CN1217154C - 一种利用单光束激光进行准直/轴对中测量的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明属于利用激光进行精密测量的技术。其技术方案是:将半导体激光器LD和位敏探测器PSD分别安装到待对中的两轴上,以半导体激光器LD支柱的轴线与从动轴B的轴线之交点为坐标原点O,作直角坐标系O-XYZ,X轴沿半导体激光器LD支柱的轴线向上,Z轴沿从动轴B的轴线向右,Y轴则垂直于纸面向外。本发明提供了以半导体激光器LD和位敏探测器PSD作为测量仪器及其测量数据处理的数学模型,该测量方法不仅其装置结构简单,而且扩大了功能,可兼作激光准直仪使用,而且其数学模型还可用于对计算机采集的数据进行处理。
Description
技术领域
本发明属于利用激光进行精密测量技术领域。
背景技术
自激光出现后,人们利用其优良的高方向、高单色、高能量等性能对许多传统的技术进行了革命性改造。
传统的机械轴对中(即调同轴)采用千分表,必须人眼读数,手工计算;不便且费时。经激光对中仪取代后,可用计算机进行数据的采集和处理,使测量过程变得简单、迅速。
现有的激光对中仪主要有双光束型,其基本结构有两种。一种是半导体激光器LD与位敏探测器PSD作为一方装在一个盒内,直角棱镜作为另一方装在另一盒内,分别置于待对中的两轴上,由棱镜将激光束返回。另一种结构是在两轴上各有一对LD和PSD。个别采用单光束者,则安装了两个位敏探测器,利用半反半透镜将激光束一分为二。以上两种结构不但所用元件多,而且用途单一。
发明内容
本发明的目的是提供一种采用单光束激光、一个位敏探测器PSD的激光对中仪,使结构简化,功能扩大,可兼作激光准直仪,并提出了对计算机所采集的数据进行处理的数学模型。
本发明的技术方案是:将半导体激光器LD和位敏探测器PSD分别安装到待对中的两轴上,即图1中示出的从动轴B(2)和主动轴A(1),以半导体激光器LD支柱的轴线与从动轴B的轴线之交点为坐标原点O,作直角坐标系O-XYZ,见图1,X轴沿半导体激光器LD支柱的轴线向上,Z轴沿从动轴B的轴线向右,Y轴则垂直于纸面向外。设位敏探测器PSD支柱的轴线与主动轴A的轴线之交点在坐标系的坐标为x0,y0和z0,两轴夹角在竖直面和水平面的投影分别为θ和φ,利用本方法进行测量时,须同步、同向转动两轴,转角为α,测出半导体激光器LD发出的激光束照射到位敏探测器PSD上的光斑的位置,即光斑在位敏探测器PSD上的二维坐标X和Y,则可计算出上述表征两轴相对位置的参量x0,y0,θ和φ。
半导体激光器LD发出的激光束照射到位敏探测器PSD上的光斑的二维坐标与两轴轴线相对位置关系的数据处理模型为:
式中h为激光束到从动轴B轴线之间的距离。
本发明不仅结构简单,而且扩大了功能,可兼作激光准直仪,还提出了数学模型用于对计算机采集的数据进行处理。
附图说明
图1是本发明的组成示意图;
图2是本发明中的LD安装、调整示意图;
图3是本发明中的PSD安装、调整示意图。
具体实施方式
本发明由半导体激光器LD、位敏探测器PSD及其装卡机构和计算机C组成,如图1所示。
LD发出作为直线基准的激光束K,并照射到PSD上。PSD能够输出光斑的位置信号,用二维坐标表示;该信号由计算机C采集并处理。
该仪器作为准直仪,原理比较简单;只须激光束的方向不变,沿激光束方向改变PSD的位置即可;关键是须精密调整PSD至准直的位置。
作为对中仪,需要较详细地说明如下:将半导体激光器LD和位敏探测器PSD分别安装到待对中的两轴上,即图1中示出的从动轴B(2)和主动轴A(1)。以半导体激光器LD支柱的轴线与从动轴B的轴线之交点为坐标原点O,作直角坐标O-XYZ,见图1。X轴沿LD的支柱轴线向上,Z轴沿B轴轴线向右,Y轴则垂直于纸面向外。设PSD支柱的轴线与主动轴A的轴线之交点在该坐标系的坐标为x0,y0和z0,两轴的夹角在竖直面和水平面的投影分别是θ和φ。利用本仪器进行测量时,需同步、同向转动两轴,设转角为α,测出光斑的位置,即光斑在PSD上的二维坐标,则可计算出上述表征两轴相对位置的参量x0,y0,θ和φ。从而按下式可求得待对中的两机械轴的调整量:
X1=-L1 sinθ-x0, (1)
X2=-L2 sinθ-x0, (2)
Y1=-L1 cosθsinφ-y0, (3)
Y2=-L2 cosθsinφ-y0, (4)
式中X1,X2和Y1,Y2分别为垂直方向和水平方向的调整量;L1和L2如图1所示。
光斑在PSD上的位置、即坐标信号,送入放大器放大,由A/D板采集,最后由计算机按所给的数学模型处理。
LD和PSD的安装、调整示意见图2和图3。LD绕支点3经调节螺丝4进行俯仰调节和调节螺丝5进行偏转调节;而PSD用螺丝6进行水平移动和用螺丝7进行垂直移动。
本发明的特征是:采用单光束,一个位敏探测器,激光准直与激光对中合二而一。这是类似仪器所不具备的。
由于本仪器采用单光束,且仅用一个二维位敏探测器,因此必须寻找新的数据处理模型。根据本仪器测量的特点,我们用矩阵方法进行坐标变换,得到光斑在PSD上的坐标与两轴相对位置的关系:
式中h为激光束到从动轴轴线之间的距离,其他参量已如前述。选择特殊的α角度,测量相应的X和Y,由(5)、(6)解出x0,y0,θ和φ,代入(1)~(4)式。
本发明采用单光束、一个位敏探测器PSD,使结构简化,功能扩大,兼作激光准直仪,提出了对计算机所采集的数据进行处理的数学模型。
Claims (2)
1.一种利用单光束激光进行准直/对中测量的方法,其特征是,将半导体激光器LD和位敏探测器PSD分别安装到待对中的两轴上,即图1中示出的从动轴B(2)和主动轴A(1),以半导体激光器LD支柱的轴线与从动轴B的轴线之交点为坐标原点O,作直角坐标系O-XYZ,见图1,X轴沿半导体激光器LD支柱的轴线向上,Z轴沿从动轴B的轴线向右,Y轴则垂直于纸面向外,设位敏探测器PSD支柱的轴线与主动轴A的轴线之交点在坐标系的坐标为x0,y0和z0,两轴夹角在竖直面和水平面的投影分别为θ和φ,利用本方法进行测量时,须同步、同向转动两轴,转角为α,测出半导体激光器LD发出的激光束照射到位敏探测器PSD上的光斑的位置,即光斑在位敏探测器PSD上的二维坐标,则可计算出上述表征两轴相对位置的参量x0,y0,θ和φ。
2.根据权利要求1所述的利用单光束激光进行准直/对中测量的方法,其特征是,半导体激光器LD发出的激光束照射到位敏探测器PSD上的光斑的二维坐标与两轴轴线相对位置关系的数据处理模型为:
式中h为激光束到从动轴B轴线之间的距离。
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