CN1609972A - 含有多个纠错码率的全息只读存储光盘 - Google Patents

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CN1609972A CNA2004100619198A CN200410061919A CN1609972A CN 1609972 A CN1609972 A CN 1609972A CN A2004100619198 A CNA2004100619198 A CN A2004100619198A CN 200410061919 A CN200410061919 A CN 200410061919A CN 1609972 A CN1609972 A CN 1609972A
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Abstract

一种无外壳型全息ROM光盘很容易被使用者的指纹所沾污。具体地，光盘的径向外部表面比径向内部表面具有更高的沾污程度，受到的沾污更多。通过在径向外部表面上采用具有较强奇偶校验的纠错码，可以提高径向外部表面上的纠错能力。

Description

含有多个纠错码率的全息只读存储光盘
发明领域
本发明涉及一种全息只读存储(ROM)光盘；尤其是涉及一种含有多个纠错码率的无外壳型(bare type)全息ROM光盘。
技术背景
由于对可存储例如电影胶片等大容量数据的光学存储系统的需求增大，最近已经研制出一种全息只读存储(ROM)系统，例如内含全息ROM光盘的全息数字化数据存储系统，用于实现高密度的光学存储容量。
在全息ROM系统中，干涉图记录在不带盘盒的无外壳型全息ROM光盘上。具体地，参考光束和用数据调制的调制信号光束照射在全息ROM光盘上，使两者的干涉图记录在全息ROM光盘上。然后，用波长等于参考光束波长的再现参考光束照射在全息ROM光盘内的干涉图上，从而再现其中记录的数据。
可是，当使用者在全息ROM系统上安装无外壳型全息ROM光盘或者触摸无外壳型全息ROM光盘时，无外壳型全息ROM光盘很可能容易被某些东西所沾污，例如使用者的指纹。特别是，径向外部表面比径向内部表面更容易被例如使用者的指纹等污染物所沾污。
为了防止数据再现可靠性降低，在全息ROM系统上使用纠错码(ECC)来记录数据。
参照图1，将描述常规的ECC结构。
一般地，在一个或多个数据符中添加一个或多个奇偶校验符，使得由数据符和奇偶校验符组成的代码字(codeword)符可以用于调制信号光束，并作为调制信号光束存储在全息ROM光盘上。经过对调制信号光束的再现处理，从全息ROM光盘上恢复具有数据符和奇偶校验符的代码字符，然后，通过处理奇偶校验符可校正数据符中的任何错误。
一般用里德-索罗蒙(RS)码作为常规的纠错码。如图1所示，n个代码字符包括k个数据符和T个奇偶校验符。代码比率k/n定义为数据符的位数与代码字符的位数之比k/n，而纠错能力定义如下：
t = T 2 = n - k 2
其中，通常每个符号为8位。
例如，当利用由含有223个数据符的255个代码字符组成的RS(255，223)码时，计算出纠错能力为16个符号，即16个字节。
可是，不管是对于径向内部表面还是径向外部表面，上述常规纠错码的结构相同。
尽管径向外部表面的沾污程度与径向内部表面的沾污程度不同，例如径向外部表面的沾污程度大于径向内部表面的沾污程度，但在常规全息ROM光盘中，在径向内部表面和径向外部表面两者上采用相同的纠错码。因此，由于径向外部表面与使用者手指接触的频率大于径向内部表面，使得径向外部表面上纠错能力超过预定程度，所以数据再现的可靠性迅速降低，并且，此外，已存储数据有可能无法再现。
发明内容
因此，本发明的目的是提供一种全息ROM光盘，其具有根据沾污程度的多个纠错码率，从而提高数据再现效率。
根据本发明的优选实施例，提供的全息ROM光盘包括：根据其沾污程度划分而成的N块存储部分，N是大于1的正整数，其中N块存储部分中每一块的纠错能力取决于其沾污程度。
附图简述
通过以下结合附图对优选实施例进行的描述，本发明的上述和其他特征、目的将变得更加清楚，其中：
图1示出无外壳型全息ROM光盘的常规纠错码结构；
图2表示根据本发明优选实施例的无外壳型全息ROM光盘的结构顶视图；和
图3表示根据本发明优选实施例的纠错码结构。
发明详述
下面将参考附图对本发明的优选实施例进行详细描述，其中附图中相同附图标记代表相同部件。
如图2所示，假定将无外壳型全息ROM光盘分成两块，即靠近光盘中心的径向内部表面A和远离光盘中心的径向外部表面B。一般说来，由于径向外部表面B更容易接触诸如指纹等污染物，所以光盘上的沾污程度可能与到光盘中心的距离成正比增加。由于很少被指纹沾污，因此径向内部表面A具有相对较低的沾污程度，所以可以采用具有较大码率和较小奇偶校验的第一纠错码在径向内部表面A上记录数据。相反，由于被指纹沾污的更多，径向外部表面B具有相对较高的沾污程度，所以采用具有较小码率和较大奇偶校验的第二纠错码在径向外部表面B上记录数据，因此提高数据的再现效率。
参考图3，示出根据本发明优选实施例的纠错码结构。在径向外部表面B上使用具有n个代码字符的第二纠错码的情况下，代码字符中有k2个数据符和T2个奇偶校验符，将T2个奇偶校验符增多则k2个数据符减少，以使码率k2/n降低而纠错能力
Figure A20041006191900051
提高。
相反，在径向内部表面A上使用具有n个代码字符的第一纠错码的情况下，代码字符中有k1个数据符和T1个奇偶校验符，T1个奇偶校验符减少则k1个数据符增多，所以码率k1/n提高而纠错能力降低。
简言之，用于径向外部表面B的T2个奇偶校验符的位数大于用于径向内部表面A的T1个奇偶校验符的位数，但是用于径向外部表面B的k2个数据符位数小于用于径向内部表面A的k1个数据符的位数。在无外壳型全息ROM光盘上采用具有多个纠错码率的纠错码，以使在径向内部表面A，即沾污较少的表面，以及在径向外部表面B，即沾污较多的表面，一并得到较高的数据再现可靠性。
通常地，可根据被沾污的沾污程度将全息ROM光盘的存储表面划分成N块存储部分。在N块存储部分中具有最高沾污程度的部分采用具有最小码率和最大奇偶校验位数的纠错码来记录。随着沾污程度降低，可以采用另一个纠错码，其中码率以预定差值增大而奇偶校验位数以预定差值减小。
这里，将里德-索罗蒙码作为纠错码，但是任何纠错码都可应用于本发明中。
尽管在优选实施例中，应用于径向内部表面A的代码字符位数与应用于径向外部表面B的代码字符位数是相等的，但这并不局限于此。应用于径向内部表面A的代码字符位数与应用于径向外部表面B的代码字符位数可以不相等。在这种情况下，全息ROM光盘的存储表面中奇偶校验符与数据符的比率取决于该存储表面的沾污程度。换句话说，为了提高数据再现效率，存储表面沾污越多，使用的奇偶校验符与数据符的比率越高。
尽管已经通过优选实施例对发明进行了说明和描述，但是应当明白，在不脱离如所附权利要求书限定的本发明的精神和范围下，本领域的技术人员可以对本发明进行各种变化和修改。

Claims (5)

1、一种全息ROM光盘，包括：
根据其沾污程度而划分成N块的存储部分，N是大于1的正整数，
其中所述N块存储部分中每一块的纠错能力取决于其受沾污程度。
2、如权利要求1所述的全息ROM光盘，其中所述纠错能力与所述N块存储部分中每一块的沾污程度基本上成正比。
3、如权利要求2所述的全息ROM光盘，其中径向外部存储部分的沾污程度大于径向内部存储部分的沾污程度，所以径向外部存储部分的纠错能力大于径向内部存储部分的纠错能力。
4、如权利要求3所述的全息ROM光盘，其中N为2。
5、如权利要求4所述的全息ROM光盘，其中将里德-索罗蒙码用作具有纠错能力的纠错码。
CNA2004100619198A 2003-10-22 2004-06-29 含有多个纠错码率的全息只读存储光盘 Pending CN1609972A (zh)

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