CN1243957A - 综合型电磁继电器高、低温寿命实验装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种综合型电磁继电器高、低温触点寿命试验装置,包括壳体,壳体内装有高、低温箱、老化板、线圈电源、负载电源、系统电源。还包括一个装有专用软件的主控计算机、下位机、线圈时序控制装置、二级负载电压装置、窗口比较和采样保持测量装置组成的控制监测电路,该电路将控制测量信号输出到老化板试品上,进行寿命试验,并有失误信号监测,可广泛应用于电磁继电器生产、使用厂、所。
Description
本发明涉及一种综合型电磁继电器高、低温触点寿命试验装置。用于各种单线圈、双线圈、磁保持、单双脉冲电磁继电器(简称试品)触点作低电平负载切换试验和中等电流负载切换试验，供用户对品种广泛的试品进行老化筛选试验用。
随着信息产业和国防军工产业的发展，电磁继电器的品种、规格越来越多，可靠性要求越来越高。目前市场销售和使用的继电器触点寿命试验装置，基本上都是单一试验功能的，现用户对电磁继电器触点进行寿命试验往往要购买多种品种规格的试验设备，该现状的缺点是：①设备利用率低，互相不能兼顾，筛选成本提高。②设备购置费用大，占用大量厂房和操作人员，劳动率低下。③自动化程度低。
本发明的目的在于提供一种适用品种、类型广泛、适用触点低电平试验和中等电流试验的综合型电磁继电器高、低温触点寿命试验装置。
本发明包括壳体内装有高、低温试验箱、老化板、一级负载电源、线圈电源，由一个控制监测电路控制至少一个置于高、低温试验箱环境中的老化板，老化板装载有试品；该控制监测电路发生、输出继电器老化所需线圈时序信号、试品触点负载电源、触点粘、断压降监测测量时序信号，该控制监测电路具有一个安装有专用老化软件的主控计算机，经通讯接口连接一个由单片机组成的下位机，该主控计算机可将直流低电平负载切换和中等电流切换试验条件，线圈动作时序信号、测量时序信号编辑为老化信号、数据，传送到下位机，下位机至少连接一个线圈时序控制装置、窗口比较、采样保持测量装置、二级负载电源装置；所述二级负载电源在接到下位机输出的电压程控信号后向老化板馈送试品触点负载电压；所述线圈时序控制装置接到下位机单线圈、双线圈、磁保持线圈信号后发出驱动信号后给老化板试品的线圈；所述窗口比较、采样保持测量装置在接到下位机时序测量信号时，开始对试品常闭常开触点进行监测，试品触点失误后失误信号，一路作故障锁存，另一路送采样保持和A/D电路，锁定失误电压；下位机通过通讯接口将该失误触点的工位号、已累计循环次数、已失误累计次数、失误时测量的电压数据，回送到主控计算机。
本发明的优点是装置总体体积小，自动化程度高，成本低，可同时对120组触点进行高、低温触点寿命试验。该装置至少可替代市售产品中高温低电平负载切换、高温中等电流负载切换、低温低电平负载切换、低温中等电流负载切换四种试验装置，而且具有自动化程度高、安装操作方便、使用可靠的优点，给各电磁继电器生产和使用厂家提供良好的试验手段。
下面结合附图进一步说明本发明。
图①综合型电磁继电器高、低温触点寿命试验装置方框图。
图②控制监测电路方框图。
图③线圈测量时序图。
本装置的试验腔装在市售符合标准的+125℃—-60℃高温、低温试验箱内，试验腔放置10块标准宽度的老化板，可分为二个不同老化电压的工作区，每块老化板上安排8个用于固定试品孔位的载体板和12组触点，及相应的线圈、触点的连接点，每组线圈的负端均通过一个保险丝接公共地线，正端接线圈时序控制装置，老化板采用平行放置，能灵活插拔调换，通过调节试验箱控制器达到不同温度梯度的试验。老化板触点负载电阻是事先按标准固定的，通过更换不同负载电阻的老化板实现触点低电平负载切换试验和中等电流负载切换试验的选择，触点负载试验电压和线圈时序控制及触点粘、断故障判别和测量，均通过老化板的输出端与一个上位机控制的控制监测电路连接。
上位机安装一个专用老化软件，按照试品试验方法是触点直流低电平负载切换或触点中等电流切换；试品类别是单线圈单脉冲、单线圈双脉冲、双线圈单脉冲、磁保持型式；触点粘、断故障失效判据、线圈吸放频率，编辑成二级程控电源信号、线圈时序控制信号、触点测量时序信号，通过通讯接口可靠地传送到下位机，下位机经存贮、运算后，至少连接一个线圈时序控制装置、一个二级负载电源装置、一个窗口比较和采样保持、测量装置。所述线圈时序控制装置接到下位机信号后发出驱动脉冲向老化板上的试品线圈供电，进行吸合动作；二级负载电源装置接到下位机电压程控信号后向老化板馈送试品触点负载电压；所述窗口比较和采样保持测量装置接到下位机测量时序信号后，监测来自老化板试品常开常闭触点电压信号。当触点闭合压降大于负载供电电压的5％、触点开路压降小于负载供电电压95％时窗口比较器动作作失误锁存，另一路送采样保持和A/D电路，触发采样保持锁存失误电压；下位机通过通讯接口将该失误触点组的工位号、已累计循环次数、已失误累计次数、失误类别、失误时测量的电压数据回送到上位机存贮或显示。系统电源分别向各装置提供工作电压，AC控制装置分别向高温、低温试验箱、一级负载电源、系统电源、线圈电源、主控计算机分配和提供电源。
本发明的工作过程如下：
试品安装在定制的载体板上，载体板安装在老化板上，这样可用一种类型的老化板满足几十种试品装载的目的。用导线焊接好试品线圈、触点组与老化板接点，安装检查线圈负端保险丝，检查老化板触点负载电阻与进行的试验方法是否相同，正常后将老化板插入试验架。保持电接触良好，开启试验箱，设定温度值，开启系统电源、线圈电源、一级负载电源、主控计算机电源，待计算机启动后，通过键盘或鼠标输入试验日期、试品型号，编辑好老化信号或从元件库中取出存储的程序，将试品、线圈时序信号、二级程控电源信号、窗口报警上下限、测量时序信号检查确信后，按确认键存盘，同时发送信号，下位机通过由75175接收芯片和75174驱动芯片收到上位机的信号，即开始对线圈时序控制装置、二级负载电源、窗口比较和采样保持测量装置发出信号，老化板上的试品开始动作。线圈时序控制装置由低阻抗功率驱动器组成，动作脉冲在ms级，大大高于市售用水银继电器作线圈时序控制元件的质量，二级程控电源可输出10mV～50mV/5A和1V～50V/12A直流负载电源，窗口比较器由断比较器和粘比较器组成，每一组常闭常开触点有二组窗口比较电路，窗口比较器信号输入端装有衰减和放大电路，分别对于中等电流切换和低电平负载切换试验，通过老化板输出端来识别的。当触点闭合压降大于负载供电电压5％时粘比较器动作，输出失误信号；当触点开路压降小于负载供电电压95％时断比较器动作，输出失误信号，一路失误信号到故障锁存器锁存，并用发光二极管指示失误工位号、失误类别；另一路失误信号通过单片机多路开关送采样保持和A/D电路，触发采样保持锁存失误时电压。多路开关扫描十次后将失误锁存取消，该触点继续老化试验，而下位机将通过通讯接口将该失误触点组的参数回送上位机显示、存储、打印输出。
Claims (1)
1.一种综合型的电磁继电器高、低温触点寿命试验装置，包括壳体内装有高、低温试验箱、老化板、一级负载电源、线圈电源，其特征在于由一个控制监测电路控制至少一个置于高、低温试验箱环境中的老化板②，老化板装载有试品；该控制监测电路发生、输出继电器老化所需线圈时序信号、试品触点负载电源、触点粘、断压降监测测量时序信号，该控制监测电路具有一个安装有专用老化软件的主控计算机⑤，经通讯接口⑥连接一个由单片机组成的下位机④，该主控计算机⑤可将直流低电平负载切换和中等电流切换试验条件，线圈动作时序信号、测量时序信号编辑为老化信号、数据，传送到下位机④，下位机④至少连接一个线圈时序控制装置①、窗口比较、采样保持测量装置③、二级负载电源装置⑦；所述二级负载电源⑦在接到下位机④输出的电压程控信号后向老化板②馈送试品触点负载电压；所述线圈时序控制装置①接到下位机④单线圈、双线圈、磁保持线圈信号后发出驱动信号后给老化板②试品的线圈；所述窗口比较、采样保持测量装置③在接到下位机④时序测量信号时，开始对试品常闭常开触点进行监测，试品触点失误后失误信号，一路作故障锁存，另一路送采样保持和A/D电路，锁定失误电压；下位机④通过通讯接口⑥将该失误触点的工位号、已累计循环次数、已失误累计次数、失误时测量的电压数据，回送到主控计算机⑤。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN102981120A (zh) * | 2012-11-15 | 2013-03-20 | 中国电力科学研究院 | 一种磁保持继电器的全性能检测系统及其检测方法 |
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1998
- 1998-07-30 CN CN 98116975 patent/CN1243957A/zh active Pending
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