CN201402306Y - Ld-to高低温性能简易测试装置 - Google Patents

Ld-to高低温性能简易测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN201402306Y
CN201402306Y CN 200920084638 CN200920084638U CN201402306Y CN 201402306 Y CN201402306 Y CN 201402306Y CN 200920084638 CN200920084638 CN 200920084638 CN 200920084638 U CN200920084638 U CN 200920084638U CN 201402306 Y CN201402306 Y CN 201402306Y
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
testing
interface
control panel
computer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
CN 200920084638
Other languages
English (en)
Inventor
杨新民
黄晶
杨惠
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuhan Huagong Genuine Optics Tech Co Ltd
Original Assignee
Wuhan Huagong Genuine Optics Tech Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuhan Huagong Genuine Optics Tech Co Ltd filed Critical Wuhan Huagong Genuine Optics Tech Co Ltd
Priority to CN 200920084638 priority Critical patent/CN201402306Y/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN201402306Y publication Critical patent/CN201402306Y/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

LD-TO高低温性能简易测试装置,涉及一种LD-TO激光器全温测试的装置。电脑分接KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的GPIB接口,KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的前面板电流测试/输出接口接测试控制板的测试输入口,电脑与测试控制板通过RS232接口双向连接,测试控制板的输出接口DB295接烘箱中的测试夹的接口DB25,测试夹具的多路信号线接测试控制板中的继电器,测试控制板中的MAX3232芯片接单片机C8051。本实用新型解决了只能将TO制成器件后才能测试的问题,采用单片机控制继电器多路方式测量,节约了成本和时间。

Description

LD-TO高低温性能简易测试装置
技术领域
本实用新型涉及一种LD-TO激光器全温测试的装置。
背景技术
长久以来LD-TO高低温性能的判定只能将TO制作成器件之后才能进行,故此测试结果是由多种因素综合影响的结果,出现测试误差也难以辨别。同时此方法也延误了时间,并造成部分成本浪费,此新型测试系统就是针对这些问题专门开发的,能在TO阶段就完成测试。
发明内容
本实用新型的目的旨在提供一种测试时间短、成本低的LD-TO高低温性能简易测试装置。
本实用新型目的的实现方式为,LD-TO高低温性能简易测试装置,电脑分接KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的GPIB接口,KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的前面板电流测试/输出接口接测试控制板的测试输入口,电脑与测试控制板通过RS232接口双向连接,测试控制板的输出接口DB25接烘箱中的测试夹的接口DB25,测试夹具的多路信号线接测试控制板中的继电器,测试控制板中的MAX3232芯片接单片机C8051,单片机C8051 U1,通过其I/O经4-16译码器CD4515 U2及电流驱动器ULN2803 U3分接每个继电器11。
测试控制板的电气元件之间的连接为:测试夹具中多路信号连测试控制板中的继电器,而电脑通过RS232接口经过测试控制板中MAX3232芯片处理控制单片机C8051进行运算,通过其I/O经4-16译码器CD4515及ULN2803控制每个继电器使单路测试信号按要求分给测试夹具中的每一个TO上。
本实用新型工作时,由电脑统一控制KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表、自制测试控制板,通过自制测试控制板将测试夹具中每路信号分时间与数字源表和电流表相连,完成单路测试,后电脑计算汇总得到多路的测试结果。
本实用新型通过对激光器背光电流的测量,得到LD-TO在不同温度下的各个性能值。
本实用新型采用单片机控制继电器完成一分多路的方式测量缩短了测试时间,解决了传统测试方法只能将TO制成器件后才能测试的问题,节约了成本和时间。
附图说明
图1是本实用新型结构示意图
图2是本实用新型自制测试控制板电原理示意图
图3为测试控制板接口示意图
具体实施方式
参照图1,本实用新型的电脑1分接KEITHLEY2400数字源表2、KEITHLEY6485电流表3的GPIB接口,KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的前面板电流测试/输出接口接测试控制板4的测试输入口8,电脑的RS232接口7与测试控制板双向连接,测试控制板的输出接口DB25 9接烘箱6中的测试夹具5的接口DB25 10。
KEITHLEY2400数字源表是由由美国吉时利仪器公司设计生产的,KEITHLEY6485电流表是由美国吉时利仪器公司设计生产,测试夹具由武汉伟业电子公司设计生产。
参照图2、3,测试夹具中多路信号的接口DB25 10与测试控制板中的继电器11连接,电脑的RS232接口12经测试控制板中的MAX3232芯片U4与单片机C8051 U1连接,单片机C8051 U1进行运算,通过其I/O经4-16译码器CD4515 U2及电流驱动器ULN2803 U3控制每个继电器11,使单路测试信号按要求分到测试夹具中的每一个TO上。测试控制板电源13接+5V电压的恒压源。
本实用新型工作时,烘箱中的测试夹具中的一路信号由测试控制板输送到数字源表和电流表,数字源表按0.2mA步进给激光器逐步加电,由电流表将激光器TO中背光探测器的电流测出,由于背光电流正比于激光器光功率,我们便可以通过测试数据绘制出背光电流与激光器所加电流的线性图形,然后通过电脑分析,得到LD-TO在不同温度下的阈值、背光电流、电阻、正向电压的各个性能值,由此完成单路测试。再将电脑控制测试控制板上的继电器更换一路,完成另一路的测试,依此对其他各路逐一测试,最后由电脑计算汇总,得到多路的测试结果。

Claims (1)

1、LD-TO高低温性能简易测试装置,其特征在于电脑分接KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的GPIB接口,KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的前面板电流测试/输出接口接测试控制板的测试输入口,电脑与测试控制板通过RS232接口双向连接,测试控制板的输出接口DB25接烘箱中的测试夹的接口DB25,测试夹具的多路信号线接测试控制板中的继电器,测试控制板中的MAX3232芯片接单片机C8051,单片机C8051U1,通过其I/O经4-16译码器CD4515U2及电流驱动器ULN2803U3分接每个继电器(11)。
CN 200920084638 2009-03-31 2009-03-31 Ld-to高低温性能简易测试装置 Expired - Lifetime CN201402306Y (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 200920084638 CN201402306Y (zh) 2009-03-31 2009-03-31 Ld-to高低温性能简易测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 200920084638 CN201402306Y (zh) 2009-03-31 2009-03-31 Ld-to高低温性能简易测试装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN201402306Y true CN201402306Y (zh) 2010-02-10

Family

ID=41662103

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 200920084638 Expired - Lifetime CN201402306Y (zh) 2009-03-31 2009-03-31 Ld-to高低温性能简易测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN201402306Y (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106092510A (zh) * 2016-06-02 2016-11-09 余丽波 激光测试系统

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106092510A (zh) * 2016-06-02 2016-11-09 余丽波 激光测试系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN201072381Y (zh) 一种燃气热水器性能综合测试系统
CN109471047B (zh) 一种用于交直流电源校准的便携式自动测量装置
CN106125013B (zh) 一种高兼容性的快充类产品老化测试系统
CN102385047A (zh) 一种充电桩直流电能表检定装置
CN105004918A (zh) 城轨列车运行能耗数据的采集装置
CN202676832U (zh) 配网馈线监控终端综合测试装置
CN104535958A (zh) 电能表环境温度影响试验全自动测试系统及方法
CN201662450U (zh) 热工自动检定装置
CN202256659U (zh) 一种充电桩直流电能表检定装置
CN205353342U (zh) 一种单相载波智能电表通信模块接口带载能力测试仪
CN108204824A (zh) 一种光电探测器检测装置及检测方法
CN201402306Y (zh) Ld-to高低温性能简易测试装置
CN108828359A (zh) 一种实现直流充电桩电能量误差校验功能的检验方法
CN210376587U (zh) 一种变流器控制单元测试平台
CN105629072A (zh) 一种多路电阻测量系统
CN201600444U (zh) 电压监测仪智能检定平台
CN102096035B (zh) 二极管热循环负载试验系统
CN102928792A (zh) Led驱动电源综合测试仪
CN201096613Y (zh) 一种大功率led全自动光、电参数测试装置
CN205562698U (zh) 电气附件测试仪
CN102081152A (zh) 一种针对带外附件直流电能表的检定装置及方法
CN102288389B (zh) 一种光源老化试验测量装置
CN206058911U (zh) 中子通量监测仪
CN202757995U (zh) 一种自动获取可调光衰减器电压控制曲线的自动测量装置
CN105573293A (zh) 一种汽车车身控制器自动高效测试方法

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CX01 Expiry of patent term

Granted publication date: 20100210

CX01 Expiry of patent term