CN1279518C - 在记录介质中的信号记录的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及了使用一个写入策略把记录数据记录到光驱中去的方法,该写入策略是与光盘的记录特性有关的。本发明的方法是检测记录介质的轨道间距或存储量,根据检测出的轨道间距或存储量调整写入策略,此时写入策略将与媒介制造商相一致,使用调节后的写入策略把输入数据记录到记录媒介中去。因此,以后再生数据的质量将会提高,甚至是到非标准光盘上的记录能力也比标准的有所提高。

Description

在记录介质中的信号记录的方法
技术领域
本发明涉及在光驱中记录数据的方法,该方法使用了与光盘记录特性一致的光驱写入策略。
背景技术
通常,可写入光盘的特性是不同的,特性的不同归因于他们不同的制造公司。
因此,一个光盘设备,如一个CD写入器,引导一个优化功率校正器(OPC),使用光盘制造商给定的标准写入功率,以便于在记录数据写入光盘之前就能获得最优的写入功率。
此外,可写入每个光盘制造公司不同,对于可写入光盘的写入策略也不同。因此,一个光盘设备的微处理器存储与每一个公司的光盘标准存储量(如,74秒钟)相关的特殊写入策略的信息,并且检测哪一个公司是该插入光盘的制造公司。而后,它读出适合该公司的写作策略并将数据写入已插入的光盘中,同时根据读出/写入策略将脉冲水平和/或写入脉冲带宽调整到最优功率。
另一方面,可写入光盘的轨道间距可根据光盘存储量变化。如,一个标准存储量(74分钟)的光盘,它的轨道间距是大约1.6μm,然而,如果一个80分钟存储量的光盘,它的轨道间距将小于1.6μm。
然而,尽管有这些不同,一个传统的光盘设备,可把标准存储量的写入策略使用到插入的80分钟或是有更长存储量的光盘上。在这种情况下,就不能保证数据最优的写入到插入光盘上了。
此外,一个光盘制造处理时将采用喷涂材料的处理,这将使光盘的外部厚于光盘内部。因为厚度的差别,记录点向外移动到光盘的外围区域,记录特性将变差。
为了防止其性能变差,写入功率将被逐渐提高。然而,写入功率越大临道间的干扰也就越大。因为一个比标准74分钟的存储量越大的光盘的轨道间距就越窄,当外区域的写入功率增加时,在轨道间的干扰也就比标准量的光盘严重的多。
发明内容
本发明的目的提供了一个数据记录的方法,可设置一个与光盘的轨道间距或是存储能力相一致的写入策略,并根据确定了的写入策略把信息记录到可写入光盘中去。
根据本发明,把数据记录到记录介质中的方法有以下的特点,它包括以下的步骤:识别记录介质的制造商并检查记录介质的轨道间距;选择与所识别的记录介质的制造商相对应的写入策略,如果轨道间距是标准的则根据写入策略来调整写入脉冲,和如果轨道间距比标准的窄则根据轨道间距选择写入脉冲的脉冲宽度;根据所选的写入策略在记录介质中记录输入数据。
本发明另一个把数据记录到记录介质中的方法包括以下几个步骤:识别记录介质的制造商并检查记录介质的存储容量;选择与所识别的记录介质的制造商相对应的写入策略,如果存储容量是标准的则根据写入策略来调整写入脉冲,和如果存储容量大于标准的则根据存储容量选择写入脉冲的脉冲宽度;根据所选的写入策略在记录介质中记录输入数据。
附图说明
附图的目的是为了更好的表述本发明,展现关于发明的实施例,并且与描述一起解释本发明的原理。其中包含:
图1是一个光盘驱动器的简化框图,其中包含本发明采用的数据记录方法。
图2是本发明数据记录方法第一实施例的流程图。
图3是一个根据上述情况进行脉冲展宽的例子。
图4是本发明第二实施例中的数据记录方法的流程图。
图5是对不同存储量的介质写入策略的说明信息。
具体实施方式
为了全面了解本发明,将具体描述与本实施例相关的图例。
图1是一个光盘驱动器的简化框图,其中包含本发明采用的数据记录方法。
图1的光盘驱动器包括:一个数字记录信号处理单元30a,用于把输入数据转换成记录形式的EFM(八到十五的调制)数据,并同时加入附加的纠错码(ECC);一个信道比特编码器40,用于把记录形式的数据转换成写入信号;一个光驱41用于产生一个驱动LD(激光二极管)的信号;一个光传感器20,用于在可写入光盘10表面写入信号,或从可写入光盘10表面读出已写入的信号;一个R/F机构,它通过从传感器20检测出信号的滤除和组合,可产生二进制信号和TE(跟踪误差)FE(聚焦误差)信号;一个ATIP译码器51,用于形成ATIP( PREGROOVE的绝对时间)帧,它通过对可写入光盘10检测出的摆动信号进行译码;一个驱动机构70,可驱动滑动电机11b和轴电机11a,使得滑动电机11b移动光传感器20,轴电机旋转光盘10;一个伺服机构60,可引导传感器20上物镜的跟踪/聚焦操作,并可控制驱动机构70以一个恒定的速度去旋转光盘10;一个数字再生信号处理机构30b,可使用与二进制信号脉冲同步的自动时钟存储来自二进制信号的原始数据;还有一个微处理器80,用于控制整体的记录/再生操作,特别是调整光驱41的写入特性,该特性与写入策略有关,该策略是通过存储在内ROM81中的光盘情况制定的。
图2是本发明数据记录方法第一实施例的流程图。图2所示流程图由图1所示的光盘驱动结构执行,这将在以后的内容中详细说明。
假设,微处理器80的内ROM81存储了关于每一个光盘制造公司关于写入策略的信息。
如果一个像CD-R这样的一次写入光盘被正确的安装在光盘驱动器(S10)中,它将在微处理器80的控制下以恒定的速度旋转。然后,微处理器80分析从ATIP译码器51输出的ATIP帧,以搜索从引入区译码的帧,该帧是第11(帧NO.N+10)帧和第21(帧NO.N+20)帧,也就是第二和第三特殊信息。每一个ATIP帧分别由三个被称为“分”、“秒”和“帧”的字节组成。此两帧对应的三字节MSB码分别为‘110’和‘111’。第11帧包括引入区启动时间的信息,第21帧包括引出区启动时间的信息。
当两帧找到后,微处理器80分别读出其中的信息(S11)。同时,微处理器80分别设置第11帧的字节位M1:S1:F1为“100”,设置第21帧的字节为“00”。
不同的制造公司写入第11帧的启动时间也不同。因此,微处理器80可根据读出的启动时间来识别制造插入光盘10的公司。从第三特殊信息,微处理器80可已知晓光盘10的存储量。举个例子,如果第三特殊信息的三个字节是“01110000,0100 0101,0001 0101”,也就是说,启动时间(位置)是70分钟,45秒钟和15帧,因为每一个字节都是BCD码(十进制数的二进制编码)。
一个微处理器80通过写入第21帧引出区的启动时间知晓了其存储能力,并可使用一个被广泛使用的等式和已知的存储能力来计算轨道间距(S12)。如果已知存储能力是74分钟,轨道间距计算结果的标准值是1.6μm,然而,如果长于74分钟,计算结果将是一个比标准的间距窄。微处理器80根据识别出的光盘10的公司来选择存储在内ROM81中的写入策略(S13)。
然后,如果请求记录数据(S20),微处理器80检验计算出的轨道间距,如果该间距是标准的(大约1.6μm),当在光盘10上记录输入数据时,它根据所选写入策略来调整写入脉冲的水平和/或带宽(S22)。所述写入脉冲通过执行OPC确保它具有最优的写入功率。
当数据被记录后,数字记录信号处理机构30a将对输入数据进行编码,并夹带上校验码,以形成ECC组来提高数据记录/再生的可靠性。每一个ECC组将以EFM形式的串行比特输出,该输出是从数字记录信号处理机构30a到信道比特编码器40以把串行比特调制成NRZ信号。光驱41根据已调制NRZ信号输出PWM(脉宽调制)写入信号,同时根据所选写入策略来调整PWM信号的水平和带宽。光传感器20把光驱41的输出转换成光束,以分别在可写入光盘10的轨道上形成标记和空白。
然而,如果计算出的轨道间距窄于标准(S21),微处理器80会指示光驱41反向展宽每个写入脉冲使其与轨道间距成比例,同时按照定义的所选写入策略保留每个脉冲的水平。可通过计算间距与标准的差别把所述每一个脉冲的水平降低。
调整率(Δ)可通过公式Δ=k*1.6μm/“计算出的间距”给出,该公式中k是恒定的,它表示当轨道间距为1.6μm时的调整率。为了替代计算轨道间距,调整率(Δ)可直接通过公式Δ=k’*‘检测出的光盘量’/74分钟得出,其中如果存储容量已知,k’是一个恒定值,它表示光盘量为74分钟时的调整率。
图3是一个根据上述情况进行脉冲展宽的例子,其中虚线表示光盘特定的写入策略,实线表示根据轨道间距差调整的写入策略。调整率(Δ)可被所有相等或不等的写入脉冲nT采用。当不同的调整率被采用时,Δ用于3T,αΔ用于4T,2αΔ用于5T,等等。恒值α是通过多次试验得出的。
光驱41的输出PWM信号是通过调整输入信号的脉宽得到的,例如,如图3所示,输出信号PWM通过光传感器20写入到可写入光盘10上(S23)。
这个写入处理将被继续直到完成数据记录(S24)。
图4是本发明第二实施例中的数据记录方法的流程图。
作为第二实施例,微处理器80的内ROM 81存储了非标准量光盘的调整系数(αk)和每个光盘制造公司的标准量光盘的每个脉冲kT的宽度Ti的信息。调整系数(αk)也是通过很多实验获得的。一个用作长脉冲的调整系数大于用于短脉冲的调整系数,也就是,αk<αk+1。图5表示的是存储在微处理器80中的信息。
如图1所示当光盘10被正确的放置到图1的光盘驱动器中时(S30),微处理器80在分析从ATIP译码器51处输出的ATIP帧时会旋转光盘10,微处理器80将识别光盘制造商和光盘量,如第一实施例所述(S31)。完成识别后,微机80将选择一个适合于从内ROM81处识别的制造商写入策略(S32)。
然后,如果请求记录数据(S40),微处理器80将检查所识别光盘量,当此时光盘量大约是80分钟(S41)长于标准值时,它将继续检查当前记录位置是否已经覆盖了特定的限制点,如光盘10的2/3半径处。可通过插入一个绝对时间来获知当前记录位置的径向位置,在每一个被分析得ATIP帧都以一个被广泛承认的公式形式MIN:SEC:FRAME写入。
如果当前位置还没有到达限制点,微处理器80引导记录数据,并根据已选择的写入策略将写入脉冲调整到最优写入功率(S44)。如果当前位置已经超过的限制点,微处理器80从ROM81上读取每一个脉冲宽度(Tk)和每一个调整系数(αk),并通过Tk乘以αk计算每个脉宽nT,通过微处理器80把它放置到光驱41中。
光驱41的PWM信号通过设置被调整到他们的宽度,并通过光传感器20写入到可写
入光盘10中(S43)。这个写入过程将继续直到数据记录完成(S50)。
如果被识别的存储量是标准的,也就是74分钟,微处理器80将执行数据记录,并根据以前所述的选择的写入策略来调整写入脉冲(S44)。
上述数据记录方法可提高以后再生数据的质量,即使是被记录到大于标准容量的非标准光盘上。
与该领域的那些技术相比,多种修改和变更可使用到本发明中,且不改变本发明的宗旨和范围。因此,本发明覆盖了其附属权利要求相应范围内的修改和变更。

Claims (12)

1.一种在记录介质中记录数据的方法,其特征在于,包括以下几个步骤:
(a)识别记录介质的制造商并检查记录介质的轨道间距;
(b)选择与所识别的记录介质的制造商相对应的写入策略,如果轨道间距是标准的则根据写入策略来调整写入脉冲,和如果轨道间距比标准的窄则根据轨道间距选择写入脉冲的脉冲宽度;
(c)根据所选的写入策略在记录介质中记录输入数据。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤(a)根据编码在ATIP信息中的记录介质的引入区和引出区的启动时间来识别制造商和检查轨道间距。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤(c)记录输入数据,并根据所选的写入策略调整最优功率,该最优功率是通过一个最优功率校正确定的。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,如果所检验的轨道间距小于预置值,所述步骤(b)根据被检测轨道间距和预置值之差按比例地增加写入脉冲的脉冲宽度。
5.一种在记录介质中记录数据的方法,其特征在于,它包括以下步骤:
(a)识别记录介质的制造商并检查记录介质的存储容量;
(b)选择与所识别的记录介质的制造商相对应的写入策略,如果存储容量是标准的则根据写入策略来调整写入脉冲,和如果存储容量大于标准的则根据存储容量选择写入脉冲的脉冲宽度;
(c)根据所选的写入策略在记录介质中记录输入数据。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述步骤(a)根据编码在ATIP信息中的记录介质的引入区和引出区的启动时间来识别制造商和检查存储容量。
7.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述步骤(c)记录输入数据,并根据所选的写入策略调整最优功率,该最优功率是通过一个最优功率校正确定的。
8.如权利要求5所述的方法,其特征在于,如果所检查的存储容量大于预置值,所述步骤(b)根据被检测的存储容量和预置值之差按比例地增加写入脉冲的脉冲宽度。
9.如权利要求5所述的方法,其特征在于,还包括以下步骤:
(d)当检查出的存储容量大于预置值时,检查在记录介质上的当前记录位置;
(e)如果检查出当前位置超过了预定位置时,则调整所选的写入策略。
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,调整所选的写入策略的步骤(e)包括增加写入脉冲的带宽。
11.如权利要求10所述的方法,其特征在于,对每个写入脉冲以不同的速率增长其带宽,写入脉冲的范围从3T到11T。
12.如权利要求9所述的方法,其特征在于,预置位置大约在记录介质的2/3半径处。
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