CN1632697A - 一种柔性光学传感器的制作方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种柔性光学传感器的制作方法,步骤为:①光刻成形;②热熔;③离子刻蚀;④淀积保护层;⑤在正面淀积一层Cr或Al金属,光刻、刻蚀出金属图形,接着,在金属层上旋转涂覆聚酰亚胺,再进行固化;⑥在背面深刻蚀硅,直至硅底减薄至60-80μm,形成硅岛结构,最后再涂覆聚酰亚胺,并固化,即得到所需的柔性光学传感器。本发明的关键在于采用曲面微透镜技术制作柔性光学传感器。这种技术所制作的微传感器兼具柔性和强度,且与硅工艺相兼容。本发明制作的光学传感器能同时测量目标距离和方位角、并具有自动绕行或跨越障碍物的能力,在智能微型探测系统、智能机器人视觉系统等方面有广泛的应用空间。

Description

一种柔性光学传感器的制作方法
技术领域
本发明属于传感器制作技术领域,具体涉及一种柔性光学传感器的制作方法。
背景技术
众所周知,在生物界各种传感器基本上都是柔性的,可以分布在各种曲面上,如人体的触觉传感器,一些昆虫的视觉传感器。在工业界,人们也研制了许多传感器,能够完成一定的功能,但这些传感器基本上都是在刚性衬底上制作,只能用在平面上,不能弯曲,与生物界的传感器相比,其应用受到了很大的局限。在实际应用中,许多情况下需要将微型传感器贴于非平面上,如人的手指、手臂、飞机的机翼和机器人的眼睛等,这就使得一种新型的传感器应运而生,该传感器基于柔性衬底,能够折叠或卷曲,容易粘附在任意非平面上,被称之为柔性传感器。由于结构的特殊,柔性传感器具有一般传感器更为广泛的应用前景,如在军事、生物医学和机器人等方面都迫切需要这种使用简单、封装方便的传感器。目前,仅有国外有些机构开展了这方面的研究工作,如UCLA和Caltech等大学研制了一种传感器,可以贴在无人驾驶飞机机翼上,用于测量温度、压力等参数。由于飞机机翼尖的形状为近似圆柱状,要求这种柔性传感器可以沿着180度的角度卷曲。这种传感器主要是在柔性衬底,如塑料、聚合物上加工而成的。在国内,也有少数人开展了一些研究,但主要的研究方向是在柔性衬底上淀积一些膜层,没有制作出真正的柔性传感器。
发明内容
本发明目的在于提供一种仿生柔性光学传感器的制作方法。该方法所制作的光学传感器兼具较好的柔性和强度,不仅体积微型化,而且适合于大批量生产。
本发明提供的一种柔性光学传感器的制作方法,其步骤为:
(1).光刻成形:选用双面抛光的硅片作为基片,清洗后烘干,采用旋涂法涂正性光刻胶,前烘、曝光、显影后,用去离子水清洗,坚膜,使胶膜受热后聚合,形成立方体状浮雕结构;
(2).热熔:将样片放入退火炉内恒温区的中部进行退火处理,退火腔内充入氩气,并使热熔温度与光刻胶的软化温度之差小于等于20℃;
(3).离子刻蚀:采用反应离子刻蚀机或离子束刻蚀机,对热熔后的基片进行刻蚀,将光刻胶图形转移到衬底上;
(4).淀积保护层:在硅衬底背面淀积一层氮化硅作为保护层;双面对准光刻,露出要刻蚀的Si;
(5).在正面淀积一层Cr或Al金属,光刻、刻蚀出金属图形,接着,在金属层上旋转涂覆聚酰亚胺,再进行固化;
(6).在背面深刻蚀硅,直至硅底减薄至60-80μm,形成硅岛结构,最后再涂覆聚酰亚胺,并固化,即得到所需的柔性光学传感器。
本发明的关键在于采用曲面微透镜技术制作柔性光学传感器。这种曲面光学传感器具有视觉系统微型化(体积小)、数量大(由成千上万个微透镜组成)特点。这种技术所制作的微传感器既具有一定的柔性,又具有一定的强度,而且与传统的硅工艺相兼容。与直接制作在塑料,聚合物等衬底上的传感器相比,可以耐受加工时的高温条件,光学传感器的性能也更加可靠。利用微光学技术制作这种仿生柔性光学传感器,不仅体积微型化,而且还可大批量重复生产。本发明制作的光学传感器能同时测量目标距离和方位角、并具有自动绕行或跨越障碍物的能力,在智能微型探测系统、智能机器人视觉系统等方面有广泛的应用空间。
附图说明
图1为平面微透镜阵列的制作工艺流程:
A:旋涂光刻胶,B:紫外曝光,C:显影,D:热熔光刻胶,E1刻蚀,E2:微透镜形成;
图2为热熔工艺的温度变化曲线;
图3为实例1平面微透镜台阶扫描曲线;
图4为实例2平面微透镜台阶扫描曲线;
图5为实例1中柔性的微透镜阵列;
图6为实例2中柔性的微透镜阵列。
具体实施方式
实例1
本发明首先在硅刚性衬底的正面制作光学传感器阵列,利用深刻蚀技术在硅衬底背面上形成大面积分布的硅岛阵列,并在背面涂覆一层柔性材料。每个硅岛作为支撑单个光学传感器的结构,这样,便由成千上万个硅岛构成了整个传感器系统。
整个传感器的具体制作工艺过程如图1所示,详述如下:
1.选用双面抛光的硅片作为基片,其厚度为350μm。经超声清洗后,在恒温温度为140℃的烘箱中烘干。使用的正性光刻胶AZ1500,采用旋涂法涂胶。试验中采用的甩胶转速为4000rpm,甩胶时间为35秒,将涂完胶的基片放在85℃烘箱中前烘25分钟,使胶膜干燥并能同基片更紧密接触,如图1(A)所示。基片的曝光时间为90秒左右。曝光完成后,显影时间80秒,显影完后用去离子水清洗。然后将显影后的基片放入高温90℃烘箱中坚膜30分钟左右,使胶膜受热后进一步聚合,以增强抗蚀能力。光刻胶层最后成为了立方体状浮雕结构,如图1(B)和(C)所示。
2.热熔:为了形成近似的球面形状,进行热熔工艺,如图1(D)所示。这一工艺过程是在退火炉中进行的。退火时样片须放在退火炉内恒温区的中央,以保证加热温度的稳定。退火炉为半封闭式结构,其退火腔内充入气流量为6ml/s的保护气体Ar气,防止光刻胶氧化。热熔温度不能高于光刻胶的软化温度太多,否则光刻胶极易在高温下分解,由于AZ1500光刻胶的熔点在180℃左右,试验中所采用的热熔温度为190℃。退火温度变化曲线如图2所示,其中降温过程是自然冷却过程。
3.反应离子刻蚀(RIE):采用ME-3A型反应离子刻蚀机将光刻胶图形转移到衬底上,如图1(E)所示。在以AZ1500光刻胶为掩蔽层刻蚀硅的情况下,采用见表1所示的刻蚀工艺参数,对硅和光刻胶可以获得满意的刻蚀速度和刻蚀比。刻蚀后的微透镜台阶测试曲线如图3所示。
4.接着在硅衬底背面淀积一层300nm厚的氮化硅(Si3N4)作为保护层;双面对准光刻,露出要刻蚀的Si。
5.在正面淀积一层金属Cr,光刻、刻蚀出Cr图形,接着,在Cr层上旋转涂覆聚酰亚胺(ZKPI-305 Polyimide),固化(150°保持30分种,250°保持30分钟,350°保持1小时,然后自然冷却)。
6.在背面深刻蚀硅,减薄至60μm,形成硅岛结构,最后再涂覆聚酰亚胺,并固化,形成整个柔性微透镜阵列结构,如图5所示。从图5可以看出,卷曲之后的透镜视场角明显增大。
表1磁增强反应离子刻蚀参数表
工作气体      CHF3           O2
气体流速      22sccm          1sccm
刻蚀速率      75nm/min(硅)    73nm/min(光刻胶)
刻蚀比                1∶0.97
射频功率              30W
实例2
1.选用双面抛光的硅片作为基片,其厚度为400μm。经超声清洗后,在恒温温度为140℃的烘箱中烘干。使用的正性光刻胶AZ5214,采用旋涂法涂胶。试验中采用的甩胶转速为3000rpm,甩胶时间为30秒,如图1(A)所示,将涂完胶的基片放在112℃热板上前烘90秒。基片的曝光时间为2分钟左右。曝光完成后,显影时间60秒,显影完后用去离子水清洗。然后将显影后的基片放入温度100℃的热板上坚膜3分钟左右,使胶膜受热后进一步聚合,以增强抗蚀能力。光刻胶层最后成为了立方体状浮雕结构,如图1(B)和(C)所示。
2.热熔:为了形成近似的球面形状,进行热熔工艺,如图1(D)所示。这一工艺过程是在退火炉中进行的。退火时样片须放在退火炉内恒温区的中央,以保证加热温度的稳定。退火炉为半封闭式结构,其退火腔内充入气流量为6ml/s的保护气体Ar气,防止光刻胶氧化。热熔温度不能高于光刻胶的软化温度太多,否则光刻胶极易在高温下分解,由于AZ5214光刻胶的熔点也在180℃左右,试验中所采用的热熔温度为190℃。退火温度变化曲线如图2所示,其中降温过程是自然冷却过程。
3.离子束刻蚀(IBE):采用LD-3型离子刻蚀机将光刻胶图形转移到衬底上,如图1(E)所示。在以AZ5214光刻胶为掩蔽层刻蚀硅的情况下,采用见表2所示的刻蚀工艺参数,对硅和光刻胶可以获得满意的刻蚀速度
表2离子束刻蚀参数表
束能             500eV
束流             50mA
工作室压强       6.7×10-4Pa
入射角           30°
刻蚀速率         25nm/min(硅),28nm/min(光刻胶)
刻蚀比           1∶1.1
和刻蚀比。刻蚀后的微透镜台阶测试曲线如图4所示。
4.接着在硅衬底背面淀积一层500nm厚的氮化硅(Si3N4)作为保护层;双面对准光刻,露出要刻蚀的Si。
5.在正面淀积一层金属铝,光刻、刻蚀出铝图形,接着,在铝层上旋转涂覆聚酰亚胺(ZKPI-530 Polyimide),固化(180°保持30分种,300°保持30分钟,400°保持1小时,然后自然冷却)。
6.在背面深刻蚀硅,减薄至80μm形成硅岛结构,最后再涂覆聚酰亚胺,并固化,形成整个柔性微透镜阵列结构,如图6所示。从图6可以看出,卷曲之后的透镜视场角明显增大。

Claims (1)

1、一种柔性光学传感器的制作方法,其步骤包括:
(1).光刻成形:选用双面抛光的硅片作为基片,清洗后烘干,采用旋涂法涂正性光刻胶,前烘、曝光、显影后,用去离子水清洗,坚膜,使胶膜受热后聚合,形成立方体状浮雕结构;
(2).热熔:将样片放入退火炉内恒温区的中部进行退火处理,退火腔内充入氩气,并使热熔温度与光刻胶的软化温度之差小于等于20℃;
(3).离子刻蚀:采用反应离子刻蚀机或离子束刻蚀机,对热熔后的基片进行刻蚀,将光刻胶图形转移到衬底上;
(4).淀积保护层:在硅衬底背面淀积一层氮化硅作为保护层;双面对准光刻,露出要刻蚀的Si;
(5).在正面淀积一层Cr或Al金属,光刻、刻蚀出金属图形,接着,在金属层上旋转涂覆聚酰亚胺,再进行固化;
(6).在背面深刻蚀硅,直至硅底减薄至60-80μm,形成硅岛结构,最后再涂覆聚酰亚胺,并固化,即得到所需的柔性光学传感器。
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