CN201555728U - 硅单晶棒测试样片制取装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种硅单晶棒测试样片制取装置，应用于金刚带锯切割机，所述切割机上的金刚带锯沿硅单晶棒(3)的横截面切割硅单晶棒测试样片，所述的硅单晶棒测试样片制取装置设橡胶吸盘(1)，所述的橡胶吸盘(1)的外形为锥形，其锥形的大端面上设有锥形的内凹。采用上述技术方案，避免操作人员的手与金刚带锯条接触，用橡胶吸盘和橡胶托杆托杠完成测试样片的取片操作，提高了金刚带锯切割机在切割测试样片操作的安全性，避免出现生产事故；使取片操作更加简单、方便；提高一次生产成功率，避免废品的产生，降低生产成本。

Description

硅单晶棒测试样片制取装置

技术领域

本实用新型属于太阳能产品制造工艺装备的技术领域，涉及太阳能硅单晶棒的测试样片的制取技术，更具体地说，本实用新型涉及一种硅单晶棒测试样片制取装置。

背景技术

在现有技术中，太阳能硅单晶棒采用金刚带锯切割机进行切割，其操作原理是：以高速运转的机械大转盘带动镀有金刚砂的高速钢条，对硅单晶体进行切割，以水冷的形式对带锯进行冷却。

但在进行太阳能硅单晶棒测试样片的切割时，由于样片的厚度小于2mm，样片太薄，无法固定；样片在冷却水的粘力作用下，附着带锯条上，致使样片破裂，甚至飞出，导致出现生产异常和设备故障，甚至发生人员工伤事故。

因此，设计一种样片的切割、固定和取片装置，确保安全生产，是硅单晶样片切割急需解决的问题。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型提供了一种硅单晶棒测试样片制取装置，其目的是提高硅单晶棒测试样片制取加工的安全性。

为了实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

本实用新型所提供的这种硅单晶棒测试样片制取装置，应用于金刚带锯切割机，所述切割机上的金刚带锯沿硅单晶棒的横截面，切割硅单晶棒测试样片，所述的硅单晶棒测试样片制取装置设橡胶吸盘，所述的橡胶吸盘的外形为锥形，其锥形的大端面上设有锥形的内凹。

为使本实用新型更加完善，还进一步提出了以下更为详尽和具体的技术方案，以获得最佳的实用效果，更好地实现发明目的，并提高本实用新型的新颖性和创造性：

所述的橡胶吸盘的外部锥形的顶端，设橡胶托杆，所述的橡胶托杆的端部与所述的橡胶吸盘连接为一体。

所述的橡胶吸盘的大端外圆直径为30～50mm。

所述的橡胶托杆的长度为250～350mm。

本实用新型采用上述技术方案，避免操作人员的手与金刚带锯条接触，用橡胶吸盘和橡胶托杆托杠完成测试样片的取片操作，提高了金刚带锯切割机在切割测试样片操作的安全性，避免出现生产事故；使取片操作更加简单、方便；提高一次生产成功率，避免废品的产生，降低生产成本。

附图说明

下面对本说明书各幅附图所表达的内容及图中的标记作简要说明：

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为图1所示结构的右视示意图。

图中标记为：

1、橡胶吸盘，2、橡胶托杆，3、硅单晶棒，4、切割面。

具体实施方式

下面对照附图，通过对实施例的描述，对本实用新型的具体实施方式如所涉及的各构件的形状、构造、各部分之间的相互位置及连接关系、各部分的作用及工作原理、制造工艺及操作使用方法等，作进一步详细的说明，以帮助本领域的技术人员对本实用新型的发明构思、技术方案有更完整、准确和深入的理解。

如图1、图2所表达的本实用新型的结构，为一种硅单晶棒测试样片制取装置，应用于金刚带锯切割机，所述切割机上的金刚带锯沿硅单晶棒3的横截面，切割硅单晶棒测试样片。图1中的切割面4即金刚带锯的切割面，其右侧即硅单晶棒测试样片。

为了解决在本说明书背景技术部分所述的目前公知技术存在的问题并克服其缺陷，实现提高硅单晶棒测试样片制取加工的安全性的发明目的，本实用新型采取的技术方案为：

如图1、图2所示，本实用新型所提供的这种硅单晶棒测试样片制取装置，所述的硅单晶棒测试样片制取装置设橡胶吸盘1，所述的橡胶吸盘1的外形为锥形，其锥形的大端面上设有锥形的内凹。

在带锯机切割操作之前，将橡胶吸盘1的大端面贴紧与硅单晶棒3端面交压紧，橡胶吸盘1上的锥形的内凹的气体被排出，橡胶吸盘1先吸附在需要取片的硅单晶棒3端面上；在切割接近完成时，手持橡胶托杆2，避免操作人员手与金刚带锯条过分接触，以橡胶托杆2完成样片的取片操作。采用上述技术方案，避免操作人员的手与金刚带锯条接触，用橡胶吸盘和橡胶托杆托杠完成测试样片的取片操作，增加了金刚带锯切割机在切割测试样片操作的安全性，避免出现生产事故；使取片操作更加简单、方便；提高一次生产成功率，避免废品的产生，降低生产成本。

下面提供的本实用新型的具体实施示例，供本领域的技术人员参考和应用：

实施例一：

如图1和图2所示，本实用新型所述的橡胶吸盘1的外部锥形的顶端，设橡胶托杆2，所述的橡胶托杆2的端部与所述的橡胶吸盘1连接为一体。

在取片时，操作人员用手握住橡胶托杆2，由于硅单晶棒测试样片被吸在橡胶吸盘1的端面上，所以很方便地将测试样片取下。

实施例二：

本实用新型所述的橡胶吸盘1的大端外圆直径为30～50mm。最大垂直受力可达3～8kg。

实施例三：

本实用新型所述的橡胶托杆2的长度为250～350mm。适用于6～8英寸的硅单晶棒的取片操作。

上面结合附图对本实用新型进行了示例性描述，显然本实用新型具体实现并不受上述方式的限制，只要采用了本实用新型的方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进，或未经改进将本实用新型的构思和技术方案直接应用于其它场合的，均在本实用新型的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种硅单晶棒测试样片制取装置，应用于金刚带锯切割机，所述切割机上的金刚带锯沿硅单晶棒(3)的横截面切割硅单晶棒测试样片，其特征在于：所述的硅单晶棒测试样片制取装置设橡胶吸盘(1)，所述的橡胶吸盘(1)的外形为锥形，其锥形的大端面上设有锥形的内凹。

2.按照权利要求1所述的硅单晶棒测试样片制取装置，其特征在于：所述的橡胶吸盘(1)的外部锥形的顶端，设橡胶托杆(2)，所述的橡胶托杆(2)的端部与所述的橡胶吸盘(1)连接为一体。

3.按照权利要求1或2所述的硅单晶棒测试样片制取装置，其特征在于：所述的橡胶吸盘(1)的大端外圆直径为30～50mm。

4.按照权利要求2所述的硅单晶棒测试样片制取装置，其特征在于：所述的橡胶托杆(2)的长度为250～350mm。

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