CN201170793Y - 一种智能卡测试设备 - Google Patents

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高宁
吴彩峰
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Abstract

本实用新型公开了一种智能卡测试设备，主要针对智能卡在生产和使用过程中，可能存在的物理结构被破坏或数据异常丢失等失效现象而提出的一种测试设备。该设备实现现有测试方案中所没有描述的测试项目，能够同时对智能卡进行带电老化寿命、金属面耐磨强度两个项目进行测试。该设备所包括的主要结构如下：直流电源系统；机械运动结构；夹卡装置；智能卡读卡结构。本实用新型提出的智能卡的测试设备，对智能卡可靠性进行严格地考核，能够提前发现由于智能卡结构和系统设计可靠性问题而导致的生产测试成品率的低下，或者智能卡内所存储的数据易丢失等问题。

Description

一种智能卡测试设备
技术领域
本实用新型涉及一种智能卡测试设备，特别是一种能够同时检查智能卡带电老化寿命、金属面耐磨强度两个项目的测试设备。
背景技术
在智能卡测试领域，对智能卡的寿命测试，现在主要有以下几种方法：
擦写疲劳寿命，该方法是将智能卡插入读卡器中，通过软件控制对智能卡存储单元进行全0、全1或其他方式的数据擦写测试，一般要求循环次数为10万次。
卡加电次数，该方法是将智能卡插入读卡器中，通过软件对智能卡进行反复上下电，一般要求循环次数为10万次。
机械强度测试，该方法是通过点压力(芯片面积小于4mm2)或三轮测试(芯片面积不小于4mm2)的方法考察智能卡的机械可靠性。
动态弯曲测试，实验依据GB/T17554.1描述的方法进行测试，确定弯曲应力对智能卡的任何有害机械或功能上的影响。测试完成后，智能卡应保持其功能并应不出现开裂。
动态扭曲测试，实验依据GB/T17554.1描述的方法进行测试，确定弯曲应力对智能卡的任何有害机械或功能上的影响。测试完成后，智能卡应保持其功能并应不出现开裂。
但是目前没有一种设备，能够实现同时对智能卡带电老化寿命、金属面耐磨强度两个项目进行测试。
实用新型内容
本实用新型提供一种智能卡测试设备，用以实现同时对智能卡带电老化寿命、金属面耐磨强度两个项目进行测试。为了实现上述测试设备，本实用新型设计一个直流电源系统，通过控制输出电压大小调节系统的机械运转速度；设计一个特殊的机械运动结构，将电能转化为运动动能，实现夹卡装置做周期性平面直线运动；同时设计一个读卡结构，实现在智能卡运动过程中，实时给智能卡供电控制智能卡管脚电气特性状态。
本实用新型包括：
直流电源系统；
将电能转化为动能的机械运动结构；
夹卡装置；
智能卡读卡结构。
所述直流电源系统可以调节输出电压大小，直流电源系统输出通过机械轴(2)与机械轴(3)相连接，通过调节直流电源系统的输出以控制机械轴(3)的运转速度，从而控制调节整个系统的机械运转速度，使夹卡装置做速度可调的周期性平面直线运动。
所述机械运动结构，实现了电能到动能的转化；通过机械运动结构，也实现了运动方式的转化，将机械轴(2)、机械轴(3)的机械圆周运动转化为夹卡装置的平面直线运动；整个测试系统为对称型设计，通过对称型机械运动结构，实现同时对2张智能卡进行测试，提高了测试效率。
如图1所示，直流电源系统通过机械轴(2)带动机械轴(3)和机械轴(4)转动。由于机械轴(4)为偏心轴，即机械轴(4)的中心轴线和机械轴(2)、机械轴(3)的中心轴线不在一条直线上，从而机械轴(4)做偏心圆周转动。如图2所示，摆动装置中有一导孔(7)，通过机械轴(4)的偏心圆周转动，机械轴(4)在导孔(7)中以导孔(7)内缘作偏心圆周运动，从而带动摆动装置实现以铰链(5)为固定点的来回摆动运动，摆动装置通过铰链(8)带动夹卡装置以机械轴(9)为导轨作平面直线运动，从而带动装卡在夹卡装置中的智能卡以机械轴(9)为导轨作平面直线运动，在智能卡的周期直线运动过程中实现了同时对智能卡带电老化寿命与金属面耐磨强度的测试，如图3所示。
所述智能卡读卡结构，内部包括读卡器，用以控制智能卡管脚电气特性状态，实现在智能卡运动过程中，实时给智能卡供电控制智能卡管脚电气特性状态。
该实用新型工作原理：
本设备通过直流电源系统供电，机械运动结构将电能转化为运动动能；通过机械运动结构，带动夹卡装置做周期性平面直线运动；同时读卡结构实时给智能卡提供电源，从而实现同时实现对智能卡带电老化寿命与金属面耐磨强度的测试。
附图说明
图1为本实用新型的顶视图
图2为本实用新型的正视图
图3为本实用新型的侧视图
具体实施方式
下面通过具体测试实例对本实用新型智能卡测试设备进行详细描述：
a)拧松螺钮，将夹卡装置上盖打开，把待测试智能卡装到夹卡装置中，并将智能卡另一端插入读卡器中，使得智能卡金属触点与读卡器金属触点接触，盖上上盖，锁紧夹卡装置上的螺钮，使得夹卡装置在做平面直线运动过程中上盖和下盖不发生相对移动；
b)打开直流电源系统的开关，给智能卡测试设备供电；
c)系统上电后，机械轴(2)开始按照设定速度作圆周运动，机械轴(2)带动机械轴(3)和机械轴(4)转动。由于机械轴(4)为偏心轴，即机械轴(4)的中心轴线和机械轴(2)、机械轴(3)的中心轴线不在一条直线上，从而机械轴(4)做偏心圆周转动；摆动装置中有一导孔(7)，机械轴(4)通过在导孔(7)中作以导孔(7)内边缘为圆周运动带动摆动装置实现以铰链(5)为固定点的来回摆动运动；摆动装置通过铰链(8)带动夹卡装置以机械轴(9)为导轨作周期性平面直线运动；
d)在夹卡装置的整个运动过程中，智能卡被夹紧在夹卡装置中，跟随夹卡装置作周期性平面直线运动，在智能卡的周期直线运动过程中同时实现对智能卡金属面耐磨强度测试和带电老化寿命测试。读卡器中心线和夹卡装置的中心线保持在一条直线，以保证夹卡装置在作周期性直线运动过程中智能卡不发生弯折。
e)读卡结构在探测到智能卡后，立刻向智能卡发出测试向量，对智能卡进行带电老化寿命测试，本步骤是一个循环过程；
f)按照规定的标准测试次数完成后，检查被测智能卡，通过产品的性能和功能以及金属面的外观质量验证智能卡是否符合质量要求。
通过实用新型提出的智能卡的测试设备，可以对智能卡可靠性进行严格地考核，能够提前发现由于智能卡结构和系统设计可靠性问题而导致的生产测试成品率的低下，或者智能卡内所存储的数据易丢失等问题，实现同时实现对智能卡带电老化寿命与金属面耐磨强度的测试。并且通过对称性的结构设计，可以一次对多个智能卡进行测试，提高了工作效率。
本实施例仅供说明本实用新型之用，而非对本实用新型的限制，有关技术领域的技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，还可以作出各种变换或变化，因此所有等同的技术方案也应该属于本实用新型的范畴由各权力要求限定。

Claims (7)

1、一种智能卡测试设备，用于对智能卡进行测试，其特征在于该设备包括：直流电源系统(1)；将电能转化为动能的机械运动结构；夹卡装置(11)；智能卡读卡结构(16)；其中：
所述直流电源系统(1)根据智能卡测试的需要，控制输出电流大小以调节测试设备的机械运转速度；所述机械运动结构由机械轴(2)、机械轴(3)、机械轴(4)、机械轴(9)以及摆动装置(6)组成；所述智能卡读卡结构(16)实现实时给智能卡供电以控制智能卡管脚电气特性状态；
直流电源系统(1)的输出与机械轴(2)相连接，直流电源系统(1)通过机械轴(2)带动机械轴(3)转动，机械轴(2)和机械轴(3)转动带动机械轴(4)做偏心圆周转动，通过机械轴(4)的偏心圆周转动带动摆动装置(6)实现以铰链(5)为固定点的来回摆动运动，通过摆动装置(6)的摆动带动夹卡装置(11)在机械轴(9)上作周期平面直线运动。
2、如权利要求1所述的智能卡测试设备，其特征在于机械轴(4)为偏心轴，机械轴(4)的中心轴线和机械轴(2)、机械轴(3)的中心轴线不在一条直线上。
3、如权利要求1所述的智能卡测试设备，其特征在于摆动装置(6)通过铰链(5)和铰链(8)分别与基座(18)、夹卡装置(11)连接，。
4、如权利要求1所述的智能卡测试设备，其特征在于摆动装置(6)中有一导孔(7)，机械轴(4)在导孔(7)中作偏心圆周运动带动摆动装置(6)实现以铰链(5)为固定点的来回摆动运动。
5、如权利要求1所述的智能卡测试设备，其特征在于夹卡装置(11)进一步包括：
螺钮(15)；
上盖(12)；
下盖(14)；
铰链(13)
引孔(10)；
所述螺钮(15)固定在上盖(12)表面，所述上盖(12)和下盖(14)通过铰链(13)连接，通过拧紧螺钮(15)锁紧上盖(12)和下盖(14)，使得被测智能卡锁紧在夹卡装置(11)中，不能进行相对移动，所述引孔(10)和机械轴(9)配合，夹卡装置(11)以机械轴(9)为导轨作周期平面直线运动。
6、如权利要求1所述的智能卡测试设备，其特征在于智能卡读卡结构(16)内部包括读卡器(17)，用以控制智能卡管脚电气特性状态，读卡器(17)中心线和夹卡装置(11)的中心线保持在一条直线，以保证夹卡装置(11)在作周期性直线运动过程中智能卡不发生弯折。
7、如权利要求1所述的智能卡测试设备，其特征在于智能卡测试设备为对称型设计，电能转化为动能的机械运动结构、夹卡装置(11)和智能卡读卡结构(16)分别有2套，可以实现对2张智能卡同时进行测试。
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