的γ谱仪测试架国内外较少，主要是因为一般实验室只有某种实验需求时，才制作相应的测试架，且测试架构造简单，只能满足单一的功能需求，不具有实用性、通用性及结构简单等特点，因此不能推广应用。国外用于承载探头的反康γ谱仪升降架构造较为复杂，设计较为新颖和科学，可以升降。但是它的固定方式为螺母固定，只能满足单一功能即只承载质量较小的上端探头，因此不能直接推广应用到普通γ谱仪。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种γ谱仪样品测试架，结构简单，易于制造，能用来承载测量大质量样品或物体，通用性好，实用性强。
本实用新型的目的是这样实现的：一种γ谱仪样品测试架，包括上、下底座，上、下底座均呈圆环形，在下底座上竖直均布设置着至少两根向上延伸的固定杆，在上底座上竖直均布设置着至少两根向下延伸的套管，套管与固定杆配合套装在一起，在每根固定杆的下部都分别配合套装设置着垫圈，垫圈的外径与套管的外径相同，两垫圈的高度相同。
本实用新型测试架通过加垫圈来改变套管套入固定杆的深度。下底座的中心孔作用是使底座能通过探头并放置在屏蔽室底部，下底座作用是固定整个测试架，上底座用来放置样品或承重铅准直器等，上底座中的中心孔作用是使样品中的射线透过进入探头。本实用新型一方面在测量放射性活度较强的样品时可以方便地通过增加垫圈来调节样品高度，以减小γ谱死时间对测量结果的影响；另一方面可以承重最多50公斤左右的重量，因此可以用于大质量样品测量或用类似铅准直器等较重物体进行的实验研究。本实用新型测试架设计具有实用性、通用性、结构简单、易于制造等特点，能用来承载测量大质量样品或物体，可以满足各种样品测量及实验设计需要。
附图说明
下面将结合附图对本实用新型作进一步说明。
图1为本实用新型的俯视结构示意图；
图2为本实用新型的主视半剖面结构示意图。
具体实施方式
一种γ谱仪样品测试架，如图1、图2所示，包括上、下底座2、6，上、下底座2、6均呈圆环形。在下底座6上竖直均布设置着至少两根向上延伸的固定杆3，固定杆3的直径为0.8cm。根据承载物品重量的不同，固定杆3的数量也可以增加。在上底座2上竖直均布设置着至少两根向下延伸的套管4，套管4的管壁厚度为2mm。套管4与固定杆3呈过渡配合套装在一起，在每根固定杆3的下部都分别配合套装设置着垫圈5，垫圈5用来调整上、下底座2、6之间的间距。垫圈5的外径与套管4的外径相同，两垫圈5的高度相同。上底座中心孔1的孔径小于下底座中心孔7的孔径。

Claims (2)

1.一种γ谱仪样品测试架，包括上、下底座，其特征是：上、下底座均呈圆环形，在下底座上竖直均布设置着至少两根向上延伸的固定杆，在上底座上竖直均布设置着至少两根向下延伸的套管，套管与固定杆配合套装在一起，在每根固定杆的下部都分别配合套装设置着垫圈，垫圈的外径与套管的外径相同，两垫圈的高度相同。
2.根据权利要求1所述的γ谱仪样品测试架，其特征是：上底座中心孔的孔径小于下底座中心孔的孔径。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103364818A (zh) * 2013-07-12 2013-10-23 西北核技术研究所 放射性面源自动模拟刻度气体源探测效率装置及方法
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