CN1910471A - 具有实时磁场绘制的磁共振成像 - Google Patents
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Abstract
一种磁共振成像扫描仪(10)执行磁共振成像。该扫描仪(10)包括产生主磁场的主磁体(20),磁场梯度线圈(30),和至少一个射频天线(32,34)。至少一个磁场传感器(32,34,64,66,68,70,72)测量与主磁场相对应的空间数据。处理器(60)处理测得的与主磁场相对应的空间数据以确定至少一个主磁场非均匀性参数。至少一个磁场传感器(32,34,64,66,68,70,72)和处理器(60)与磁共振成像同时运行。
Description
技术领域
下文涉及磁共振领域。发现了在使用多个钢来调整或整形主B0磁场的磁共振成像扫描仪中有特定的应用,下文将特别参考这一点详细描述。然而,还发现了在得益于维持基本均匀的主B0磁场或得益于有关主B0磁场非均匀性信息的其他磁共振成像扫描仪中和磁共振光谱学及成像技术中的应用。
背景技术
主B0磁场中使用钢或铁磁材料的磁共振成像扫描仪逐渐增多。钢或其他铁磁材料的调整常用于校正磁体制作中产生的裂痕。环,棒或其他形状的钢或其他铁磁材料也常加到磁体设计中。例如,在短内腔磁共振成像扫描仪中钢环或其他钢结构可用来扩展均匀磁场以补偿较短的内腔,并且补偿由于内腔缩短导致的主B0磁场的非均匀性。
虽然在主B0磁场中加入钢或其他铁磁材料有利于初始场的均匀,同时产生的问题就是延长的成像会话中磁场梯度的震荡可产生使钢升温的漩涡电流。这种热效应影响钢的磁特性并且可以改变主B0磁场并且/或者在一次成像会话过程中产生主场的空间非均匀性。
还有其他情形可导致在一次成像会话过程中主B0磁场的漂移或改变。例如,如果主B0磁场不完全稳定,比如总场强或视场被调节,长时间常数的瞬态过程可表现为主场漂移或扭曲。主磁体能量控制器电子线路的缺陷同样可导致漂移。
为说明主B0磁场的非均匀性,可用多种技术绘制主场,比如Shenet al.,Magn.Reson.Med.vol.38,pages 834-839(1997)中描述的FASTERMAP技术。这些绘制技术一般包括几秒的数据采集且其执行优先于一个成像会话的运行。它们并不说明整个成像会话过程中或某次单独的扫描中由于钢的升温,主磁电流的漂移或诸如此类的原因导致的主B0磁场的改变。
本发明构想一个改进的装置和方法可克服上述和其他局限性。
发明内容
根据一个方面,提供一种磁共振的方法。在主磁场中执行磁共振成像。测量对应于主磁场的空间数据。至少一个主磁场非均匀性参数由对应于主磁场的空间数据来确定。该测量和确定与磁共振成像的执行同时执行。
根据另一方面,公开一种磁共振成像装置。提供了用于在主磁场中执行磁共振成像的装置。提供了用于测量对应于主磁场空间数据的装置。提供了由对应于主磁场的空间数据确定至少一个主磁场非均匀性参数的装置。
根据又一方面,公开一种磁共振成像装置。磁共振成像扫描仪执行磁共振成像。该扫描仪包括产生主磁场的主磁体、磁场梯度线圈,以及至少一个射频天线。至少一个磁场传感器测量对应于主磁场的空间数据。将处理器编程以便确定主磁场非均匀性参数。
一个优点在于在成像对话过程中提供主B0磁场的绘制。
另一个优点在于在成像获取或对话过程中补偿主B0磁场中的变化。
又一个优点在于通过在成像对话过程中维持基本均匀的主B0磁场来提供更准确的成像。
此外,又一个优点在于和磁共振成像同时地提供关于主B0磁场非均匀性的信息。提供的信息可用来调节主B0磁场以补偿场非均匀性。另外或可选地,提供的信息可用于后数据获取,以便对于由非均匀性导致的赝像校正获取的磁共振成像数据。
阅读以下优选实施方案的详述后,本发明相对于本领域中常规技术许多额外的优点和好处将更显而易见。
附图说明
本发明可采取多种部件或部件配置的形式,以及采取多种处理操作和处理操作配置的形式。附图只用于说明优选实施例的目的,而不能被解释为限制本发明。
图1示意性地表示磁共振成像体系,实现了与磁共振成像同时执行的快速主B0磁场绘制。
图2示意性地说明基于磁共振的磁场传感器,用于测量主B0磁场。
图3示意性地说明霍尔效应磁场传感器,用于测量主B0磁场。
图4示出了磁共振脉冲序列,实现了快速主B0磁场绘制的一个实施方案。
图5描绘了成像帧或动态的时序,具有散置的主B0磁场绘制序列测量和计算时帧。还示出了典型的FASTERMAP磁场绘制序列的时帧用于比较。
图6示意性地说明了图1中的调整处理器的细节。
具体实施方式
参阅图1,磁共振成像扫描仪10包括外壳12,外壳12限定了大致圆柱形的扫描仪内腔14,在其内部放置相关的成像对象16。主磁场线圈20放置在外壳12内,产生大致沿着并平行于扫描仪内腔14的中心轴22的主B0磁场。主磁场线圈20一般是放在低温罩(cryoshrouding)24中的超导线圈,但是也可以采用其他的主磁体几何形状和磁源。
在一个实施方案中,钢或其他铁磁材料的阵列或结构26被设置在外壳12内部。该阵列或结构26与主磁场线圈20产生的磁场相互作用,以提供在选定视场中均匀的主B0磁场。虽然示出了阵列或结构26位于外壳12内,它同样也可以设置在扫描仪内腔14的内部,比如通过将钢或其他铁磁材料安装在滑入内腔14的电介质前体上。阵列或结构26的钢或其他铁磁材料优选是层叠的,由叠层钢板构成,形成为具有非磁性材料的的复合物,或构造为减小涡流。尽管如此,阵列或结构26中可产生一些涡流。这些涡流可以加热钢或其他铁磁材料,并导致在成像对话阶段阵列或结构26的磁性质的改变。
外壳12还容纳或支承磁场梯度线圈30,用来选择性地产生平行于内腔14的中心轴22的磁场梯度,沿横切于中心轴22的面内方向,或沿其他选定的方向。外壳22还容纳或支承射频体线圈32,用于选择性地激励和/或探测磁共振。放置于内腔14内部的线圈阵列34包含多个线圈,在示例的线圈阵列34中具体为4个线圈,但是还可以使用其他数目的线圈。线圈阵列34可用作平行成像的接收器的相控阵列,作为SENSE成像的灵敏度编码(SENSE)线圈,或诸如此类。在一个实施方案中,线圈阵列34是靠近成像对象16放置的表面线圈阵列。外壳12通常还包括限定扫描仪内腔14的装饰性的内衬36。
线圈阵列34可用来接收由整个体线圈32激发的磁共振,或者磁共振可同时由线圈阵列34激发和接收。此外,还可以考虑用线圈阵列34激发磁共振并用整个体线圈32探测磁共振。可以理解,如果线圈32、34中的一个用来传输和接收,则线圈32、34中的另一个可任选地省略。
主磁场线圈20产生主磁场B0。磁共振成像控制器40操作磁控制器42以便选择性地为磁场梯度线圈30赋能,并且如图所示操作射频传输器44与射频线圈32耦合,或与线圈阵列34耦合,以选择性地为射频线圈或线圈阵列32,34赋能。通过选择性地操作磁场梯度线圈30和射频线圈32或线圈阵列34,磁共振被产生并且在成像对象16的至少一部分感兴趣区域中进行空间编码。通过借助梯度线圈30施加所选择的磁场梯度,横越了所选择的k-空间轨迹,比如笛卡尔轨迹、多个径向轨迹、或螺旋线轨迹。可选地,成像数据可以被获取作为沿所选择的磁场梯度方向的投影。成像数据获取的过程中,磁共振成像控制器40操作射频接收器46与线圈阵列34耦合,如图所示,或与整个体线圈32耦合,来获取存储于磁共振数据存储器50中的磁共振采样。
成像数据通过重构处理器52重构为图像表示。在k-空间采样数据的情况下,可以用基于傅立叶变换的重构算法。取决于获取的磁共振成像数据的格式,同样可以使用其他重构算法,如基于过滤的背投s影重构。对于SENSE成像数据,重构处理器52从由每个线圈获取的成像数据中重构折叠的图像,而后组合折叠的图像连同线圈灵敏度参数来产生展开的重构图像。
由重构处理器产生的重构图像存储于图像存储器54中,并且可以在用户界面56上显示,存储于非易失性存储器中,在局域内网或互联网上传输、观看、存储、操作等等。用户界面56也可以使放射专家、技术人员或磁共振成像扫描仪10的其他操作人员与磁共振成像控制器40沟通,以便选择、修改并执行磁共振成像序列。
任选地,主B0磁场在成像对话过程中通过调整处理器60来主动调整。在一个实施方案中,调整处理器60在磁场数据的基础上计算一个或多个调整电流,该磁场数据由整个体线圈32或线圈阵列34的线圈在预扫描专用的调整磁共振脉冲序列过程中获取。通过主B0磁场调整控制器62,由调整处理器60计算出的调整电流被施加到主磁场线圈20的调整线圈61上。
在另一个实施例中,调整处理器60在主B0磁场测量的基础上计算调整电流,主B0磁场的测量是由放置在内腔14中选定的位置处或主B0磁场内外壳12中的磁场传感器64,66,68,70的阵列获取的。除了图1中所示的四个磁传感器64,66,68,70外,其他磁场传感器也可以放置在扫描仪10的在图1的视图中被删去的部分上。更一般地,两个或多个磁场传感器放置在内腔14中或外壳12内部的不同位置处,以提供关于主B0磁场的空间信息。传感器64,66,68,70可以是霍尔效应磁场传感器、基于磁共振的传感器,如锁频线圈,基于独立共振的传感器,其包括它们自己的专用共振材料和射频激励系统,等等。
磁场传感器64,66,68,70由获取读数的磁场传感器读出72监控,该磁场传感器读出72获取读数、任选地格式化或其他方式处理该读数,并将磁场测量通信至调整处理器60。在一个实施方案中,磁场传感器64,66,68,70和磁场传感器读出72共同限定了磁场照相机,其以球形谐波分量的形式输出磁场非均匀性测量。该非均匀性测量在一个实施方案中用来调节调整线圈61的电流,在另一个实施方案中用来调节重构处理器52以说明该非均匀性。
参阅图2,在使用了传感器64,66,68,70的一个实施方案中,每个传感器是独立于磁感应成像的基于磁共振的传感器。举例说,图2中图示了适当基于磁共振的传感器80,其包括射频发生器82和发射线圈或天线84。发射的射频能量在放置于线圈或天线84附近的样品86中激发了磁共振。同样放置在样品86附近的接收线圈或天线88拾取样品86的磁共振,并且该信号由射频接收器或传感器90测量。也可以使用具有适当的发送/接收开关的共用的发射/接收天线,而不是具有单独的发射和接收天线84,88。样品86放置于主磁场中,比如在图1所示的其中一个传感器64,66,68,70的位置上。天线84,88通常被放置于样品86附近以促进射频耦合。然而,射频发生器82和射频接收器或传感器90可以放置在主B0磁场内部或外部。
在另一个实施方案中,调整处理器60以主B0磁场的测量为基础计算调整电流,该主B0磁场的测量是通过对于磁共振成像试验考虑接收器的相控阵列34的独立元件而获取的,以提供与图1中所示的一组接收器64,66,68,70基本相同的信息。更一般地,可以用具有散布在内腔内的不同位置的两个或多个元件的相控阵线圈来提供主B0磁场的空间信息。这可以通过测量对于磁共振成像试验产生的信号来实现,或者为确定主B0磁场的空间分布的目的而将附加的测量引入到磁共振成像试验中来实现。
在一个实施方案中,样品86是氟、氘、或其他样品,其共振频率显著不同于磁共振成像中典型成像的1H的共振频率。在该实施方案中,射频传感器80对磁共振成像扫描仪10产生的射频激励基本不敏感。在另一个实施方案中,射频发生器82和发射线圈或天线84被略去,样品86由扫描仪10的射频发射器44和线圈32或线圈阵列34以成像1H的磁共振频率被激励。例如,这种无源磁场传感器设置可以在某些扫描仪中用作锁频线圈。在一个实施方案中,多个这种与传感器64,66,68,70对应的无源磁场传感器或锁频线圈提供了关于主B0磁场的空间非均匀性的信息。
而在另一个实施方案中,传感器64,66,68,70是霍尔效应传感器。例如在图3中,霍尔效应传感器100包含至少一个砷化铟、砷化镓、锑化铟或其他呈现高霍尔电压的半导体材料的半导体膜102,形成在适当的基本电绝缘的衬底104上。半导体膜或膜叠层102大致横切于扫描仪10的主B0磁场设置。通过半导体膜102的电流(I)产生了横切于电流方向并横切于主B0磁场的霍尔电压(VH)。霍尔电压的极性和幅度与主B0磁场的极性和幅度分别相对应。霍尔效应传感器100对磁共振成像扫描仪10产生的磁共振激励基本不敏感。
参阅图4,通过用适当的脉冲序列,主B0磁场也可以由扫描仪自身来测量。在示例脉冲序列120中,小角度射频脉冲122被施加以产生磁共振。小角度射频脉冲122优选具有小于5°的翻转角,更优选具有在1°和5°之间的翻转角。在一些实施方案中,小角度射频脉冲122的翻转角小于1°。施加小角度射频脉冲122而没有伴随的磁场梯度脉冲以激发该成像体积。使用多瓣(叶形)磁场梯度126沿切片选择(slice-select)方向执行多回波梯度读出。在一个实施方案中,多瓣磁场梯度包含5个瓣:L1、L2、L3、L4、L5,具有相对瓣面积比为-a∶+b∶-b∶+b∶-a,其中a,b代表梯度瓣面积,正负号代表梯度瓣极性或方向。在图4所示的实施方案中,比例a∶b为1∶2。梯度颠倒使信号重聚焦,并且梯度回波在对应于瓣L2、L4的采样间隔130,132期间被收集。通过应用傅立叶变换重构,将梯度回波重构为沿切片选择方向的投影。投影的复相差对应于沿切片选择方向的主B0磁场非均匀性分布。对沿切片选择方向的均匀的主B0磁场,相差为零。
多回波梯度读出可沿选定方向被重复,以提供用于绘制主B0磁场的三维数据。例如,图4示出了沿横切于切片选择方向的选定方向、以相编码(y)和读出(x)方向之间的角度的第二多瓣磁场梯度136。多瓣磁场梯度136由通过组合分别由相编码(y)和读出(x)磁场梯度线圈产生的多瓣磁场梯度分量140,142而产生。梯度回波在间隔144,146期间被读取,并用傅立叶变换和复相差计算来处理。额外的多回波梯度读出可沿其他方向进行,直到由小角度射频脉冲122激发的磁共振衰减回到平衡。任选地,额外的小角度射频脉冲可施加在连续的多回波梯度读出之间以维持磁共振。
在另一种测量对应于主B0磁场的空间数据的方法中,线圈阵列34的线圈用来提供关于主B0磁场的空间分布的信息。线圈阵列34的线圈被空间分布,因而可以类似于由专用磁场传感器64,66,68,70提供的方式来提供关于主B0磁场的空间分布信息。
当磁场传感器对于磁共振成像扫描仪10产生的1H磁共振基本不敏感时,如对于图2和图3中所示的磁场传感器80,100的情形,那么主B0磁场可以基本上在磁场梯度线圈30不运行的任何时候被监测。因而,关于主B0磁场均匀性的数据可在成像脉冲序列中梯度线圈30没有施加磁场梯度的部分期间被获取。使用运行在基本不同于由扫描仪10处理的1H共振的共振频率下、基于自赋能共振的磁场传感器80,不会扰动成像的1H共振。类似地,霍尔效应传感器100的运行通常也不会扰动成像的1H共振。
相反,当扫描仪10的一个或多个线圈32,34被用于监测主B0磁场时,或者当使用工作于成像1H工作频率的基于共振的传感器时,应当避免成像和主B0磁场监测之间的重叠。在这种情况下,同时的磁共振成像和主B0磁场测量是通过在时间上使用于磁场测量的脉冲序列和成像脉冲序列交错而实现的。
参阅图5,描述的是一种适于进行同时成像和主B0磁场测量的方法。在一种常用的磁共振成像方法中,成像之前是成像数据采集的连续重复、帧或动态140,142,144。每个重复、帧或动态140,142,144成像感兴趣的体积。例如,每个帧或动态140,142,144可包含跨越感兴趣体积的多个成像切片156的获得。每个帧或动态140,142,144通常跨越约2-3秒,虽然更长或更短的时间也是可能的。帧或动态140,142,144通常用几十或几百毫秒的死时间来分隔。
在每个死时间间隔中,进行主B0磁场测量150,152,154。例如,每个主B0磁场测量150,152,154可包含图4中所示的脉冲序列120。主B0磁场测量150,152,154每个都很短,并且可以在几十或几百毫秒的死时间间隔中执行。图4中所示的脉冲序列120可以在这么短的时间间隔中执行。相反,其他典型的B0磁场绘制序列,如FASTERMAP,需要更长的时间来执行。预扫描FASTERMAP序列通常需要大概5秒的时帧158,因而不适合与磁共振成像同时进行测量主B0磁场。
例如考虑主B0磁场测量150,获得的关于主B0磁场的空间数据由调整处理器60在计算时间间隔160期间处理,其任选地与随后的帧或动态142交叠。调整处理器60计算一个或多个调整电流,适于补偿在主B0磁场测量150间测得的数据所确定的主B0磁场非均匀性。计算出的调整电流通过主B0磁场调整控制器62施加,以便在随后的帧或动态期间,如在帧或动态144期间校正主B0磁场。如果组合的主B0磁场测量150和计算时间间隔160足够短,那么调整电流可在下一帧或动态142期间被施加。
参阅图6,描述了调整处理器60的图形表示。球形谐波计算器170接收适当测量的主B0磁场数据,并计算主B0磁场的球形谐波函数分量172。球形谐波函数172被输入到调整电流计算器176,其计算一个或多个调整电流178用于施加给有源调整61以补偿主B0磁场非均匀性。在一个实施方案中,调整线圈61均被设计为产生一个或少数几个球形谐波调整分量,因而适当的校正调整电流178易于由主B0磁场的球形谐波函数172计算出。
球形谐波函数计算器170接收的磁场数据取决于如何测量主B0磁场。如果使用了专用磁场传感器,如传感器64,66,68,70,那么磁场传感器读出72优选自动转换该读数为球形谐波分量。也就是说,磁场传感器64,66,68,70和读出72的组合优选作为磁场照相机。在这种情况中,球形谐波计算器170可适当地略去。可选地,磁场测量以本来的形式,如笛卡尔坐标(x,y,z)或柱坐标(ρ,θ,z),被输入到球形谐波计算器170,该球形谐波计算器170进行坐标变换以便将测量到的传感器数据转化为球形谐波分量。
如果磁共振序列如图4中所示序列120用于测量主B0磁场数据,那么在梯度瓣L2,L4期间分别获得的傅立叶变换梯度读出γ(L2)和γ(L4)由相差处理器182处理,以产生复相差投影Δγ(d),其中d代表投影方向。球形谐波计算器170通过位相展开复相差投影Δγ(d)、并将展开的复相差投影Δγ(d)拟和到对应于球形谐波分量的勒让德多项式,来计s算球形谐波。
如果关于主B0磁场空间分布的数据使用多个线圈,例如用线圈阵列34获得,则获得了包含共振频率(ω)和共振信号强度(S)的对于每个线圈的数据184。频移计算器186通过将对于线圈灵敏度因子188校正的(S,ω)测量拟和到适当的磁场模型,如一阶空间磁场分布模型,或者通过分析线圈数据184以得到作为位置r函数的磁共振频率非均匀性Δω(r)来计算频率分布,其中r位于笛卡尔坐标(x,y,z)中,柱坐标(ρ,θ,z)中,或其他适当的坐标系中。球形谐波计算器根据ω=gB将磁共振频率非均匀性Δω(r)转化为磁场非均匀性ΔB0(r),其中g为旋磁比,对于1H共振有g≌42.58MHz/T。球形谐波计算器170将磁场非均匀性ΔB0(r)变换为球形谐波坐标。可选地,可直接在球形谐波坐标中拟和(S,ω)测量来得到磁共振频率非均匀性Δω(r)。
在图示的实施方案中,在磁共振成像对话过程期间,主B0磁场测量用于计算校正调整电流以调整主B0磁场。在另一个预想的实施方案中,主B0磁场非均匀性测量用于进行获取的磁共振成像数据的后数据获取校正,其校正了由主B0磁场非均匀性导致的重构图像中的赝像。
本发明参照优选实施方案来描述。显然,在阅读和理解前文的详述的基础上,可修改或替换为其他实施方案。本发明应解释为包含所有这些修改和替换,只要它们落在附属的权利要求或其等效描述范围内。
Claims (27)
1.一种磁共振方法,包括:
在主磁场中执行磁共振成像;
测量与主磁场对应的空间数据;以及
由对应于主磁场的空间数据来确定至少一个主磁场非均匀性参数;其中
测量和确定与磁共振成像的执行同时执行。
2.如权利要求1所述的磁共振成像方法,其中执行磁共振成像包括:
获取磁共振成像重复、帧或动态,该获取包括获取体积磁共振成像数据;
重复该获取;以及
在该获取的重复之间或与之同时地散布测量。
3.如权利要求1所述的磁共振成像方法,进一步包括:
获取磁共振成像重复、帧或动态,该获取包括获取体积磁共振成像数据;
重复该获取;
在确定的至少一个主磁场非均匀性参数的基础上,计算主磁场调整电流;以及
在获取后续的磁共振成像重复、帧或动态期间,施加计算出的主磁场调整电流。
4.如权利要求1所述的磁共振成像方法,进一步包括:
通过在该至少一个主磁场非均匀性参数的基础上调节主磁场来补偿主磁场中的变化。
5.如权利要求1所述的磁共振成像方法,进一步包括:
通过调节成像数据的图像重构来补偿主磁场中的变化,该成像数据由在至少一个主磁场非均匀性参数的基础上执行磁共振成像而收集。
6.如权利要求1所述的磁共振成像方法,其中测量和确定包括:
使用沿选定方向施加的磁场梯度来读取至少两个梯度回波;以及
从该至少两个梯度回波中计算主磁场沿选定方向的非均匀性。
7.如权利要求6所述的磁共振成像方法,进一步包括:
对多个选定方向重复该读取和计算;以及
在沿选定方向计算出的非均匀性的基础上绘制主磁场。
8.如权利要求6所述的磁共振成像方法,其中读取该至少两个梯度回波包括:
沿选定方向施加平衡的磁场梯度,该平衡的磁场梯度具有至少两个由相反极性的瓣分开的相同极性的瓣;以及
在这两个相同极性瓣期间读取至少两个梯度回波。
9.如权利要求6所述的磁共振成像方法,其中读取该至少两个梯度回波包括:
在读取该至少两个梯度回波之前,施加射频激励。
10.如权利要求9所述的磁共振成像方法,其中施加射频激励包括:
施加具有低翻转角的射频激励。
11.如权利要求9所述的磁共振成像方法,进一步包括:
使用沿不同方向施加的磁场梯度来读取至少两个梯度回波;以及
其中沿选定方向和沿不同方向的读取探测由相同的所述施加的射频激励激发的磁共振。
12.如权利要求6所述的磁共振成像方法,其中该计算包括:
将每个梯度回波进行傅立叶变换以重构沿选定方向的投影;以及
计算由该至少两个梯度回波重构的投影之间的复相差,沿选定方向的主磁场的非均匀性对应于该复相差。
13.如权利要求12所述的磁共振成像方法,其中使用沿选定方向施加的磁场梯度来读取至少两个梯度回波包括:
施加多瓣磁场梯度包括沿选定方向的至少5瓣,该多瓣磁场梯度包括-a∶+b∶-b∶+b∶-a的瓣面积比,其中a、b代表梯度瓣面积,正负号代表梯度瓣极性;以及
在两个+b瓣期间读取该至少两个梯度回波。
14.如权利要求1所述的磁共振成像方法,其中:
测量与主磁场相对应的空间数据包括读取空间上分离的线圈阵列的线圈。
15.如权利14所述的磁共振成像方法,其中:
执行磁共振成像包括使用空间上分离线圈的阵列来成像,对应于该主磁场的空间数据是从磁共振成像数据中提取的。
16.如权利要求1所述的磁共振成像方法,其中测量与主磁场对应的空间数据包括:
以和执行磁共振成像中所用的共振频率不同的共振频率来激励和采样磁共振;以及
从采样的磁共振中导出对应于主磁场的空间数据。
17.如权利要求16所述的磁共振成像方法,其中以和执行磁共振成像中所用的共振频率不同的共振频率来激励和采样是在磁共振成像过程中进行的,并且进一步包括:
在多个空间位置处,以和执行磁共振成像中所用的共振频率不同的共振频率来采样磁共振。
18.如权利要求1所述的磁共振成像方法,其中测量与主磁场对应的空间数据包括:
在磁共振成像的成像对象中激励和采样磁共振;以及
从采样的磁共振中导出对应于主磁场的空间数据。
19.一种磁共振成像装置,包括:
用于在主磁场中进行磁共振成像的装置(10);
用于测量与主磁场对应的空间数据的装置(32,34,64,66,68,70,72);
用于从与主磁场对应的空间数据中确定至少一个主磁场非均匀性参数的装置(60)。
20.如权利要求19中所述的磁共振成像装置,其中测量装置(32,34,64,66,68,70,72)包括:
放置于主磁场中的多个磁场传感器(64,66,68,70),该多个磁场传感器(64,66,68,70)独立于成像装置(10)工作。
21.如权利要求20中所述的磁共振成像装置,其中磁场传感器(64,66,68,70)选自于包括:
霍尔效应磁场传感器(100);
基于共振的有源磁场传感器(80),工作在与获取装置的磁共振频率不同的共振频率下,以及
多个的锁场线圈,调至获取装置的磁共振频率。
22.如权利要求19中所述的磁共振成像装置,其中测量装置(32,34,64,66,68,70,72)包括:
成像装置(10)的一个或多个射频接收线圈(32,34)。
23.如权利要求19中所述的磁共振成像装置,进一步包括:
放置在主磁场中的铁磁结构(26),该铁磁结构(26)在响应于磁共振成像的时间上诱发主磁场的变化。
24.如权利要求19中所述的磁共振成像装置,进一步包括:
用于在以该至少一个主磁场非均匀性参数的基础上,在磁共振成像的过程中调节主磁场的装置(62)。
25.如权利要求19中所述的磁共振成像装置,进一步包括:
用于对由执行磁共振成像的装置(10)获得的成像数据进行重构的装置(52),该重构装置(52)在该至少一个主磁场非均匀性参数的基础上调节该重构。
26.一种磁共振成像装置,包括:
执行磁共振成像的磁共振成像扫描仪(10),该扫描仪(10)包括:
产生主磁场的主磁体(20),
磁场梯度线圈(30),和
至少一个射频天线(32,34);
至少一个磁场传感器(32,34,64,66,68,70,72)测量对应于主磁场的空间数据;以及
处理器(60),被编程以执行权利1中所述的方法以确定该非均匀性参数。
27.如权利要求26中所述的磁共振成像装置,进一步包括:
调整线圈(61),用于调整主磁场;以及
重构处理器(52);
该处理器(60)可操作地与调整线圈(61)及重构处理器(52)中的至少一个相连,以根据该非均匀性参数调节调整线圈电流和共振数据重构中的至少一个。
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