CN201444524U - 一种内存转接测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种内存转接测试座，包括接触电路PCB板和内存槽连接器，所述内存槽连接器包括弹片端子和塑胶槽，所述接触电路PCB板上设有转接金手指及与所述转接金手指一一对应的焊盘，所述接触电路PCB板的焊盘与所述弹片端子一一对应电连接，所述塑胶槽的两端设有与所测试的内存条的尺寸匹配的导引限位槽，完全的限制了内存条插入内存条保护测试座时发生或左或右的偏位移动，有效减少了对塑胶槽中间设有的防呆柱的压磨损伤，提高了内存条保护测试座的使用寿命，杜绝了错位误测或短路烧内存条的事故发生，降低了生产成本，提高了测试正确性和可靠性。

Description

一种内存转接测试座

技术领域

本实用新型涉及一种内存转接测试座。

背景技术

内存条作为电脑的一种必备组件，为了保证其质量和技术参数达到要求，内存条生产商要对内存记忆体进行功能测试，起初是将内存条直接插在电脑主板的内存槽上进行测试，但很容易将主机板上的内存槽插坏，使其丧失功能，此时就必须对主机板上内存槽进行拆卸维修，维修成本高并且影响生产效率，为了解决上述问题，业内出现一种转接测试座，该转接测试座包括接触线路板PCB和内存槽连接器，PCB与内存槽连接器焊接成一体，内存槽连接器内有弹片端子和塑胶槽，PCB上有设计线路和转接金手指及焊盘，弹片端子与接触线路板PCB两面焊盘一一对应连接导通，当要进行测试时将此转接测试座插在主机板的内存槽上并固定成一体待测试，内存条插在此转接测试座的内存槽连接器内测试，此时内存槽连接器内有弹片端子向两边张开，夹持并接触待测内存条金手指，使内存条的金手指通过转接测试座与主板内存槽对应电连接，从而进行测试工作，完成测试后，将内存条从转接测试座上拔下即可，该方案是以转接测试座的损坏来代替主板内存槽的损坏，在插拔测试中也同样存在寿命很低的问题，仅400次左右，只是省去了主机板上内存槽拆卸维修的麻烦和潜在风险，造成这种转接测试座寿命低的原因主要是内存槽连接器在设计上存在缺陷，无论是弹片端子的设计还是塑胶槽的设计都有不足，首先是弹片端子的设计结构不合理及弹片端子力臂较短，弹片端子的固定根部固定不牢固，这样会带来在插拔测试时插跪弹片端子(即弹片端子受外力弯折)，插拔寿命不足和弹片端子易松动造成不接触的问题，其次塑胶槽两端未设计限位导槽，插拔时中间防呆柱和防呆槽不易对正，在插拔测试中这样会带来对内存槽连接器中间防呆柱的严重磨损导致错位，从而发生测试时烧坏内存条的事故，大大增加了生产成本。

实用新型内容

为了解决上述问题，本实用新型提供一种使用寿命长，安全可靠，能有效降低生产成本的内存条保护测试座。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案是：一种内存转接测试座，包括接触电路PCB板和内存槽连接器，所述内存槽连接器包括弹片端子和塑胶槽，所述接触电路PCB板上设有转接金手指、线路及与所述转接金手指一一对应的焊盘，所述接触电路PCB板的焊盘与所述弹片端子一一对应电连接，所述塑胶槽的两端设有与所测试的内存条的尺寸匹配的导引限位槽。

优选的，所述弹片端子设有加长的直线形力臂。

优选的，所述弹片端子的固定根部加长并设有至少3处刺破固定倒刺。

优选的，所述接触电路PCB板上还设有电连接于所述线路中的2个保险丝。

采用本技术方案的有益效果是：所提供一种内存转接测试座，由于塑胶槽的两端设有与所测试的内存条的尺寸匹配的导引限位槽，完全的限制了内存条插入内存条保护测试座时发生或左或右的偏位移动，有效减少了对塑胶槽中间设有的防呆柱的压磨损伤，提高了内存条保护测试座的使用寿命，杜绝了错位误测或短路烧内存条的事故发生，降低了生产成本，提高了测试正确性和可靠性。

另外，加长的直线形力臂增加了弹片端子的回复力，使触点的电连接更可靠，使用寿命更长，更耐用。

固定根部的长度延长，并且刺破固定倒刺数量在3个以上，使弹片端子与塑胶槽的连接更加稳固，不易松动，使产品更加可靠，减少故障和损坏，使用寿命更长，更耐用。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

图1是本实用新型的主视图；

图2是本实用新型的左视图；

图3是本实用新型的俯视图；

图4是本实用新型的仰视图；

图5是图1中A处局部放大图；

图6是本实用新型的内存槽连接器的主视图；

图7是本实用新型的内存槽连接器的左视图；

图8是本实用新型的内存槽连接器的右视图；

图9是本实用新型的内存槽连接器的俯视图；

图10是本实用新型弹片端子主视图；

图11是本实用新型弹片端子右视图；

图12是本实用新型的接触电路PCB板的主视图；

图13是本实用新型接触电路PCB板的左视图；

图14是本实用新型接触电路PCB板的俯视图；

图15是现有技术中弹片端子的示意图。

图中数字和字母所表示的相应部件名称：

1.内存槽连接器  11.塑胶槽  111.导引限位槽  12.弹片端子121.刺破固定倒刺

2.接触电路PCB板  21.2个保险  22.焊盘  23.转接金手指1200.力臂  1201.固定根部

具体实施方式

如图1到图12所示，一种内存转接测试座，包括接触电路PCB板2和内存槽连接器1，内存槽连接器包括弹片端子12和塑胶槽11，塑胶槽11的两端设有与所测试的内存条的尺寸匹配的导引限位槽111，弹片端子的固定根部1201设有4处刺破固定倒刺121，塑胶槽11开有贯穿上下两端的长条形槽，在槽的内壁面加工有与要测试的内存条的金手指对应的凹槽，弹片端子12一一置于凹槽中，弹片端子12的固定根部1201比现有产品延长，并设有的4处刺破固定倒刺121与塑胶槽11紧密结合，比只有两处刺破固定倒刺121的结构更加稳固可靠，有效的解决了弹片端子12容易松动的问题，本实用新型中，弹片端子12的力臂1200比现有产品加长了一倍，并加工为直线形，使得弹片端子12的回复力更优，使弹片端子12与内存条的电连接更可靠，延长了使用寿命，接触电路PCB板2上设有转接金手指23及与转接金手指23一一对应的焊盘22，焊盘22与弹片端子12的下端一一对应焊接，接触电路PCB板2上还设有电连接于线路中的2个保险丝21。

本实用新型的工作原理是，先将内存条保护测试座的转接金手指23插入电脑主板的内存插槽中并锁扣好，然后将内存条的金手指沿导引限位槽111插入内存条保护测试座中，最后接通电源进行测试。

图15是现有技术中的弹片端子12的示意图，其固定根部1201很短，上面只设有1到2个刺破固定倒刺121，使得弹片端子12与塑胶槽11的连接容易发生松动的故障，大大降低了产品的可靠性，其力臂1200较短，并且是曲线形，因此其回复力较差，多次使用后容易发生接触不良的事故，本实用新型针对上述问题做了优化设计，有效的解决了上述问题。

本实用新型的弹片端子12设有的4处刺破固定倒刺121也可根据需要改为3个或5个等，以满足不同的工艺和参数要求。

采用本技术方案的有益效果是：提供一种内存转接测试座，所述塑胶槽的两端设有与所测试的内存条的尺寸匹配的导引限位槽，完全的限制了内存条插入内存条保护测试座时发生或左或右的偏位移动，有效减少了对塑胶槽中间设有的防呆柱的压磨损伤，提高了内存条保护测试座的使用寿命，杜绝了错位误测或短路烧内存条的事故发生，降低了生产成本，提高了测试正确性和可靠性，另外，加长的直线形力臂1200增加了弹片端子12的回复力，使触点的电连接更可靠，使用寿命更长，更耐用，固定根部1201的长度延长，并且刺破固定倒刺121数量在3个以上，使弹片端子12与塑胶槽11的连接更加稳固，不易松动，使产品更加可靠，减少故障和损坏，使用寿命更长，更耐用，2个保险丝21的设置，进一步提供事故过电流保护，有效降低了内存烧毁的风险。

以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。

Claims (4)

1.一种内存转接测试座，包括接触电路PCB板和内存槽连接器，所述内存槽连接器包括弹片端子和塑胶槽，所述接触电路PCB板上设有转接金手指、线路及通过线路与所述转接金手指一一对应的焊盘，所述接触电路PCB板的焊盘与所述弹片端子一一对应电连接，其特征在于，所述塑胶槽的两端设有与所测试的内存条的尺寸匹配的导引限位槽。

2.根据权利要求1所述的一种内存转接测试座，其特征在于，所述弹片端子设有加长的直线形力臂。

3.根据权利要求1所述的一种内存转接测试座，其特征在于，所述弹片端子的固定根部加长并设有至少3处刺破固定倒刺。

4.根据权利要求1到3任一所述的一种内存转接测试座，其特征在于，所述接触电路PCB板上还设有电连接于所述线路中的2个保险丝。

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