CN1770180A - 用于计数叠置的产品的装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种用于计数可并排叠置在托盘(2)中的薄的产品(1)的设备，其特征在于，其包括至少一个计数站，所述计数站由至少一个CIS模块(3；31，32，33)构成，所述CIS模块的总长度至少等于托盘(2)的长度，以及用于在托盘(2)的横向方向进行多次扫描的装置，每个CIS模块(3；31，32，33)至少包括用于沿纵向照射所述产品(1)的装置(31)，以及至少一个CIS电路(33)，所述CIS电路由和至少一个印刷电路(34)相连的多个光敏元件构成，所述计数设备还包括用于检测托盘(2)位置的装置，用于沿着垂直于直线射线束的方向移动所述托盘或CIS模块的装置，用于存储表示由产品反射的光束的数据的信号的装置，以及用于处理所述数据以便确定产品数量的装置。

Description

用于计数叠置的产品的装置

技术领域

本发明涉及用于计数可被并排叠置的薄的产品的设备。

背景技术

已知一些用于计数产品的装置，其使用需要建立校准过程的矩阵照相机，因而导致设备复杂而昂贵。

法国专利FR2680027披露了一种用于计数包含在不透明的封装中的存储卡的设备。这种设备包括电子模块和用于驱动所述封装从而使其在X射线源和与处理电路相连的检测器之间移动的装置。所述封装以及卡本体对X射线是透明的，所述检测器接收由卡的电子模块的阴影改变的射线束。处理电路可以计数相应于每个模块的通过的脉冲，或者使得显示在所述封装在检测器和X射线发生器之间完成移动期间获得的图像。这种装置只能用于计数具有金属元件的产品，或者更一般地说，只能用于计数具有对X射线不透明的部件的产品。此外，X射线源必须被精确地设置，使得发射能量较低的射线束，以便不改变不透明的部件。

欧洲专利EP 676718披露了一种用于计数被封装在一个半透明的可收缩的膜中的托盘内的并排堆叠的薄的产品的装置。这种装置包括用于对托盘照明的装置，反射镜，其使得由产品的边沿反射的光束能够传输到一个线性照相机，以及用于使托盘用这种方式横向移动，从而进行多次扫描的装置，其中每次扫描都垂直于托盘的运动进行。产品的计数通过交替地检测峰值和谷值进行。这种装置的缺点在于，照明装置、反射镜和照相机占据相当大的空间。这种装置的另一个缺点在于，由于每次扫描在托盘的整个长度上进行，测量时间很长。

发明内容

本发明的目的在于，通过提供一种用于计数可以并排叠置的薄的产品的装置来克服现有技术的某些缺点，所述装置在一方面使用简单并占据小的空间，在另一方面使得能够减少测量时间，从而按照产品的数量增加计数设备的输出量。

本发明的目的由一种用于计数可并排叠置在托盘中的产品的设备实现了，其特征在于，其包括至少一个计数站，所述计数站由至少一个CIS模块构成，所述CIS模块的总长度至少等于托盘的长度，以及用于在托盘的横向方向进行多次扫描的装置，每个CIS模块至少包括用于沿纵向照射所述产品的装置，以及至少一个CIS电路，所述CIS电路由和至少一个印刷电路相连的多个光敏元件构成，所述计数设备还可以包括用于检测托盘位置的装置，用于沿着垂直于直线射线束的方向移动所述托盘或CIS模块的装置，用于存储表示由产品反射的光束的数据的信号的装置，以及用于处理所述数据以便确定产品数量的装置。

按照另一个特征，所述计数设备包括用于在所述计数站的前方输送托盘并连续地呈现所述托盘的装置。

按照另一个特征，每个CIS模块包括一个使得能够把由产品反射的光束聚焦在CIS电路上的透镜。

按照另一个特征，相邻的CIS模块的照射光束至多部分地重叠，所述计数设备包括用于校准CIS模块使得能够规定每个CIS模块的有用的读取区域的装置，CIS模块的有用的读取区域在前一个CIS模块的有用的读取区域结束的位置开始，并且所述处理装置使得能够端对端地连接由不同的CIS模块的有用的读取区域读出的图像。

按照另一个特征，所述存储装置由至少和具有的CIS模块的有用的光敏元件的数量那样多的存储器字节构成。

按照另一个特征，每个像素和相邻的像素组合，以便确定产品的存在并对产品计数，其中每个像素由每个光敏元件提供的256个亮度级构成。

按照另一个特征，每个光敏元件可以表示一个彩色的CIS的颜色的组合，或者甚至表示单色的CIS的灰度级。

按照另一个特征，每个计数站使得能够交替地检测峰值和谷值，并且所述处理装置使得能够计数构成存储的正弦的和表示扫描的直线光束的峰值和谷值，每个信号或者相应于托盘的边沿或者相应于要被计数的产品。

按照另一个特征，所述处理装置通过平均与/或自相关所述图像使得能够预处理级联的图像。

附图说明

本发明的其它特征和优点当结合附图阅读下面的说明时可以清楚地看出，其中：

图1和图2分别表示按照本发明的计数设备的原理的透视图和侧视图；

图3表示CIS模块的截面图；

图4表示模块校准处理的功能图；

图5是模块校准处理的流程图；

图6是过渡位置搜索处理的流程图；

图7是按照本发明的计数设备的原理的第二实施例的示意的侧视图；

图8表示在按照本发明的装置的存储器中作为字节存储的在CIS模块的输出端的信号的形状；

图9是进行计数操作的流程图；

图10是一条线的处理的流程图；

图11表示图像级联处理的流程图；

图12表示用于定位含有产品的托盘的边沿的处理的流程图；

图13表示预处理过程的流程图；

图14表示产品分析和计数处理的流程图；以及

图15表示用于处理所得结果的流程图。

具体实施方式

按照本发明的计数设备，尤其是由图1和图2可以看出，使得对并排叠置的薄的产品1例如磁卡或灵巧卡，出入证件，纸包，信封，游戏牌，票据等进行计数成为可能，其中每批产品例如被封装在透明的可收缩的膜内(未示出)。为了有助于它们的处理，薄的产品1例如被置于托盘2内。计数设备包括至少一个CIS(接触图像传感器)模块3。

CIS模块3，例如市场上可得到的那些，由下述部分构成：光源31，用于在要被计数的产品1上发射直线光束，透镜32，用于使得由产品反射的光束聚焦能够在聚焦在至少一个由多个光敏元件构成的CIS电路33上，以及印刷电路34，CIS电路33被连接在其上。按照本发明，印刷电路34本身借助于连接器34和数据处理装置(未示出)相连，所述数据处理装置包括存储器，用于存储由要被计数的产品1反射的光束中包含的数据，以及微处理器，用于处理所述数据。构成CIS模块3的一组元件被包含在配备有能够透过光波的窗口的盒子30中。

使用一个或几个CIS模块而不使用现有技术中使用的复杂的系统，使得能够大大减少计数设备的尺寸，同时保持满意的分辨率(600dpl的数量级或者更好)。此外，由于模块覆盖整个托盘的长度，这使得能够大大减少测量时间(小于2秒)。

按照本发明，并按照要被计数的一批产品1的长度，一个CIS模块3或几个CIS模块(3₁，3₂，3₃)可被设置在托盘的上方。如果使用几个CIS模块(3₁，3₂，3₃)，这些模块可以串联排列，或者用这种方式排列，使得由两个相邻的CIS模块反射的光束的读取区域重叠(4)，如图1和图2所示。直线光束的总长度必须至少等于一批产品的长度。

例如，每个CIS电路33包括10000个光敏元件，以便使得能够计数例如最多1000个产品的一批产品1。CIS电路33的每个光敏元件使得能够检测光信号并以表示至少256个亮度级的电信号的形式表达所述信号。这个信号，例如对于256个亮度级，被转换成8位的字，每个字被记录在按照本发明的装置的存储器中。因而，对于所给的例子，所述存储器由每个字一个字节的10000个字的读写存储器构成。在另一个实施例中，CIS电路33的光敏元件可以是彩色的，并且表示红、绿或蓝的组合。

由CIS模块(3₁，3₂，3₃)的光源31发射的扁平光束表示对一批产品的纵向的扫描。按照本发明的计数设备借助于沿横向前后运动(5)移动托盘2或者CIS模块3，可以进行一批产品的多次扫描。借助于按下例如设置在按照本发明的计数设备的外壳的顶上的按钮、触摸屏、键盘或任何等效的装置(未示出)，使得引起托盘前后运动，启动所述的前后运动。

当按照本发明的计数设备配备有几个CIS模块(3₁，3₂，3₃)时，其反射的光束的读取区域重叠(4)，在制造或者在维护计数设备时必须用这种方式进行CIS模块的校准，使得规定对于每个CIS模块要被使用的读取区域。

图4示意地示出了校准处理的原理。在图5中以流程图的形式表示不同的校准处理步骤。

校准处理需要在一批产品的位置放置黑带(n)，在由两个相邻的CIS模块重叠的照射区的附近的区域，对黑带(n)施加白带(b)。

用于校准所述模块的处理由读取由不同的CIS模块反射的光束开始(510)。然后规定最左边的模块(3₁)作为被处理模块(511)。然后在读区域的开始点的表中存储当前模块的第一个像素作为所述CIS模块(3₁)的要被使用的读区域的开始点(d₁)(512)。

然后模块校准处理搜索在正被处理的模块的中部(m₁，m₂，m₃)和正被处理的模块的端部之间的过渡位置(513)。所述过渡位置相应于白带(b)的中间。如果白带未被发现，则按照本发明的计数设备借助于表示已经发生校准错误而退出校准处理(514)。如果发现白带，则在读区域表的末端存储过渡的位置作为CIS模块(3₁，3₂)的要被使用的读区域的末端(f₁，f₂)(515)。

然后规定下一个模块作为当前处理的模块(516)。通过搜索在当前处理的模块的开始和当前处理的模块的中间(m₁，m₂，m₃)之间的过渡位置(白带(b)的中间)，继续进行模块的校准处理(517)。如果白带未被发现，则按照本发明的计数设备借助于表示已经发生校准错误而退出校准处理(518)。如果发现白带，则在读区域表的开始存储过渡的位置作为CIS模块(3₂，3₃)的要被使用的读区域的开始(d2，d3)(519)。

如果正被处理的模块是最后一个模块，则所述模块的最后一个像素被存储在读区域表的末端作为读区域的结束(f3)。

如图4所示，对于第一和第二模块(3₁，3₂)，要被使用的读区域的末端(f1，f2)分别相应于第二和第三CIS模块(3₂，3₃)的要被使用的读区域的始端(d2，d3)。

图6示出了在模块校准处理中的过渡位置搜索步骤(513，517)。

过渡位置的每个搜索步骤(513，517)从规定(610)搜索区域(从模块的开始到模块的中部，或者从模块的中间到模块的末端)的始端作为当前处理的像素开始。然后，如果当前处理的像素值大于设置值，则规定当前处理的像素为白带(b)的左边沿(611)。如果不是这种情况，则规定下一个像素为当前处理的像素(612)。如果这个像素相应于搜索区域的末端，则按照本发明的计数设备通过指示(613)发生搜索错误退出过渡位置的搜索处理(513，517)。如果不是这种情况，则相对于设置的或所需的值接着检查像素值。

一旦白带(b)的左边沿被确定，如果当前处理的像素值小于设置值，则当前处理的像素被规定为白带(b)的右边沿。如果不是这种情况，则规定下一个像素为当前处理的像素(615)。如果这个像素相应于搜索区域的末端，则按照本发明的计数设备通过指出(616)已经发生搜索错误退出过渡位置的搜索处理(513，517)。如果不是这种情况，接着相对于设置值检查像素值。

一旦白带(b)的右边沿被确定，如果白带(b)的宽度在最小尺寸和最大尺寸之间，则过渡位置作为白带(b)的中间被存储(617)。如果不是这种情况，按照本发明的计数设备便通过指示(618)已经发生搜索错误而退出过渡位置的搜索处理(513，517)。

从下面可以看出，在出发位移期间，CIS模块(3；3₁，3₂，3₃)例如进行大约50次扫描，交替地从左到右和从右到左，在返回位移期间，例如进行另一个50次扫描。如图8所示，在每次扫描，由CIS电路33的光敏元件记录的光信号由正弦信号构成，其峰值近似地代表产品的中部，谷值代表边沿和相应于要被计数的产品的厚度的分开两个波谷的距离。坐标为ys0的第一峰值实际上相应于托盘的检测边沿，而第一峰值ys1相应于要被计数的第一产品。

在扫描N°1和扫描N°2之间，按照本发明的计数设备的微处理器使得能够在有效地存储第二扫描之前进行在第一扫描的过程中存储的数据的处理，如图7所示，所述微处理器由用于执行后面所述的算法的程序控制。

用于读出存储的扫描并对产品计数的程序相应于执行图9到图15所示的算法。

由按照本发明的计数设备执行的计数处理示于图9。其当用户按下按钮时开始(910)。然后所述处理对一条线进行处理(911)，然后进行测试(912)，以便确定是否特定数量的线例如100条被扫描。如果答案是no，则存储该结果(913)，然后进行测试(914)，以便确定是否已经进行特定数量的直线扫描。如果答案是yes，则直接进行测试(914)，而不存储结果。如果未进行特定数量的直线扫描，则程序处理(911)下一个线。在另一个分支中，所述处理对结果进行处理(915)，然后显示报告(916)。最后，进行测试(917)，以便确定是否需要下一个循环的处理。如果答案是no，则重复测试(917)以便确定是否引起对下一个循环的处理。如果答案是yes，即如果按照本发明的计数设备检测到按钮被再次按下，则处理从步(910)重复。

处理(911)一条线的步骤相应于图10表示的一系列步骤。

处理(911)一条线的步骤由使扫描方向反向开始(9110)，然后执0行测试步骤(9111)，确定方向。在从左向右扫描的情况下，在步(9112)存储所述的线，在从右向左扫描的情况下，在步(9113)存储所述的线。如果按照本发明的计数设备配备有几个CIS模块，则在这些步骤(9112，9113)之后，执行由不同的CIS模块读出的图像的级联的步骤(9114)。在处理一条线的步骤(911)之后，进行搜索托盘边沿的步骤(9115)，接下来执行数据处理步骤(9116)、分析和计数要被计数的产品的步骤(9117)和结果显示步骤(9118)。

图11表示级联图像的步骤(9114)。其使得通过考虑在模块的校准处理期间对每个CIS模块规定的读取区域能够避免图像的重叠。

图像的级联步骤(9114)由规定最左边的模块作为当前处理的模块开始，然后规定要被重构的图像的第一像素作为所述图像的当前处理的像素(91141)。然后规定(91142)要使用的读取区域(d1，d2，d3)的开始作为模块(3₁，3₂，3₃)的当前处理的像素。然后模块的当前处理的像素被规定为图像的当前处理的像素(91143)。然后使图像的当前处理的像素递增(91144)。然后进行测试，确定是否当前处理的像素相应于要使用的读取区域的末端(f1，f2，f3)。如果答案是no，则使模块的像素递增(91146)，然后执行规定模块的当前处理的像素作为图像的当前处理的像素的步骤(91143)。如果答案是yes，则进行测试(91147)，确定当前处理的模块是否是最后的模块。如果答案是no，则使模块递增(91148)，然后执行规定要使用的读取区域的开始作为模块(3₁，3₂，3₃)的当前处理的像素的步骤(91142)。如果答案是no，则结束级联步骤。

图12表示用于搜索托盘边沿2的步骤(9115)。这个搜索步骤进行两次：第一次用于确定距离左方最远的托盘的边沿，第二次用于确定距离右方最远的托盘的边沿。搜索边沿的步骤(9115)从规定存储的线的第一(分别地，最后)像素作为图像的当前处理的像素开始。此后，执行规定当前处理的像素的值作为参考值的步骤(91151)。这个信息由一个8位字构成，表示由相应于被处理的存储器字的CIS模块的光敏元件接收的256个亮度级之一。此后，执行搜索局部峰值的步骤(91152)，然后执行计算局部值和在步(91151)存储的参考值之差的步骤(91153)。搜索边沿的步骤(9115)之后是测试步骤(91154)，确定这个差值是否大于设置值。如果答案是yes，则一个边沿被确定，并存储相应的像素的位置(91155)。如果答案是no，则搜索边沿的步骤(9115)之后接着存储(91156)当前处理的像素作为参考像素的步骤。此后执行测试步骤(91157)，确定这是否是一条线的终点(分别地，起点)。如果答案是no，则搜索边沿的步骤(9115)之后执行搜索局部峰值的步骤(91152)。如果答案是yes，则装置存储(91158)未确定边沿这个事实。

步(91154)的设置值基本上相应于平均而言区分峰值和谷值的亮度级的差，并且由图8可以看出，搜索边沿的步骤(9115)使得能够检测峰值ys0作为边沿，然后，如后面将要看到的，在谷的处理期间，如所注意到的那样，在峰值和随后的谷值之间的亮度级的差d1小于另一个设置值，峰值的改变的百分数大于一个特定值，假定其不是托盘的边沿并检测下一个峰值ys1作为托盘的实际边沿。

图13表示的数据预处理步骤(9116)是一个按照本发明的计数处理的可选步骤。其使得能够平均确定数量的线，以便减少背景噪声与/或自相关图像，以便修补信号波形。

预处理步骤(9116)从把下标n初始化为0开始(91160)，这在循环(910，图9)开始并在每个X缓冲存储器中存储当前处理的线的时刻进行。预处理步骤(9116)之后是测试步骤(91161)，用于按照计数设备的结构确定是否使用平均处理是合适的，如果答案是no，则预处理步骤(9116)之后进行测试步骤(91162)，按照计数设备的结构确定是否使用自相关是合适的。如果使用平均处理是合适的，则在预处理步骤(9116)之后在与处理的线相关的缓冲存储器n中存储当前处理的线，然后，使缓冲存储器的下标递增(911612)。预处理步骤(9116)之后进行测试(911613)，确定处理中的缓冲存储器的下标(n)是否超过要被平均的线数(X)。如果答案是yes，则把处理中的缓冲存储器的下标复位为0(911614)，然后，通过逐个像素地平均在X缓冲存储器中存储的所有的线(X)来计算当前的线。如果答案是no，则预处理步骤(9116)之后直接进行计算步骤(911615)。下一步是测试步骤(91162)，按照计数设备的结构确定是否使用自相关是合适的，如果答案是no，则预处理步骤结束(91163)。如果答案是yes，则预处理步骤之后规定(911622)托盘的左边沿作为当前处理的像素，然后计算(911622)当前处理的像素的自相关。然后使当前处理的像素递增(911623)，然后进行测试(911624)，确定当前处理的像素是否相应于托盘的右边沿。如果答案是yes，则预处理步骤结束(91163)，如果答案是no，则按照图13的自相关公式计算(911622)当前处理的像素。

图14表示用于分析和计数在边沿之间的产品1的步骤(9117)。其由读出(91170)一个像素开始，然后执行涉及程序(sequence)类型的测试步骤(91171)。所述测试通过确定当前处理的像素和前一个像素之间的差是正或者是负，在是正的情况下，则采用“局部峰值”处理程序，如果是负，则采用“局部谷值”处理程序。

“局部峰值”处理程序从测量峰值之间的距离开始(91172)，并继续进行测试步骤(911721)，确定这个距离是否大于一个最小距离。如果答案是no，则“局部峰值”处理程序继续下一个像素的处理步骤并进行涉及程序类型的测试(91171)。如果答案是yes，则“局部峰值”处理程序之后进行计算峰值改变的百分数的步骤(911722)：(ys2-ys1)×100/ys1。如果这个改变大于一个设置值，则“局部峰值”处理程序之后执行测试步骤(911723)，确定所述改变是否是负的，如果答案是yes，则“局部峰值”处理程序之后执行像素读取步骤(91170)。如果所述改变是正的，则“局部峰值”处理程序之后执行测试步骤(911724)，读取产品数量计数器的内容并确定是否所述计数器的内容是否小于3。如果答案是no，则“局部峰值”处理程序之后是像素读取步骤(91170)。如果答案是yes，则该程序之后是借助于认为被处理的峰值实际上是托盘的实际边沿进行边沿的复位(911725)。这完全相应于这样的情况，其中在第一阶段，“局部峰值”处理程序检测到ys0，然后检测ys1时，其证实ys1的改变大于设置值，并然后证实产品的数量小于3，其认为ys1是要被计数的产品的组的实际边沿。如果所述改变小于设置值，则“局部峰值”处理程序通过使计数峰值的计数器递增使所述峰值有效(911726)。

在峰值有效化步骤(911726)之后通过发送产品的分析和计数步骤(9117)到程序类型测试步骤(91171)之前，跳到局部谷值程序，按照下述的“局部谷值”处理程序处理局部谷值。

这个“局部谷值”处理程序总是从涉及程序类型的测试(91171)开始，然后进行测量峰谷距离(dsv)和谷谷距离(dvv)的步骤(911731)。在这个步骤之后，确定所述两个距离(dsv，dvv)是否和参考值正确相关。如果不是这种情况，则在“局部谷值”处理程序之后执行下一个像素的处理和程序类型测试步骤(91171)。如果所述距离正确地相关，则在“局部谷值”处理程序之后执行谷值有效化步骤(911732)，增加谷值计数器。这个步骤之后，通过把产品分析和计数步骤发送到程序类型测试步骤(91171)，跳到局部峰值程序，以便按照“局部峰值”处理程序处理局部峰值。

在对每个扫描进行这个产品分析和计数步骤(9117)，其中被计数的产品的数量对于每次扫描被存储，之后，按照本发明的计数处理包括用于处理所述结果的步骤(图9，915)。处理(915)结果的步骤如图12所示。其由按照上升的顺序选择所述结果开始(9150)，并继续产生所述结果的直方图，并搜索发生率最高的结果。因而，使用100次扫描，微处理器便能够确定，例如，数量950重现的频率比数量939，940或945重现的频率更高。因而数量950被存储，并且结果处理步骤(915)之后是测试步骤(9153)，确定这个较高发生率的数量的成功率是否小于设置值。例如，如果值950在8个计数当中再发生多于7次，则微处理器认为已经达到设置值，并且在结果处理步骤(915)之后是测试步骤9154，确定边沿检测是否已经满足。如果不是这种情况，则按照本发明的计数设备发出表示有缺陷的计数的信号(91530)，并在步9159显示“未发现产品”。这个用于边沿的测试步骤9154包括读出在步骤(91155，图12，或911725，图14)期间设置的一个标记，该标记表示边沿已被有效地检测到。如果不是这种情况，则按照本发明的计数设备发出表示有缺陷的边沿检测信号(91540)，并在步9159显示“未发现产品”。不过，如果答案是yes，则结果处理步骤915之后是测试步骤9155，用于检测CIS模块的光敏元件的饱和。如果是这种情况，则按照本发明的计数设备发出表示光过量的信号(91550)，并显示“未发现产品”(9159)。如果不是这种情况，则结果处理步骤(915)之后是测试步骤9156，确定读出的信息是否具有满意的锐度。如果不是这种情况，则按照本发明的计数设备发出表示对比度缺陷的信号，并显示“未发现产品”(9159)。不过，如果答案是yes，则结果处理步骤915之后是涉及产品的数量的检测步骤9157，确定这个数量是否大于0。如果不是这种情况，则按照本发明的计数设备发出表示不满意的读数的信号(91570)，并显示“未发现产品”(9159)。不过，如果答案是yes，则结果处理步骤915通过一个显示产品数量和成功率的步骤结束。

图7表示机械托盘位移装置2的另一种改型，其用这种方式位于读光束下面，使得能够进行多次垂直于托盘运动方向的扫描。可以看出，这些托盘2被设置在一个止动器带6上，自身被保持在两个驱动轮之间，其中的至少一个由电动机驱动而转动，所述电动机在处理100个扫描线或所需数量的扫描线之后按照次序被驱动，以便实现足够的成功率。

对于本领域技术人员显然可以看出，不脱离权利要求限定的本发明的范围，可以作出许多其它形式的可能的实施例。因而，这些实施例必须认为是说明性的，并且在所附权利要求限定的范围内可以改变，因而本发明不限于上述的特定的实施例。

Claims (9)

1.一种用于计数可并排叠置在托盘(2)中的薄的产品(1)的计数设备，其特征在于，它包括至少一个计数站，所述计数站包括至少一个CIS模块(3；3₁，3₂，3₃)，总长度至少等于托盘(2)的长度，还包括用于在托盘(2)的横向的方向进行多次扫描的装置，每个CIS模块(3；3₁，3₂，3₃)至少包括用于沿纵向照射所述产品(1)的装置(31)，和至少一个CIS电路(33)，所述CIS电路由和至少一个印刷电路(34)相连的多个光敏元件构成，所述计数设备还包括用于检测托盘(2)定位的装置，用于沿着垂直于直线射线束的方向移动所述托盘或CIS模块的装置，用于存储表示由产品(1)反射的光束的数据的信号的装置，以及用于处理所述数据以便确定产品数量的装置。

2.如权利要求1所述的计数设备，其特征在于，所述计数设备包括用于在所述计数站的前方输送托盘并连续地呈现所述托盘(2)的装置。

3.如权利要求1或2所述的计数设备，其特征在于，每个CIS模块(3；3₁，3₂，3₃)包括一个使得能够把由产品(1)反射的光束聚焦在CIS电路(33)上的透镜(32)。

4.如权利要求1到3之一所述的计数设备，其特征在于，相邻的CIS模块的照射光束至多部分地重叠，所述计数设备包括用于校准CIS模块使得能够规定每个CIS模块(3；3₁，3₂，3₃)的有用的读取区域的装置，一个CIS模块的有用的读取区域在前一个CIS模块的有用的读取区域结束的位置开始，并且所述处理装置使得能够端对端地连接由不同的CIS模块的有用的读取区域读出的图像。

5.如权利要求4所述的计数设备，其特征在于，所述存储装置由至少和具有的CIS模块的有用的光敏元件的数量一样多的存储器字节构成。

6.如权利要求5所述的计数设备，其特征在于，每个像素和相邻的像素组合，以便确定产品(1)的存在并对产品计数，其中每个像素由每个光敏元件提供的256个亮度级构成。

7.如权利要求5或6所述的计数设备，其特征在于，每个光敏元件可以表示一个彩色的CIS的颜色的一种组合，或者甚至表示单色的CIS的灰度级。

8.如权利要求4到7之一所述的计数设备，其特征在于，每个计数站使得能够交替地检测峰值和谷值，并且所述处理装置使得能够计数构成存储的正弦信号、表示该存储的正弦信号的直线光束以及代表扫描的直线光束的峰值和谷值，每个峰值或者相应于托盘(2)的边沿或者相应于要被计数的产品(1)。

9.如权利要求4到8之一所述的计数设备，其特征在于，所述处理装置使得能够通过图像的平均与/或自相关来预处理级联的图像。

Images