CN1954240B - 测位仪以及用于校准测位仪的方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种用于对于被包围在介质中的物体进行探测的测位仪、特别是手持测位仪。该测位仪具有用于探测被包围在介质中的物体的第一装置、并且具有一个用于测位仪测量信号的控制及分析单元。根据本发明建议，该测位仪(56、57、58)具有第二探测装置(62、68、80、81)，这些探测装置使得对于测位仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的预先规定的距离d进行探测成为可能。此外，本发明还涉及一种用于校准测量仪的方法、特别是用于校准对于被包围在一种介质中的物体进行探测用的手持测位仪的方法，其中，只是在对于测量仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的距离d进行测量至少一次之后才进行用于校准测量仪(56、57、58)的基准测量。

Description

测位仪以及用于校准测位仪的方法

技术领域

本发明涉及一种用于对于被包围在一种介质中的物体进行探测的测位仪、特别是一种手持的测位仪。此外，本发明还涉及一种用来校准对于被包围在一种介质中的物体进行探测的测量仪、特别是用来校准手持测量仪的方法。

背景技术

用于对于被包围在一种介质中的物体进行探测的测位仪在手工艺和室内扩建行业例如广泛用于确定电线和水管的位置。除了具体地实现本来的测量功能外，设备的操作对于测量结果的质量有决定性的作用。若使用者操作不当，或者在操作设备时从错误的设想出发，则一个技术上高质量的测量仪在场地实践中也只能达到小的测量能力。

在典型地用于在墙壁、天花板和地板中寻找导线、管道、金属物或者木梁的测位仪中，可以区分为各种不同型别的借助使用探测方法的测位仪。

例如已公开感应式的设备，它产生一种磁场，该磁场受到被包围的金属物体的干扰。如此被改变的磁场被一个具有一个线圈或者多个线圈的探测器检测到，这样，通过测位仪在包围着物体的介质的表面上推移或移动就可确定被包围的金属物体的位置。这种类型的探测仪的缺点是只能探测金属物体。

一种被描述为电容式探测仪的二级探测仪有源地通过一个在测量仪中已有的标准电容器建立一个电场，该电场会受到包围在介质-例如在墙体、天花板或者地板中的物体的干扰。然而，这样一种电场穿透到待探测的介质中不是很深，因此这些探测器主要用作“螺栓探测器”(studfinder)，因为这些探测器特别是能确定隐藏在护壁板-例如石膏板或者木铺面后面的木梁的位置。

此外已知一种电源电压探测器。这种探测器是电容式的，然而是无源的，也就是它不产生自己的电场就能检测到电源电压线路的交流电压场，因此能显示出墙壁中的有源电线的位置和走向。

最近公开了一种高频探测器。这种探测器通过一个标准电容器产生一种能很深地穿透到待探测的介质中的高频电磁场。在穿过待探测的介质的表面时通过标准电容器的介电常数的变化检测到例如通过被包围的物体所引起的内置的材料的变化，并且确定其位置。至于物体是否是由金属、塑料、气体或者液体组成，或者是否包含这些物质，对于这种类型的检测仪来说并不重要。只要能区分出被包围物体的电特性与包围着该物体的介质、例如墙体材料的电特性就够了。

也已知一种发射雷达脉冲的雷达探测仪，这种雷达脉冲被隐藏在介质中的物体反射回来。通过对反射的雷达脉冲的计算就可得到有关被包围在一种介质中的物体的信息。

大多数这种类别的探测器有一个共同点，就是为了得到有意义的测量结果，特别是在接通时、和/或定期地必须对这些探测仪进行校准。在进行这种校准时大多数要进行内部电子平衡。当在探测器的附近没有要寻找的物体时就要进行这种平衡。

这样，例如金属探测仪必须距每个位于附近的金属以大的距离进行校准。为此，人们典型地将探测仪从待探测的墙壁拿开，放到空中。在校准之后人们可以将探测仪放到待探测的介质上，例如墙壁、地板或者天花板上，以确定隐藏物体的位置。除了这样一种校准过程费时间外，还由于这样的校准过程本身产生某种风险，因为当进行错误的校准时也可能出现假的正测量结果或者假的负测量结果。最糟糕的情况是，这种错误的校准的结果可能是物品甚至是人员的损伤。

另一方面，在测量仪直接接触墙壁时，通过基准测量来对于许多电容式的测位仪进行校准。

发明内容

根据本发明的用于对于被包围在一种介质中的物体进行探测的测位仪一方面具有用于探测被包围在介质中的物体的装置。除了这些探测装置以外，该测位仪还具有能测量从测位仪到介质表面的可预先规定的距离的装置，该装置并且因此能保证该测位仪或者保持到介质的一个必要的最小距离，或者明确地放置在介质的表面上。因此借助这些组成了用于测量仪的距离传感机构的第二装置，就可以保证如此地设置根据本发明的测位仪，即可以进行用于校准测量仪的基准测量。例如在感应式的测位传感器中这样的基准测量是在空气中进行的，其中必须保证到用于确定被包围物体位置的探测单元足够近的地方不得有物体。这样一种物体会使得用于进行校准的基准测量或者零测量失真，从而导致测量仪的错误的零平衡。在这种情况中根据本发明的测位仪借助一个墙壁距离传感机构能保证具有一个用于基准测量所需的最小距离。

另一方面有一些要校准的测量仪，例如所谓的电容式工作的“螺栓探测器”或者梁探测器，其中，必须将这种探测器放置到要被测量的墙壁上的一个没有梁的位置处。所测得的纯墙壁信号相应于基准信号或者校准信号。在这种情况中应将测量仪放置到墙壁上，以确保和墙壁相接触。因此在这类测量仪中，可对于测量仪预先规定的到介质表面的距离等于零。这种测量仪到墙壁的看不见的距离的特殊情况在测量仪的某些使用情况中-例如测量仪必须在空气中校准-已经足够告知测量仪和使用者，在这些条件中对这种特殊的测量仪进行校准是没有意义的，因为容易出现错误。

在根据本发明的测位仪的一种有利的实施方式中，用于距离传感机构的第二探测装置具有一个电容传感器。这种电容结构的传感器在它的电极之间建立一个电场或者电磁场。当在这种场中包围的介质例如通过下述情况而发生变化：即刚开始对准空气的测量仪现在靠近墙壁，那么由于进入到标准电容器的测量区域中的介质的介电常数的不同而产生一种电容器的电场或者电磁场。这样一种场的变化是可测量的。

在根据本发明的测位仪的一种特别有利的实施方式中，标准电容器-它是用于探测被包围在一种介质中的物体的第一装置的组成部分-同时也可以用作距离传感机构，并且因此也形成第二探测装置。因此通过对于用于探测的标准电容器进行相应布线，就也可用相同的结构部件实现距离传感机构。这可有利地使得根据本发明的测位仪的一种紧凑结构成为可能。在这种实施方式中，第一装置和第二装置是通过同一结构部件实现的。

在根据本发明的测位仪的一种替代实施方式中，构成一个距离传感机构的第二探测装置可以具有一个光学传感器，它用于确定根据本发明的测量仪到待探测的介质的表面的最小距离。在这种情况中，所有类型的光学探测仪均可用作这种传感器。例如由三角测量法中已知的、例如一种激光的聚焦光束可以倾斜地照射待探测的介质的表面。其中，一个光敏接收器、例如一种CCD装置以规定的角度探测从墙壁反射回来的辐射强度。这个角度可以如此地调节，即只有当测量仪接触到墙壁时所发射的光束才反射到接收器。在这种情况中，用根据本发明的距离传感机构可以验证直接接触到墙壁。一些替代的实施方式可以规定，只有在一定的最小距离时才接收到被墙壁反射回来的光束，这样，由于有了这样一种信号，最小距离的存在可以由待探测的墙壁证实。在使用至少一种超声波信号的情况下，也可进行这样一种距离测量。

原则上讲，根据本发明的测位仪的距离传感机构也可通过机械方法实现。其中，所有类型的机械接触探测都可以通过线路元件来进行。在此情况下，通过将测位仪放置在墙壁上、或者通过超过测位仪到墙壁之间的最小距离，自动地对线路元件进行操作，并且将低于最小距离的情况传输给测位仪的控制及分析单元。

根据本发明的测量仪的所有这些实施方式的共同点是，所述墙壁距离传感器的信号是由测位仪本身通过电子途径或者软技术途径来分析的。由于有了这种附加的信息，所以由此可以作出是否可进行校准测量的决定。这个决定例如是在测量仪的控制及分析单元中自动进行的。这样，例如根据本发明的测位仪的使用者可通过显示或者音频信号了解校准是成功了还是失败了。也可在根据本发明的测位仪中集成一个自动装置。当存在足够的墙壁距离时，该自动装置自动地校准所述测位仪。此外，在该实施方式中还有下述优点，即测量仪接通后能立即工作，因为校准过程在不依赖使用者的情况下已经执行完毕。

同样申请保护的根据本发明的用于校准测量仪、特别是用于校准用来探测由介质包围的物体的手持测位仪的方法具有如下优点，即，测量仪的用于校准所必需的基准测量只是在对测量仪到介质的距离测量了至少一次之后才进行。这样，用根据本发明的方法保证了，进行正确的用于校准的基准测量。特别是当低于测量仪到介质表面的可预先规定的最小距离时，在某些测量仪中不进行这样的用于校准的基准测量。当一种介质与测量仪有一定距离时，而该距离小于一个可预先规定的最小距离，在这些测量仪中、例如感应式的测量仪中，将会导致错误的校准，并且因此提高错误测量的危险。例如在一种感应式的金属测位仪中，在校准期间在测量仪的测位传感器的作用范围之内如果确实存在一个金属物体，那么就会导致在探测物体时该测位传感器不起作用，或者在最糟糕的情况下不显示存在的物体。

此外还规定，当在基准测量期间低于这种测量仪到介质表面的可预先规定的最小距离时，中断用于校准测量仪的所述基准测量。这样在根据本发明的方法中保证了，不会将根据本发明的测位仪提早地放置到例如墙壁上。

当低于或者超过用于校准测量仪的基准测量用的可预先规定的距离时，根据本发明的测量仪以有利的方式告诉使用者。这例如可通过光学显示、必要时在测量仪的显示器上显示，或者也通过声学的报警声来实现。

当测量仪到介质表面存在一个可预先规定的距离时，根据本发明的方法有利地独立和自动地进行至少一次用于校准测量仪的基准测量。这导致根据本发明的测位仪可短时间地用来确定被包围在一种介质中的物体的位置。

因此，根据本发明的方法特别是也可保证，只有当测量仪位于待检测的介质的表面上时才进行用于校准测量仪的基准测量。测量仪到介质的极小的可预先规定的距离的这种特殊情况可有利地特别是用在例如感应式的测位仪中。

在下述附图以及所属的说明中公开了根据本发明的测位仪以及根据本发明的用于校准测量仪的方法的其它优点。

附图说明

在附图中示出了根据本发明的测位仪的实施例。这些实施例将在下面的说明中更加详细地予以描述。附图和附图说明包括许多特征组合。本领域技术人员既会单个地对待这些特征，也会将这些特征组合成其它有意义的特征组合，因此这些组合也视为本文中的组合。

这些附图是：

图1：根据本发明的测量仪的一种实施方式的简化的透视总图；

图2：根据本发明的测量仪的一种替代的实施方式在与墙壁接触时的截面简图；

图3：根据图2的测量仪的示意图，其中测量仪和壁间隔着距离；

图4：具有一个第二实施方式的距离传感机构的根据本发明的测位仪的一种替代实施例，其中，测量仪已放置在墙壁上；

图5：根据图4的测量仪，其中测量仪距待测量的墙壁间隔着距离；

图6：具有一个替代的距离传感机构的根据本发明的测量仪的另一实施例截面图，其中该测量仪已放置在墙壁上；

图7：根据图6的具有相应距离传感机构的测量仪，其中测量仪与墙壁间隔着距离。

具体实施方式

图1在一个透视简图中表示一个根据本发明的测位仪10的一个第一实施例。该测位仪具有一个壳体12。该壳体由一个上半壳和一个下半壳48和50组成。在壳体的内部设置至少一个传感器-在图1的实施例中为一个感应传感器，它具有一个用于金属探测的线圈装置、一个信号产生及分析用电子装置、以及一个例如通过电池或者蓄电池供电的电源。此外，根据图1的测位仪还具有一个用于输出与测量信号相关的输出信号的显示器14。通过显示器14，例如一种分段的线条显示或者一种图形的LCD显示可以表示被探测到的测量信号的强度。此外，根据本发明的测位仪还具有一个带有一系列操作键18的操作面板16。这些操作键使得接通或断开测位仪、以及在必要时起动一个测量过程成为可能。

在操作面板16的下部的区域中，根据图1的测位仪具有一个区域20。该区域在形状和材料结构上都设计成用于手持根据本发明的测位仪的手柄22。借助这个手柄22，测位仪用它的下侧面30在待探测的物体或者介质的表面上移动。

在测位仪10的与手柄22对置的一侧28上，测位仪具有一个穿透壳体的孔24。这个孔24通过一个安装到壳体12中的套筒26以及测量仪的壳体上下侧面组成。孔24和测量仪的感应传感器的一个线圈同心设置。这样，测量仪中的孔24的位置就相应于位置探测器的中心，因此也同时给使用者显示出可能被探到的物体的准确位置。此外，测量仪还附加地在其上表面上具有一条标志线52，通过该线可以确定孔24的准确的中心，并且因此确定被包围的物体的位置。

在使用时，按照图1的根据本发明的测位仪用它的下表面30沿着待探测的介质的表面移动。为此，在根据本发明的测位仪的另一些实施方式中也可以设置滚珠、辊子或者其它的滚动体，借助这些滚动体可使测位仪在墙壁上运行。在这种情况中，通过测位仪的感应传感器可以确定被包围在墙壁中的金属物体的位置、并且借助显示器14使得使用者了解物体的实际情况。根据本发明的测位仪在它的内部具有一个距离传感机构，该距离传感机构使得能够探测所述测量仪与待探测的墙壁的接触，或者低于根据本发明的测位仪与待探测的墙壁的可规定的最小距离。为此根据所使用的距离传感机构，所述根据本发明的测位仪在它的下侧面上具有用于所述距离传感机构测量信号的出口孔和进口孔。

下面对根据本发明的这样一种距离传感机构的几种可能的实施方式进行说明，但是这些实施方式不应视为对本发明的限制。

图2在一个截面简图中表示根据本发明的一个测位仪的另一实施方式。根据图2的测位仪56具有一个壳体60。在该壳体中集成了一个未详细描述的用于探测被包围在介质中的物体的传感机构。这个传感机构可以是一种感应式或者电容式传感器、一种高频电容传感器或者也可以是一种雷达传感器。此外，该测位仪56还具有一个距离传感机构62。为了确定被包围在一种介质中的物体的位置，测位仪56借助于设置在设备或者壳体60上的滚珠或者辊子64在介质的表面65上、在图2的实施例中是在墙壁66上移动。在这种情况下，通过一种相应的传感器来确定被包围在介质中的物体的位置。除了所述探测传感器之外，距离传感机构62可以探测出测量仪56和墙壁66的接触，或者保证测量仪的可规定的最小距离。

根据图2的按照本发明的测位仪的距离传感机构62具有一个电容传感器68，该电容传感器借助于测位仪的一个相应的控制电子装置在它的两个电容器元件70和72之间建立起一个电场或者电磁场。在这种情况中，标准电容器75的这两个电极可以由每种导电材料以任何可想象的配置构成。在此，特别值得一提的是金属、电缆和线圈。其中如此地确定由标准电容器75所产生的测位仪的场74的尺寸，即当测量仪放置在墙壁66上时该场至少部分地进入到该墙壁中。

然而，若如图3所示，当根据本发明的测位仪56距墙壁66为最小距离d时，则距离传感机构62的电场74不再进入到墙壁66中，或者以忽略不计的部分进入到墙壁中。由于进入到场74中的介质具有不同的电介质特性，因此距离传感机构62的标准电容器75的电容发生变化。这样一种电容变化是可测量的，并且可用于转变成用来确定墙壁接触的直接信号，或者用于确定存在着距墙壁最小距离d的直接信号。

若根据本发明的测位仪例如是一种电容测位仪，或者是高频探测器，则在设备的相应的线路中用于确定被包围在介质中的物体位置的标准电容器也可用作距离传感机构62的电容器74。在这种情况中，可有利地放弃用于确定被包围的物体位置及用于墙壁接触或者靠近墙壁的不同传感器，这样就可实现一种既紧凑而且性能又高的测位仪。

应用距离传感机构62探测的最小距离d例如可预先根据经验得到，这样，距离传感机构62的相应的布局和设置确保不仅能可靠地测定与墙壁的直接接触，而且也能可靠地探测到低于最小距离d(参见图3)。然而如图2和3所示的电容式距离传感机构也可集成到感应的测量仪中或者例如雷达仪中。

图4和5示出用于根据本发明的探测仪的距离传感机构的一种替代的实施方案。根据图4或者图5的测位仪57可以是用于探测被包围在介质中的物体的任意一种测位仪——例如感应仪、电容仪、电源电压探测仪、或者也可以是雷达仪。

测位仪57为它的距离传感机构62使用一种光学传感器80，如在图4中简示示出的那样。传感器80包括至少一个光源82、例如一个激光器或者一个LED以及一个相应设置的光敏接收器84、例如一个光电二极管或者一个CCD元件。从光源82发出的光线83通过测位仪57的壳体底部30中的一个孔86发出，当测位仪57和墙壁接触时被这个墙壁66的表面65反射。从墙壁66反射的光线通过测量仪57的底部30中的一个相应的孔88重新进入该测量仪中，并且在那里投射到光敏接收器84上。

光敏接收器84以规定的角度探测从墙壁66反射过来的光的辐射强度。其中在图4和5所示实施例中该角度是如此调节的，即只有当与墙壁接触时光线才反射到该接收器84中。若如图5所示，根据本发明的测位仪57与墙壁66的表面65间隔距离，这样光学传感器80的由墙壁66反射的光就不是反射回到该接收器84上。这样，通过对于接收器84的分析，例如通过根据本发明的测位仪57的设备内部的控制及分析单元就能可靠地探测出该测位仪是否与墙壁接触。

这样，如图4所示，例如当与墙壁接触时，可以给测位仪的使用者一个相应的光学信号或者声音信号。这个信号可以让某种类型的测量仪的使用者注意到，在这种情况中是不显示用于校准测量仪的基准测量的，因为现有的墙壁66会使基准测量或者零测量的测量结果失真。当使用着需要在墙壁上进行校准的、也就是在极小距离(d＝0)时的电容测量仪时，可以通过墙壁接触的信号化告诉使用者，他现在正好可以做一次校准测量。

在可替代的实施方式中，代替光学信号也可为这种类型的距离传感机构例如使用超声波信号。

图6和7表示用于根据本发明的测位仪的距离传感机构62的一个光学传感器81的一种替代的实施方式。测位仪58-它可以使用用于确定一个被包围在一种介质中的物体的位置的已公开的探测方法中的一个或多个方法一具有一个带有调焦镜组的距离传感机构62。在这种情况下，光源90一例如激光、激光二极管、或者LED通过一个合适的镜组92一在图6或7的实例中用一个概略的透镜94表示-以一个清晰的光斑或者光带、或者任何其它相应几何形状96投射到墙壁66的表面65上。

随着测位仪58与墙壁66的距离的增加，这个光斑96越来越不清晰，因为不再满足镜组92的相应的成像要求。这种在墙壁66上成像的不清晰性由一个相应的光敏探测仪以合适的形式进行分析。这样，例如可根据所采用的探测仪分析出光信号的形状、也就是光斑96的形状、它的绝对亮度、或者在表面上的亮度的分布。借助一个接收镜组100-该接收镜组在图6或7的实施例中也简化为透镜102地表示出-将探测信号104传导到测位仪58的距离传感机构62的接收探测器98上。

这样，例如可通过一个存储在根据本发明的测位仪的分析及控制单元中的用于在接收探测器上的光的强度的特性曲线也定量地获知测位仪与介质的接近情况，这一情况在实施例中通过墙壁66象征性地表示。若根据本发明的测位仪低于到介质、例如墙壁66的最小距离d，则例如可通过设备内部的控制单元来闭锁设备内部的校准过程，并且通过例如光学的或者声学的指示信号使得设备使用者注意，在目前的运行条件下不能进行用于校准测量仪的基准测量，因为由于存在介质(墙壁66)会导致这种基准测量存在测量错误。

另一方面通过这种方式也可明确地探测出测量仪是否已放置在墙壁上，这样，例如对于电容式设备来说就可进行一次校准测量。

这样，根据本发明的测位仪使得用于校准测量仪的方法成为可能，在此方法中，只是在进行了用于探测从测量仪到介质表面的距离d的至少一次测量之后，才进行用于校准测量仪的基准测量。通过这种方式就可保证，当低于测量仪到介质表面的可规定的最小距离时，或者在进行基准测量期间低于可规定的最小距离时，则不进行用于校准测量仪的基准测量，或者中断这种基准测量。另一方面也可确保测量仪与介质表面存在接触，这样，对于电容式测量仪来说例如就可进行一次基准测量。

根据本发明的测量仪的距离传感机构62可有利地如此实现自动化，即首先检查是否到介质保持一个可规定的距离，也就是例如测位仪目前到介质的距离D是否大于可规定的最小距离d，有鉴于此然后才进行用于校准测量仪的基准测量，然后例如在测量仪的一个视觉显示器上显示出对测量仪的成功的校准。这样，根据本发明的测位仪的使用者才能直接开始用于探测被包围在一种介质中的物体的测量工作，而不必首先进行手动的校准。

除了上述这种自动的校准方法之外，当然在根据本发明的测量仪中也可规定由使用者控制地例如通过操作面板的按键来启动这样一种校准方法。

根据本发明的测位仪、并且特别是这样一种测位仪的距离传感机构并不局限于在实施例中所示的形式。特别是距离传感机构并不局限于一种电容式的或者光学式的方法。也可采用超声波方法或者雷达方法。用于根据本发明的测位仪的距离传感机构例如也可以采用机械方法、也就是所有方式的机械接触探测、例如通过开关来实现。这样，例如通过将测位仪放置到墙壁上就自动地操作了一个相应的开关，并且开关过程和随后的墙壁接触被传输到测量仪的控制及分析单元中。

在个别情况中，无论距离传感机构的信号是由哪些墙壁距离传感器提供的，它们都是通过测量仪的电子途径或者软件技术途径进行处理的。由于有了距离传感机构的这些信号，例如用于确定被包围在介质中的物体的位置的探测传感器的控制单元就可以作出这种决定：在一定的测量条件下是否允许进行校准工作。这样，也可在根据本发明的定位仪中集成一个测量自动装置。当不存在墙壁接触时，或者当距离大于最小距离时，该自动测量装置使测位仪自动地进行校准。在这些条件具备的情况下，可给使用者随时提供已准备好运行的、也就是已校准的测量系统以供使用。

为了探测被包围在一种介质中的物体，根据本发明的测位仪并不局限于使用感应式或者电容式传感器；而是任何一种已公开的和尚未公开的测位仪均可设置根据本发明的距离传感机构。

根据本发明的测位仪和以此为基础的方法并不仅限于应用在墙壁、天花板和地板中。这些仅仅是为了说明其工作原理的一种非限制性的选择。

Claims (13)

1.用于对于被包围在一种介质(66)中的物体进行探测的测位仪，它具有用于探测被包围在介质中的物体的第一装置，以及具有一个用于测位仪测量信号的控制及分析单元，其特征在于，该探测仪(56、57、58)具有一个第二探测装置(62、68、80、81)，这些探测装置使得对于测位仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的可预定的距离d进行探测成为可能，其中，设有装置，该装置保证所述测位仪在校准测量的情况下被设置成能够进行用于校准所述测量仪的基准测量。

2.按照权利要求1所述的测位仪，其特征在于，第二装置(62)具有一个电容式传感器(68)。

3.按照权利要求2所述的测位仪，其特征在于，第二装置(62)和第一装置通过相同的电容传感器(68)构成。

4.按照权利要求1所述的测位仪，其特征在于，第二装置(62)具有一个光学传感器(80、81)。

5.按照权利要求4所述的测位仪，其特征在于，光学传感器(80、81)包括至少一个光源(82、90)和一个光敏接收器(84、98)。

6.按照权利要求1所述的测位仪，其特征在于，第二装置(62)具有一个机械传感器。

7.用于校准用来对于被包围在介质(66)中的物体进行探测的手持测位仪的方法，其特征在于，只是在对测量仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的距离d进行至少一次测量之后，才进行用于校准测量仪(56、57、58)的基准测量。

8.按照权利要求7所述的方法，其特征在于，若低于测量仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的可预先规定的最小距离d，则不进行用于校准测量仪的基准测量。

9.按照权利要求7或8所述的方法，其特征在于，若在基准测量期间低于测量仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的可预先规定的最小距离d，则中断用于校准测量仪的基准测量。

10.按述权利要求7或8所述的方法，其特征在于，通过测量仪(56、57、58)将基准测量时低于最小距离d通知给使用者。

11.按照权利要求7所述的方法，其特征在于，当测量仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的可预先规定的距离D大于一个可预先规定的最小距离d时，就自动地进行至少一次用于校准测量仪(56、57、58)的基准测量。

12.按照权利要求7所述的方法，其特征在于，只有当测量仪(56、57、58)位于介质(66)的表面(65)上时，才进行用于校准测量仪的基准测量。

13.按照权利要求12所述的方法，其特征在于，若不再能保证测量仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的壁接触，则中断用于校准测量仪的基准测量。

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