CN1475784A

CN1475784A - 光纤衰减均匀性测试方法

Info

Publication number: CN1475784A
Application number: CNA031353320A
Authority: CN
Inventors: 健袁; 袁健; 刘文早; 杨梅; 曾春洪; 高虎军; 涂昌伟; 陈新建
Original assignee: CHENGDU SEI OPTICAL FIBER Co Ltd
Current assignee: CHENGDU SEI OPTICAL FIBER Co Ltd
Priority date: 2003-07-02
Filing date: 2003-07-02
Publication date: 2004-02-18

Abstract

本发明涉及光纤测试技术，特别涉及应用光时域反射计对光纤衰减进行测量的技术。本发明提供一种光纤衰减均匀性测试方法，用计算机通过数据端口从光时域反射计采集数据，并对采集的数据进行分析，所述分析包括以下步骤：a.定义滑动窗口长度L和滑动步长x；b.确定某一点A位置为滑动窗口的起点；c.测量滑动窗口在光纤上以步长x滑动时L长度内的衰减系数；d.步骤c测得的多个衰减系数与被测光纤段整体长度的平均衰减系数相比较。本发明不但能够测量整盘光纤的整体衰减，还准确表现了在特定位置光纤段的衰减，以及光纤衰减特性的分布，为光纤质量评定提供了重要的参考。

Description

光纤衰减均匀性测试方法

技术领域

本发明涉及光纤测试技术，特别涉及应用光时域反射计对光纤衰减进行测量的技术。

背景技术

光时域反射计利用瑞利散射和菲涅耳反射效应测量光纤的衰减、长度等参数。它通过发送一个光脉冲到光纤，利用光纤存在的后向散射特性测量光纤内部一系列点上的传输衰耗，从而在显示屏幕上形成长度与信号强度的一条特征曲线或轨迹。光脉冲的宽度和周期取决于光纤的长度和需要测试的精度。光时域反射计具有数据传输接口。目前，对光纤的衰减大多是采用光时域反射计对整段光纤进行测试，只能显示出整段光纤的整体衰减特性。光纤厂的发运盘长较长，如25.2Km或50.4Km，而光缆的发运盘长通常要小于该长度，如2km。对光缆厂来说，光纤厂提供的光纤衰减系数不能保证每个发运段的成缆纤的衰减系数，甚至可能出现很大的偏差，导致不能交付。由于光缆制造对光纤衰减分布均匀性要求较高，整体衰减特性并不能反映出部分长度光纤的衰减特性。

发明内容

本发明的目的是，提供一种能够表现整盘光纤中衰减特性分布的光纤衰减均匀性测试方法，为提高光纤质量提供重要的参考。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是，提供一种光纤衰减测试方法，用计算机从光时域反射计采集数据，分析后再显示于显示器，所述分析包括以下步骤：

a、定义滑动窗口长度L和滑动步长x；

b、确定某一点A位置为滑动窗口的起点；

c、测量滑动窗口在光纤上以步长x滑动时L长度内的衰减系数；

d、步骤c测得的多个衰减系数与被测光纤段整体长度的平均衰减系数相比较。

所述标尺长L不大于1公里，所述步长x不大于1公里。

所述A点为标尺长L的一个端点。测量时，所述光时域反射计的光标A与光标B交替移动，每次移动的距离为2L。还包括步骤f：测量整盘光纤的整体衰减并计算出单位长度L内的平均值，并与各次步骤b、c测得的值比较。

本发明的有益效果是，不但能够测量整盘光纤的整体衰减，还准确表现了在特定位置光纤段的衰减，以及光纤衰减特性的分布，为光纤质量评定提供了重要的参考。

以下结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的说明。

附图说明

图1是本发明所述的光时域反射计提供的测试结果示意图。

图2是本发明所述的光时域反射计提供的对某一段光纤测试结果示意图。

图3是本发明第一个实施例测试结果分析后的示意图。

图4是光时域反射计测量曲线放大后的示意图。

具体实施方式

以下所述0TDR即光时域反射计。OTDR提供了在整段光纤中对特定长度段的测量功能。在OTDR上，将光标A和B分设在待测试段的两端，设置相关参数，即可获得该段光纤的衰减系数。本发明所述“步长”是指滑动窗口每滑动一次的位移。

图1是一整盘光纤的测试结果。可以看到OTDR曲线、光纤编号、两个标杆的准确位置。

图2显示了对两标杆之间的光纤段进行分段分析(如1km段长分析)的情形。图形显示了该单位段长上的衰减值曲线，可以同时以图形和数值显示。

实施例1：

计算机通过OTDR的数据接口控制OTDR并读取测试数据，分析后显示于显示器。计算机通过以下步骤分析：

a、定义标尺长L＝1Km，步长x＝1Km，以标尺长作为单位长度；

b、确定光纤的一个端点为滑动窗口的起点A；

c、测量滑动窗口L长度内的衰减系数并记录，A点向光纤的一端移动1Km，再测量以A点为起点的L长度内，即窗口内的衰减系数；A点再滑动步长x，再测量，直到窗口滑动到光纤的另一个端点。

d、以最小二乘法计算各次测量值，与整段光纤的平均衰减系数比较，判断是否任意一段1km长的衰减系数与整段长度的平均衰减系数之差都不大于某一确定的标准值。

也可将OTDR显示的靠近光纤某一端的标杆位置作为参照点A。由于本实施例的步长与标尺长度相等，都是1Km，为了准确定位和减少误差，采用以下方式移动：第一次测量完成后，将标杆a1直接移动到标杆a2之后1Km处，再进行第二次测量；然后将标杆a2移动到标杆a1之后1Km处，进行第三次测量，其他依次类推。本实施例中，参照点A的移动方向总是从光纤的一端向另一端移动，也就是说，被测量的光纤段总是向同一方向移动的。

对于各次测量所得到结果，一方面，将其以图3的图表方式表现。另一方面，需要测量整盘光纤的整体衰减并计算出单位长度L内的平均值，并与各次步骤b、c测得的值比较，以量化和判断衰减分布的均匀性。作为一个实施例，图3所示的光纤段总长度25km，每一小格为一公里，也就是所述的标尺长为1km，滑动步长也是1km，共测量25次。图中的直线表示光纤的衰减系数均匀性良好，各段的衰减系数相等，因此表现为一条直线。

当然，1Km并非唯一取值，无论是标尺长L还是步长x，都可以取其他适当的数值。

通常OTDR为数据传输提供了GPIB和RS-232接口。本实施例中，使用了一块GPIB控制卡来适配OTDR所提供的GPIB接口，并与其进行控制通信。本发明通过计算机对OTDR进行面板上操作，通过计算机设置参数。一些参数，如光纤编号，可以利用条码输入。

实施例2：

与第一个实施例不同之处在于，每次滑动窗口位移x小于标尺长L，例如，标尺长L为1Km，步长x为500m。每次移动的距离即为500m。标杆a1、a2都向后方移动步长x，即窗口滑动了x的距离。

实施例3：

在OTDR上，其采样并非连续的，而是存在着间隔，如果将图1所示的曲线部分放大，如图4所示，即可见其实际是阶梯状分布，也就是说，对光纤而言，相邻两个采样点之间存在距离d，相邻两次采样之间经过了一段长度d，在此段长度d内并未被测量，而此段长度d的具体数值很显然可以推算出来。此距离即为光时域反射计能测量的最小距离。为了提高精度，将步长x定义为d的数值，即令x＝d，这样，最大可能的提高了测量的精度。本实施例的其他步骤与实施例1相同。

实施例4：

由于一台计算机可以同时运行多个程序，因此，作为一个实施例，以同一台计算机同时控制多台OTDR进行操作和测试。

以上实施方式的内容不应理解为对本发明要求保护的权利范围的限制，本发明权利范围延及基于本发明构思的类似上述实施例的其他实施方式。

Claims

1.光纤衰减均匀性测试方法，其特征在于，用计算机通过数据端口从光时域反射计采集数据，并对采集的数据进行分析，所述分析包括以下步骤：

a、定义滑动窗口长度L和滑动步长x；

b、确定某一点A位置为滑动窗口的起点；

2、如权利要求1所述的光纤衰减均匀性测试方法，其特征在于，步骤c包括以下两个循环的步骤：

c1、测量窗口L长度内的平均衰减系数；

c2、窗口向光纤一端滑动步长x。

3、如权利要求1所述的光纤衰减均匀性测试方法，其特征在于，所述标尺长L不大于1公里，所述步长x不大于1公里。

4、如权利要求1或2所述的光纤衰减均匀性测试方法，其特征在于，所述A点为标尺长L的一个端点。

5、如权利要求3所述的光纤衰减均匀性测试方法，其特征在于，所述标尺长为1公里，所述步长x为1公里。

6、如权利要求3所述的光纤衰减均匀性测试方法，其特征在于，测量时，所述光时域反射计的光标A与光标B交替移动，每次移动的距离为2L。

7、如权利要求3所述的光纤衰减均匀性测试方法，其特征在于，所述步长x等于光时域反射计可以测量的最小距离。

8、如权利要求3所述的光纤衰减均匀性测试方法，其特征在于，所述步骤c中，A点总是向光纤的同一端移动。