CN201217015Y - 用于带钢生产线上测宽仪的上打光源结构 - Google Patents

用于带钢生产线上测宽仪的上打光源结构 Download PDF

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CN201217015Y CNU2008200085052U CN200820008505U CN201217015Y CN 201217015 Y CN201217015 Y CN 201217015Y CN U2008200085052 U CNU2008200085052 U CN U2008200085052U CN 200820008505 U CN200820008505 U CN 200820008505U CN 201217015 Y CN201217015 Y CN 201217015Y
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赖建生
赖康生
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DALIAN YATAIHUA PHOTELECTRIC TECHNOLOGY Co Ltd
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Abstract

本实用新型为一种结构简单、维护方便的利用上打光源照明被测钢板的测宽仪结构。采用该种结构的测宽仪不仅能实现对在线钢板宽度的精确测量,而且因将其照明系统安置于测量平面的上方,大大减少了对系统的维护量。该结构主要由测宽仪测头系统、光源电气预处理柜、照明光源防护及起落架、专用照明光源组成。其中,照明光源防护及起落架对专用照明光源起支撑和方位调整的作用;专用照明光源固定于照明光源防护及起落架上,通过对照明光源防护及起落架的调整使照明光源的主光线调至与测量平面成适当的角度,从而对被测钢板进行照明,通过测头系统得到被测钢板与背景的反射光强分布曲线,从而测出钢板的宽度。

Description

用于带钢生产线上测宽仪的上打光源结构
技术领域
本实用新型涉及一种结构简单、维护方便的利用上打光源照明被测钢板的测宽仪结构。采用该种结构的测宽仪不仅能实现对在线钢板宽度的精确测量,而且因其简约的结构设计,大大减少了对系统的维护量。
背景技术
目前,在国内热轧生产线上因被测带钢的温度不同,测宽仪的工作原理也是不同的。传统的测宽仪,当带钢的温度高于650℃时,可以利用带钢自身的红外辐射进行测量;当带钢的温度低于650℃时,需在带钢下面加背光源照明被测钢板,从而实现了对其宽度的测量。但在实际工作环境下,由于带钢厂的现场环境恶劣,水气尘埃较大,当位于辊道下方背光源较脏时,会严重影响测宽仪的测量精度,这样,为了保证测量精度需要大辐度增加对系统的维护量。
发明内容
为了克服现有系统对温度低于650℃的带钢测量时需加入背光源才能精确测出带钢的宽度,本实用新型实现了一种采用上打光源照明精确测量带钢宽度的结构。采用该方式工作的测宽仪不仅能够实现对在线钢板宽度的精确测量,而且因其新颖的上打光源照明设计方式,可以确保在钢板温度低于650℃时测宽仪测头能得到被测钢板的反射光强,从而使系统通过接收到的光强分布曲线准确的识别被测钢板的边缘,得到钢板的宽度值。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:本实用新型采用上打光源照明的结构,实现了对生产线上温度较低的钢板的实时宽度测量,该结构主要由测宽仪测头系统、光源电气预处理柜、照明光源防护及起落架、专用照明光源组成。其中,照明光源防护及起落架由保护架、防护板、活动灯架及起落机构共同组成,对专用照明光源起支撑和方位调整的作用;专用照明光源固定于照明光源防护及起落架上,通过对照明光源防护及起落架的调整使照明光源的主光线调至与测量平面成适当的角度;测宽仪测头系统位于测量平面的上方,用于收集被测钢板上的反射光,得到被测钢板与背景的反射光强分布曲线。
本实用新型的有益效果是,采用了紧凑、简约的结构,独创性的设计思想,实现了采用上打光源照明方式对冷态钢板宽度的测量。
附图说明
附图是本实用新型的结构图。
图中各部分为:1.测宽仪测头系统,2.电源电气预处理柜,3.照明光源防护及起落架,4.专用照明光源,5.测量平面,6.辊道
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
在附图中,被测钢板位于辊道6上的被测平面5内;专用照明光源4位于测量平面的斜上方;照明光源防护及起落架3由保护架、防护板、活动灯架及起落机构等组成,用于固定专用照明光源4,并可以通过对照明光源防护及起落架的调整使专用照明光源4的主光线与测量平面5成20~60度的角度;电源电气预处理柜2用于对专用照明光源3提供稳压电源及冷却系统;专用照明光源4是整个系统的主要部份,用于照亮被测量平面5上的被测钢板;在实际操作过程中要将专用照明光源4的主光线调至与测量平面5形成20~60度的角度,从而实现了自被测钢板上反射光强与其边缘的外部背景的反射光强的强烈反差;测宽仪测头系统1用于接收自测量平面5上被测钢板及其边缘的外部背景的反射光强度,并通过与其连接的信号处理系统识别被测钢板的边缘,从而得到被测钢板精确的宽度值。

Claims (1)

1.一种用于带钢生产线上测宽仪的上打光源结构,该结构的系统主要由专用照明光源(4)、照明光源防护及起落架(3)、电源电气预处理柜(2)、测宽仪测头系统(1)等部分组成,其特征在于:
a)专用照明光源(4)固定于照明光源防护及起落架(3)上,并可通过对照明光源防护及起落架(3)来调整专用照明光源(4)主光线与测量平面的角度;
b)专用照明光源(4)位于测量平面(5)的斜上方,专用照射光源(4)的主光线与测量平面(5)形成20~60度的角度。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN111189395A (zh) * 2018-11-14 2020-05-22 苏州能讯高能半导体有限公司 底切结构测量系统和底切结构测量方法

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