CN201034976Y - 阶梯类探伤试块 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种阶梯类探伤试块,该试块是由试块体和台阶组成,试块体是一长≤350mm,宽≤150mm,厚度≤150mm的长方体、上表面加工有阶梯状台阶。其中部分阶梯上还可安装把柄,以方便试块放置;该类试块和现有技术相比,具有设计合理、结构简单、制造精度高、测试范围宽、使用方便等特点,因而在无损检测行业具有很好的推广使用价值。
Description
1、技术领域
本实用新型涉及超声波探伤试块加工技术,具体地说是一种阶梯类探伤试块。
2、背景技术
目前,用于超声波测试用的试块品种很多,普遍存在的不足时测量精度不高、需要反复测量,因而加大了测试人员的工作量。
3、发明内容
本实用新型的目的是克服上述缺点,提供一种测量精度相对较高的阶梯类探伤试块。
本实用新型的技术方案是,试块是由试块体和台阶组成,试块体是一长≤350mm,宽≤150mm,厚度≤150mm的长方体、上表面加工有阶梯状台阶。
本实用新型的优点是:
1)方便的调整探测范围;
2)精确的调整探伤灵敏度。
4、附图说明
附图1是阶梯类探伤试块的主视结构示意图;
附图2是阶梯类探伤试块的俯视结构示意图;
附图3是阶梯类探伤试块的仰视结构示意图。
附图中的标记分别表示;试块体1;阶梯2;盲孔3;刻字4;把柄5。
5、具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的阶梯类探伤试块作以下详细说明。
如附图所示,本实用新型的阶梯类探伤试块,由试块体1和台阶2组成,试块体1是一长≤350mm,宽≤150mm,厚度≤150mm的长方体、上表面加工成阶梯状台阶2。
试块体1的阶梯面的低级台阶2上设置把柄5。
试块体1的下表面钻有盲孔3,盲孔3位于各级台阶2的正下方。
试块体1的侧面设置有刻字4,刻字4内容包括试块名称、阶梯厚度、商标、标准号、制造编号和制造厂家。
本实用新型的阶梯类探伤试块的用途是:
1)方便的调整探测范围;
2)精确的调整探伤灵敏度。
实施例
本实用新型的阶梯类探伤试块具体型号有以下8种:
CBI 带把阶梯试块
RB-Z 射线阶梯
测厚试块A 双晶直探头试块A
测厚试块B 双晶直探头试块B
本实用新型的阶梯类探伤试块和现有技术相比,具有设计合理、结构简单、使用方便、测试范围宽,既能测试探头又能测试仪器等特点,因而,具有很好的推广使用价值。
Claims (4)
1.本实用新型提供一种阶梯类探伤试块,其特征在于试块是由试块体和台阶组成,试块体是一长≤350mm,宽≤150mm,厚度≤150mm的长方体、上表面加工有阶梯状台阶。
2.根据权利要求1所述的阶梯类探伤试块,其特征在于试块体的阶梯面的低级台阶上设置把柄。
3.根据权利要求1所述的阶梯类探伤试块,其特征在于,试块体的下表面钻有盲孔,盲孔位于各级台阶的正下方。
4.根据权利要求1所述的阶梯类探伤试块,其特征在于,试块体的侧面设置有刻字,刻字内容包括试块名称、阶梯厚度、商标、标准号、制造编号和制造厂家。
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GR01 | Patent grant | ||
EE01 | Entry into force of recordation of patent licensing contract |
Assignee: Jining Ruixiang Mold Co., Ltd. Assignor: Shandong Jining Mould Tool Factory Contract record no.: 2010370000241 Denomination of utility model: Step ladder kind flaw detection test block Granted publication date: 20080312 License type: Exclusive License Record date: 20100513 |
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