CN118091786B - 基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法和装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法和装置，涉及油气地质勘测领域，其中包括：获取岩石力学层的井下测井资料；基于所述井下测井资料，确定测井直径，以及所述岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度；基于所述裂缝倾角、所述力学层厚度和所述测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；基于所述裂缝数量和所述扫描线投影长度，确定所述岩石力学层的裂缝线密度。本申请提供的方法和装置，提高了地下裂缝的裂缝线密度确定的准确性，可以更加精确地对地下裂缝的发育程度进行表征。

Description

基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法和装置

技术领域

本申请涉及油气地质勘测领域，具体而言，涉及一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法和装置。

背景技术

沉积岩中的裂缝受到多种因素的影响，包括局部到区域的构造和应力状态、岩石地层环境、水文地质构造、成岩过程、驱动变形机制（如结构弯曲与水力压裂），以及岩性单元的内在力学性质及其在界面处的耦合。岩石力学层是指岩石力学行为相近或岩石力学性质一致的岩层，是由岩石力学界面所限定的具有相同或相近的强度、脆性和断裂力学性质的岩石力学单元，它包括岩石力学单元和岩石力学界面两部分。

岩石力学层的力学性质、界面两侧力学性质的差异、力学层的力学层厚度和构造应力决定了裂缝的生长或终止，使天然裂缝具有多尺度特征。根据裂缝与岩石力学层的关系，裂缝可分为两类：层控裂缝和穿层裂缝。岩石力学层的单层力学层厚度与其有限的平均裂缝间距呈正线性相关或非线性幂函数关系。这两种函数都意味着力学层越薄，裂缝间距越小，裂缝密度越大。为了获得这些函数参数，准确地表征裂缝的密度是至关重要的先决条件。

相关技术中，通常是通过随着扫描线与裂缝面夹角和相关的参数来确定裂缝线密度，当角度增大时，所得到的裂缝线密度的误差会越来越大，无法表征地下裂缝的发育程度，适用性差。

因此，如何准确地确定地下裂缝的裂缝线密度，对地下裂缝的发育程度进行表征成为业界亟待解决的技术问题。

发明内容

本申请提供一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法和装置，用于解决如何准确地确定地下裂缝的裂缝线密度，对地下裂缝的发育程度进行表征的技术问题。

本申请提供一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，包括：

获取岩石力学层的井下测井资料；

基于所述井下测井资料，确定测井直径，以及所述岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度；

基于所述裂缝倾角、所述力学层厚度和所述测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；

基于所述裂缝数量和所述扫描线投影长度，确定所述岩石力学层的裂缝线密度。

在一些实施例中，所述基于所述裂缝倾角、所述力学层厚度和所述测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度，包括：

基于所述裂缝倾角和所述力学层厚度，确定在裂缝法线方向的第一投影长度；

基于所述裂缝倾角和所述测井直径，确定在裂缝法线方向的第二投影长度；

基于所述第一投影长度和所述第二投影长度，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度。

在一些实施例中，所述基于所述裂缝数量和所述扫描线投影长度，确定所述岩石力学层的裂缝线密度之后，所述方法还包括：

基于所述扫描线投影长度和所述裂缝数量，确定所述岩石力学层中裂缝线密度最大值和裂缝线密度最小值；

基于所述裂缝线密度最大值和所述裂缝线密度最小值，对所述裂缝线密度进行校正。

在一些实施例中，所述方法还包括：

基于井下测井资料，确定所述岩石力学层的裂缝间距；

基于所述扫描线投影长度和所述裂缝间距，确定所述岩石力学层的最大裂缝数量。

在一些实施例中，所述基于所述扫描线投影长度和所述裂缝间距，确定所述岩石力学层的最大裂缝数量，包括：

对所述扫描线投影长度和所述裂缝间距的商进行向下取整，得到所述岩石力学层的最大裂缝数量。

在一些实施例中，所述方法还包括：

基于所述裂缝线密度最大值、所述裂缝线密度最小值、所述扫描线投影长度和所述最大裂缝数量，对所述岩石力学层中地下裂缝的发育程度进行表征。

在一些实施例中，所述基于所述井下测井资料，确定测井直径，以及所述岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度之后，所述方法还包括：

在所述岩石力学层的裂缝数量为零的情况下，确定所述岩石力学层中地下裂缝不发育，停止确定所述岩石力学层的裂缝线密度。

本申请提供一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正装置，包括：

资料获取单元，用于获取岩石力学层的井下测井资料；

参数确定单元，用于基于所述井下测井资料，确定测井直径，以及所述岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度；

扫描线确定单元，用于基于所述裂缝倾角、所述力学层厚度和所述测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；

裂缝线密度确定单元，用于基于所述裂缝数量和所述扫描线投影长度，确定所述岩石力学层的裂缝线密度。

本申请提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为通过所述计算机程序执行所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法。

本申请提供一种计算机可读的存储介质，所述计算机可读的存储介质包括存储的程序，其中，所述程序运行时执行所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法。

本申请提供的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法和装置，基于岩石力学层的井下测井资料，确定测井直径，以及岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度；基于裂缝倾角、力学层厚度和测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；基于裂缝数量和扫描线投影长度，确定岩石力学层的裂缝线密度；由于根据岩石力学层的井下测井资料中的相关参数重新确定了在裂缝法线方向上的扫描线投影长度，该投影长度能够在裂缝倾角变化的情况下真实反映扫描线在裂缝法线方向上的长度变化，减小了裂缝线密度的误差，提高了地下裂缝的裂缝线密度确定的准确性，所得到的裂缝线密度可以更加精确地对地下裂缝的发育程度进行表征，能够适应裂缝倾角的变化，具有较高的适用性。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

为了更清楚地说明本申请或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请提供的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法的流程示意图；

图2是本申请提供的裂缝线密度校正的原理示意图之一；

图3是本申请提供的裂缝线密度校正的原理示意图之二；

图4是本申请提供的裂缝线密度校正方法的效果示意图；

图5是本申请提供的基于井下测井资料的裂缝线密度校正装置的结构示意图；

图6是本申请提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元或模块的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元或模块，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元或模块。

在地质和岩石学领域中，裂缝是指岩石中的裂纹或者裂隙。裂缝的存在对岩石的整体性和稳定性具有显著影响，它们不仅改变了岩石的力学性质，还可能导致岩石的破坏和失稳。它们可以对地质工程、石油勘探和地下水资源等方面产生重要影响。

裂缝的研究方法包括现场观察、野外调查、岩心分析、声发射监测以及实验等多种手段。通过对岩心裂缝的研究，可以了解裂缝的发育程度、分布规律以及对工程安全的影响，从而为工程设计和施工提供科学依据。

可以利用测井技术来识别和测量地下裂缝。测井技术是一种地球物理和地质学的交叉学科，它通过利用测井仪器和设备，测量井底岩层岩石和流体的性质，从而为油气勘探和开发提供地层信息。

从形状来看，测井可以包括直井和定向井。直井是一条铅垂线的井，其地面井口位置与钻达目的层的井底位置的地理坐标一致。井眼从井口开始始终保持垂直向下钻进至设计深度。定向井是按照事先设计的具有井斜和方位变化的轨道钻进的井，可以利用特殊井下工具、测量仪器和工艺技术有效控制井眼轨迹，使钻头沿着特定方向钻达地下预定目标。井眼轴线是井眼的中心线，代表井身在地层中分布的一条具体空间曲线。扫描线是指测井对地下岩层的扫描方向所在的直线。通常情况下，扫描线为测井的井眼轴线。

裂缝线密度是指单位长度或单位面积内裂缝的条数，又称裂缝频率或视密度。对于测井来说，裂缝线密度是指裂缝平面法线方向上扫描线单位长度内裂缝的数量，是裂缝平均间距的倒数。

然而，高角度裂缝在地下钻井中很难在裂缝面的法线方向（也就是近水平方向）去测量。也就是说，直接通过测井数据得到的裂缝线密度不够准确，需要进行校正。

相关技术中提出了基于岩石力学层对裂缝间距的控制以及裂缝视密度偏差的校正方法，如下式所示：

式中，是裂缝法线与扫描线（如井眼轴线）之间的角度，是裂缝的数量。是岩石力学层的厚度，是校正后的裂缝线密度。

相关技术中的校正方法随着扫描线与裂缝面夹角的增加并接近90度时，其余弦值会无限小，因此校正方法误差越来越大。

为了解决相关技术的不足，图1为本申请提供的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法的流程示意图，如图1所示，该方法包括步骤110、步骤120、步骤130和步骤140。

步骤110、获取岩石力学层的井下测井资料。

具体地，本申请实施例提供的裂缝线密度校正方法的执行主体为裂缝线密度校正装置。该装置可以通过软件实现，例如可以在计算机中运行的裂缝线密度校正程序；也可以为执行裂缝线密度校正方法的装置，例如智能终端、平板电脑、计算机或者服务器等。

岩石力学层是指岩石力学行为相近或岩石力学性质一致的岩层，是由岩石力学界面所限定的具有相同或相近的强度、脆性和断裂力学性质的岩石力学单元。

井下测井资料是指通过测井技术获得的关于地下井孔内的岩石力学层的物理特性参数等数据和信息。井下测井资料通常可以包括测量数据、地层参数和岩石力学性质等。测量数据包括不同物理量的测量数据，如声波传播时间、电阻率、密度、核磁共振信号等。这些数据用于分析地层的性质。地层参数是指根据测井数据分析得出的参数，如地层厚度、孔隙度、饱和度、岩石类型、岩性等。岩石力学性质是指通过测井数据分析得出的岩石力学性质，如弹性模量、泊松比、抗压强度、裂缝特征等。

步骤120、基于井下测井资料，确定测井直径，以及岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度。

具体地，测井直径是指测井井眼的直径，可以用来表示测井的大小。可以对井下测井资料进行分析和处理，得到测井直径。

裂缝数量是指岩石力学层中所存在的裂缝的数量。裂缝倾角是指裂缝法线（与裂缝所在的直线相垂直的直线）与扫描线之间的角度。力学层厚度是指岩石力学层的厚度。

岩心是指使用环状岩心钻头及其他取心工具，从测井内取出的圆柱状岩石样品。通过对井下测井资料中岩心的相关数据进行分析，可以得到岩石力学层中是否存在裂缝，以及裂缝数量、裂缝倾角。同时还可以得到力学层厚度。

步骤130、基于裂缝倾角、力学层厚度和测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度。

具体地，在相关技术对裂缝线密度校正的方法中，随着裂缝倾角的增加，根据三角函数关系，裂缝法线方向扫描线长度（扫描线在裂缝的法线方向上的投影长度）趋近于零，与实际情况不符合，校正后的裂缝线密度变大。

在本申请中，可以根据裂缝倾角、力学层厚度和测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度。该投影长度可以表示在裂缝倾角变化的情况下扫描线在裂缝法线方向上的真实长度。

步骤140、基于裂缝数量和扫描线投影长度，确定岩石力学层的裂缝线密度。

具体地，根据裂缝数量和扫描线投影长度，可以得到岩石力学层的裂缝线密度。

本申请实施例提供的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，基于岩石力学层的井下测井资料，确定测井直径，以及岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度；基于裂缝倾角、力学层厚度和测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；基于裂缝数量和扫描线投影长度，确定岩石力学层的裂缝线密度；由于根据岩石力学层的井下测井资料中的相关参数重新确定了在裂缝法线方向上的扫描线投影长度，该投影长度能够在裂缝倾角变化的情况下真实反映扫描线在裂缝法线方向上的长度变化，减小了裂缝线密度的误差，提高了地下裂缝的裂缝线密度确定的准确性，所得到的裂缝线密度可以更加精确地对地下裂缝的发育程度进行表征，能够适应裂缝倾角的变化，具有较高的适用性。

需要说明的是，本申请每一个实施方式可以自由组合、调换顺序或者单独执行，并不需要依靠或依赖固定的执行顺序。

在一些实施例中，基于裂缝倾角、力学层厚度和测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度，包括：

基于裂缝倾角和力学层厚度，确定在裂缝法线方向的第一投影长度；

基于裂缝倾角和测井直径，确定在裂缝法线方向的第二投影长度；

基于第一投影长度和第二投影长度，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度。

具体地，图2是本申请提供的裂缝线密度校正的原理示意图之一，如图2所示，将直井岩心中的一组裂缝（平行斜线表示）投影在过裂缝法线的垂向平面中，从长宽比的角度来看，井轨迹的采样方式更接近扫描线采样。但是岩心和成像测井都是有一定宽度的，并不完全等同于扫描线采样。

为力学层厚度，为成像测井的井筒的直径（测井直径），为裂缝倾角。、B、C、K、E和F分别表示不同线段的端点。在本图中，根据三角关系，裂缝倾角可以为测井直径所在直线与裂缝所在直线之间的夹角，也为裂缝法线与扫描线之间的角度。扫描线为成像测井的井眼轴线。

由图中的几何关系可知，线段EF、线段CE和线段BK均在裂缝法线方向上。线段CE或者线段BK的长度为可以根据力学层厚度和裂缝倾角得到，为第一投影长度。线段EF的长度可以根据裂缝倾角和测井直径得到，为第二投影长度。

由于钻井有宽度，在裂缝法线方向上的扫描线投影长度应该等于线段CE的长度与线段EF长度的和，也就是。

随着从0度增加至90度，裂缝平面法线方向扫描线长度不应该趋近于零。当等于90度的时候，线段CE长度等于零，而EF的长度等于，裂缝法线方向扫描线的实际长度是。扫描线投影长度的极限应该是岩心或者成像测井时井筒的直径。因此在裂缝法线方向上的扫描线投影长度最小值就是。

本申请实施例提供的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，根据裂缝倾角、力学层厚度和测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度，该投影长度能够在裂缝倾角变化的情况下真实反映扫描线在裂缝法线方向上的长度变化，提高了地下裂缝的裂缝线密度确定的准确性。

在一些实施例中，基于裂缝数量和扫描线投影长度，确定岩石力学层的裂缝线密度之后，方法还包括：

基于扫描线投影长度和裂缝数量，确定岩石力学层中裂缝线密度最大值和裂缝线密度最小值；

基于裂缝线密度最大值和裂缝线密度最小值，对裂缝线密度进行校正。

具体地，图3是本申请提供的裂缝线密度校正的原理示意图之二，如图3所示，假设在力学层厚度为的地层中，直井钻遇了条倾角为的等间距裂缝（以为例）。根据上述实施例中的方法，在裂缝法线方向上的扫描线投影长度，在该长度范围内，裂缝间隔的数量不应小于-1。因此，可以得到岩石力学层中裂缝线密度应该大于裂缝线密度最小值。如果裂缝线密度小于，钻遇到的裂缝数量将小于。

同样地，在观察到条裂缝时，岩石力学层中裂缝线密度应该小于裂缝线密度最大值。

合理的裂缝线密度的校正结果应该是裂缝线密度校正值，其值介于裂缝线密度最小值和裂缝线密度最大值之间。

本申请实施例提供的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，通过计算裂缝线密度最大值和裂缝线密度最小值，对裂缝线密度进行校正，得到裂缝线密度校正值，提高了地下裂缝的裂缝线密度确定的准确性。

在一些实施例中，方法还包括：

基于井下测井资料，确定岩石力学层的裂缝间距；

基于扫描线投影长度和裂缝间距，确定岩石力学层的最大裂缝数量。

具体地，在特定的裂缝密度下，随着层厚和裂缝倾角的变化，可以观察到岩石力学层中裂缝的数量会发生变化。

最大裂缝数量是指岩石力学层中可能存在裂缝的最大数量。根据井下测井资料可以得到岩石力学层的裂缝间距。裂缝间距是指相邻裂缝之间的距离。根据扫描线投影长度和裂缝间距，可以对裂缝数量进行预测，得到岩石力学层的最大裂缝数量。

本申请实施例提供的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，根据扫描线投影长度和裂缝间距，可以确定岩石力学层的最大裂缝数量，可以用于对地下裂缝进行定量表征，明确地下裂缝的发育特征。

在一些实施例中，基于扫描线投影长度和裂缝间距，确定岩石力学层的最大裂缝数量，包括：

对扫描线投影长度和裂缝间距的商进行向下取整，得到岩石力学层的最大裂缝数量。

具体地，岩石力学层的最大裂缝数量可以表示为：

式中，为裂缝间距，为向下取整函数。

本申请实施例提供的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，通过准确计算岩石力学层的最大裂缝数量，提高了对地下裂缝进行定量表征的准确性。

在一些实施例中，方法还包括：

基于裂缝线密度最大值、裂缝线密度最小值、扫描线投影长度和最大裂缝数量，对岩石力学层中地下裂缝的发育程度进行表征。

具体地，地下裂缝的发育程度指的是地下岩石中裂缝的数量、大小、密度以及相互之间的连接情况等综合特征。裂缝的发育程度反映了岩石的变形和破裂程度，对于岩石的力学性质、渗透性等具有重要影响。

本申请实施例提供了一套用于表征地下裂缝线密度的参数体系，采用裂缝线密度最大值、裂缝线密度最小值、扫描线投影长度和最大裂缝数量对地下裂缝的发育程度进行表征。

裂缝线密度最大值和裂缝线密度最小值可以用于从裂缝线密度的变化范围来表征地下裂缝的发育程度；最大裂缝数量可以从裂缝线的数量变化范围来表征地下裂缝的发育程度；扫描线投影长度可以从裂缝的扫描线长度变化来表征地下裂缝的发育程度。

本申请实施例提供的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，通过裂缝线密度最大值、裂缝线密度最小值、扫描线投影长度和最大裂缝数量，可以对岩石力学层中地下裂缝的发育程度进行定量和明确的表征。

在一些实施例中，基于井下测井资料，确定测井直径，以及岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度之后，方法还包括：

在岩石力学层的裂缝数量为零的情况下，确定岩石力学层中地下裂缝不发育，停止确定岩石力学层的裂缝线密度。

具体地，根据井下测井资料，如果确定岩石力学层的裂缝数量为零，则可以确定在该岩石力学层中不存在地下裂缝，也就是地下裂缝不发育，因此可以不用确定岩石力学层的裂缝线密度，从而节约裂缝线密度校正装置的计算资源。

图4是本申请提供的裂缝线密度校正方法的效果示意图，如图4所示，可以收集某直井中岩石（碳酸盐）样品，首先进行井下测井资料的收集和整理，在井下测井资料整理后进行裂缝线密度校正。

在计算得到钻遇裂缝的数量后，可分别计算不校正的裂缝线密度，运用Terzaghi（太沙基）方法校正的裂缝线密度，可能的裂缝密度最大值，可能的裂缝密度最小值，以及新的裂缝密度校正值。为了在图中方便展示不同方法的差异，限制Thezaghi校正结果的无限增大，把最大值设置为预设裂缝密度的3倍。

随着裂缝倾角的增加，的误差越来愈大。总是在和之间，这意味着和可以较好的约束真实的裂缝密度。往往大于。成为大于的异常高值。可以很好表征裂缝密度。不会出现大于或者小于的异常值。

本申请基于井下测井资料，提出一套校正裂缝线密度的方法。该方法提出了改进的校正参数，能够对地下裂缝进行定量表征，明确地下裂缝的发育特征。该套方法使地下裂缝定量表征更精确，也为野外裂缝定量统计提供了建议。

下面对本申请实施例提供的装置进行描述，下文描述的装置与上文描述的方法可相互对应参照。

图5是本申请提供的基于井下测井资料的裂缝线密度校正装置的结构示意图，如图5所示，该装置包括：

资料获取单元510，用于获取岩石力学层的井下测井资料；

参数确定单元520，用于基于井下测井资料，确定测井直径，以及岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度；

扫描线确定单元530，用于基于裂缝倾角、力学层厚度和测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；

裂缝线密度确定单元540，用于基于裂缝数量和扫描线投影长度，确定岩石力学层的裂缝线密度。

本申请实施例提供的基于井下测井资料的裂缝线密度校正装置，基于岩石力学层的井下测井资料，确定测井直径，以及岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度；基于裂缝倾角、力学层厚度和测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；基于裂缝数量和扫描线投影长度，确定岩石力学层的裂缝线密度；由于根据岩石力学层的井下测井资料中的相关参数重新确定了在裂缝法线方向上的扫描线投影长度，该投影长度能够在裂缝倾角变化的情况下真实反映扫描线在裂缝法线方向上的长度变化，减小了裂缝线密度的误差，提高了地下裂缝的裂缝线密度确定的准确性，所得到的裂缝线密度可以更加精确地对地下裂缝的发育程度进行表征，能够适应裂缝倾角的变化，具有较高的适用性。

在一些实施例中，扫描线确定单元用于：

基于裂缝倾角和力学层厚度，确定在裂缝法线方向的第一投影长度；

基于裂缝倾角和测井直径，确定在裂缝法线方向的第二投影长度；

基于第一投影长度和第二投影长度，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度。

在一些实施例中，该装置还用于：

基于扫描线投影长度和裂缝数量，确定岩石力学层中裂缝线密度最大值和裂缝线密度最小值；

基于裂缝线密度最大值和裂缝线密度最小值，对裂缝线密度进行校正。

在一些实施例中，该装置还用于：

基于井下测井资料，确定岩石力学层的裂缝间距；

基于扫描线投影长度和裂缝间距，确定岩石力学层的最大裂缝数量。

在一些实施例中，该装置还用于：

对扫描线投影长度和裂缝间距的商进行向下取整，得到岩石力学层的最大裂缝数量。

在一些实施例中，该装置还用于：

基于裂缝线密度最大值、裂缝线密度最小值、扫描线投影长度和最大裂缝数量，对岩石力学层中地下裂缝的发育程度进行表征。

在一些实施例中，该装置还用于：

在岩石力学层的裂缝数量为零的情况下，确定岩石力学层中地下裂缝不发育，停止确定岩石力学层的裂缝线密度。

图6是本申请提供的电子设备的结构示意图，如图6所示，该电子设备可以包括：处理器（Processor）610、通信接口（Communications Interface）620、存储器（Memory）630和通信总线（Communications Bus）640，其中，处理器610，通信接口620，存储器630通过通信总线640完成相互间的通信。处理器610可以调用存储器630中的逻辑命令，以执行上述实施例中所述的方法，例如：

获取岩石力学层的井下测井资料；基于井下测井资料，确定测井直径，以及岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度；基于裂缝倾角、力学层厚度和测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；基于裂缝数量和扫描线投影长度，确定岩石力学层的裂缝线密度。

此外，上述的存储器中的逻辑命令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干命令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

本申请实施例提供的电子设备中的处理器可以调用存储器中的逻辑指令，实现上述方法，其具体的实施方式与前述方法实施方式一致，且可以达到相同的有益效果，此处不再赘述。

本申请实施例还提供一种计算机可读的存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各实施例提供的方法。

其具体的实施方式与前述方法实施方式一致，且可以达到相同的有益效果，此处不再赘述。

本申请实施例提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述各实施例提供的方法。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (8)

1.一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，包括：

获取岩石力学层的井下测井资料；

基于所述井下测井资料，确定测井直径，以及所述岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度；

基于所述裂缝倾角、所述力学层厚度和所述测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；

基于所述裂缝数量和所述扫描线投影长度，确定所述岩石力学层的裂缝线密度；

所述基于所述裂缝倾角、所述力学层厚度和所述测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度，包括：

基于所述裂缝倾角和所述力学层厚度，确定在裂缝法线方向的第一投影长度；

基于所述裂缝倾角和所述测井直径，确定在裂缝法线方向的第二投影长度；

基于所述第一投影长度和所述第二投影长度，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；

所述基于所述裂缝数量和所述扫描线投影长度，确定所述岩石力学层的裂缝线密度之后，所述方法还包括：

基于所述扫描线投影长度和所述裂缝数量，确定所述岩石力学层中裂缝线密度最大值和裂缝线密度最小值；

基于所述裂缝线密度最大值和所述裂缝线密度最小值，对所述裂缝线密度进行校正。

2.根据权利要求1所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述方法还包括：

基于井下测井资料，确定所述岩石力学层的裂缝间距；

基于所述扫描线投影长度和所述裂缝间距，确定所述岩石力学层的最大裂缝数量。

3.根据权利要求2所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述基于所述扫描线投影长度和所述裂缝间距，确定所述岩石力学层的最大裂缝数量，包括：

对所述扫描线投影长度和所述裂缝间距的商进行向下取整，得到所述岩石力学层的最大裂缝数量。

4.根据权利要求2所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述方法还包括：

基于所述裂缝线密度最大值、所述裂缝线密度最小值、所述扫描线投影长度和所述最大裂缝数量，对所述岩石力学层中地下裂缝的发育程度进行表征。

5.根据权利要求1至4任一项所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述基于所述井下测井资料，确定测井直径，以及所述岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度之后，所述方法还包括：

在所述岩石力学层的裂缝数量为零的情况下，确定所述岩石力学层中地下裂缝不发育，停止确定所述岩石力学层的裂缝线密度。

6.一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正装置，其特征在于，包括：

资料获取单元，用于获取岩石力学层的井下测井资料；

参数确定单元，用于基于所述井下测井资料，确定测井直径，以及所述岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度；

扫描线确定单元，用于基于所述裂缝倾角、所述力学层厚度和所述测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；

裂缝线密度确定单元，用于基于所述裂缝数量和所述扫描线投影长度，确定所述岩石力学层的裂缝线密度；

所述扫描线确定单元用于：

基于所述裂缝倾角和所述力学层厚度，确定在裂缝法线方向的第一投影长度；

基于所述裂缝倾角和所述测井直径，确定在裂缝法线方向的第二投影长度；

基于所述第一投影长度和所述第二投影长度，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；

所述装置还用于：

基于所述扫描线投影长度和所述裂缝数量，确定所述岩石力学层中裂缝线密度最大值和裂缝线密度最小值；

基于所述裂缝线密度最大值和所述裂缝线密度最小值，对所述裂缝线密度进行校正。

7.一种电子设备，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为通过所述计算机程序执行权利要求1至5任一项所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法。

8.一种计算机可读的存储介质，其特征在于，所述计算机可读的存储介质包括存储的程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至5任一项所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法。