CN201319398Y - 用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种微波同轴开关，特别涉及一种适用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关。用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，其特征在于，它包括：一信号输入单元，信号输入单元由复数个接线柱组成；复数个接线柱分别连接智能控制单元，智能控制单元连接复数个继电器的信号输入端；一个继电器具有相互导通的两个常开触头，与两个常开触头对应的设有主SMA阴接头和辅SMA阴接头，主SMA阴接头和辅SMA阴接头分别连接外部受控电路。可完成一点向多点的信号输入和切换，最高频率可到26.5GHz。开关时间小于20ms，具有低损耗，高隔离度，寿命长，可靠性高等特点。

Description

用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关

技术领域

本实用新型涉及一种微波同轴开关，特别涉及一种适用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关。

背景技术

微波同轴开关主要适用在微波高频领域中，可通过电压或计算机编程自动进行控制在微波电路中起到信号切换的作用，将信号从测量仪器传输至待测设备(DUT)中。

现有的微波同轴开关大部分只能实现单刀双掷功能，一点到多点的信号切换能力有一定局限。

另一方面，现有所用的微波同轴开关，其控制部分都是采用弹片接触式结构进行控制的，将弹性件和接触点直接焊接在PCB电路板上；这样，一方面加大了微波同轴开关生产过程的难度，不利于进行批量生产和流水作业，并且生产的报废率很高，同时，采用弹片接触式结构弹片在长时间的工作中会产生弹性疲劳，容易出现弹片接触不良等不稳定现象。

因此，特别需要一种用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，以弥补现有的微波同轴开关的不足之处。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，弥补现有的微波同轴开关的不足之处，具有低损耗、高隔离度、寿命长、可靠性高等特点。

本实用新型所要解决的技术问题可以通过以下技术方案来实现：

用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，其特征在于，它包括：一信号输入单元，信号输入单元由复数个接线柱组成；

复数个接线柱分别连接智能控制单元，智能控制单元连接复数个继电器的信号输入端；

一个继电器具有相互导通的两个常开触头，与两个常开触头对应的设有主SMA阴接头和辅SMA阴接头，主SMA阴接头和辅SMA阴接头分别连接外部受控电路。

通过上述设计可以对主SMA阴接头和辅SMA阴接头接通情况进行智能化控制，进而对主SMA阴接头和辅SMA阴接头连接的外部受控电路进行智能化控制。较原有的微波同轴开关具有更高的反应速度和灵活性。由于采用继电器控制，较原有的微波同轴开关中的弹片具有更高可靠性和更长的寿命。

所述用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，具有一个主SMA阴接头和复数个辅SMA阴接头。根据复数个接线柱输入的电信号不同，智能控制单元做出相应地响应，控制复数个继电器动作，选择性的接通主SMA阴接头和一个辅SMA阴接头。针对于常用的SP3T(单刀3掷)、SP4T(单刀4掷)、SP5T(单刀5掷)、SP6T(单刀6掷)等类型，分别应当设置3个辅SMA阴接头、4个辅SMA阴接头、5个辅SMA阴接头、6个辅SMA阴接头。

采用上述结构，可以简化总的SMA阴接头数量，简化系统，减小系统体积。可同时完成一点到多点的信号切换和传输，有效地提高器件测试的效率。

所述两个常开触头，通过条状的内导体连接，内导体中部上方固定有推杆，推杆穿过一支撑架，支撑架与推杆间装有对推杆起复位作用的复位弹簧，所述推杆上方设有驱动推杆动作的磁控压力装置。

所述磁控压力装置对推杆产生压力的施压部分设有压簧。

上述结构中设置了压簧，对推杆起到了缓冲作用，减少了使用中纹波数量，有利于系统稳定。同时重要的一点还在于提高推杆的复位速度，进而提高切换频率。

所述磁控压力装置设有一转轴，转轴上部两侧分别设有受磁场驱动的磁感应块，转轴下部两侧分别设有对推杆产生压力的压簧。由上述设计中可见，本实用新型中两个继电器共用一个磁控压力装置，这种设计可以有效地减少磁控压力装置数量，降低成本，降低故障率，提高反应速度。

本实用新型的特点还在于，与现有技术相比，控制更加稳定和可靠，且加工方便，宜于进行批量生产。

所述压簧、复位弹簧采用铍青铜材料。

用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，主要适宜应用在微波高频领域中，可通过电压或计算机编程自动控制，在微波电路中做切换用，将信号从测量仪器传输至待测设备(DUT)中。按输入输出点数量可分为SP3T(单刀3掷)，SP4T(单刀4掷)，SP5T(单刀5掷)，SP6T(单刀6掷)等类型，可完成一点向多点的信号输入和切换，最高频率可到26.5GHz。开关时间小于20ms，具有低损耗，高隔离度，寿命长，可靠性高等特点。

附图说明

图1为本实用新型的单刀多掷微波同轴开关的系统框图；

图2为本实用新型的单刀多掷微波同轴开关的基本原理结构图。

具体实施方法

为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本实用新型。

参照图1，用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，包括一信号输入单元1，信号输入单元1将外界输入的信号传送给智能控制单元2，智能控制单元2根据信号输入单元1输入的信号控制由复数个继电器组成的继电器组3的动作情况。进而通过继电器组3控制外部电路的接通情况。

参照图1和图2，信号输入单元1包括位于外壳14上方的复数个接线柱11。复数个接线柱11分别连接智能控制单元2。出于经济使用考虑，智能控制单元2采用89C2051微处理芯片。

智能控制单元2连接继电器组3中各继电器的信号输入端。一个继电器31具有相互导通的两个常开触头311、312，与两个常开触头311、312对应的设有主SMA阴接头5和辅SMA阴接头313，主SMA阴接头5和辅SMA阴接头313分别连接外部受控电路。

所述两个常开触头311、312，通过条状的内导体连接，内导体中部上方固定有推杆315，推杆315穿过一支撑架6，支撑架6与推杆315间装有对推杆315起复位作用的复位弹簧316，所述推杆315上方设有驱动推杆315动作的磁控压力装置318。所述磁控压力装置对推杆产生压力的施压部分设有压簧317。上述结构中设置了压簧317，对推杆315起到了缓冲作用，减少了使用中纹波系数，有利于系统稳定。同时重要的一点还在于提高推杆315的复位速度，进而提高切换频率。所述压簧317、复位弹簧316采用弹性高、抗疲劳性好的铍青铜材料。

所述磁控压力装置318设有一转轴，转轴上部两侧分别设有受磁场驱动的磁感应块、，转轴下部两侧分别设有对推杆315产生压力的压簧317。磁感应块、上方分别设有受智能控制单元2控制的电磁铁。因此磁控压力装置318同时受两个电磁铁控制，作为两个继电器的磁控压力装置。其他继电器部分采用类似或相同结构。本实用新型中两个继电器共用一个磁控压力装置，这种设计可以有效地减少磁控压力装置数量，降低成本，降低故障率，提高反应速度。

智能控制单元2根据复数个接线柱11输入的电信号不同，做出相应地响应，控制继电器组3动作，选择性的接通主SMA阴接头5和一个辅SMA阴接头。针对于常用的SP3T(单刀3掷)、SP4T(单刀4掷)、SP5T(单刀5掷)、SP6T(单刀6掷)等类型，分别应当设置3个辅SMA阴接头、4个辅SMA阴接头、5个辅SMA阴接头、6个辅SMA阴接头。

采用上述结构，可以简化总的SMA阴接头数量，简化系统，减小系统体积。可同时完成一点到多点的信号切换和传输，有效地提高器件测试的效率。

本实用新型的特点还在于，与现有技术相比，控制更加稳定和可靠，且加工方便，宜于进行批量生产。

用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，主要适宜应用在微波高频领域中，可通过电压或计算机编程自动控制，在微波电路中做切换用，将信号从测量仪器传输至待测设备(DUT)中。按输入输出点数量可分为SP3T(单刀3掷)，SP4T(单刀4掷)，SP5T(单刀5掷)，SP6T(单刀6掷)等类型，可完成一点向多点的信号输入和切换，最高频率可到26.5GHz。开关时间小于20ms，具有低损耗，高隔离度，寿命长，可靠性高等特点。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征及其优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (6)

1.用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，其特征在于，它包括：一信号输入单元，信号输入单元由复数个接线柱组成；

复数个接线柱分别连接智能控制单元，智能控制单元连接复数个继电器的信号输入端；

一个继电器具有相互导通的两个常开触头，与两个常开触头对应的设有主SMA阴接头和辅SMA阴接头，主SMA阴接头和辅SMA阴接头分别连接外部受控电路。

2.根据权利要求1所述的用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，其特征在于，所述用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，具有一个主SMA阴接头和复数个辅SMA阴接头。

3.根据权利要求1或2所述的用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，其特征在于，所述两个常开触头，通过条状的内导体连接，内导体中部上方固定有推杆，推杆穿过一支撑架，支撑架与推杆间装有对推杆起复位作用的复位弹簧，所述推杆上方设有驱动推杆动作的磁控压力装置。

4.根据权利要求3所述的用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，其特征在于，所述磁控压力装置对推杆产生压力的施压部分设有压簧。

5.根据权利要求3所述的用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，其特征在于，所述磁控压力装置设有一转轴，转轴上部两侧分别设有受磁场驱动的磁感应块，转轴下部两侧分别设有对推杆产生压力的压簧。

6.根据权利要求3所述的用于微波测试系统的单刀多掷微波同轴开关，其特征在于，所述复位弹簧采用铍青铜材料。

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