CN118112897A - 一种计算干膜显影液添加量的方法、装置、设备及介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种计算干膜显影液添加量的方法、装置、设备及介质，属于PCB技术领域。方法包括：通过实验测试得出不同型号的干膜的溶膜速率，并收集与溶膜速率相关的关联参数，关联参数包括显影液的浓度、显影液的温度、板子尺寸、干膜厚度、以及干膜型号；根据溶膜速率和关联参数，建立溶膜速率与关联参数之间的数学模型；获取实时工况下的关联参数，并根据实时工况下的关联参数和数学模型确定实时工况下的溶膜速率；根据实时工况下的溶膜速率，确定实时工况下的显影液添加量。本申请实施例提供了一种计算干膜显影液添加量的方法，通过测试干膜的溶膜速率来计算生产过程中显影液所需要的添加量，以达到控制成本和保证品质的效果。
Description
技术领域
本申请属于PCB技术领域，尤其涉及一种计算干膜显影液添加量的方法、装置、设备及介质。
背景技术
当前行业内计算干膜显影液添加量的方法通常基于显影液的浓度、消耗速度、目标浓度和PH等因素，通过传感器和控制系统来监测显影液的浓度，并根据预设的算法或模型，计算出需要添加的显影液量。但是，该方法确定的显影液添加量还不够准确，导致显影效果不稳定，影响生产品质。
发明内容
有鉴于此，本申请实施例提供了一种计算干膜显影液添加量的方法、装置、设备及介质，用于解决上述技术问题。
本申请实施例的第一方面提供了一种计算干膜显影液添加量的方法，包括：
通过实验测试得出不同型号的干膜的溶膜速率，并收集与溶膜速率相关的关联参数，关联参数包括显影液的浓度、显影液的温度、板子尺寸、干膜厚度、以及干膜型号；
根据溶膜速率和关联参数，建立溶膜速率与关联参数之间的数学模型；
获取实时工况下的关联参数，并根据实时工况下的关联参数和数学模型确定实时工况下的溶膜速率；
根据实时工况下的溶膜速率，确定实时工况下的显影液添加量。
可选地，根据实时工况下的溶膜速率，确定实时工况下的显影液添加量，包括：根据以下公式确定实时工况下的显影液添加量：
F＝1次/L，F为添加频率，L为周期过板长度；
S1＝L1*W1，S1为PNL单位面积，L1为PNL单位长度，W1为PNL单位宽度；
S2＝2*S1，S2为PNL单位干膜面积；
N＝L/L1，N为周期过板数量；
A＝S2*S3*N/V，A为实时工况下每次的显影液添加量，S3为干膜显影面积，V为溶膜速率，干膜显影面积按PNL残铜率进行计算。
可选地，PNL残铜率为50％。
可选地，根据实时工况下的溶膜速率，确定实时工况下的显影液添加量，包括：
获取溶膜速率与显影液添加量之间的优化模型；
根据优化模型和实时工况下的溶膜速率，确定实时工况下的显影液添加量。
可选地，获取溶膜速率与显影液添加量之间的优化模型，包括：
运用相关分析法及散点图对测试数据进行因子重要程度排序；
对测试数据进行分析并提取特征，应用LightGBM算法建立溶膜速率与显影液添加量之间的优化模型；
应用测试数据对优化模型进行训练，应用实际数据进行模型优化，以得到优化模型。
本申请实施例的第二方面提供了一种计算干膜显影液添加量的装置，包括：用于执行上述第一方面提供的一种计算干膜显影液添加量的方法的模块。
本申请实施例的第三方面提供了一种电子设备，电子设备包括存储器、处理器，存储器上存储有可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述第一方面提供的一种计算干膜显影液添加量的方法的步骤。
本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面提供的一种计算干膜显影液添加量的方法的步骤。
本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：
本申请实施例提供了一种计算干膜显影液添加量的方法，充分考虑了不同型号的干膜的溶膜速率的差异对显影液添加量的影响，准确的添加量计算可减少显影液的浪费，避免过度或不足的添加，提高生产效率，减少生产成本；准确的显影液添加量可确保产品的显影效果均匀性，减少显影不净和显影过度的情况，提高生产产品质量和可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出了本申请实施例提供的一种计算干膜显影液添加量的方法的流程示意图。
具体实施方式
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
当前行业内计算干膜显影液添加量的方法通常基于显影液的浓度、消耗速度、目标浓度和PH等因素，通过传感器和控制系统来监测显影液的浓度，并根据预设的算法或模型，计算出需要添加的显影液量，但是，该方法确定的显影液添加量还不够准确，导致显影效果不稳定，影响生产品质。具体地，该方法存在如下技术问题：
1、显影效果不稳定：溶膜速率是评估显影效果的重要指标，设定显影液添加量不准确，会导致显影效果不稳定，影响生产品质。
2、显影液浪费：过多或过少的显影液添加量都会影响显影效果，显影液添加量设定不恰当，会导致显影液的浪费，增加成本。
3、二次污染：不适当的显影液添加可能会导致显影过程中产生过多的废液，这些废液含有未被处理掉的污染物，造成二次污染。
4、设备损坏：不精确的显影液添加量会对设备造成损害，降低设备的使用寿命。
有鉴于此，本申请实施例提供了一种计算干膜显影液添加量的方法、装置、设备及介质，通过测试干膜的溶膜速率来计算生产过程中显影液所需要的添加量，以达到控制成本和保证品质的效果。
为了说明本申请所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
图1示出了本申请实施例提供的一种计算干膜显影液添加量的方法的流程示意图，详述如下：
S110、通过实验测试得出不同型号的干膜的溶膜速率，并收集与溶膜速率相关的关联参数，关联参数包括显影液的浓度、显影液的温度、板子尺寸、干膜厚度、以及干膜型号。
作为一种示例，溶膜速率可以指单位时间内干膜被溶解的量，可以通过相关技术在实验测试时测得。
作为一种示例，通过测试，重量比为1.0％的NaCO3显影液溶解40um、45um、50um厚度干膜的最大溶解速率分别为0.25m/L、022m/L、0.20m/L。
作为一种示例，不同型号的干膜具有不同的成分，导致不同型号的干膜的溶膜速率不一致。
S120、根据溶膜速率和关联参数，建立溶膜速率与关联参数之间的数学模型。
因此，在关联参数的数值确定的情况下，可以根据该数学模型确定对应的溶膜速率。
S130、获取实时工况下的关联参数，并根据实时工况下的关联参数和数学模型确定实时工况下的溶膜速率。
S140、根据实时工况下的溶膜速率，确定实时工况下的显影液添加量。
在一些实施例中，步骤S140包括以下步骤：
S141、根据以下公式确定实时工况下的显影液添加量：
公式1：F＝1次/L，F为添加频率，L为周期过板长度，即添加频率＝1次/周期过板长度。
公式2：S1＝L1*W1，S1为PNL单位面积，L1为PNL单位长度，W1为PNL单位宽度，即PNL单位面积＝PNL单位长度*PNL单位宽度。
公式3：S2＝2*S1，S2为PNL单位干膜面积，即PNL单位干膜面积＝PNL单位面积*2＝PNL单位长度*PNL单位宽度*2。
公式4：N＝L/L1，N为周期过板数量，即周期过板数量＝周期过板长度/PNL单位长度。
公式5：A＝S2*S3*N/V，A为实时工况下每次的显影液添加量，S3为干膜显影面积，V为溶膜速率，干膜显影面积按PNL残铜率进行计算。即每次的显影液添加量＝PNL单位干膜面积*干膜显影面积*周期过板数量/溶膜速率。
在一些实施例中，PNL残铜率为50％。
在一些实施例中，步骤S140包括以下步骤：
S142、获取溶膜速率与显影液添加量之间的优化模型。
S143、根据优化模型和实时工况下的溶膜速率，确定实时工况下的显影液添加量。
在一些实施例中，步骤S142包括以下步骤：
S1421、运用相关分析法及散点图对测试数据进行因子重要程度排序。
S1422、对测试数据进行分析并提取特征，应用LightGBM算法建立溶膜速率与显影液添加量之间的优化模型。
S1423、应用测试数据对优化模型进行训练，应用实际数据进行模型优化，以得到优化模型。
上述计算干膜显影液添加量的方法，充分考虑了不同型号的干膜的溶膜速率的差异对显影液添加量的影响，准确的添加量计算可减少显影液的浪费，避免过度或不足的添加，提高生产效率，减少生产成本；准确的显影液添加量可确保产品的显影效果均匀性，减少显影不净和显影过度的情况，提高生产产品质量和可靠性。
对应于上述实施例所述的一种计算干膜显影液添加量的方法，本申请实施例还提供了一种计算干膜显影液添加量的装置。
该计算干膜显影液添加量的装置包括：用于执行上述各个步骤S110～S140的模块。
本申请实施例提供的计算干膜显影液添加量的装置中各模块实现各自功能的过程，具体可参考前述图1所示实施例以及其他相关方法实施例的描述，此处不再赘述。
需要说明的是，上述装置/单元之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本申请方法实施例基于同一构思，其具体功能及带来的技术效果，具体可参见方法实施例部分，此处不再赘述。
应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。
本申请实施例提供的计算干膜显影液添加量的方法可以应用于计算机等电子设备上，本申请实施例对电子设备的具体类型不作任何限制。
本申请实施例提供的电子设备包括：至少一个处理器、存储器，所述存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序。所述处理器执行所述计算机程序时实现上述计算干膜显影液添加量的方法实施例中的步骤。
本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现可实现上述各个方法实施例中的步骤。
所述计算机可读存储介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。
以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使对应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种计算干膜显影液添加量的方法，其特征在于，包括：
通过实验测试得出不同型号的干膜的溶膜速率，并收集与所述溶膜速率相关的关联参数，所述关联参数包括显影液的浓度、显影液的温度、板子尺寸、干膜厚度、以及干膜型号；
根据所述溶膜速率和所述关联参数，建立所述溶膜速率与所述关联参数之间的数学模型；
获取实时工况下的所述关联参数，并根据实时工况下的所述关联参数和所述数学模型确定实时工况下的所述溶膜速率；
根据实时工况下的所述溶膜速率，确定实时工况下的显影液添加量。
2.根据权利要求1所述的一种计算干膜显影液添加量的方法，其特征在于，所述根据实时工况下的所述溶膜速率，确定实时工况下的显影液添加量，包括：根据以下公式确定实时工况下的显影液添加量：
F＝1次/L，F为添加频率，L为周期过板长度；
S1＝L1*W1，S1为PNL单位面积，L1为PNL单位长度，W1为PNL单位宽度；
S2＝2*S1，S2为PNL单位干膜面积；
N＝L/L1，N为周期过板数量；
A＝S2*S3*N/V，A为实时工况下每次的显影液添加量，S3为干膜显影面积，V为溶膜速率，所述干膜显影面积按PNL残铜率进行计算。
3.根据权利要求2所述的一种计算干膜显影液添加量的方法，其特征在于，所述PNL残铜率为50％。
4.根据权利要求1至3任一项所述的一种计算干膜显影液添加量的方法，其特征在于，所述根据实时工况下的所述溶膜速率，确定实时工况下的显影液添加量，包括：
获取所述溶膜速率与所述显影液添加量之间的优化模型；
根据所述优化模型和实时工况下的所述溶膜速率，确定实时工况下的显影液添加量。
5.根据权利要求4所述的一种计算干膜显影液添加量的方法，其特征在于，所述获取所述溶膜速率与所述显影液添加量之间的优化模型，包括：
运用相关分析法及散点图对测试数据进行因子重要程度排序；
对所述测试数据进行分析并提取特征，应用LightGBM算法建立所述溶膜速率与所述显影液添加量之间的优化模型；
应用所述测试数据对所述优化模型进行训练，应用实际数据进行模型优化，以得到所述优化模型。
6.一种计算干膜显影液添加量的装置，其特征在于，包括：用于执行如权利要求1至5中任一项所述方法的模块。
7.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器、处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至5任一项所述方法的步骤。
8.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至5任一项所述方法的步骤。
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