CN201449239U - 一种弹簧片孔深测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种弹簧片孔深测量装置，包括基座、支架、托架、主调节螺钉、次调节螺钉、百分表和测量规头；所述支架垂直固定在基座表面；在支架上设置有托架；所述托架上设置有主调节螺钉、次调节螺钉、百分表和测量规头；所述主调节螺钉调节托架在支架上的高度；所述次调节螺钉调节测量规头的高度。本实用新型的弹簧片孔深测量装置将孔深测量由原只能判断合格或不合格变为精确对孔深测量；孔深准确测量及品位判断使下到工序及时调整相关设备，预防批量不良发生；将弹簧片根据孔深品位及时改进。

Description

一种弹簧片孔深测量装置

技术领域：

本实用新型属于机械测量领域，涉及一种弹簧片异形孔深测量装置。

背景技术：

横拼双金属弹簧片孔深是衡量弹簧片技术性能的非常重要指标，孔深尺寸对框架组件配屏、荫罩组件热灵敏度、CPT的三色会聚及色纯裕量均有重大影响，因此孔深测量准确度及品位的高低显得异常重要，弹簧片孔深测量目前使用通止规，显然，这样测量孔深仅能判断合格或不合格，无法准确知道孔深数值，为了提高横拼弹簧片孔深测量准确度及正确品价孔深数值分布的状态，提高检验职能，减少下工序可能出现的涉及孔深的问题，必须研发一种新的能够直接测量并读数的孔深量规头。

实用新型内容：

本实用新型的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供一种弹簧片孔深测量装置，包括基座1、支架2、托架3、主调节螺钉4、次调节螺钉5、百分表6和测量规头7；所述支架2垂直固定在基座1表面；在支架2上设置有托架3；所述托架3上设置有主调节螺钉4、次调节螺钉5、百分表6和测量规头7；所述主调节螺钉4调节托架3在支架2上的高度；所述次调节螺钉5调节测量规头7的高度。

所述测量规头7的工作面直径与待测工件孔深直径完全相同。

所述测量规头7是锥形体。

本实用新型的弹簧片孔深测量装置将孔深测量由原只能判断合格或不合格变为精确对孔深测量；孔深准确测量及品位判断使下到工序及时调整相关设备，预防批量不良发生；通知弹簧片供应厂家根据孔深品位及时改进。

附图说明：

图1为本实用新型的结构示意图；

其中：1为基座；2为支架；3为托架；4为主调节螺钉；5为次调节螺钉；6为百分表；7为测量规头。

具体实施方式：

下面结合附图对本实用新型做进一步详细描述：

参见图1，一种弹簧片孔深测量装置，包括基座1、支架2、托架3、主调节螺钉4、次调节螺钉5、百分表6和测量规头7；所述支架2垂直固定在基座1表面；在支架2上设置有托架3；所述托架3上设置有主调节螺钉4、次调节螺钉5、百分表6和测量规头7；所述主调节螺钉4调节托架3在支架2上的高度；所述次调节螺钉5调节测量规头7的高度。

所述测量规头7的工作面直径与待测工件孔深直径完全相同。

所述测量规头7是锥形体。

测量规头7工作面直径与弹簧片孔深测量接触面的直径、形状完全匹配，工作面直径公差严格控制在0.005内。

测量规头7与百分表6、支架2固定，自然状态下找到弹簧片孔深相对起始值，依靠支架保证，无需检验员手工调整，确保了测量所需要的垂直度。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施方式仅限于此，对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单的推演或替换，都应当视为属于本发明由所提交的权利要求书确定专利保护范围。

Claims (3)

1.一种弹簧片孔深测量装置，其特征在于：包括基座(1)、支架(2)、托架(3)、主调节螺钉(4)、次调节螺钉(5)、百分表(6)和测量规头(7)；所述支架(2)垂直固定在基座(1)表面；在支架(2)上设置有托架(3)；所述托架(3)上设置有主调节螺钉(4)、次调节螺钉(5)、百分表(6)和测量规头(7)；所述主调节螺钉(4)调节托架(3)在支架(2)上的高度；所述次调节螺钉(5)调节测量规头(7)的高度。

2.根据权利要求1所述一种弹簧片孔深测量装置，其特征在于：所述测量规头(7)的工作面直径与待测工件孔深直径完全相同。

3.根据权利要求1所述一种弹簧片孔深测量装置，其特征在于：所述测量规头(7)是锥形体。

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