CN1818667A - 手动探测器托架系统以及其使用方法 - Google Patents

手动探测器托架系统以及其使用方法 Download PDF

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Abstract

一种用在探测电子设备过程中的探测器支撑托架，包括一个本体(250)、用于支撑和定位本体(250)的装置、多个磁通传感器和一个位置传感器。本体(250)具有第一末端(252)和第二末端(256)。多个磁通传感器可操作的连接到本体(250)上。每个磁通传感器包括具有芯和线圈的探测器(100)。该芯包括具有高初始磁导率和高阻抗特性的材料。探测器(100)适于被支撑，使得芯的传感部分以无接触有间隔的关系保持在电子设备的预定表面和芯的传感部分之间。该位置传感器适于确定沿着电子设备纵轴的位置。

Description

手动探测器托架系统以及其使用方法
相关申请的交叉引用
本申请为2002年10月15日申请的美国系列申请No.10/270,326的部分继续申请，这里整体被结合作为参考。
发明背景
本发明总的来说涉及用于诊断和监测电子装置操作的探测器的托架系统。
在大规模的发电领域中，重要的是电能产生系统的元件在预期的工作寿命内完全保持功能，从而避免意外的停工和/或灾难性的损失。为避免这类问题，象大型定子这样的元件，其构成以上提及的发电系统的部分，在出售前、在客户场所安装后、以及定期的维护过程中要谨慎检查和检测。
为了高效操作，电机的定子芯30(例如图1示意性描述的)采用薄绝缘钢叠片32(图2)以减少涡流流动。如图2所示，叠片32垂直堆叠是通过将叠片的燕尾槽34放置在键条36的楔形榫内，键条安装到定子芯30的框架。为了将叠片保持在一起，以防止叠片振动，用约300-350psi的力将定子芯30轴向夹紧。
叠片32的缩短可由制造缺陷、安装/检查/重绕过程中的破坏、定子-转子接触、松线圈楔片/叠片的振动、外来的磁材料等引起。如果叠片32因为任何原因而缩短，在包含故障-叠片-键条的故障循环中将感应大的环流(见图2)。典型的故障位置39在图3中示出。循环故障电流26随着缩短的叠片数目和叠片与短/键条之间的电导率而增加。该循环故障电流26增加了定子芯内的功率浪费，并引起局部发热。该热斑可以上升至更严重的局部发热并最终引起燃烧或叠片融化。结果，定子棒绝缘和绕组也会被损坏而引起地电流流过定子芯。因此应检测并修理内部叠片芯故障，以防止进一步的损坏，并提高发电机操作的可靠性。
为了检测定子芯30中的缺陷，已开发出不同测试。“环形试验”依赖于由短路电流引起的涡流发热的检测。定子芯30绕有多圈(典型的小于10)电缆，以图1示意性描述的方式形成螺线管形励磁线圈31。选择线圈的电流电平使得定子芯30中驱动的磁通接近正常操作水平(约1-1.5Tesla)。该激励必要条件是测量几个兆伏安(MVA)，因为线圈中需要几百安培和伏特以获得预期磁通。定子芯30以这种方式被激励几个小时。采用热成像摄像机发现内部定子表面的“热斑”。这些热斑代表内叠片短路的位置和严重性。
然而，很难发现定位在定子齿37和槽表面以下的短路，因为热扩散引起表面温度上升，并扩散/展开。因为环形试验中使用的高功率电平，所以人员在测试时不能进入定子芯30的孔。而且，测试中使用的电缆对于所需的MVA级应当具有合适的尺寸，其导致设置和移动时间长。
要关心的是环形试验中使用的高磁通，因为：所需的高电流(例如，几百安培和几千伏特)需要具有几个MVA的测试供电。发电机芯的激励绕组在选择和安装中也需要高电流和电压电平，因为它们会使芯部分变暗。而且，因为在芯上实施热测试，而芯上无普通的制冷系统，所以过多的热会导致芯损坏。高电流和电压电平危及操作者的安全，如以上提及的，当运行环形试验时不允许人员进入芯内部。
为了克服环形试验的缺点，开发了“EL CID”(电磁芯缺陷检测)测试。该测试依赖于由短路电流引发的磁场的测试，短路电流流动是由于内叠片短路。因在环形试验中，发电机芯以环形方式绕有多圈。选择绕组中的电流电平，使得芯在正常操作磁通的约4％下运行。这相应于沿着芯表面感应的约5伏特/米(volt/meter)的电场。该电流需要在10-30安培范围内，从而可使用较少的几千伏安(KVA)的电功率。磁电位计，发明人称其为Chattock线圈38，用于检测从内叠片绝缘故障中感应的短路电流产生在两相邻齿间的磁场。
Chattock线圈38(作为麦克斯韦尔螺旋管或磁电位计也是已知的)用于检测由任何感应的内叠片电流产生的磁场的相位求积向量。对于4％磁通激励电平，与100mA或更大测试电流产生的电压相等的Chattock线圈电压用作严重内叠片短路指示器。
Chattock线圈38典型的以图4和5所示的方式横跨两相邻齿37的宽度，并用手或者用机动托架沿着定子的表面移动它。因为短路电流路径阻力大，由短路电流建立的磁通与激励磁通成90度相位差。来自于Chattock线圈38的信号与激励电流导出的参考信号相结合，使得可采用相位敏感检测方法，从背景噪声中提取故障信号。
已开发出全数字EL CID系统。该系统相对于先前的模拟设备展示出改善的噪声抑制。然而，存在多种畸变和失真，其在执行EL CID测试时发生，并目应当采用芯结构的知识和经验对其解释。
EL CID测试包括以与环形试验相同的形式激励芯，但是采用低得多的电压和电流电平。4-5％的磁通是正常的。EL CID测试程序展示出以下特征。从可调变压器获得的该磁通所需的电流，由标准电气出线口提供。来自于该低磁通的感应电压保持在约5伏/米，所以在EL CID测试过程中人员可进入芯以作观察。在该磁通下的感应电流足够低，不会引起过多的热，所以不再关心由测试引起的更多的芯损坏。
EL CID测试能够更好地发现内叠片的故障，该故障是位于表面以下的。这较环形试验是一个重要的优势，环形试验依赖于从内部热斑的热扩散来提供检测。然而，EL CID测试会呈现出高的噪声水平，尤其是当在末端步进区域35内扫描时(见图12)。高噪声水平是由于Chattock线圈38位于EL CID触轮的一侧，需要触轮倒转或精确定位在末端步进区域35。此外，临时操作触轮导致缠绕在Chattock线圈38周围的细线损坏。
因此，期望开发一种不容易因操作而损坏的探测器，其也不需要在末端步进区域35处倒转。
发明简述
本发明的示范性实施例包括用在探测电子设备过程中的探测器支撑托架。该探测器支撑托架包括一个本体，用于支撑和定位该本体的装置，多个磁通传感器和一个位置传感器。该本体具有第一末端和第二末端。多个磁通传感器可操作的连接到本体上。每个磁通传感器包括具有芯和线圈的探测器。该芯包括具有高初始磁导率和高阻抗特性的材料。该探测器适于被支撑，使得芯的传感部分以无接触有间隔的关系保持在电子设备的预定表面和芯的传感部分之间。该位置传感器适于确定沿着电子设备的纵轴的位置。
本发明的示范性实施例还包括确定电子设备中电故障的检测方法。该方法包括在触轮上支撑多个探测器，以无接触有间隔的关系将固体芯的传感部分保持在电子设备部件的相对的表面间，其间泄漏磁通通过，感应电子设备激励至预定电平，在第一位置处采用每个探测器检测泄漏磁通，移动触轮至相对于相反表面的第二位置，并检测泄漏磁通，监测每个探测器输出的波动，并检测相应于非正常泄漏磁通的故障，并确定电子设备内所述触轮的轴向位置。每个探测器具有一个固体芯和随固体芯配置的线圈。预定电平低于正常操作电平。
由以下结合附图的说明书会明显看出本发明的以上及其它目的、特征和优势，附图中相似的附图标记代表相同的元件。
附图简述
图1为可应用本传感器装置的实施例的传统定子芯的透视示意图。
图2和3分别为定子叠片描述方式的侧视图和前视图，其中定子芯由多个薄绝缘钢叠片构造成，叠片通过燕尾槽和键条连接到定子的框架。
图4为采用EL CID型传感器装置检查的两定子齿的示意性前视图，其描绘了没有与齿相关的故障时产生的泄漏磁通。
图5为采用EL CID型传感器装置检查的两定子齿的示意性前视图，其描绘了存在与齿相关的故障时产生的泄漏磁通。
图6为本发明的开头段落中涉及的RU 2082274 C1中示出的在先传感器装置的透视图。
图7所示为RU 2082274 C1中的装置使用的两传感器沿着与测试程序相关的电路在定子芯中配置方式的示意图。
图8为与图7的传感器相连的在先技术的托架，其也在RU 2082274 C1的装置中公开。
图9为根据本发明一个实施例探测器或传感器配置的示意性前视图，其描绘了在故障发生时的泄漏磁通。
图10为与图9所示相似的示意性前视图，但是其描绘了故障已经发生的情况，并且泄漏磁通相应的改变。
图11为根据本发明的优选实施例的托架装置举例的示意性前视图，其可用于支撑并移动图9中的传感器/探测器装置。图12为示出传感器正在通过定子向末端步进区域移动的示意图，其中齿长度被缩短了。
图13为电路装置举例的框图，该电路装置可与图9的传感器/探测器装置相结合，以测试泄漏磁通中的波动。
图14和15为定子的示意性描述，其示范了激励线圈怎样相对于传感器的位置布置，以减小定子检查中的噪声。
图16为显示从无故障或正常芯系统获得的特性的矢量图的一个举例。
图17为描绘从正常叠片装置中获得的传感器位置和信号的组合示意图。
图18为当检测到局部楔(sub-wedge)故障状态时产生的矢量图的一个举例。
图19为描绘当检测到局部楔(sub-wedge)故障状态时获得的传感器位置和信号的组合示意图。
图20为当检测到表面故障状态时产生的矢量图的一个举例。
图21为描绘在存在表面故障状态下获得的传感器位置和信号的组合示意图。
图22和23分别为托架装置可选实施例的平面图和前视图，该托架可用于支撑和移动传感器/探测器装置。
图24为与图11所示的托架装置相似的和更详细的视图，该托架用于支撑并移动传感器/探测器装置。
发明详述
简单的说，本发明公开的实施例包括一个探测器，其包括一个芯和环绕芯的传感线圈。该芯以无接触有间隔的关系设置在被探测设备的相对表面42间。相对表面42例如为定子芯30的相邻齿37的内壁。小的气隙谨慎维持在芯的末端和相对表面42之间。由于网隙是不变的，探测器位置的影响被最小化。探测器支撑在托架装置上，并沿着齿37之间移动。监测到随着定子励磁产生的泄漏磁通29的变化。利用励磁线圈定子被励磁至正常励磁电平的百分之几。检测到不正常泄漏磁通说明出现了故障。
图9-13示出本发明的示范性实施例。在这种装置中，传感器或探测器100包含通过传感线圈104设置的铁磁传感芯102。传感线圈104与图13中示意性描述出的电路装置106相连。传感芯102相对于叠片齿37定位，使得气隙108，109(最好见图11)定位在相邻齿37的相对表面42之间，探测器100定位在两相邻齿之间，并且各个相对末端限定传感芯102。
探测器装置具有提高的通用性和稳定性，采用其可检测故障，减少扫描时间，并容易手持。低电平定子芯激励的基本原理与以上提及的EL CID原理相似，但用铁芯探测器检测被探测装置的相对表面42之间的信号。
采用具有由磁性材料构成的芯的探测器100会导致信号电平的有效的提升，因为探测器100为磁通提供低磁阻路径。测得的探测器电压较空气芯探测器例如Chattock线圈38测得的电压高2-3个量级，由于探测器中的高磁通集中，致使电压测量的信噪比改善。探测器设在相对表面42之间，在探测器100的任一侧整个气隙达到约0.5cm。重要的是维持该气隙，以使引入到探测器100输出端的噪声最小化。
励磁系统
如图13所示，定子芯30可操作的连接到励磁系统190。该励磁系统190在定子芯的磁轭中为故障电流26励磁提供循环磁通。该励磁系统190包括单相可调自耦变压器191以及励磁线圈31。励磁系统190可包括与励磁线圈相连的120/240V的单相可调自耦变压器。可选择的是，单相可调自耦变压器和具有至少20A电流传导能力的电缆也可用于励磁芯。
个人计算机(PC)中运行的软件程序，其构成为电路装置106的部分，计算并显示励磁线圈圈数(2-7)和在芯中产生预期磁通的励磁电压。为了进行实例检验，励磁磁通28例如可控制在约0.075T(额定磁通的3-4％)，并且励磁频率可控制在约50/60Hz。然而，本发明的该实施例不限于这些参数，在不脱离本发明范围的情况下，可采用不同的其它参数。
根据本发明的该实施例，励磁电压和励磁绕组圈数的计算是基于发电机定子芯30的尺寸。用于电压和圈数计算的参数，其举例如下列出，是计算循环磁通的有效面积所需的参数。
1)内径/半径(ID/IR(内))
2)外直径半径(OD/OR(内))
3)齿长(TL(内))
4)芯长(CL(内))
所有参数可从发电机设计表格中获得，或容易测得。因为内间隔块和绝缘应当考虑进去，所以除有特殊规定，可假设有效的芯长约为芯长的10-90％。
在场测量中已观察到在励磁线圈31附近的槽内扫描或当采用内部照明时，因干扰噪声使从探测器得到信号失真。因此，推荐移去所有照明(或相似类型的电设备)，并且至少在扫描过程中，励磁绕组31应当从被扫描的一侧移至定子芯30的相对侧，如图14和15所示，使得远离探测器从而利于精确测量。
探测器托架系统
为了利用扫描，探测器100支撑在托架系统上。托架系统的举例如图11和24所示。在该布置中托架系统为触轮200，其设计为当在轴向扫描时在合适的位置悬挂探测器100。为获得精确测量重要的是对1)触轮200相对于发电机齿37以及2)探测器100相对于触轮200进行合适定位和调整。
在信号电平和易于扫描之间权衡选择探测器100的适合宽度。增加探测器100的宽度(即减小气隙108和109)会增强信号电平，但也增加了探测器芯102和之间设置探测器的齿37之间接触的机会。当然，接触会引起信号噪声。已经根据实验显示为确保有效信号测量并简化扫描(非接触)的探测器宽度约为槽宽减约0.38cm至约0.5cm。例如，如果槽深为3.266cm，探测器100的大约尺寸可以在约2.8cm至约2.9cm宽之间。
如图11所示，滚轮213的宽度和角度可通过旋转相应的调节螺钉210、212来调整，使得触轮导向板214贴合安装，并紧贴在之间悬挂探测器100的齿37的外板侧，以防止触轮倾斜。探测器100牢固地安装到探测器伸出片216上，以避免倾斜和不合逻辑的测量数据。
一旦探测器100安装到探测器伸出片216上，通过调节两探测器定位调节螺钉218，探测器100位于如图11所示设备的相对表面42之间。松开探测器定位调节螺钉218就允许在垂直方向调节探测器100。紧上探测器定位调节螺钉218就在选定位置处固定探测器100。期望的是探测器100的钢部件位于相对表面42之间的中间位置，并在槽楔41的稍上一点。
数据采集系统
根据本发明实施例进行的两种测量为探测器电压和励磁电流的测量。可采用商业出售的硬件测得这些参数，例如标有IOTECH的Wavebook516便携式数据采集(DAQ)系统。
软件程序控制数据采集系统的设定，还处理、显示、以及存储扫描每个槽所获得的数据。该软件具有参数输入屏和主程序屏。该参数输入屏允许操作者输入包括测试参数和发电机尺寸的信息。励磁绕组31的圈数和励磁电压基于输入到软件的信息被计算和显示。该主程序屏显示测得的和处理的信号。
结果分析
矢量图用于表明内叠片芯故障系统的状态。这种矢量图的举例在图16和18中示出。在该系统中，Ve，Ie，和Φe分别代表励磁电压、电流和磁通。Vs，Vse为测得的探测器电压和励磁下的探测器电压。为了严格制造无缺陷(正常)叠片，如图16和18所描述的，Vs和Vse相等。
软件以均方根形式显示测得的探测器电压的幅度、Vs以及探测器电压和励磁电流导数之间的相位角θ。基于测得的探测器电压和电流计算两信号，并将两信号考虑进去以确定故障的存在、严重性和位置。对于正常叠片，理想的测量信号和磁通的分布在图17中示出。电压幅度|Vs|的下降是由内间隔块引起的。电压幅度为常数除了通过内间隔块时，并且角度在整个扫描过程都为常数。当发现可疑信号时，可将相应于内间隔块的下降计算在内以估计故障的大约位置。
当故障出现在槽内，因故障感应出的电压Vf引起故障电流If流动，改变磁通分布，其感应出附加的故障磁通向量Φf，其改变穿过探测器100的磁通。局部楔(sub-wedge)故障状态下的矢量图在图18中示出，其中Vsf为由故障引起的测得的探测器电压向量，Vs为测得的探测器电压。
测得的探测器电压Vs可假设为因励磁磁通28和故障磁通感应的电压向量的矢量和，如图18所示，其由局部楔(sub-wedge)故障引起。该故障状态下的典型波形和磁通分布如图19所示。从图19可以看出该故障条件下，测得的探测器电压Vs的幅度改变(即增加)是值得注意的，但是相位角改变非常小。当故障位于槽楔41的燕尾槽和齿37根之间时，故障特征相似。
表面故障状态下(例如齿尖的故障)的矢量图在图20中示出。表面故障和局部楔故障之间的主要差异为探测器内的故障磁通与励磁磁通28反向，如图21所示。结果探测器电压幅度减小而相位角发生重大改变。
从以上举例中将会理解，通过任何正常特征偏离可确定故障的存在。基于幅度和相位角特征确定故障定位。可观察出幅度和相位角的改变随故障的严重性而增加。
作为公开的探测器触轮装置的替换，能够设置触轮或小机动车以沿着槽楔41的顶部运行，以图22和23示意性描述的方式。在这种情况下，触轮或车300支撑在辊子223上，并也具有侧辊224，其沿着其间设有探测器100的齿37的内板面滚动。可调节辊子223以适应槽宽度的改变。侧辊224可以是弹簧加载以允许不同间隔的齿37的自动调节。可使探测器芯的长度为可调的。
可使触轮装置整体机动，并具有其自己的独立电源(例如电池)，具有发射机以将感应磁通数据传输至远端。通过在合适的频率范围内发射，数据可传送至远端，而不受噪声等影响。
图24为与图11中所示的触轮200相似的以及更详细的视图。参考图11和24，触轮200包括本体250，其在示范性实施例中为管状体。本体250利于用于探测器系统的电线(未示出)存储。可理解本体250可为利于电线存储的任何形状。本体250具有第一末端252，其具有第一探测器延伸片254用于安装第一探测器100。本体250还具有第二末端256，其带有第二探测器延伸片258用于安装第二探测器100。本体250包括柄260以利于触轮200的手动控制。在柄260的末端262，存在应变突起(strain relief)264，其存储探测器系统的电线，并允许连接到电缆(未示出)。柄260包括开关270，以手动打开和关闭探测器系统。通过触轮200上的开关270，一个技术人员就能实现阅读。本体250还包括指示灯272，当探测器100在备用模式下以及探测器100在记录时指示灯就会指示。
每个探测器延伸片254和258包括探测器架274和用于在垂直方向278调节探测器100的调节螺钉218。铁芯102定位到架274的槽内，并利用例如环氧树脂固定到架274上。以这种方式定位铁芯102使得探测器100能牢固的安装到探测器延伸片254和258上，其有助于避免倾斜，产生不合逻辑的测量数据。槽尺寸固定，传感芯102的长度在约1cm至约7.6cm之间变化。传感芯102的长度的选择取决于被探测装置的特征。当操作触轮200仅仅需要一个探测器100，该触轮200包括两个探测器100，使得触轮200不必倒转或操纵以覆盖末端步进区域35(见图12)。
触轮200包括滚轮213，其通过旋转相应的调节螺钉210来调节，使得触轮导向板214贴合安装，并紧贴在其间悬挂探测器100的齿37的内板侧，以防止触轮200倾斜。滚轮213成对设置在宽度可调元件284上。宽度可调元件284基本垂直于触轮200的纵向轴设置，并以基本上平行于其上支撑触轮200的齿的顶表面的方向从本体250的相对侧面延伸。滚轮213设在宽度可调元件284处，使得每对轮的轮子位于本体250的相对侧面。旋转调节螺钉210使触滚轮213以相应于所选齿37的间距的预定宽度彼此间隔定位。当紧固调节螺钉210时，触滚轮213通过设在宽度调节元件284的上表面的槽口286保持在适当位置处。尽管在第一示范性实施例中采用滚轮213移动触轮200，本领域的技术人员将会认识到可采用其它传送和支撑触轮200的装置，例如轴承、辊子、磁轨等。
触轮200还包括感应传感器288。感应传感器288的一个示范性实施例为涡流型传感器，尽管使用其它适合的传感器是可预见的。感应传感器288能够区分空气和金属，因此感应传感器288检测相邻齿37之间的通风间隙290(见图22)。感应传感器288计算通风间隙290的数目以可靠确定探测器100在定子芯30内的轴向位置。因此，在确定触轮200沿着被测设备的轴的位置时，滚轮213的滑动不会引起累积误差。
一旦每个探测器100安装到相应探测器延伸片254和258上，通过调节探测器定位调节螺钉218，探测器100位于如图11所示的设备的相对表面42之间。期望的是探测器100的钢部件位于槽的中心，并在槽楔41的稍稍之上。
探测器100不限于完全被齿37侧壁包围的结构。线圈104和探测器100的其它部件可如期望配置并位于齿37的水平之上，而传感芯102的合适的延伸向下凸出到齿37的侧壁之间限定的间隔，并因此建立气隙108和109。
固体的探测器的传感芯102不同于例如在EL CID传感器装置中使用的空气芯。该传感芯102优选由易于加工的材料构成，使得其既不能太硬，又不能太软，还不能塑形困难，并且其在低磁通下随同高阻抗特性展示出高初始磁导率。传感芯102可由组合材料、合适的例如金属的单材料，或固定在一起的叠片构成。为了获得期望的形状和耐用性，以及以上提及的低磁通下的高初始磁导率和高阻抗特性，例如，可采用合适的钢，并且该材料类型的板(或者不同材料的板的组合)可结合到一起。该传感芯102可配置成任何合适的结构，并不限于为简单描述所述的形状，该形状被描述为基本的圆筒形。
探测器100不限于采用单个芯或单个线圈，可采用多个芯和线圈。所有的芯不必通过一个线圈，并使得在空气隙108和109中的磁通具有所需灵敏度的该布置在本发明的权限之内。探测器的每个线圈不必设在齿37之间，并且芯配置成将传感部分延伸至相邻齿37之间的间隙内，建立必需的传感部分与空气隙的关系。
应当注意到，气隙108和109不必相等，因此探测器100相对于齿37壁可作有限量移动。假设气隙108和109的总量保持在常数，并且芯的末端和齿37之间不发生直接接触，就可能产生精确的磁通测量结果。
此外，虽然参考示范性实施例已经描述了本发明，本领域的技术人员可以理解可作不同的改变，在不脱离本发明范围的情况下等价物可替换其中的元件。此外，在不脱离其实质性范围的情况下，对于本发明的教导可作很多修改以适应特殊情况和材料。因此，意味着本发明不限于公开的作为实施本发明的最好预想模式的特定实施例，但是本发明将包括落入所附权利要求范围内的所有实施例。而且术语第一、第二等的使用不表示任何顺序或重要性，而是采用术语第一、第二等把一个元件与其它的元件加以区分。
部件表
26    循环故障电流
28    励磁磁通
29    泄漏磁通
30    定子芯
31    绕组
32    叠片
34    燕尾槽
35    末端步进区域
36    键条
37    齿
38    Chattock线圈
39    故障位置
41    楔
42    相对表面
100   传感器或探测器
102   传感芯
104   传感线圈
106   电路装置
108   气隙
109   气隙
190   励磁系统
191   自耦变压器
200   触轮
210   调节螺钉
212   调节螺钉
213   滚轮
214   触轮导向板
216   探测器延伸片
218   调节螺钉
223    辊子
224    侧辊
250    本体
252    第一末端
254    第一探测器延伸片
256    第二末端
258    第二探测器延伸片
260    手柄
262    末端
264    应变突起
270    开关
272    指示灯
274    探测器架
278    垂直方向
284    宽度可调元件
286    槽口
288    感应传感器
290    通风间隙
300    触轮或车

Claims (10)

1、一种用在探测电子设备过程中的探测器支撑托架，包括：
一个具有第一末端(252)和第二末端(256)的本体(250)；
用于支撑和定位所述本体(250)的装置；
可操作的连接到所述本体(250)上的多个磁通传感器，所述多个磁通传感器的每个磁通传感器包括具有芯和线圈的探测器(100)，该芯包括具有高初始磁导率和高阻抗特性的材料；该线圈随所述芯设置，所述探测器(100)适于被支撑，使得所述芯的传感部分以无接触有间隔的关系保持在电子设备的预定表面和所述芯的所述传感部分之间；以及
位置传感器，适于确定沿着电子设备纵轴的位置。
2、根据权利要求1的探测器支撑托架，其中所述每个磁通传感器通过电子设备移动以扫描电子设备寻找故障，故障使泄漏磁通(29)发生改变。
3、根据权利要求1的探测器支撑托架，其中所述多个磁通传感器之一设在所述本体(250)的所述第一末端(252)上，所述多个磁通传感器的另一个设在所述本体(250)的所述第二末端(256)上，使得电子设备的所述预定表面的整体都被扫描，而不倒转探测器支撑托架。
4、根据权利要求1的探测器支撑托架，其中所述的每个磁通传感器接受垂直调节，以将所述的每个磁通传感器定位在距离电子设备的所述预定表面的预定间距处。
5、根据权利要求1的探测器支撑托架，其中所述每个磁通传感器内的所述芯包括一个铁芯。
6、根据权利要求5的探测器支撑托架，其中所述铁芯的长度基于电子设备的特征在约1cm至约7.6cm之间变化。
7、根据权利要求1的探测器支撑托架，其中所述预定表面包括电子设备的相对表面(42)，所述泄漏磁通(29)通过所述相对表面(42)之间并通过由所述相对表面(42)和所述芯的所述感应部分限定的气隙(108，109)。
8、根据权利要求1的探测器支撑托架，其中用于支撑和定位所述本体(250)的所述装置包括轮子(213)。
9、根据权利要求8的探测器支撑托架，其中所述轮子(213)设在所述本体(250)的底部附近，并且所述轮子(213)包括至少一个设在所述本体(250)的纵向中心线的每一侧上的轮子。
10、根据权利要求9的探测器支撑托架，其中所述轮子(213)之间的宽度是可调的。
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