CN1308333A - 光盘和记录和/或再现的设备和方法 - Google Patents
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Abstract
当光盘是高密度的时候,相同规模的缺陷的存在能对用户的数据区域的数据和地址区域的ID产生很大的影响。ID检测器检测跟随在储存在光盘10的地址区域的地址标记AM后面的地址数据ID,通过利用相应于由信号检测器22检测出的摆动信号的频率的数据时钟来采样跟随在地址标记AM后面的ID,从而获得ID信息。
Description
本发明涉及一种以凹坑序列预先格式化的地址数据的光盘和/或在光盘上记录和/或再现数据的设备和方法。
根据ISO(国际标准化组织)标准,WO(一次可写)类型光盘和可重写类型光盘的例子包括磁光盘和数字通用盘(DVD)-RAM。这些光盘借助在光盘上预制的凹坑记录的地址数据按照扇区(sector)记录所需的数据。换句话说,扇区位置能通过预制的凹坑标题(地址)识别出来。
用DVD-RAM做例子来描述预制凹坑标题的形成。如图1A所示,一地址区域AR2即所说的预制凹坑标题形成在扇区的头部,并且记录跟随的用户区AR1的凹槽(凹槽G)和平台(land)(平台L)的地址。记录再现设备读取这一地址区域AR2,确认它是所需的地址,然后在跟随该标题后面的AR1区域的平台L/凹槽G上记录或读取数据。
在地址区域AR2中标题的凹坑序列是按照这样的方式安排的,即其沿径向的中心落在平台L和凹槽G之间的分界线的延长线上。因此,这种预制凹坑标题能被再现在平台L或凹槽G的延长线上。
然而,这种预制凹坑标题本身的内容和仅仅储存在凹槽G(平台L)中的ISO-MO的内容形式相似。
换句话说,地址区域AR2中的标题HL(标题1和标题2)表示了随后的平台L的地址。标题HG(标题3和标题3)表示了随后的凹槽G的地址。如图1B所示,标题HL和标题HG加起来为128字节。
图1C表示了128字节的详细组成。在标题HL中,标题1包括用于PLL锁相的36字节VFO(可变频振荡器),作为同步信号的地址标记(AM)占3字节,由物理ID(PID)组成的6字节的ID是采用这样的形式:4个字节的轨道地址、扇区地址、段(segment)地址或其它的ID地址和其2个字节的奇偶校验PED(PID错误检测码,EDC),和加在调制终端的1字节的后同步码(PA)。在这里,为了确保在盘的旋转发生变化时再现数据,VFO是连续重复的数据模式(pattern)。除了VFO包含8个字节外,标题HL的余下标题2和标题1其构成方式是相同的。在这两种标题中,相同的ID被重复地记录两次。标题HG的标题3和标题4有相似的关系。
对标题HL中的标题1和标题2特别关注的组成表示在下面的表1中。对每个ID中的每一个字节按EFM(8到14位调制法)调制,进一步受到NRZI(不归零反相记录)调制的记录模式形成凹坑。[表1]
VFO1 | 36 | 288 | 576 |
AM1 | 3 | 24 | 48 |
ID1 | 6 | 48 | 96 |
PA1 | 1 | 8 | 16 |
VFO2 | 8 | 64 | 128 |
AM2 | 3 | 24 | 48 |
ID2 | 6 | 48 | 96 |
PA2 | 1 | 8 | 16 |
总共 | 64字节 | 512位 | 1,024通道位 |
用在DVD-RAM中的ID的调制模式是EFM模式(8到14位调制法),ID中的1字节=8位被调制成16通道位(channel bit)(ch)。实际上,不是按照位来排列的数据的VFO,AM等表示按照以与ID相同方式转换的数值。有时,要求AM和PA是在EFM里不能找到的独特的模式。
由于最近几年来光学系统中的激光向着短波长和高N/A比方向发展,已经作出努力使之朝着在用户区有更高的记录密度方向发展。其结果,在用户区域的冗余预置标题,试图朝更高的密度推进。
高密度时,相同尺寸的一个缺点,对于用户区域AR1的数据和地址区域AR2的ID而言将产生很大的影响。为了向高的N/A比方向发展,由于要确保偏斜余量,可以采用使光盘的基片更薄的形式。但是更薄的基片将使灰尘和刮痕的影响更显著。这些缺陷将使用户数据和ID产生错误。由于ID是用来管理和控制用户数据的记录和再现的,ID的错误必须要减少。
在再现地址区域AR2中的ID时,可以通过把ID(PID)转换成纠错码(PED)来减小地址错误。然而,考虑到实际上ID包含了很少的信息,信号大小不能被扩展很大,很多的错误不能被纠正。使用PLL锁相的区域(包括VFO区域)存在任何缺陷都影响整个标题(ID)并且破坏其纠错的过程。这因为,如上表所示,通常在DVD-RAM盘格式中,VFO区域占预制标题的大部分。
换句话说,通常一预制凹坑标题需要一个相对大的PLL锁相VFO区域和ID区域做比较,用于包括VFO区域的PLL锁相区域存在的任何缺陷都将对整个标题(ID)产生不利的影响。
本发明的一个目的是提供一种能够消除任何缺陷对整个标题的影响的光盘。
本发明的另一个目的是提供一种光盘记录和/或再现设备,不必要为地址解调应用PLL,并且能减少电路的尺寸。
一方面,本发明提供了这样一种光盘,即在它的地址信息区域预先记录着地址信息,并且记录、再现区域是交替排列的,在其中,排列在地址信息区域头部的地址标记指示着该区域的开始,地址信息排列在地址标记的后面。
另一方面,本发明提供一种记录和/或再现光盘上数据的记录和/或再现设备,该光盘的地址信息区域和记录与再现区域是交替排列的,该设备包括:
一读取记录在光盘上的记录信号的读取装置;
一信号处理装置,为了读取地址信息而处理读取装置读取的信号;
一地址信息检测装置,用于从由信号处理装置处理的输出信号中检测地址信息以响应规定的采样时钟。
特别是,不用从PLL中提取的时钟,用外部的时钟来取样。采用这种方法使VFO区域不是必须的。ID的记录密度变稀使得用外部的时钟采样变为可能。ID记录密度的变稀能够遏制缺陷的影响并且减少错误。剩余的错误将被纠错过程纠正。当光盘偏心时,光盘上的ID通道位和采样(外部)时钟是同步的。采样光盘上的ID通道位的采样时钟不是在最佳的相位。为了确保精确地锁相和解调,即使它们是异相的,象上述描述的那样使记录密度变稀和采用检测标记/空白(space)差分(difference)。
并且使用PE(相位编码)调制,其中,凹坑总是由成对的标记/空白组成。为了避免在采样时钟和ID通道位之间的相位移动变大,含有凹坑中心的相位信息的(PE的位中心)边缘利用差分计算,并且对采样时间进行同步的补偿。
另外,依据本发明,在高密度光盘中,可以消除缺陷对整个地址区域的影响。光盘密度的变稀能够相对地减少由于缺陷的影响而造成的错误,对残余的错误的纠正能够减少在读取地址信息过程中的错误。能够在不使用PLL的情况下精确地采样和调制。
图1A,1B,1C是现有技术的光盘的地址区域和用户区域的格式图。
图2是本发明的一个实施例的光盘的盘格式图。
图3A,3B是光盘的地址区域和用户区域的格式图。
图4表示了地址区域的地址信息的凹坑模式的示意图。
图5表示了现有技术的光盘的地址区域的地址信息的凹坑模式的示意图。
图6是用来制造光盘的主要的装置的方框图。
图7是用来在光盘上记录和/或再现数据的光盘记录和/或再现装置的方框图。
图8表示了在光盘的地址区域再现信号和采样时间的示意图。
图9是表示构成光盘的记录和/或再现装置的ID检测器(detector)的详细结构的线路图。
下面参考附图详细地描述本发明的最佳实施例。
开始,参考附图2和附图3,来解释根据本发明的光盘的具体实施例。
本实施例的光盘的一圈圆轨道由8个段(segment)Sg0~Sg7组成,段Sgi是由压印的凹坑形成的地址区域AR2和螺旋形成的凹槽G和平台(land)L的用户区域AR1组成。螺旋形的凹槽G和平台L按固定的频率摆动。摆动的频率被用作记录与再现操作的时钟,也被用作下面描述的在地址区域AR2中ID信息的采样时钟。
从内部轨道到外部轨道,盘的用户区域AR1被分成n+1个区,从Z0-Zn。在最里面的区域Z0,对于段SgI,凹槽G以420次波动的速度摆动,一周波动3,360次。在Z1区域,一个段Sgi的摆动频率增加6次波动,一个段共摆动形成426次波动,一周摆动形成3408次波动。换句话说,向外部轨道区域数字增加一,一个段Sgi的摆动频率增加6次波动,一周增加48次波动。光盘是按这种方式形成时,即每个区域Zi最内侧的轨道区域的摆动频率是相同的。在Zn区域,一个段形成420+6n次波动,一周形成3360+48n次波动。
地址区域AR2按CAV模式或放射状地形成在Zi区域。凹槽G的地址信息按凹槽标题Hg写入,平台L的地址信息按平台L标题HL提供。地址区域AR2按照这样一种方式形成,即在每一个区域Zn的最内侧的轨道的密度可以是相同的。
如图3A所示,在这种光盘中,地址区域AR2的标题HL(标题1和标题2)表示连接着平台L的地址。标题HG(标题3和标题4)表示连接着凹槽G的地址。
在地址区域AR2中,现有技术的VFO被去掉。换句话说,如图3B所示,标题HL的标题1是这样组成的:用于标题同步信号的地址标记(AM)的48通道位;用于物理ID(PID)的10字节(480通道位),该物理ID为轨道地址、扇区地址、段地址、以及作为其一部分的(PID纠错码)的奇偶校验PED和其它的ID信息;以及为调制终端增加的另外后同步码的PA 12通道位。标题HL的标题2的结构和标题1的相同,在这些标题中,相同的ID被记录两次。标题HL的标题3及标题4的关系也是这样。
在这里,ID不是按8到14位调制法(EFM)调制,而是相位编码(PE)。PE调制法是这样一种方法,这种方法总是确保在位的中心反相。当相同的信号连续时,在这些数据位的边界发生另一个反相。表2表示了分配到组成一个标题的各个部分的字节、位、和通道位的数量的情况。
[表2]
AM1 | -8 | 48 | |
ID1 | 10 | 80 | 480 |
PA1 | -2 | 12 | |
AM2 | -8 | 48 | |
ID2 | 10 | 80 | 480 |
PA2 | -2 | 12 | |
总共 | 字节 | 180位 | 1080通道位 |
包含在表2中的ID信息的记录位将结合附图4进行说明。附图4表示了包含在上面表2中的ID信息的部分位模式,AM没有示出。开始,VFO区域不存在。每一位ID信息用PE方法调制,这些位按照其记录模式为每一个PE通道位相应于三个数据通道位形成。换句话说,字节0(8位)“00000000”用PE法调制成PE通道位“0101010101010101”,它们的信道密度减少到用户数据被记录之前的1/3。在每一位中,标记和空白占有相同的长度。按字节1计的的数据“00000001”用PE法调制成“0101010101010110”,象图示中那样,在一位中形成标记和空白。最短的标记长度是3T,最长的标记长度是6T。但它们仅仅存在3T和6T两种形式。因此,时钟的窗口宽度能被加宽到相应于3个通道位的宽度。
以上表1中提及的现有技术中的凹坑模式作为一个相比较的例子表示在图5中。这个相比较的例子是根据上面提到的EFM(8到14位调制法)方法的,ID的1字节=8位将调制成16通道位。此外,凹坑将用NRZI方法按记录模式调制形成。例如,字节0的数据用EFM法(8到14位调制法)将被调制成“0010000000001001”,用NRZI法将被调制成“0011111111110001”,1字节数据用EFM法(8到14位调制法)将被调制成“0010000000010010”,并进一步用NRZI法将被调制成“0011111111100011”。因此,位模式是3T,4T,5T,6T,......,结果,时钟的窗口宽度被限制到仅为1。
顺便提一句,在高密度下,其中的任何缺陷将产生严重的影响。表示在图1A中的标题1的后半部分的ID区域存在的缺陷不仅导致标题1中的错误的ID,而且导致了在解锁PLL中不能再现标题2中的ID。假如在标题1中的ID能被校正,至少一个ID能被再现。考虑到这种偶然性,最好把ID转变成纠错码。因此,和表示在图1和表1(作比较的例1)中的现有技术相比,在表3中表示作比较的另一个例2。例如,增加了4个奇偶校验,2字节用来对DVD-RAM的格式进行纠错,使得ID可以包含10个字节。在这时,剩下的2奇偶校验作为余度来减少纠错,这类似于上面表1中的EDC的组成。在这里,将有效的RS(里德-索罗蒙码)码考虑作为纠错码。
[表3]
VFO1 | 36 | 288 | 576 |
AM1 | 3 | 24 | 48 |
ID1 | 10 | 80 | 160 |
PA1 | 1 | 8 | 16 |
VFO2 | 8 | 64 | 128 |
AM2 | 3 | 24 | 48 |
ID2 | 10 | 80 | 160 |
PA2 | 1 | 8 | 16 |
总共 | 72字节 | 576位 | 1,152通道位 |
在比较例2中,VFO1和VFO2象它们以前一样被剩下。然而,即使ID1和ID2的纠错能力已经提高了,VFO的通道位的数量仍然是巨大的,因此整个配置是低效率的。与比较例1相似,用EFM(8到14位调制法)的结果得到记录模式,并且用另一种NRZI调制法形成凹坑,所以凹坑的模式为3T,4T,5T,6T,因此,时钟窗口宽度仍然是狭窄的仅仅够一个通道位。
相对与比较例1和2,在本实施例中光盘的具体例子中去掉了VFO并且为ID提供了PE调制。1通道位的PE的形成对应于用户数据的3通道位,使ID的记录密度变稀。换句话说,通过PE调制,一位的形成对应于2通道位,另外通道位的密度被减少到用户数据的1/3。
如果取决于途径(way)错误的变化扩展,以上(格式表示在表2)实施例中的光盘的ID信息的数据密度减少到比较例2(格式表示在表3)的1/3,因此,由于缺陷导致的ID错误数量与表示在表3中的比较例2相比较为其1/3。在本实施例中的光盘,与由于缺陷导致的突发错误相比较,随机的错误相当的少,随机的错误能被有效地纠正。
考虑由于缺陷导致的突发错误的极端的例子,当表示在表3中的比较例2有相应于3字节长的错误不能被纠正时,因为它们相应于1字节的长度,所以上面的表2中表示的光盘能纠正它们。因此,去除VFO和相应地减少ID的密度能提高抗由于缺陷导致的突发错误的强度。
表示在上面表3的比较例2中,与PLL锁定相关的区域存在的任何缺陷,特别在VFO区域的缺陷阻碍了整个ID区域的采样和再现。在另一方面,在上面表2表示的光盘中,由于缺少VFO使得PLL线路在再现设备侧无用,并且能够利用从摆动信号中获得的例如采样时钟来采样。
下面将说明本发明光盘的实施例中另一个具体的例子,在此例子中,代替多次写入增强了ID的纠错能力。
例如,如表4中所示,增加8个奇偶校验以至于能够纠正4个字节。
[表4]
AM1 | -8 | 48 | |
ID1 | 14 | 112 | 672 |
PA1 | -2 | 12 | |
总共 | 732通道位 |
48个通道位被分配到AM1,ID1分配了672个通道位,12个通道位分配到PA1,总共分配732个通道位。由于多次写入,很大的缺陷产生的错误可能导致在相邻的标题中产生错误。这将使之无意义,除非这些标题距起始点被隔成一定的距离。另一方面,通过提高纠错能力将可能使地址没有非常大的错误,因此,上面提及的这种方法是有效的。
然后,将描述制造其中形成光盘的地址区域AR2和用户区域AR1的光盘的原型盘制造装置。通过利用原型盘制造装置对原始记录的盘曝光来制造光盘。
如附图6所示,原型盘制造装置包括一个摆动信号发生电路11,地址信号发生电路12,一个合成电路13,用于合成摆动信号发生电路11的输出信号和地址信号发生电路12的输出信号,并且输出驱动信号SD;驱动电路14,根据驱动信号SD驱动光头15;一个主轴电动机17,旋转地驱动原始记录盘16;以及系统控制电路,没有示出。
该摆动信号发生电路11输出作为摆动信号WB的具有与原始记录盘16旋转同步的特定频率的正弦波信号。摆动信号发生电路11,响应于分区,逐渐地放大摆动信号WB的的频率并且输出它们。因而,摆动信号发生电路11根据本摆动信号WB移动照射激光束的位置,并且在每个扇区以一特定周期的曲径形成凹槽G。
地址信号发生电路12,在没有示出的系统控制电路的控制下,生成地址信号A,它的值响应于光头15的移动连续地改变。更具体地说,地址信号发生电路12从主轴电动机17中接收由与原始记录盘16的转动同步的FG信号组成的时标(timing)信号,通过特定的计数器计数这些时标信号,产生表示激光束照射位置的地址数据ID。此刻,地址信号发生电路12产生了表示在表2或表4中的构成的标题信息,并且通过PE调制把这些信息调制成特定的通道位数据。
地址信号发生电路12提供调制输出作为地址信号A给合成电路13,合成电路13输出时间相应于激光束L的扫描的该地址信号A。
该驱动电路14响应于按照时间与原始记录盘16旋转同步的激光束的照射位置,通过切换变换光头15的驱动条件,将原始记录盘16分区。具体地说,该驱动电路14切换光头15的驱动条件,使得原始记录盘16的信息记录表面可以被划分成辐射状的区域而形成扇区的结构。通过从内侧的轨道向外侧的轨道逐渐地改变这种切换时间,驱动电路14划分一同心圆的信息记录表面而形成多个区域Z0~Zn。
驱动电路14,在系统控制电路的控制下,通过驱动信号SD来移动激光束在用户区域AR1的照射位置从而形成凹槽G的曲径。
该原始记录盘16例如是玻璃基片制成的,在表面上附着有光敏抗蚀剂。该原始记录盘16在主轴电机17的带动下以固定的角速度转动。光头15通过一个特定的螺纹装置和原始记录盘16的旋转同步,将激光束L照射到原始记录盘16,逐渐地从原始记录盘16的内部轨道移动其外部轨道。通过这种方法,光头15从原始记录盘16的内部轨道到外部轨道在原始记录盘上形成了一螺旋的轨道。
通过以上的过程,原型盘制造装置能够通过把激光束L照射在原始记录盘16上来制造光盘。
现在详细地描述一个光盘记录和/或再现设备用来记录和/或再现光盘上的数据的例子。
如附图7所示,用在该例子中的光盘记录和/或再现装置包括:一个光头(OP头)21,能适当地发射激光束从而在光盘10的信号记录表面上读取、写入信号;一个信号检测电路,用于检测光头21读取的的RF信号并且把其转变成数字数据,并用来检测光头21读取的摆动信号或伺服信号;一个ID检测部分23,用于检测信号检测电路22的输出的数字数据中的地址区域AR2的轨道地址或扇区地址通道位的ID信息,和形成ID位数据;一个时标信号发生器24,根据ID检测器23输出的ID位数据而产生时标脉冲;和调制/解调部分25,用于根据时标信号发生器24输出的时标脉冲响应地址对数字数据解调,和用来调制用于记录的数据。
该光盘记录和/或再现设备包括一个缓存器26,用于临时地存储记录数据和再现数据,一个判优(arbiter)电路27,用于判断对缓存器26的读取和/或写各种数据的需求;一个纠错电路(ECC)28,用于对记录数据和再现的数据中的错误进行纠正;和一个与外部系统的接口(I/F)29。
光头21由一个高数值孔径(NA)的光学系统组成,它被设计用来将由激光驱动器30驱动的激光束聚焦在光盘10的信息记录表面上,并且接受该激光束的反射光束。这样设计的光头,根据产生跟踪误差分量信号电平变化的跟踪误差分信号,产生根据聚焦误差分的数量信号电平发生变化的聚焦误差分信号;光学系统,响应于这些跟踪误差分信号和聚焦误差分信号驱动,从而使光头21能够控制跟踪和聚焦。
光头21响应调制/解调电路25输出的调制信号间歇地提高激光束的强度,从而相应调制信号在光盘的信息记录表面上顺序地形成凹坑。此时,光头21通过一个光学系统的高数值口径射出短波激光束顺序地形成凹坑,从而高密度地记录用户数据。
光头21在再现时以固定的强度发射激光束,并且输出再现信号RF,此信号电平响应于反射到信号检测电路22的反射光束的强度发生变化。
在这种光盘记录和/或再现设备中,缓存器26临时地保存在设备本身及计算机和其它外部设备之间输入输出的用户数据。
纠错电路(ECC)28接受通过缓存器26的用户数据,缓存器26的功能是在记录的时候交换由判优电路27控制的交换数据,并且纠错电路(ECC)28转变这些用户数据到指定的ECC格式。
纠错电路(ECC)28在记录的时候交错因此产生的ECC块数据并输出。另外,纠错电路(ECC)28对每个块数据增加一特定字的奇偶校验并输出。
另一方面,再现时,纠错电路(ECC)28为了再现数据对这些已经被调制/解调电路25调制的数据去交错,并且通过判优电路27储存在缓存器26中。纠错电路28为了通过ECC块纠错和再现数据来处理这些数据,从处理结果中选择用户数据并输出到缓存器26中。
调制/解调电路25用适于光盘10在记录期间的调制方法来调制从纠错电路28中输出的数据,把由此获得的调制数据转换成串行数据列并且输出它们。调制/解调电路25解调在再现过程中信号检测电路22输出的数据,获得用于再现的数据和为再现数据并行地输出数据。
ID检测部分23检测跟随在储存在光盘10的地址区域的地址标记AD后面的地址数据ID,利用数据时钟对跟随在地址标记后面的ID取样,此数据时钟相应于被信号检测部分22检测的摆动信号的频率,以获得ID信息。
ID检测部分23的操作原理将在下面描述。附图8示出了用于再现的信号和在标题ID部分的取样。用PE把数据位“0”和“1”转换成通道位列“01”和“10”,通过使其对应于位的有或无(标记/空白)记录通道位“0”和“1”。因此,总是在数据位的中心发生反相。通过取其反相的位置作为边缘,数据是在连续时标纠正时再现。为检测到边缘,无论在窗口中的采样值是否已经超过0(零),都必须确定。否则它必须找出窗口中采样值的差分最大的位置。该窗口按照预先纠正的时标创建在预定的位中心位置附近。在开始的时候,时标是由AM固定的。尽管由于偏心采样频率免不了偏移,但或多或少有一个能使用。采样相位不一致。终究确定为边缘的成对采样在从“在P2和P3点检测”到“在P3和P4点检测”的范围内。
通过检查在此边缘的两边的采样值差分的极性,此数据用PE解调法解调。当一对时钟边缘采样是“p2和p3”的时候,必须检查在一对数据采样“p1和p4”之间的差分。当一对时钟边缘采样是“p3和p4”的时候,必须检查在一对数据采样“p2和p5”之间的差分。根据该差分是+还是-,PE解调的通道位可以是“01”或“10”,换句话说,解调的数据位可以是“0”或“1”。如上面描述的,再现信号和同步时标是连续地在“p1和p4”与“p2和p5”范围内。然而,相位关系可以是任意的,该差分可以再现正确的值。
详细的ID检测电路23的结构表示在附图9。
经信号检测器22检测过的标题ID信息的再现信号(Pb信号(A/D输出))被输入进4级寄存器(Reg.1-Reg.4)31,32,33和34中。2级寄存器(Reg.2)的值和3级寄存器(Reg.3)的值的差分由该差分检测器(dif.1)35计算,根据计算出的结果来识别边缘。由检测器(dif.1)35得出的值取决于边缘斜度,这个值可以是正的或是负的。这里该差分可以是该差分的绝对值。信号在邻近的时标之前不是反相的。
利用比较器(cmp.1)36将1级寄存器(Reg.1)31的值和4级寄存器(Reg.4)36的值相比较,根据比较的结果,再现数据。这个比较器的比较输出作为差分的比较结果可以被限制到的一位正的或负的信息。换句话说,它可以是标记/空白(111000)或是空白/标记(000111)。
计数器(计数器LSB)41为一位ID数据要计数足够多次,换句话说,需要6次。它对于边缘创建了一个窗口,由控制器39计算出在第二级的值和第三级的值之间的最大差分。该边缘的窗口是这样的,其使得能够根据AM被检测出时的时标预测在位中心的该边缘的时标(当差分为最大值时的时标)。例如,在一点和它的前面或后面的一点之间的并对应于时钟的一点采用作为窗口,在其差分值变得最大的点,计数器被复位(已装载)。
寄存器(Reg.5)37和比较器(cmp.2)38用来计算的差分的最大值。触发器(FF.1)43和触发器(FF.2)44存储第1级和第4级的比较结果,当得到边缘的时标时,相应的结果将被切换并由在控制器39控制下的选择器40作为ID位数据输出。
在ID部分,控制器39通过获得的边缘时标控制计数器。在开始的时候,AM被检测到,于是将计数器初始化。计数器(计数器MSB)42和计数器(计数器LSB)41是用来同步所有的标题。
这样,为了再现ID信息,光盘的记录和/或再现设备不使用从PLL中抽取的时钟而是用外部的时钟来采样ID信息。因此,能够减少电路的尺寸。并且光盘在它的预制凹坑标题中不需要任何VFO区域,将冗余减少到一定程度,ID区域的密度能变稀并且由于缺陷造成的影响能减少。任何缺陷造成的影响被限制在其相关的当地。利用纠错信号能够纠正局部的错误,并且能减少ID的错误比率。
Claims (9)
1.一种光盘,其中预先记录着地址信息的地址信息区域和记录与再现区域是交替排列的,其中用来指示一区域的开始的地址标记排列在所述的地址信息区域的头部,并且所述的地址信息跟随该地址标记。
2.如权利要求1所述的光盘,其中,通过相位编码调制以成对的标记/空白记录所述的地址信息。
3.如权利要求1所述的光盘,其中,使所述足够填充一个通道位的所述地址信息的形成对应于记录在所述的记录与再现区域的多个通道位数据。
4.如权利要求1所述的光盘,其中,所述的地址信息被编码用以纠错编码。
5.一种记录和/或再现在光盘上的数据的记录/或再现设备,其中地址信息区域和记录与再现区域是交替排列的,其包含:
一个用来读取记录在所述光盘上的记录信号的读取装置;
一个信号处理装置,用于为了读取地址信息而处理所述的读取装置读取的信号;
一个地址信息检测装置,用于响应于一指定的采样时钟检测所述的信号处理装置输出的处理过的地址信息。
6.如权利要求5所述的记录和/或再现设备,其中,所述的光盘包括以摆动的凹槽形成的记录与再现区域,并且所述的地址信息检测装置响应于根据由所述信号处理装置检测到的凹槽的摆动频率的采样时钟来检测所述地址信息。
7.如权利要求5所述的记录和/或再现设备,其中利用相位编码调制以成对的标记/空白将所述的地址信息储存在所述光盘上,所述的地址信息检测装置通过检测成对的标记/空白的差分来解调位。
8.如权利要求5所述的记录和/或再现设备,其中利用相位编码调制以成对的标记/空白将所述的地址信息储存在所述光盘上,并且所述的地址信息检测装置通过采用成对的调制过的标记/空白的边界作为位中心的边缘及通过纠正采样时标来采样通道位。
9.一种记录和/或再现光盘上的数据的记录和/或再现方法,其中该光盘的地址信息区域和记录再现区域是交替排列的,包含的步骤有:
为了读取地址信息而处理从所述的光盘上读取的信号;和
响应于指定的采样时钟,检测由所述的信号处理步骤处理的输出中的地址信息。
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