CN1514256A

CN1514256A - 显像管调制特性采集测试仪

Info

Publication number: CN1514256A
Application number: CNA031321364A
Authority: CN
Inventors: 杨晓伟; 陈福朝; 李晓华; 王保平; 童林夙
Original assignee: Southeast University
Current assignee: Southeast University
Priority date: 2003-07-01
Filing date: 2003-07-01
Publication date: 2004-07-21
Anticipated expiration: 2023-07-01
Also published as: CN1244123C

Abstract

显像管调制特性采集测试仪是一种用于测量显像管光点尺寸时自动采集调制特性点的装置，该采集仪中1∶1放大器1、消噪电路2、采样保持电路3、8∶1放大器5、6∶1放大器6、开关选择器7、比较器10、电平锁定电路11顺序相串联连接，另外，延时整形电路4的输出端接采样保持电路，8∶1放大器5的输出端接6∶1放大器和开关选择器，D/A转换器8的输出端接DC缓冲器9、DC缓冲器的输出端接比较器，在采样保持电路中，模拟输入信号来自消噪电路，逻辑输入信号来自将来延时整形电路；开关选择器中，两路输入电压分别来自8∶1放大器和6∶1放大器；在比较器中，两路比较电压分别来自开关选择器和DC缓冲器，采集仪的输入信号为阴极电流采集电阻R_P上的脉冲电压，采集仪的输出信号是电平锁定电路的输出电平。

Description

显像管调制特性采集测试仪

一.技术领域

本发明是一种用于测量显像管光点尺寸时自动采集调制特性点的装置，属显象管测试仪器的技术领域。

二.背景技术

目前世界各显象管研发与生产公司均未开发出同类产品，它们在测量显象管的一组I_k～V_k值时仍采用扫描光栅直流测试法，然而这种方法在进行光点测量所需的I_k～V_k值时却存在如下缺点：

(1)测量I_k～V_k值时需要价格较贵扫描偏转放大器产生屏显示光栅，这不仅增加光点测试系统中的测试设备，而且增加了它的费用，从而使得性价比降低。

(2)在光点测量与I_k～V_k值测量之间分别需要脉冲偏转放大器和扫描偏转放大器驱动偏转线圈，这需设置较复杂的强电流切换单元来满足不同的测量需求，因而额外的测量操作将导致烦琐测量过程。

(3)I_k～V_k值测量与光点测量没有连续性，它表现在必须先应用扫描光栅直流测试法测量I_k～V_k值，再应用脉冲光点偏转测试法测量光点尺寸。

(4)应用扫描光栅直流测试法测量I_k～V_k值时需要采用手动调接测量，这不仅可能产生测量误差，而且降低了测量速度和效率。

三.发明内容

1.技术问题

本发明的目的是提供一种在计算机控制下的脉冲采集测试仪，以便当光点测试系统工作在栅极宽驱动脉冲且散焦状态下它能采集、整形、放大阴极电流脉冲，并将经过处理的0.1～5mA电流脉冲与计算机提供的0.1～5mA电流理论值比较，一旦实际的阴极电流脉冲等于电流理论值时，立刻自动产生I_k～V_k采集测量值。这种测试过程可以为I_k～V_k进行单点自动测量，也可以是I_k～V_k的多点自动测量，在完成I_k～V_k的测量后即可连续进入光点测量。

2.技术方案

本发明的显像管调制特性采集测试仪包括1∶1放大器、消噪电路、采样保持电路、延时整形电路、8∶1放大器、6∶1放大器、开关选择器、D/A转换器、DC缓冲器、比较器、电平锁定电路；其中1∶1放大器、消噪电路、采样保持电路、8∶1放大器、6∶1放大器、开关选择器、比较器、电平锁定电路顺序相串联连接，另外，延时整形电路的输出端接采样保持电路，8∶1放大器的输出端接开关选择器，D/A转换器的输出端接DC缓冲器、DC缓冲器的输出端接比较器，在采样保持电路中，模拟输入信号来自消噪电路，逻辑输入信号来自将来延时整形电路；开关选择器中，两路输入电压分别来自8∶1放大器和6∶1放大器；在比较器中，两路比较电压分别来自开关选择器和DC缓冲器采集仪的输入信号为阴极电流采集电阻上的脉冲电压，采集仪的输出信号是电平锁定电路的输出电平。

在1∶1放大器中，信号输入端A和悬浮地分别连接阴极电流采集电阻R_p两端，信号输入端A还分别接电阻R₁、电阻R₂、电容C₁、电容C₂的一端以及二极管D₁正端、二极管D₂负端，电阻R₁、电阻R₂的另一端与放大器U1的“3”端相接，电容C₁另一端、二极管D₁负端、放大器U1的“7”端接+15V(f)，电容C₂的另一端、二极管D₂正端、放大器U1的“4”端接-15V(f)，放大器U1的“2”端与电阻R₃、电阻R₄的一端相接，电阻R₃、电阻R₄的另一端接放大器U1的“6”端、稳压管Z₁的负端及电阻R₅，稳压管Z₁的正端接悬浮地，电阻R₅的另一端是输出端。

在消噪电路中，1∶1放大器的输出端电阻R₅接电容C₅、电阻R₆的一端，电容C₅的另一端接悬浮地，电阻R₆的另一端接放大器U2的“3”端、二极管D₃正端、二极管D₄负端，二极管D₃负端、放大器U2的“7”端接+15V(f)；二极管D₄正端、放大器U2的“4”端接-15V(f)，放大器U2的“2”端接电阻R₇、电阻R₈、电容C₆的一端，电阻R₇的另一端接悬浮地，电阻R₈、电容C₆的另一端接放大器U2的“6”端、稳压管Z₂的负端、电阻R₉的一端，稳压管Z₂的正端接悬浮地，电阻R₉的另一端接电阻R₁₀、电阻R₁₁的一端、电阻R₁₀的一端接悬浮地，电阻R₁₁的另一端为输出端。

在采样保持电路中，消噪电路的输出端电阻R₁₁接采样保持器U₃的“3”端，采样保持器U₃的“8”端接延时整形电路的输出端，采样保持器U₃的“7”端接悬浮地，采样保持器U₃的“1”端接+15V(f)，采样保持器U₃的“4”端接-15V(f)，采样保持器U₃的“6”端接电容C₁₁、电阻R₁₂的一端，电容C₁₁、电阻R₁₂的另一端接悬浮地，采样保持器U₃的“5”端接电阻R₁₃的一端，电阻R₁₃的另一端为输出端。

在延时整形电路中，定时脉冲输入接电阻R₁₄的一端，电阻R₁₄的另一端接光电耦合器U₄的“2”端，光电耦合器U₄的“3”端接地，光电耦合器U₄的“6”端接电阻R₁₅的一端、反相器U5C的“9”端，电阻R₁₅的另一端接+5V，光电耦合器U₄的“5”端接地，反相器U5C的“8”端接双单稳多谐振荡器U6A的“2”端，双单稳多谐振荡器U6A的“1”端接悬浮地，双单稳多谐振荡器U6A的“3”端、电阻R₁₆的一端接+5V(f)，双单稳多谐振荡器U6A的“14”端接电容C₁₂的一端，双单稳多谐振荡器U6A的“15”端、电容C₁₂的另一端接电阻R₁₆的另一端，双单稳多谐振荡器U6A的“4”端接双单稳多谐振荡器U6B的“10”端，双单稳多谐振荡器U6B的“9”端接悬浮地，双单稳多谐振荡器U6B的“11”端、电阻R₁₇的一端接+5V(f)，双单稳多谐振荡器U6B的“6”端接电容C₁₃的一端，双单稳多谐振荡器U6B的“7”端、电容C₁₃的另一端接电阻R₁₇的另一端，双单稳多谐振荡器U6B的“12”端接与非门U7A的“2、3”端，电阻R₁₈的一端接+5V(f)，与非门U7A的“1”端接电阻R₁₈的另一端并为输出端。

在8∶1放大器中，采样保持电路输出端接放大器U8的“3”端、二极管D₅正端、二极管D₆负端，二极管D₅负端、放大器U8的“7”端接+5V(f)、二极管D₆正端、放大器U8的“4”端接-15V(f)，放大器U8的“2”端接电阻R₁₉、电阻R₂₀的一端，放大器U8的“6”端接电阻R₂₀的另一端和电阻R₂₁的一端，电阻R₂₁的另一端为输出端。

在6∶1放大器中，8∶1放大器输出端接放大器U9的“3”端、二极管D₇正端、二极管D₈负端，二极管D₇负端、放大器U9的“7”端接+5V(f)、二极管D₈正端、放大器U9的“4”端接-15V(f)，放大器U9的“2”端接电阻R₂₃、电阻R₂₄的一端，放大器U9的“6”端接电阻R₂₄的另一端和电阻R₂₅的一端，电阻R₂₅的另一端为输出端。

在开关选择器中，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O08端接电阻R₂₆、电容C₁₈的一端，电阻R₂₆的另一端接光电耦合器U10A的“1”端，电容C₁₈的另一端、光电耦合器U10A的2端接地，光电耦合器U10A的“16”端接电阻R₂₇的一端和反相器U5A的“1”端，电阻R₂₇的另一端接+5V(f)，光电耦合器U10A的“15”端接悬浮地，反相器U5A的“2”端接电阻R₂₈、电阻R₂₉的一端，电阻R₂₈的另一端接+12(f)，电阻R₂₉的另一端接多路选择器U11的“11”端，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O07端接电阻R₃₀、电容C₁₉的一端，电阻R₃₀的另一端接光电耦合器U10B的“3”端，电容C₁₉的另一端、光电耦合器U10B的“4”端接地，光电耦合器U10A的“14”端接电阻R₃₁的一端和反相器U5B的“3”端，电阻R₃₁的另一端接+5V(f)，光电耦合器U10B的“13”端接悬浮地，反相器U5B的“4”端接电阻R₃₃、电阻R₃₂的一端，电阻R₃₂的另一端接+12(f)，电阻R₃₃的另一端接多路选择器U11的“9”端，多路选择器U11的“5”端接6∶1放大器的输出端，多路选择器U11的“3”端接8∶1放大器的输出端，多路选择器U11的“6、7、8”端接悬浮地，多路选择器U11的“16”端、电容C₂₀的一端接+12V(f)、多路选择器U11的“13”端、电容C₂₀的另一端接悬浮地，多路选择器U11的“4”端接电阻R₃₄的一端，电阻R₃₄的另一端为选择脉冲输出端，多路选择器U11的“14”端为复位控制端。

在D/A转换器中，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O09端接电阻R₃₅的一端，电阻R₃₅的另一端接光电耦合器U12A的“1”端，光电耦合器U12A的“2”端接地，光电耦合器U12A的“16”端接电阻R₃₆的一端和反相器U13A的“1”端，电阻R₃₆的另一端接+5V(f)，光电耦合器U12A的“15”端接悬浮地，反相器U13A的“2”端接D/A转换器U14的“5”端，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O10端接电阻R₃₇的一端，电阻R₃₇的另一端接光电耦合器U12B的“3”端，光电耦合器U12B的“4”端接地，光电耦合器U12B的“13”端接悬浮地，反相器U13B的“4”端接D/A转换器U14的“4”端，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O11端接电阻R₃₉的一端，电阻R₃₉的另一端接光电耦合器U12C的“5”端，光电耦合器U12C的“6”端接地，光电耦合器U12C的“12”端接电阻R₄₀的一端和反相器U13C的“5”端，电阻R₄₀的另一端接+5V(f)，光电耦合器U12C的“11”端接悬浮地，反相器U13C的“6”端接D/A转换器U14的“3”端，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O12端接电阻R₄₁的一端，电阻R₄₁的另一端接光电耦合器U12D的“7”端，光电耦合器U12D的“8”端接地，光电耦合器U12D的“10”端接电阻R₄₂的一端和反相器U13D的“9”端，电阻R₄₂的另一端接+5V(f)，光电耦合器U12D的“9”端接悬浮地，反相器U13D的“8”端接D/A转换器U14的“2”端，D/A转换器U14的“1、7、8、11”端接悬浮地，D/A转换器U14的“9、10”端接电容C₂₁的正端，D/A转换器U14的“13”端接电容C₂₂的一端和+5V(f)，电容C₂₁的负端、电容C₂₂的另一端接悬浮地，D/A转换器U14的“12、14”端接电阻R₄₃的一端，电阻R₄₃的另一端为输出端。

在DC缓冲器中，D/A转换器的输出端接放大器U15的“3”端，放大器U15的“7”端接+15V(f)，放大器U15的“4”端接-15V(f)，放大器U15的“6”端接放大器U15的“2”端、电容C₂₅、电阻R₄₄的一端，电容C₂₅的另一端接悬浮地，电阻R₄₄的另一端为输出端。

在比较器中，DC缓冲器的输出端接比较器U16A的“2”端，开关选择器的选择脉冲输出端接比较器U16A的“3”端、二极管D₉正端、二极管D₁₀、D₉负端、比较器U16A的“8”端、电阻R₄₆的一端接+5V(f)，二极管D₁₀正端、比较器U16A的“4”端、稳压管Z₃的正端接悬浮地，比较器U16A的“1”端接电阻R₄₆的另一端、稳压管Z₃的负端、反相器U13E的“11”端，反相器U13E的“10”端为输出端。

在电平锁定电路中，比较器输出端接与非门U17A的“1”端，与非门U17A的“3”端接与非门U17B的“4”端，与非门U17B的“6”端接与非门U17C的“9、10”端，与非门U17C的“8”端接与非门U17D的“12、13”端，与非门U17D的“11”端接与非门U17A的“2”端、电阻R₄₇的一端，开关选择器的复位控制接与非门U17B的“5”端、电阻R₄₅的一端，电阻R₄₅的另一端接+5V(f)，电阻R₄₇的另一端接光电耦合器U10C的“5”端，光电耦合器U10C的“6”端接悬浮地，光电耦合器U10C的“12”端接电阻R₄₈、电阻R₄₉的一端，电阻R₄₈的另一端接+5V，光电耦合器U10C的“11”端接地，电阻R₄₉的另一端接I/O驱动卡PCL726的CN2-D/I3端。

显像管调制特性采集测试仪能够利用光点测试系统中的栅极驱动方式采集阴极脉冲电流，并以此脉冲确定调制特性中的I_k～V_k的对应值，从而为光点尺寸的测量设置一组必需的阴极电流。该测试仪能在1ms栅极负偏置高压宽驱动脉冲和聚焦电压小于2KV的光点散焦状态下精确自动地测量I_k～V_k值。

3.有益效果

本测试仪属国际首创，其优点在于它能克服光点测试系统中采用扫描光栅直流测试法测量显象管调制特性点的诸多问题：

(1)在以往的光点测量中，为得到I_k～V_k特性需要在光点测试系统中配置扫描偏转放大器，这使得光点测试系统的设备配置既多又贵。应用本测试仪后，光点测试系统的设备配置既简化又便宜。

(2)以往为测量光点和I_k～V_k需配置脉冲偏转放大器和扫描偏转放大器，为此在光点测试系统中设置了设计复杂的强电流切换装置。应用本测试仪后，只需设置简易的阴/栅极驱动方式转换以及宽/窄脉冲转换单元。

(3)以往的I_k～V_k测量是一个手调、眼观和手记测试过程，它不但效率低，而且误差大。应用本测试仪后，I_k～V_k测量已无须人为的操作，整个测试过程从单点到多点测量完全是在计算机的控制下自动完成。

(4)以往的I_k～V_k测量和光点测量是分时测试的过程，即先运用扫描光栅直流测试法测量I_k～V_k，再应用脉冲光点偏转测试法测量光点。应用本测试仪后，只需采用脉冲光点偏转测试法即可测量I_k～V_k和光点，整个测试过程既简便又连续。

(5)以往的I_k～V_k测量只能得到I_k～V_k的测量值，而不能得到I_k～V_k调制特性曲线图。应用本测试仪后，当I_k～V_k的测量完成以后即可生成I_k～V_k测量数据表以及根据表格中的数据自动制作I_k～V_k调制特性曲线图。

本测试仪完全能进行各种类型显像管调制特性点的测量，为光点测量提供必要的前期准备工作。

四.附图说明

图1是本发明的总体结构框图，它包括1∶1放大器1、消噪电路2、采样保持电路3、延时整形电路4、8∶1放大器5、6∶1放大器6、开关选择器7、D/A转换器8、DC缓冲器9、比较器10、电平锁定电路11。

图2、图3、图4、图5是本发明的电原理图，这些图中用虚线划分出组成它的十一个部分，即：1∶1放大器1、消噪电路2、采样保持电路3、延时整形电路4、8∶1放大器5、6∶1放大器6、开关选择器7、D/A转换器8、DC缓冲器9、比较器10、电平锁定电路11。

五.具体实施方式

本测试仪的实施方案主要分为脉冲采集与处理的硬件和测量控制的软件两个部分，其具体内容如下：

1∶1放大器U1采样R_p上的电流脉冲，消噪电路U2消除采样脉冲中的噪声信号，采样保持电路U3在定时脉冲控制下取采样脉冲的最佳时段，定时整形电路U4、U5C产生延时于采样脉冲前沿的定宽脉冲，8∶1放大器U8放大采样脉冲8倍，6∶1放大器U9放大8倍采样脉冲至48倍，开关选择器U11C选择8倍采样脉冲或48倍采样脉冲，D/A转换器U14转换来自计算机的直流电流数字量为直流电流模拟量，DC缓冲器U15缓冲稳定直流电流模拟量，比较器U16A比较电流脉冲与直流电流模拟量，电平锁定电路U17锁定比较结果给计算机判断。

测量控制软件控制I_k～V_k调制特性点测量的整个过程，它主要分为初始化界面模块、测量模块、数据处理模块。测量控制软件的具体功能是：在I_k的列表中选取一个I_k值后即刻进行单点测量、在I_k的列表中选取多个I_k值后即刻进行多点测量、测量完毕后自动生成被测管资料表和I_k～V_k调制特性点数据表、根据I_k～V_k的测量数据自动制作I_k～V_k调制特性曲线图、测量过程中能保护测试系统免于测试回路出现短路阴极电流。

1∶1放大器1的放大器U1(OP37)的同相输入端输入信号是R_P上的阴极电流脉冲，输入电阻R₁//R₂与反馈电阻R₃//R₄相等，1∶1放大器的输出等于输入；C₁、C₂可防止电弧击穿电路，D₁、D₂钳位超幅脉冲，Z₁则限幅输出脉冲。

消噪电路2的放大器U2(OP37)的同相输入端输入信号为1∶1的放大脉冲，它将该脉冲放大10倍，又因设置反馈电容C₆和输入电容C₅而降低放大器U2(OP37)的带宽，以便提高脉冲的信噪比；D₃、D₄钳位超幅脉冲，Z₂则限幅输出脉冲，R₉、R₁₀的分压结果又将被放大10倍的脉冲还原为1∶1的脉冲。

采样保持电路3的采样保持器U3(SHC298)的模拟输入信号是被还原的1∶1的脉冲，采样保持器U3(SHC298)的逻辑输入信号来自延时整形电路的整形脉冲；模拟输入脉冲在逻辑输入脉冲的控制下使采样保持器U3(SHC298)输出1∶1脉冲的最佳时段，最佳时段脉冲的脉宽取决于R₁₂、C₁₁。

延时整形电路4的输入信号来自定时脉冲，它经光电耦合器U4(6N136)隔离传输和反相器U5C(74LS14)反相后成为双单稳多谐振荡器U6A(74LS123)的正向触发输入脉冲，双单稳多谐振荡器U6A(74LS123)先作延时脉冲，脉宽取决于C₁₂、R₁₆，双单稳多谐振荡器U6B(74LS123)再相对于延时脉冲作整形脉冲，与非门U7A(74LS01)将整形脉冲反相后作为采样保持器U3(SHC298)的逻辑输入脉冲。

8∶1放大器的放大器U8(OP37)的同相输入信号是来自采样保持器U3(SHC298)的1∶1最佳时段脉冲，放大器U8(OP37)根据R₁₉、R₂₀的取值将最佳时段脉冲放大8倍，D5、D₆则钳位输入超幅脉冲。

6∶1放大器的放大器U9(OP37)的同相输入信号是8倍最佳时段脉冲，放大器U9(OP37)根据R₂₃、R₂₄的取值将8倍最佳时段脉冲再放大6倍，以使放大器U9(OP37)的输出为放大器U8(OP37)输入的48倍，D₇、D₈则钳位输入超幅脉冲。

开关选择器的多路选择器U11C(CD4053B)的两个输入电压分别是8倍最佳时段脉冲和48倍最佳时段脉冲，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O7端输出的数字控制信号经光电耦合器U10B(TLP521-4)、反相器U5B(74LS14)后控制多路选择器U11C(CD4053B)选择8倍最佳时段脉冲或48倍最佳时段脉冲。

D/A转换器U14(MAX504)的四个输入信号分别为I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O9端输出的脉冲信号经光电耦合器U12A(TLP521-4)和反相器U13A(74LS14)至D/A转换器U14(MAX504)的片选端CS、I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O10端输出的脉冲信号经光电耦合器U12B(TLP521-4)和反相器U13B(74LS14)至D/A转换器U14(MAX504)的时钟端SCLK、I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O11端输出的脉冲信号经光电耦合器U12C(TLP521-4)和反相器U13C(74LS14)至D/A转换器U14(MAX504)的清零端CLR、I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O12端输出的脉冲信号经光电耦合器U12D(TLP521-4)和反相器U13D(74LS14)至D/A转换器U14(MAX504)的串行数字输入端DIN，串行数字输入端DIN获得的是数字电压，模拟电压输出端VOUT输出的是模拟电压。

DC缓冲器的放大器U15(OP177)的同相输入电压是D/A转换器U14(MAX504)提供的模拟电压，放大器U15(OP177)缓冲输出的直流电压经C₂₅滤波后输出。

比较器U16A(LM393)反相端的输入信号是放大器U15(OP177)输出的直流电压，比较器U16A(LM393)同相端的输入信号是多路选择器U11C(CD4053B)输出的8倍最佳时段脉冲或48倍最佳时段脉冲，比较结果由反相器U13E(74LS14)反相后输出；D₉、D₁₀钳位超幅脉冲，Z₃则限幅输出脉冲。

电平锁定电路中的与非门U17(74LS00)输入端信号来自比较器U16A(LM393)的输出，与非门U17(74LS00)的复位端脉冲来自多路选择器U11B(CD4053B)的复位信号端；I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O8端输出的控制信号经光电耦合器U10A(TLP521-4)、反相器U5A(74LS14)后至多路选择器U11B(CD4053B)的复位控制端，与非门U17(74LS00)的复位端脉冲在多路选择器U11B(CD4053B)复位控制端数字控制信号的控制下复位测量过程；电平锁定电路中的光电耦合器U10C(TLP521-4)输出端电平至I/O驱动卡PCL726的CN2-D/I3。

本测试仪以采集阴极电流脉冲的方式，通过放大和处理采集脉冲来寻找计算机提供的基准值，整个测试是一个全自动化的过程，它的具体连接方式如下：

在1∶1放大器中，信号输入端A和悬浮地分别连接阴极电流采集电阻R_p两端，信号输入端A另分别接电阻R₁、电阻R₂、电容C₁、电容C₂的一端以及二极管D₁正端、二极管D₂负端，电阻R₁、电阻R₂的另一端与放大器U1的“3”端相接，电容C₁另一端、二极管D₁负端、放大器U1的“7”端接+15V(f)，电容C₂的另一端、二极管D₂正端、放大器U1的“4”端接-15V(f)，放大器U1的“2”端与电阻R₃、电阻R₄的一端相接，电阻R₃、电阻R₄的另一端接放大器U1的“6”端、稳压管Z₁的负端及电阻R₅，稳压管Z₁的正端接悬浮地，电阻R₅的另一端是输出端。

在采样保持电路中，消噪电路的输出端电阻R₁₁接采样保持器U₃的“3”端，采样保持器U₃的“8”端接延时整形电路(4)的输出端，采样保持器U₃的“7”端接悬浮地，采样保持器U₃的“1”端接+15V(f)，采样保持器U₃的“4”端接-15V(f)，采样保持器U₃的“6”端接电容C₁₁、电阻R₁₂的一端，电容C₁₁、电阻R₁₂的另一端接悬浮地，采样保持器U₃的“5”端接电阻R₁₃的一端，电阻R₁₃的另一端为输出端。

在开关选择器中，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O08端接电阻R₂₆、电容C₁₈的一端，电阻R₂₆的另一端接光电耦合器U10A的“1”端，电容C₁₈的另一端、光电耦合器U10A的2端接地，光电耦合器U10A的“16”端接电阻R₂₇的一端和反相器U5A的“1”端，电阻R₂₇的另一端接+5V(f)，光电耦合器U10A的“15”端接悬浮地，反相器U5A的“2”端接电阻R₂₈、电阻R₂₉的一端，电阻R₂₈的另一端接+12(f)，电阻R₂₉的另一端接多路选择器U11的“11”端，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O07端接电阻R₃₀、电容C₁₉的一端，电阻R₃₀的另一端接光电耦合器U10B的“3”端，电容C₁₉的另一端、光电耦合器U10B的“4”端接地，光电耦合器U10B的“14”端接电阻R₃₁的一端和反相器U5B的“3”端，电阻R₃₁的另一端接+5V(f)，光电耦合器U10B的“13”端接悬浮地，反相器U5B的“4”端接电阻R₃₃、电阻R₃₂的一端，电阻R₃₂的另一端接+12(f)，电阻R₃₃的另一端接多路选择器U11的“9”端，多路选择器U11的“5”端接6∶1放大器(6)的输出端，多路选择器U11的“3”端接8∶1放大器(5)的输出端，多路选择器U11的“6、7、8”端接悬浮地，多路选择器U11的“16”端、电容C₂₀的一端接+12V(f)、多路选择器U11的“13”端、电容C₂₀的另一端接悬浮地，多路选择器U11的“4”端接电阻R₃₄的一端，电阻R₃₄的另一端为选择脉冲输出端，多路选择器U11的“14”端为复位控制端。

在D/A转换器中，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O09端接电阻R₃₅的一端，电阻R₃₅的另一端接光电耦合器U12A的“1”端，光电耦合器U12A的“2”端接地，光电耦合器U12A的“16”端接电阻R₃₆的一端和反相器U13A的“1”端，电阻R₃₆的另一端接+5V(f)，光电耦合器U12A的“15”端接悬浮地，反相器U13A的“2”端接D/A转换器U14的“5”端，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O10端接电阻R₃₇的一端，电阻R₃₇的另一端接光电耦合器U12B的“3”端，光电耦合器U12B的“4”端接地，光电耦合器U12B的“14”端接电阻R₃₈的一端和反相器U13B的“3”端，电阻R₃₈的另一端接+5V(f)，光电耦合器U12B的“13”端接悬浮地，光电耦合器U13B的“4”端接D/A转换器U14的“4”端，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O11端接电阻R₃₉的一端，电阻R₃₉的另一端接光电耦合器U12C的“5”端，光电耦合器U12C的“6”端接地，光电耦合器U12C的“12”端接电阻R₄₀的一端和反相器U13C的“5”端，电阻R₄₀的另一端接+5V(f)，光电耦合器U12C的“11”端接悬浮地，反相器U13C的“6”端接D/A转换器U14的“3”端，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O12端接电阻R₄₁的一端，电阻R₄₁的另一端接光电耦合器U12D的“7”端，光电耦合器U12D的“8”端接地，光电耦合器U12D的“10”端接电阻R₄₂的一端和反相器U13D的“9”端，电阻R₄₂的另一端接+5V(f)，光电耦合器U12D的“9”端接悬浮地，反相器U13D的“8”端接D/A转换器U14的“2”端，D/A转换器U14的“1、7、8、11”端接悬浮地，D/A转换器U14的“9、10”端接电容C₂₁的正端，D/A转换器U14的“13”端接电容C₂₂的一端和+5V(f)，电容C₂₁的负端、电容C₂₂的另一端接悬浮地，D/A转换器U14的“12、14”端接电阻R₄₃的一端，电阻R₄₃的另一端为输出端。

Claims

1.一种显像管调制特性采集测试仪，其特征在于该采集仪包括1∶1放大器(1)、消噪电路(2)、采样保持电路(3)、延时整形电路(4)、8∶1放大器(5)、6∶1放大器(6)、开关选择器(7)、D/A转换器(8)、DC缓冲器(9)、比较器(10)、电平锁定电路(11)；其中1∶1放大器(1)、消噪电路(2)、采样保持电路(3)、8∶1放大器(5)、6∶1放大器(6)、开关选择器(7)、比较器(10)、电平锁定电路(11)顺序相串联连接，另外，延时整形电路(4)的输出端接采样保持电路(3)，8∶1放大器(5)的输出端接6∶1放大器(6)和开关选择器(7)，D/A转换器(8)的输出端接DC缓冲器(9)、DC缓冲器(9)的输出端接比较器(10)，在采样保持电路(3)中，模拟输入信号来自消噪电路(2)，逻辑输入信号来自将来延时整形电路(4)；开关选择器(7)中，两路输入电压分别来自8∶1放大器(5)和6∶1放大器(6)；在比较器(10)中，两路比较电压分别来自开关选择器(7)和DC缓冲器(9)，采集仪的输入信号为阴极电流采集电阻RP上的脉冲电压，采集仪的输出信号是电平锁定电路的输出电平。

2.根据权利要求1所述的显像管调制特性采集测试仪，其特征在于在1∶1放大器(1)中，信号输入端A和悬浮地分别连接阴极电流采集电阻R_P两端，信号输入端A另分别接电阻R₁、电阻R₂、电容C₁、电容C₂的一端以及二极管D₁正端、二极管D₂负端，电阻R₁、电阻R₂的另一端与放大器U1的“3”端相接，电容C₁另一端、二极管D₁负端、放大器U1的“7”端接+15V(f)，电容C₂的另一端、二极管D₂正端、放大器U1的“4”端接-15V(f)，放大器U1的“2”端与电阻R₃、电阻R₄的一端相接，电阻R₃、电阻R₄的另一端接放大器U1的“6”端、稳压管Z₁的负端及电阻R₅，稳压管Z₁的正端接悬浮地，电阻R₅的另一端是输出端。

3.根据权利要求1所述的显像管调制特性采集测试仪，其特征在于在消噪电路(2)中，1∶1放大器(1)的输出端电阻R₅接电容C₅、电阻R₆的一端，电容C₅的另一端接悬浮地，电阻R₆的另一端接放大器U2的“3”端、二极管D₃正端、二极管D₄负端，二极管D₃负端、放大器U2的“7”端接+15V(f)；二极管D₄正端、放大器U2的“4”端接-15V(f)，放大器U2的“2”端接电阻R₇、电阻R₈、电容C₆的一端，电阻R₇的另一端接悬浮地，电阻R₈、电容C₆的另一端接放大器U2的“6”端、稳压管Z₂的负端、电阻R₉的一端，稳压管Z₂的正端接悬浮地，电阻R₉的另一端接电阻R₁₀、电阻R₁₁的一端、电阻R₁₀的一端接悬浮地，电阻R₁₁的另一端为输出端。

4.根据权利要求1所述的显像管调制特性采集测试仪，其特征在于在采样保持电路(3)中，消噪电路(2)的输出端电阻R₁₁接采样保持器U₃的“3”端，采样保持器U₃的“8”端接延时整形电路(4)的输出端，采样保持器U₃的“7”端接悬浮地，采样保持器U₃的“1”端接+15V(f)，采样保持器U₃的“4”端接-15V(f)，采样保持器U₃的“6”端接电容C₁₁、电阻R₁₂的一端，电容C₁₁、电阻R₁₂的另一端接悬浮地，采样保持器U₃的“5”端接电阻R₁₃的一端，电阻R₁₃的另一端为输出端。

5.根据权利要求1所述的显像管调制特性采集测试仪，其特征在于在延时整形电路(4)中，定时脉冲输入接电阻R₁₄的一端，电阻R₁₄的另一端接光电耦合器U₄的“2”端，光电耦合器U₄的“3”端接地，光电耦合器U₄的“6”端接电阻R₁₅的一端、反相器U5C的“9”端，电阻R₁₅的另一端接+5V，光电耦合器U₄的“5”端接地，反相器U5C的“8”端接双单稳多谐振荡器U6A的“2”端，双单稳多谐振荡器U6A的“1”端接悬浮地，双单稳多谐振荡器U6A的“3”端、电阻R₁₆的一端接+5V(f)，双单稳多谐振荡器U6A的“14”端接电容C₁₂的一端，双单稳多谐振荡器U6A的“15”端、电容C₁₂的另一端接电阻R₁₆的另一端，双单稳多谐振荡器U6A的“4”端接双单稳多谐振荡器U6B的“10”端，双单稳多谐振荡器U6B的“9”端接悬浮地，双单稳多谐振荡器U6B的“11”端、电阻R₁₇的一端接+5V(f)，双单稳多谐振荡器U6B的“6”端接电容C₁₃的一端，双单稳多谐振荡器U6B的“7”端、电容C₁₃的另一端接电阻R₁₇的另一端，双单稳多谐振荡器U6B的“12”端接与非门U7A的“2、3”端，电阻R₁₈的一端接+5V(f)，与非门U7A的“1”端接电阻R₁₈的另一端并为输出端。

6.根据权利要求1所述的显像管调制特性采集测试仪，其特征在于在8∶1放大器(5)中，采样保持电路(3)输出端接放大器U8的“3”端、二极管D₅正端、二极管D₆负端，二极管D₅负端、放大器U8的“7”端接+5V(f)、二极管D₆正端、放大器U8的“4”端接-15V(f)，放大器U8的“2”端接电阻R₁₉、电阻R₂₀的一端，放大器U8的“6”端接电阻R₂₀的另一端和电阻R₂₁的一端，电阻R₂₁的另一端为输出端。

7.根据权利要求1所述的显像管调制特性采集测试仪，其特征在于在6∶1放大器(6)中，8∶1放大器(5)输出端接放大器U9的“3”端、二极管D₇正端、二极管D₈负端，二极管D₇负端、放大器U9的“7”端接+5V(f)、二极管D₈正端、放大器U9的“4”端接-15V(f)，放大器U9的“2”端接电阻R₂₃、电阻R₂₄的一端，放大器U9的“6”端接电阻R₂₄的另一端和电阻R₂₅的一端，电阻R₂₅的另一端为输出端。

8.根据权利要求1所述的显像管调制特性采集测试仪，其特征在于在开关选择器(7)中，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O08端接电阻R₂₆、电容C₁₈的一端，电阻R₂₆的另一端接光电耦合器U10A的“1”端，电容C₁₈的另一端、光电耦合器U10A的2端接地，光电耦合器U10A的“16”端接电阻R₂₇的一端和反相器U5A的“1”端，电阻R₂₇的另一端接+5V(f)，光电耦合器U10A的“15”端接悬浮地，反相器U5A的“2”端接电阻R₂₈、电阻R₂₉的一端，电阻R₂₈的另一端接+12(f)，电阻R₂₉的另一端接多路选择器U11的“11”端，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O07端接电阻R₃₀、电容C₁₉的一端，电阻R₃₀的另一端接光电耦合器U10B的“3”端，电容C₁₉的另一端、光电耦合器U10B的“4”端接地，光电耦合器U10B的“14”端接电阻R₃₁的一端和反相器U5B的“3”端，电阻R₃₁的另一端接+5V(f)，光电耦合器U10B的“13”端接悬浮地，反相器U5B的“4”端接电阻R₃₃、电阻R₃₂的一端，电阻R₃₂的另一端接+12(f)，电阻R₃₃的另一端接多路选择器U11的“9”端，多路选择器U11的“5”端接6∶1放大器(6)的输出端，多路选择器U11的“3”端接8∶1放大器(5)的输出端，多路选择器U11的“6、7、8”端接悬浮地，多路选择器U11的“16”端、电容C₂₀的一端接+12V(f)、多路选择器U11的“13”端、电容C₂₀的另一端接悬浮地，多路选择器U11的“4”端接电阻R₃₄的一端，电阻R₃₄的另一端为选择脉冲输出端，多路选择器U11的“14”端为复位控制端。

9.根据权利要求1所述的显像管调制特性采集测试仪，其特征在于在D/A转换器(8)中，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O09端接电阻R₃₅的一端，电阻R₃₅的另一端接光电耦合器U12A的“1”端，光电耦合器U12A的“2”端接地，光电耦合器U12A的“16”端接电阻R₃₆的一端和反相器U13A的“1”端，电阻R₃₆的另一端接+5V(f)，光电耦合器U12A的“15”端接悬浮地，反相器U13A的“2”端接D/A转换器U14的“5”端，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O10端接电阻R₃₇的一端，电阻R₃₇的另一端接光电耦合器U12B的“3”端，光电耦合器U12B的“4”端接地，光电耦合器U12B的“14”端接电阻R₃₈的一端和反相器U13B的“3”端，电阻R₃₈的另一端接+5V(f)，光电耦合器U12B的“13”端接悬浮地，光电耦合器U13B的“4”端接D/A转换器U14的“4”端，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O11端接电阻R₃₉的一端，电阻R₃₉的另一端接光电耦合器U12C的“5”端，光电耦合器U12C的“6”端接地，光电耦合器U12C的“12”端接电阻R₄₀的一端和反相器U13C的“5”端，电阻R₄₀的另一端接+5V(f)，光电耦合器U12C的“11”端接悬浮地，反相器U13C的“6”端接D/A转换器U14的“3”端，I/O驱动卡PCL726的CN1-D/O12端接电阻R₄₁的一端，电阻R₄₁的另一端接光电耦合器U12D的“7”端，光电耦合器U12D的“8”端接地，光电耦合器U12D的“10”端接电阻R₄₂的一端和反相器U13D的“9”端，电阻R₄₂的另一端接+5V(f)，光电耦合器U12D的“9”端接悬浮地，反相器U13D的“8”端接D/A转换器U14的“2”端，D/A转换器U14的“1、7、8、11”端接悬浮地，D/A转换器U14的“9、10”端接电容C₂₁的正端，D/A转换器U14的“13”端接电容C₂₂的一端和+5V(f)，电容C₂₁的负端、电容C₂₂的另一端接悬浮地，D/A转换器U14的“12、14”端接电阻R₄₃的一端，电阻R₄₃的另一端为输出端。

10.根据权利要求1所述的显像管调制特性采集测试仪，其特征在于在DC缓冲器(9)中，D/A转换器的输出端接放大器U15的“3”端，放大器U15的“7”端接+15V(f)，放大器U15的“4”端接-15V(f)，放大器U15的“6”端接放大器U15的“2”端、电容C₂₅、电阻R₄₄的一端，电容C₂₅的另一端接悬浮地，电阻R₄₄的另一端为输出端。

11.根据权利要求1所述的显像管调制特性采集测试仪，其特征在于在比较器(10)中，DC缓冲器的输出端接比较器U16A的“2”端，开关选择器的选择脉冲输出端接比较器U16A的“3”端、二极管D₉正端、二极管D₁₀、D₉负端、比较器U16A的“8”端、电阻R₄₆的一端接+5V(f)，二极管D₁₀正端、比较器U16A的“4”端、稳压管Z₃的正端接悬浮地，比较器U16A的“1”端接电阻R₄₆的另一端、稳压管Z₃的负端、反相器U13E的“11”端，反相器U13E的“10”端为输出端。

12.根据权利要求1所述的显像管调制特性采集测试仪，其特征在于在电平锁定电路(11)中，比较器输出端接与非门U17A的“1”端，与非门U17A的“3”端接与非门U17B的“4”端，与非门U17B的“6”端接与非门U17C的“9、10”端，与非门U17C的“8”端接与非门U17D的“12、13”端，与非门U17D的“11”端接与非门U17A的“2”端、电阻R₄₇的一端，开关选择器的复位控制接与非门U17B的“5”端、电阻R₄₅的一端，电阻R₄₅的另一端接+5V(f)，电阻R₄₇的另一端接光电耦合器U10C的“5”端，光电耦合器U10C的“6”端接悬浮地，光电耦合器U10C的“12”端接电阻R₄₈、电阻R₄₉的一端，电阻R₄₈的另一端接+5V，光电耦合器U10C的“11”端接地，电阻R₄₉的另一端接I/O驱动卡PCL726的CN2-D/I3端。