CN1855249A - 光盘片伺服信号偏压校正的方法及光盘片的量产制造方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提出一种光盘片的伺服信号偏压校正方法，该方法先利用光盘片刻录区域校正伺服信号偏压，再以该校正过的伺服信号偏压来执行最佳化功率校正，以得到一写入功率准位。将资料刻录至该光盘片和从该光盘片读取资料则以该写入功率准位与该校正过的伺服信号偏压为基准。

Description

光盘片伺服信号偏压校正的方法及光盘片的量产制造方法
技术领域
本发明是有关于一种光盘片(optical disc)的伺服(servo)信号偏压(bias)校正(calibration)的方法，特别是关于一种未刻录(unrecorded)资料光盘片或空白(blank)光盘片的伺服信号偏压校正的方法。
背景技术
目前已存在许多光盘片的伺服信号偏压校正的方法，是根据刻录于光盘片上8-14调变(Eight-to-Fourteen Modulation；EFM)的信号。图1是一公知光驱决定最佳聚焦错误(focus error；FE)偏压的方法的示意图。该方法是由日本专利第8-077579/1996号所揭露，最佳聚焦错误偏压电压VB0位于聚焦错误偏压VB4与VB3的中心，VB4与VB3分别由沟槽错误(groove error)率曲线GE与区块错误(block error)率曲线BE的读取极限所决定。同时，最佳抖动点(jitter point)位于聚焦错误偏压电压VB0，即VB4与VB3的平均值。然而，区块错误率曲线是由EFM信号得出，因此传统的方法不适用于未刻录资料光盘片或空白光盘片。
相同地，日本专利第7-201058/1995与8-249682/1996号更揭露读取聚焦错误偏压(read FE bias)的调整(adjustment)是分别决定于如图2所示晃动敲击(wobble beat)曲线GC的最小点PC，晃动抖动(wobble jitter)曲线GE的最小点PE，EFM抖动(jitter)曲线GB曲线的最小点PB，EFM的峰至峰(peak-to-peak)值曲线GA的最大值PA。此方法虽可应用于全新的空白光盘片上，然而其中须另增加所谓晃动敲击(wobble beat)侦测线路来侦测晃动的发生；而且晃动最小点PC是否就是EFM错误率与抖动的最佳点并不确定，因其与读取头(pickup head)光路设计有关，因此该方法并无法证明可广泛使用于所有光驱种上。
另外，由以上二种方法得出的最佳读取聚焦错误偏压并不适用于写入聚焦错误控制循环(write FE control loop)。
在日本专利第JP2000306247(2000/11/02)号中，提出一种可适用于写入聚焦错误控制循环的聚焦错误平衡的校正方法，其方法为使用一固定写入功率(write power)，光驱以不同的写入聚焦错误偏压准位(write FE bias level)做刻录测试，并将光盘片上刻录结果的不对称性(asymmetry)利用光驱的读回(read back)装置读回来，以产生写入聚焦错误偏压的校正功能。图3显示在日本专利第JP2000306247号中不对称性准位β与聚焦平衡之间的关系，在大量实行的过程中，此方法须对读回装置先进行一定程度的校准，以防止因读回装置的差异性造成不对称性量测误差而导至不良结果。另外，测试所使用的写入功率与写入策略(strategy)也会对最终结果产生一定的影响而必须加以注意。
图4的流程图说明一传统刻录资料于空白光盘片的方法40，在光驱中放入可刻录资料的空白光盘片后，光驱读取光盘片储存的辨识资料(identification data；ID)并辨识其属性(attribution)，如步骤41与42。步骤43检查插入的光盘片是否为一空白光盘片，若光盘片已刻录，光驱可依在EFM资料区的信号来执行伺服信号偏压校正，若光盘片是一未刻录资料光盘片或空白光盘片，则有些偏压准位，可由预设(default)的聚焦错误偏压准位来决定。在步骤47中预设的聚焦错误偏压准位是用来读回在功率校正区域(power calibration area；PCA)内的EFM信号，刻录该EFM信号是用于最佳化功率校正(optimum power calibration；OPC)的目的。在聚焦错误偏压未校正的情况下，碟机的读取动作会产生不可忽视的误差，进而影响功率校正结果且造成刻录品质不佳。
图5的流程图说明另一传统刻录资料于空白光盘片的方法50，在光盘片的量产制造过程中，如步骤52所示，先将一不对称性准位(asymmetry level)的建议值刻录在光盘片的晃动信息(wobble information)内。如步骤53所示，当一使用者开始刻录资料于空白光盘片，光驱首先读取晃动信息来执行最佳化功率校正，因此，其不对称性准位最接近不对称性准位的建议值的写入功率即为最佳写入功率。然而，光驱读回的不对称性准位值会因光驱不同而有差异，造成刻录品质不一致。此种读回值的差异不仅存在于不同的光驱，也存在于不同量产制造批号的光盘片。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种光盘片的伺服信号偏压校正的创新方法，特别是关于一种未刻录资料的空白光盘片的伺服信号偏压校正方法。光驱以一校正过的伺服信号偏压来执行空白光盘片的最佳化功率校正，以得到一最佳写入功率准位，其导致在写入时可成功地得到适当的信号。
本发明的其它目的是提供一种对光盘片的刻录区域(embossed area)内读取的伺服信号偏压做校正的方法，从光盘片的刻录区域量测一不对称性信息，因而降低不同的光驱刻录品质的差异。
为达上述目的，本发明揭示一种光盘的伺服信号偏压校正的方法。该方法先对光盘片刻录区域内的伺服信号偏压做校正，再以该校正过的伺服信号偏压来执行最佳化功率校正，以得到一写入功率准位。后续将资料刻录至该光盘片和从该光盘片读取资料则以该写入功率准位与该校正过的伺服信号偏压为基准。
至于本发明所提的目的也揭示一种最佳化功率校正信息的传递方法。
建议的最佳化功率校正参数可借由量测光盘片上预先刻录的图案来得到。光驱量测预先刻录的图案所得到的参数，将被用来刻录资料于光盘片。由于光驱根据自己的量测重新产生参数，故不同光驱量测的差异可被消除。理想状态下，这些参数将非常接近于最佳化功率校正的处理流程中从功率校正区域读到的值。
在本发明的其它方面，一最佳化功率校正的架构被提出来找寻最佳写入功率以及与写入功率相关的写入聚焦错误偏压。
在本发明所提的最佳化功率校正的处理流程中，在一默认值的功率下，以不同的伺服信号偏压准位将资料写入一光盘片的功率校正区域，不对称性信息是由相对应的写入区域中量测，找出符合从刻录区域量测到的不对称性准位的二个伺服偏压准位，并计算二者的差异，该写入功率决定于该计算出的伺服偏压准位的差异，介于二个伺服偏压准位之间的最佳的伺服偏压准位即可得出以用来刻录光盘片。
附图说明
图1是公知的决定最佳聚焦错误偏压方法的示意图；
图2是公知的决定最佳聚焦错误偏压方法的示意图；
图3是显示公知的一不对称性指数β与一聚焦平衡偏压之间的关系；
图4是一公知的刻录资料于空白光盘片的方法的流程图；
图5是一公知的传递建议的最佳化功率校正参数的方法的流程图；
图6是根据本发明实施例的刻录资料于空白光盘片的的方法的流程图；
图7是根据本发明实施例的传递建议的最佳化功率校正参数的方法的流程图；以及
图8是说明根据本发明实施例的用来决定一最佳写入功率准位与其写入聚焦错误偏压准位的示意图。
符号说明：
GE沟槽错误率曲线    BE区块错误率曲线
GC晃动敲击曲线      PC晃动敲击曲线的最小点
GE晃动抖动曲线      PE晃动抖动曲线的最小点
GB EFM抖动曲线      PB EFM抖动曲线的最小点
GA EFM的峰至峰值曲线
PA EFM的峰至峰值曲线的最大值
β不对称性准位
具体实施方式
图6的流程图是说明根据本发明实施例的未刻录资料光盘片或空白光盘片的伺服信号偏压校正的步骤60。在放入可刻录资料空白光盘片后，光驱读取光盘片的辨识资料ID来辨识其属性，如步骤61与62。步骤63检查光盘片是否为一空白光盘片，若光盘片已刻录，则执行步骤66，光驱以刻录区内的EFM信号来执行如读取聚焦错误位准的伺服信号偏压校正。若光盘片是一未刻录资料的空白光盘片，则执行步骤64，对光盘片刻录区域内的伺服信号偏压做校正。
当步骤65的刻录激活，最佳化功率校正的处理流程是以校正过的伺服信号偏压来执行，以得到写入功率准位，如步骤67。在执行最佳化功率校正的处理流程前，先参考不对称性信息，例如不对称性准位β可借由量测刻录在光盘上的EFM信号来得到。以该写入功率准位与该校正过的伺服信号偏压为基准来将资料刻录至该光盘片和从该光盘片读取资料。
光驱借由每次写入动作的开始执行最佳化功率校正的处理流程来调整刻录光盘片的激光功率，光驱利用不同准位的激光功率在光盘片的保留区(例如功率校正区域)执行测试刻录(burn)，光驱必须读回自己在测试刻录区域的资料，以计算刻录的激光功率值，此即为众所周知的最佳化功率校正的处理流程。
相较于图5，图7揭露一种方法70，应用于空白光盘片具有参考信号图案(pattern)，使得光驱可借由量测参考信号图案来得到光盘片的物理特性。光驱因此可利用这些得到的物理特性执行接下来最佳化功率校正(OPC)的处理流程。如步骤72所示，空白光盘片在量产制造时即将参考信号图案烧到光盘片上。如步骤73所示，当一使用者欲刻录资料于光盘片，最佳化功率校正的处理流程的执行包含量测参考信号图案。从量测参考信号图案可得到的光盘片的物理特性包含射频(RF)不对称性、射频峰至峰值(VPP)、时脉信号的周期长度T、反射光信号分别在3T、11T、14T记录标记的最大振幅m3、m11与m14、以及参考抖动与错误率。
图8是说明根据本发明实施例的用来决定最佳写入功率准位与写入聚焦错误偏压准位。当最佳化功率校正的处理流程执行时，光驱以不同的写入功率准位与不同的伺服信号偏压来刻录资料于光盘片的功率校正区域。图8说明三个EFM特性曲线P1、P2与P3，描述三个不同的写入功率准位伴随不同的写入聚焦错误偏压准位。
计算每条曲线对应于一不对称性量测β的预设门槛(predeterminedthreshold)的二个写入聚焦错误偏压准位之间的差异。该预设门槛可以是先前于刻录区量测的一预设最佳不对称性准位，有些曲线与该预设门槛不相交，如图8的曲线P1，指出这些曲线对应的写入功率准位太低，达不到预设门槛β，每一曲线与该预设门槛二个相交点的差异值被计算来做比较，例如，对曲线P2而言，δ＝|B-A|。
若计算出的差异值δ在由一上门槛δH与一下门槛δL所定义的预设范围内，对应于曲线P2的写入功率准位可用于后继的刻录流程。相反地，对应于曲线P1与P3的写入功率准位分别太大和太小，若计算出的差异值δ满足预设范围δL＜δ＜δH，最佳写入聚焦错误偏压准位ε可由曲线导出，在本实施例即为二个相交点A与B的中心平均值，ε＝(A+B)/2。在后继的刻录流程中，最佳写入功率准位与最佳写入聚焦错误偏压准位ε可视为最佳的刻录参数设定。
本发明的技术内容及技术特点已揭示如上，然而熟悉本项技术的人士仍可能基于本发明的教示及揭示而作种种不背离本发明精神的替换及修饰。因此，本发明的保护范围应不限于实施例所揭示的，而应包括各种不背离本发明的替换及修饰，并为申请专利范围所涵盖。

Claims (20)

1.一种光盘片的伺服信号偏压校正的方法，包含下列步骤：
对光盘片刻录区域内的伺服信号偏压做校正；以及
以该校正过的伺服信号偏压来执行最佳化功率校正，以得到一写入功率准位。
2.根据权利要求1所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其另包含下列步骤：
以该写入功率准位与该校正过的伺服信号偏压为基准来将资料刻录至该光盘片和从该光盘片读取资料。
3.根据权利要求1所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其中该刻录区域包含实质刻录于光盘片上的最佳刻录信息，光驱在量测光盘片的物理特性时参考该刻录信息以得到最佳刻录参数设定。
4.根据权利要求1所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其中该伺服信号偏压的校正是根据光盘片上刻录图案的量测。
5.根据权利要求1所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其中该光盘片上刻录图案的量测为一不对称性准位。
6.根据权利要求1所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其中该伺服信号偏压是一读取聚焦错误偏压、一写入聚焦错误偏压或其二者的结合。
7.根据权利要求1所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其中该光盘片是一未刻录资料的盘片。
8.根据权利要求1所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其另包含借由量测先前刻录用来执行最佳化功率校正的信号图案来得到参考的不对称性信息。
9.一种光盘片的伺服信号偏压校正的方法，包含下列步骤：
对一光盘片的刻录区域内读取的伺服信号偏压做校正；
从该光盘片的刻录区域量测不对称性信息；以及
执行以该不对称性信息为基础的最佳化功率校正来得到一写入功率准位。
10.根据权利要求9所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其另包含以该写入功率准位为基础来刻录资料于该光盘片。
11.根据权利要求9所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其中该不对称性信息实质刻录于该光盘片的刻录区域。
12.根据权利要求9所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其中该最佳化功率校正另包含下列步骤：
在一默认值的功率下，以不同的伺服信号偏压准位将资料写入一光盘片的功率校正区域；
量测先前步骤中该写入的不对称性准位；
计算出符合一预设门槛的二个伺服偏压准位的差异，其中该预设门槛对应于刻录区域量测到的该不对称性准位；
该写入功率决定于该计算出的伺服偏压准位的差异；以及
根据该二个伺服偏压准位符合该预设门槛来决定光盘写入的伺服偏压准位。
13.根据权利要求12所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其中该光盘写入的伺服偏压准位是该二个伺服偏压准位的中间值。
14.一种光盘片的伺服信号偏压校正的方法，包含下列步骤：
以多个测试写入功率准位与伺服偏压准位，将资料写入一光盘片的功率校正区域；
对应于不同的测试写入功率准位与伺服偏压准位下，量测8-14调变EFM的特性曲线；
在不同的测试写入功率准位下，计算出符合一预设门槛的二个伺服偏压准位的差异；
由该测试写入功率准位中决定出写入功率，若相对应的聚焦错误偏压的差异在一预设范围内；以及
根据对应于该预设门槛的该二个伺服偏压准位决定一最佳的伺服偏压准位，依该最佳的伺服偏压准位与相对应的写入功率准位来刻录光盘片。
15.根据权利要求14所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其中该最佳的伺服偏压准位是对应于该预设门槛的该二个伺服偏压准位的中间值。
16.根据权利要求14所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其中该预设门槛是量测该光盘片的刻录区域得到的一不对称性量测结果。
17.根据权利要求14所述的光盘片的伺服信号偏压校正的方法，其中该特性曲线是由一EFM的区块错误率量测得到。
18.一种光盘片的量产制造方法，包含下列步骤：
刻录一参考信号图案于光盘片上，使得光驱借由量测该参考信号图案来得到该光盘片的物理特性，光驱因此可执行最佳化功率校正。
19.根据权利要求18所述的光盘片的量产制造方法，其中该物理特性包含射频不对称性、射频峰至峰值、时脉信号的周期长度T、反射光信号分别在3T、11T、14T记录标记的最大振幅m3、m11与m14，其参考抖动与错误率。
20.根据权利要求18所述的光盘片的量产制造方法，其中该光盘片的物理特性是该光驱借由量测该光盘片的刻录区域得到。
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