CN1217154C - 一种利用单光束激光进行准直/轴对中测量的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明属于利用激光进行精密测量的技术。其技术方案是:将半导体激光器LD和位敏探测器PSD分别安装到待对中的两轴上,以半导体激光器LD支柱的轴线与从动轴B的轴线之交点为坐标原点O,作直角坐标系O-XYZ,X轴沿半导体激光器LD支柱的轴线向上,Z轴沿从动轴B的轴线向右,Y轴则垂直于纸面向外。本发明提供了以半导体激光器LD和位敏探测器PSD作为测量仪器及其测量数据处理的数学模型,该测量方法不仅其装置结构简单,而且扩大了功能,可兼作激光准直仪使用,而且其数学模型还可用于对计算机采集的数据进行处理。

Description

一种利用单光束激光进行准直/轴对中测量的方法
                        技术领域
本发明属于利用激光进行精密测量技术领域。
                        背景技术
自激光出现后,人们利用其优良的高方向、高单色、高能量等性能对许多传统的技术进行了革命性改造。
传统的机械轴对中(即调同轴)采用千分表,必须人眼读数,手工计算;不便且费时。经激光对中仪取代后,可用计算机进行数据的采集和处理,使测量过程变得简单、迅速。
现有的激光对中仪主要有双光束型,其基本结构有两种。一种是半导体激光器LD与位敏探测器PSD作为一方装在一个盒内,直角棱镜作为另一方装在另一盒内,分别置于待对中的两轴上,由棱镜将激光束返回。另一种结构是在两轴上各有一对LD和PSD。个别采用单光束者,则安装了两个位敏探测器,利用半反半透镜将激光束一分为二。以上两种结构不但所用元件多,而且用途单一。
                        发明内容
本发明的目的是提供一种采用单光束激光、一个位敏探测器PSD的激光对中仪,使结构简化,功能扩大,可兼作激光准直仪,并提出了对计算机所采集的数据进行处理的数学模型。
本发明的技术方案是:将半导体激光器LD和位敏探测器PSD分别安装到待对中的两轴上,即图1中示出的从动轴B(2)和主动轴A(1),以半导体激光器LD支柱的轴线与从动轴B的轴线之交点为坐标原点O,作直角坐标系O-XYZ,见图1,X轴沿半导体激光器LD支柱的轴线向上,Z轴沿从动轴B的轴线向右,Y轴则垂直于纸面向外。设位敏探测器PSD支柱的轴线与主动轴A的轴线之交点在坐标系的坐标为x0,y0和z0,两轴夹角在竖直面和水平面的投影分别为θ和φ,利用本方法进行测量时,须同步、同向转动两轴,转角为α,测出半导体激光器LD发出的激光束照射到位敏探测器PSD上的光斑的位置,即光斑在位敏探测器PSD上的二维坐标X和Y,则可计算出上述表征两轴相对位置的参量x0,y0,θ和φ。
半导体激光器LD发出的激光束照射到位敏探测器PSD上的光斑的二维坐标与两轴轴线相对位置关系的数据处理模型为:
X = ( h cos α - x 0 ) [ sin α tan θ tan φ + cos α cos θ ] + ( h sin α - y 0 ) sin α cos φ - h ,
Y = ( h cos α - x 0 ) [ cos α tan θ tan φ + sin α cos θ ] + ( h sin α - y 0 ) cos α cos φ ,
式中h为激光束到从动轴B轴线之间的距离。
本发明不仅结构简单,而且扩大了功能,可兼作激光准直仪,还提出了数学模型用于对计算机采集的数据进行处理。
                        附图说明
图1是本发明的组成示意图;
图2是本发明中的LD安装、调整示意图;
图3是本发明中的PSD安装、调整示意图。
                       具体实施方式
本发明由半导体激光器LD、位敏探测器PSD及其装卡机构和计算机C组成,如图1所示。
LD发出作为直线基准的激光束K,并照射到PSD上。PSD能够输出光斑的位置信号,用二维坐标表示;该信号由计算机C采集并处理。
该仪器作为准直仪,原理比较简单;只须激光束的方向不变,沿激光束方向改变PSD的位置即可;关键是须精密调整PSD至准直的位置。
作为对中仪,需要较详细地说明如下:将半导体激光器LD和位敏探测器PSD分别安装到待对中的两轴上,即图1中示出的从动轴B(2)和主动轴A(1)。以半导体激光器LD支柱的轴线与从动轴B的轴线之交点为坐标原点O,作直角坐标O-XYZ,见图1。X轴沿LD的支柱轴线向上,Z轴沿B轴轴线向右,Y轴则垂直于纸面向外。设PSD支柱的轴线与主动轴A的轴线之交点在该坐标系的坐标为x0,y0和z0,两轴的夹角在竖直面和水平面的投影分别是θ和φ。利用本仪器进行测量时,需同步、同向转动两轴,设转角为α,测出光斑的位置,即光斑在PSD上的二维坐标,则可计算出上述表征两轴相对位置的参量x0,y0,θ和φ。从而按下式可求得待对中的两机械轴的调整量:
                      X1=-L1 sinθ-x0,         (1)
                      X2=-L2 sinθ-x0,         (2)
                      Y1=-L1 cosθsinφ-y0,    (3)
                      Y2=-L2 cosθsinφ-y0,    (4)
式中X1,X2和Y1,Y2分别为垂直方向和水平方向的调整量;L1和L2如图1所示。
光斑在PSD上的位置、即坐标信号,送入放大器放大,由A/D板采集,最后由计算机按所给的数学模型处理。
LD和PSD的安装、调整示意见图2和图3。LD绕支点3经调节螺丝4进行俯仰调节和调节螺丝5进行偏转调节;而PSD用螺丝6进行水平移动和用螺丝7进行垂直移动。
本发明的特征是:采用单光束,一个位敏探测器,激光准直与激光对中合二而一。这是类似仪器所不具备的。
由于本仪器采用单光束,且仅用一个二维位敏探测器,因此必须寻找新的数据处理模型。根据本仪器测量的特点,我们用矩阵方法进行坐标变换,得到光斑在PSD上的坐标与两轴相对位置的关系:
X = ( h cos α - x 0 ) [ sin α tan θ tan φ + cos α cos θ ] + ( h sin α - y 0 ) sin α cos φ - h , - - - ( 5 )
Y = ( h cos α - x 0 ) [ cos α tan θ tan φ + sin α cos θ ] + ( h sin α - y 0 ) cos α cos φ , - - - ( 6 )
式中h为激光束到从动轴轴线之间的距离,其他参量已如前述。选择特殊的α角度,测量相应的X和Y,由(5)、(6)解出x0,y0,θ和φ,代入(1)~(4)式。
本发明采用单光束、一个位敏探测器PSD,使结构简化,功能扩大,兼作激光准直仪,提出了对计算机所采集的数据进行处理的数学模型。

Claims (2)

1.一种利用单光束激光进行准直/对中测量的方法,其特征是,将半导体激光器LD和位敏探测器PSD分别安装到待对中的两轴上,即图1中示出的从动轴B(2)和主动轴A(1),以半导体激光器LD支柱的轴线与从动轴B的轴线之交点为坐标原点O,作直角坐标系O-XYZ,见图1,X轴沿半导体激光器LD支柱的轴线向上,Z轴沿从动轴B的轴线向右,Y轴则垂直于纸面向外,设位敏探测器PSD支柱的轴线与主动轴A的轴线之交点在坐标系的坐标为x0,y0和z0,两轴夹角在竖直面和水平面的投影分别为θ和φ,利用本方法进行测量时,须同步、同向转动两轴,转角为α,测出半导体激光器LD发出的激光束照射到位敏探测器PSD上的光斑的位置,即光斑在位敏探测器PSD上的二维坐标,则可计算出上述表征两轴相对位置的参量x0,y0,θ和φ。
2.根据权利要求1所述的利用单光束激光进行准直/对中测量的方法,其特征是,半导体激光器LD发出的激光束照射到位敏探测器PSD上的光斑的二维坐标与两轴轴线相对位置关系的数据处理模型为:
X = ( h cos α - x 0 ) [ sin α tan θ tan φ + cos α cos θ ] + ( h sin α - y 0 ) sin α cos φ - h ,
Y = ( h cos α - x 0 ) [ cos α tan θ tan φ - sin α cos θ ] + ( h sin α - y 0 ) cos α cos φ ,
式中h为激光束到从动轴B轴线之间的距离。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101298982B (zh) * 2008-07-02 2010-06-02 瑞安市瑞光光电仪器有限公司 回转轴同轴度的校准方法及其校准仪

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100529736C (zh) * 2005-03-28 2009-08-19 中国科学院安徽光学精密机械研究所 Brdf测量系统零位校准方法
CN100363712C (zh) * 2005-07-29 2008-01-23 同方威视技术股份有限公司 一种用于空间位置精确测量的设备
CN101306505B (zh) * 2008-06-20 2010-06-02 吴士旭 一种对相连的旋转轴进行对中检测和调整的方法及其装置
CN102322825B (zh) * 2011-06-02 2013-02-20 南京航空航天大学 超长孔系零件同轴度光学测量系统及方法
CN103292745B (zh) * 2013-05-07 2015-09-02 中国人民解放军军械工程学院 一种分离体内孔件的同轴度测量装置
CN104731015B (zh) * 2015-02-04 2017-09-08 北京航天发射技术研究所 一种快速对中方法
CN106392611B (zh) * 2016-12-09 2018-06-22 江苏理工学院 基于激光的混杂纤维多轴向经编机多曲轴对中工装及对中方法
CN106996756A (zh) * 2017-04-10 2017-08-01 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种核电蒸发器流量分配板同轴安装测量系统及应用方法
CN107627101B (zh) * 2017-09-01 2019-10-18 安徽容知日新科技股份有限公司 轴对中装置及方法
CN108801179B (zh) * 2018-06-27 2019-08-13 大连理工大学 一种远距离非接触轴同轴度测量装置及方法
CN109099841B (zh) * 2018-09-14 2020-01-31 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种位置测量传感器和位置测量系统
CN109290758B (zh) * 2018-09-30 2020-10-16 成都南方电子仪表有限公司 一种基于激光准直仪检测的位置对中方法
CN109631806A (zh) * 2018-12-27 2019-04-16 北京理工大学 一种面向航空发动机装配同轴度误差在线检测装置
CN109668530B (zh) * 2019-01-29 2021-02-02 广州文冲船舶修造有限公司 一种轴与轴孔对中检测方法及对中检测装置
CN109655017B (zh) * 2019-02-25 2021-02-02 沈阳航空航天大学 一种管道同轴度测量系统
CN114562962B (zh) * 2022-02-28 2024-06-07 首钢京唐钢铁联合有限责任公司 一种基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101298982B (zh) * 2008-07-02 2010-06-02 瑞安市瑞光光电仪器有限公司 回转轴同轴度的校准方法及其校准仪

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