CN117914262A - 一种光储一体式自动测试方法、系统及设备 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及自动测试技术领域，更具体地，涉及一种光储一体式自动测试方法、系统及设备。该方案包括设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式,逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令;等效在不同频率段对应的等效阻抗;获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型;按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况。该方案通过主动储能0.05pu波动，结合适应不同系统的频率的阻抗，进行全面覆盖型补充测试，实现高效、全面和低损耗的性能测试。
Description
技术领域
本发明涉及自动测试技术领域，更具体地，涉及一种光储一体式自动测试方法、系统及设备。
背景技术
光储一体式的装置已经在越来越多的地方开始使用，使用这些设备的地方主要是配电网，通过储能对光伏的不确定性进行中和，但是，这些设备在上网之前需要做相对全面和严密的测试，确保其能在各种工况下正常运行。
在本发明技术之前，现有的光储一体式自动测试方法主要是依靠多次测试、通过多组不同容量、不同运行模式方式的测试，确认光储一体式设备的安全性，测试过程存储测试量大、测不全和影响储能寿命的问题。
发明内容
鉴于上述问题，本发明提出了一种光储一体式自动测试方法、系统及设备，通过主动储能0.05pu波动，结合适应不同系统的频率的阻抗，进行全面覆盖型补充测试，实现高效、全面和低损耗的性能测试。
根据本发明实施例第一方面，提供一种光储一体式自动测试方法。
在一个或多个实施例中，优选地，所述一种光储一体式自动测试方法包括：
设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式；
按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令；
在收到切换监视指令后，等效在不同频率段对应的等效阻抗；
获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型；
按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况；
设置最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试。
在一个或多个实施例中，优选地，所述设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式，具体包括：
获取全部的控制模式，对每种控制模式下，获得一种典型运行方式，所述典型运行方式为通过仿真运行时能够确定的严酷的工况；
提前通过仿真获得电压波动、有功功率波动，并利用第一计算公式获得波动水平；
对典型运行方式设置其中至少接入0.05pu的储能，其中，0.05pu为储能的额定输出功率；
所述第一计算公式为：
A=T÷Te+P÷Pe
其中，A为波动水平，T为电压波动，Te为电压额定值，P为有功功率波动，Pe为额定有功功率。
在一个或多个实施例中，优选地，所述按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令，具体包括：
按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试；
每种控制模式的典型运行方式运行到稳态后，主动切除0.05pu的储能，同时发出切换监视指令。
在一个或多个实施例中，优选地，所述在收到切换监视指令后，等效在不同频率段对应的等效阻抗，具体包括：
对光储一体的装置与电网的接口添加宽频量测传感器；
在收到切换监视指令后，通过宽频量测传感器进行自动的信息采集，并将采集的信息存储到仿真基础数据库中；
根据所述仿真基础数据库的数据，进行频域分析，获得光储一体的装置在不同频段的等效阻抗，认为光储一体的装置为电压源，等效阻抗为光储一体的装置的等效内阻抗。
在一个或多个实施例中，优选地，所述获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型，具体包括：
获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，分别建立不同频率下的仿真代替模型；
在仿真代替模型中设置切换开关；
设置所述切换开关分别对应不同控制模式的等效阻抗的平滑切换；
按照第二计算公式设置的阻抗变化速率缓慢变化到新的频段对应的等效阻抗；
当频段发生反复变化，满足反复变化判断函数时，利用第三计算公式实时更新阻抗变化率；
按照单位时间增加阻抗变化速率对应的阻抗，进行等效阻抗的实时调整，直到当前时刻的等效阻抗与对应的频段相一致，该模型作为阻抗动态变化的等效光储一体模型；
所述第二计算公式为：
s=(Zi-Zj)÷T
其中，Zi为第i控制模式的等效阻抗，Zj为第j控制模式的等效阻抗，s为阻抗变化速率,T为相邻控制模式切换的周期；
所述第三计算公式为：
s=(Zi-Zj)÷TSij
其中，TSij为实时控制周期。
在一个或多个实施例中，优选地，所述按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况，具体包括：
按照0.05pu为单位逐一调整仿真条件，将光储一体式装置的输出功率从0到1.1pu进行调节，使得在每个控制模式下均获得指数20组模拟仿真测试结果；
判断是否会存在超过预设要求的电压波动、频率波动或功率波动；
若存在超过预设要求的情况，则认为产生的异常情况，并将该次的测试结果反馈。
在一个或多个实施例中，优选地，所述设置最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试，具体包括：
通过等效光储一体模型对保护的每种逻辑进行逐一测试和确认，确认全部的保护均能够正常启动；
利用第四计算公式计算每个保护的保护最低判断条件指数；
根据仿真测试中每个保护的保护最低判断条件指数中最低的对应测试条件作为最低条件；
将最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试；
所述第四计算公式为：
DT=(RS-R)÷RS+BS÷B
其中，R为保护时延，RS为当前的测试条件下的故障持续时间，B为保护整定值，BS为当前测试条件下仿真获得的超过保护整定值的总额，DT为保护最低判断条件指数。
根据本发明实施例第二方面，提供一种光储一体式自动测试系统。
在一个或多个实施例中，优选地，所述一种光储一体式自动测试系统包括：
接入控制模块，用于设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式；
控制幅度模块，用于按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令；
反馈结果测试模块，用于在收到切换监视指令后，等效在不同频率段对应的等效阻抗；
阻抗和功率模块，用于获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型；
仿真测试控制模块，用于按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况；
综合设置模块，用于设置最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试。
根据本发明实施例第三方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储计算机程序指令，所述计算机程序指令在被处理器执行时实现如本发明实施例第一方面中任一项所述的方法。
根据本发明实施例第四方面，提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器用于存储一条或多条计算机程序指令，其中，所述一条或多条计算机程序指令被所述处理器执行以实现本发明实施例第一方面中任一项所述的方法。
本发明的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
本发明方案中，通过主动切换储能的方式，实现不同控制模型下的模拟测试，获得多个频段内的光储一体装置反馈测试，形成等效阻抗。
本发明方案中，针对于不同的控制方式和保护模式，设计了最低损耗的测试方法，使得完全依靠模拟仿真，能够快速的定位最少量的在线测试。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法的流程图。
图2是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法中的设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式的流程图。
图3是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法中的按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令的流程图。
图4是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法中的在收到切换监视指令后，等效在不同频率段对应的等效阻抗的流程图。
图5是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法中的获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型的流程图。
图6是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法中的按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况的流程图。
图7是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法中的设置最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试的流程图。
图8是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试系统的结构图。
图9是本发明一个实施例中一种电子设备的结构图。
具体实施方式
在本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的描述的一些流程中，包含了按照特定顺序出现的多个操作，但是应该清楚了解，这些操作可以不按照其在本文中出现的顺序来执行或并行执行，操作的序号如101、102等，仅仅是用于区分开各个不同的操作，序号本身不代表任何的执行顺序。另外，这些流程可以包括更多或更少的操作，并且这些操作可以按顺序执行或并行执行。需要说明的是，本文中的“第一”、“第二”等描述，是用于区分不同的消息、设备、模块等，不代表先后顺序，也不限定“第一”和“第二”是不同的类型。
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
光储一体式的装置已经在越来越多的地方开始使用，使用这些设备的地方主要是配电网，通过储能对光伏的不确定性进行中和，但是，这些设备在上网之前需要做相对全面和严密的测试，确保其能在各种工况下正常运行。
在本发明技术之前，现有的光储一体式自动测试方法主要是依靠多次测试、通过多组不同容量、不同运行模式方式的测试，确认光储一体式设备的安全性，测试过程存储测试量大、测不全和影响储能寿命的问题。
本发明实施例中，提供了一种光储一体式自动测试方法、系统及设备。该方案通过主动储能0.05pu波动，结合适应不同系统的频率的阻抗，进行全面覆盖型补充测试，实现高效、全面和低损耗的性能测试。
根据本发明实施例第一方面，提供一种光储一体式自动测试方法。
图1是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法的流程图。
在一个或多个实施例中，优选地，所述一种光储一体式自动测试方法包括：
S101、设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式；
S102、按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令；
S103、在收到切换监视指令后，等效在不同频率段对应的等效阻抗；
S104、获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型；
S105、按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况；
S106、设置最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试。
在本发明实施例中，对于光储一体式供电装置在不同运行模式下，需要进行控制、保护等相关的运行测试非常多的，为此设计了基于主动切换的一种储能自动模拟方式在线获取多频段自适应分析的模型，在此基础上，提出最小损失的测试方法，实现低损耗、高效率的自动测试。
图2是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法中的设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式的流程图。
如图2所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式，具体包括：
S201、获取全部的控制模式，对每种控制模式下，获得一种典型运行方式，所述典型运行方式为通过仿真运行时能够确定的严酷的工况；
S202、提前通过仿真获得电压波动、有功功率波动，并利用第一计算公式获得波动水平；
S203、对典型运行方式设置其中至少接入0.05pu的储能，其中，0.05pu为储能的额定输出功率；
所述第一计算公式为：
A=T÷Te+P÷Pe
其中，A为波动水平，T为电压波动，Te为电压额定值，P为有功功率波动，Pe为额定有功功率。
在本发明实施例中，获取全部的控制模式，对每种控制模式下，获得一种典型运行方式，所述典型运行方式为通过仿真运行时能够确定的严酷的工况，该工况下的波动水平最大，波动水平的计算方式为通过仿真运行的结果，利用第一计算公式获得波动水平，在最严酷的工况下，默认至少接入0.05pu的储能。
图3是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法中的按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令的流程图。
如图3所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令，具体包括：
S301、按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试；
S302、每种控制模式的典型运行方式运行到稳态后，主动切除0.05pu的储能，同时发出切换监视指令。
在本发明实施例中，在测试过程结束后，下跌0.05pu的视在功率，通过主动切除0.05pu的储能，在储能切除后，发出切换监视指令。
图4是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法中的在收到切换监视指令后，等效在不同频率段对应的等效阻抗的流程图。
如图4所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述在收到切换监视指令后，等效在不同频率段对应的等效阻抗，具体包括：
S401、对光储一体的装置与电网的接口添加宽频量测传感器；
S402、在收到切换监视指令后，通过宽频量测传感器进行自动的信息采集，并将采集的信息存储到仿真基础数据库中；
S403、根据所述仿真基础数据库的数据，进行频域分析，获得光储一体的装置在不同频段的等效阻抗，认为光储一体的装置为电压源，等效阻抗为光储一体的装置的等效内阻抗。
在本发明实施例中，在收到切换监视指令后，进行自动的信息采集，以所述光储一体式的装置的输出为入口对光储一体装置进行等效，等效在不同频段的对应的等效阻抗。
图5是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法中的获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型的流程图。
如图5所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型，具体包括：
S501、获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，分别建立不同频率下的仿真代替模型；
S502、在仿真代替模型中设置切换开关；
S503、设置所述切换开关分别对应不同控制模式的等效阻抗的平滑切换；
S504、按照第二计算公式设置的阻抗变化速率缓慢变化到新的频段对应的等效阻抗；
S505、当频段发生反复变化，满足反复变化判断函数时，利用第三计算公式实时更新阻抗变化率；
S506、按照单位时间增加阻抗变化速率对应的阻抗，进行等效阻抗的实时调整，直到当前时刻的等效阻抗与对应的频段相一致，该模型作为阻抗动态变化的等效光储一体模型；
所述第二计算公式为：
s=(Zi-Zj)÷T
其中，Zi为第i控制模式的等效阻抗，Zj为第j控制模式的等效阻抗，s为阻抗变化速率,T为相邻控制模式切换的周期；
所述第三计算公式为：
s=(Zi-Zj)÷TSij
其中，TSij为实时控制周期。
在本发明实施例中，获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，以等效阻抗为基础，重新建立不同频率下的仿真代替模型，在仿真代替模型中设置切换开关，当在不同的控制模式下，分别对应不同的等效阻抗的平滑切换，平滑切换过程中，阻抗按照第二计算公式设置的阻抗变化速率缓慢变化到新的频段对应的等效阻抗，当频段发生反复变化时，利用第三计算公式实时更新阻抗变化率，按照单位时间增加阻抗变化速率对应的阻抗，进行等效阻抗的实时调整，直到当前时刻的等效阻抗与对应的频段相一致。
图6是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法中的按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况的流程图。
如图6所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况，具体包括：
S601、按照0.05pu为单位逐一调整仿真条件，将光储一体式装置的输出功率从0到1.1pu进行调节，使得在每个控制模式下均获得指数20组模拟仿真测试结果；
S602、判断是否会存在超过预设要求的电压波动、频率波动或功率波动；
S603、若存在超过预设要求的情况，则认为产生的异常情况，并将该次的测试结果反馈。
在本发明实施例中，按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，进而形成在不同功率波动情况下的等效的功率波动，判断是否会存在超过预设要求的电压波动、频率波动或功率波动，进而反馈当前的测试异常情况。
图7是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试方法中的设置最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试的流程图。
如图7所示，在一个或多个实施例中，优选地，所述设置最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试，具体包括：
S701、通过等效光储一体模型对保护的每种逻辑进行逐一测试和确认，确认全部的保护均能够正常启动；
S702、利用第四计算公式计算每个保护的保护最低判断条件指数；
S703、根据仿真测试中每个保护的保护最低判断条件指数中最低的对应测试条件作为最低条件；
S704、将最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试；
所述第四计算公式为：
DT=(RS-R)÷RS+BS÷B
其中，R为保护时延，RS为当前的测试条件下的故障持续时间，B为保护整定值，BS为当前测试条件下仿真获得的超过保护整定值的总额，DT为保护最低判断条件指数。
在本发明实施例中，确认全部可以安全可靠启动保护测试，对保护的每种逻辑进行逐一测试和确认，确认全部的保护均能够正常启动，并能够保障保护的动作时延满足预设的范围，并根据仿真测试中保护测试的每类保护启动的最低条件，进而根据最低条件作为实际测试条件，对全部的保护进行实际测试。
根据本发明实施例第二方面，提供一种光储一体式自动测试系统。
图8是本发明一个实施例的一种光储一体式自动测试系统的结构图。
在一个或多个实施例中，优选地，所述一种光储一体式自动测试系统包括：
接入控制模块801，用于设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式；
控制幅度模块802，用于按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令；
反馈结果测试模块803，用于在收到切换监视指令后，等效在不同频率段对应的等效阻抗；
阻抗和功率模块804，用于获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型；
仿真测试控制模块805，用于按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况；
综合设置模块806，用于设置最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试。
在本发明实施例中，通过一系列的模块化设计，实现一个适用于不同结构下的系统，该系统能够通过采集、分析和控制，实现闭环的、可靠的、高效的执行。
根据本发明实施例第三方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储计算机程序指令，所述计算机程序指令在被处理器执行时实现如本发明实施例第一方面中任一项所述的方法。
根据本发明实施例第四方面，提供一种电子设备。图9是本发明一个实施例中一种电子设备的结构图。图9所示的电子设备为通用光储一体式自动测试装置。该电子设备可以是智能手机、平板电脑等设备。如示，电子设备900包括处理器901和存储器902。其中，处理器901与存储器902电性连接。处理器901是终端900的控制中心，利用各种接口和线路连接整个终端的各个部分，通过运行或调用存储在存储器902内的计算机程序，以及调用存储在存储器902内的数据，执行终端的各种功能和处理数据，从而对终端进行整体监控。
在本实施例中，电子设备900中的处理器901会按照如下的步骤，将一个或一个以上的计算机程序的进程对应的指令加载到存储器902中，并由处理器901来运行存储在存储器902中的计算机程序，从而实现各种功能：设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式;按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令;在收到切换监视指令后，等效在不同频率段对应的等效阻抗;获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型; 按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况;设置最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试。
存储器902可用于存储计算机程序和数据。存储器902存储的计算机程序中包含有可在处理器中执行的指令。计算机程序可以组成各种功能模块。处理器901通过调用存储在存储器902的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理。
本发明的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
本发明方案中，通过主动切换储能的方式，实现不同控制模型下的模拟测试，获得多个频段内的光储一体装置反馈测试，形成等效阻抗。
本发明方案中，针对于不同的控制方式和保护模式，设计了最低损耗的测试方法，使得完全依靠模拟仿真，能够快速的定位最少量的在线测试。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质（包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等）上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备（系统）、和计算机程序产品的流程图和／或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和／或方框图中的每一流程和／或方框、以及流程图和／或方框图中的流程和／或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种光储一体式自动测试方法，其特征在于，该方法包括：
设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式；
按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令；
在收到切换监视指令后，等效在不同频率段对应的等效阻抗；
获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型；
按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况；
设置最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试。
2.如权利要求1所述的一种光储一体式自动测试方法，其特征在于，所述设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式，具体包括：
获取全部的控制模式，对每种控制模式下，获得一种典型运行方式，所述典型运行方式为通过仿真运行时能够确定的严酷的工况；
提前通过仿真获得电压波动、有功功率波动，并利用第一计算公式获得波动水平；
对典型运行方式设置其中至少接入0.05pu的储能，其中，0.05pu为储能的额定输出功率；
所述第一计算公式为：
A=T÷Te+P÷Pe
其中，A为波动水平，T为电压波动，Te为电压额定值，P为有功功率波动，Pe为额定有功功率。
3.如权利要求1所述的一种光储一体式自动测试方法，其特征在于，所述按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令，具体包括：
按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试；
每种控制模式的典型运行方式运行到稳态后，主动切除0.05pu的储能，同时发出切换监视指令。
4.如权利要求1所述的一种光储一体式自动测试方法，其特征在于，所述在收到切换监视指令后，等效在不同频率段对应的等效阻抗，具体包括：
对光储一体的装置与电网的接口添加宽频量测传感器；
在收到切换监视指令后，通过宽频量测传感器进行自动的信息采集，并将采集的信息存储到仿真基础数据库中；
根据所述仿真基础数据库的数据，进行频域分析，获得光储一体的装置在不同频段的等效阻抗，认为光储一体的装置为电压源，等效阻抗为光储一体的装置的等效内阻抗。
5.如权利要求1所述的一种光储一体式自动测试方法，其特征在于，所述获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型，具体包括：
获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，分别建立不同频率下的仿真代替模型；
在仿真代替模型中设置切换开关；
设置所述切换开关分别对应不同控制模式的等效阻抗的平滑切换；
按照第二计算公式设置的阻抗变化速率缓慢变化到新的频段对应的等效阻抗；
当频段发生反复变化，满足反复变化判断函数时，利用第三计算公式实时更新阻抗变化率；
按照单位时间增加阻抗变化速率对应的阻抗，进行等效阻抗的实时调整，直到当前时刻的等效阻抗与对应的频段相一致，该模型作为阻抗动态变化的等效光储一体模型；
所述第二计算公式为：
s=(Zi-Zj)÷T
其中，Zi为第i控制模式的等效阻抗，Zj为第j控制模式的等效阻抗，s为阻抗变化速率，T为相邻控制模式切换的周期；
所述第三计算公式为：
s=(Zi-Zj)÷TSij
其中，TSij为实时控制周期。
6.如权利要求1所述的一种光储一体式自动测试方法，其特征在于，所述按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况，具体包括：
按照0.05pu为单位逐一调整仿真条件，将光储一体式装置的输出功率从0到1.1pu进行调节，使得在每个控制模式下均获得指数20组模拟仿真测试结果；
判断是否会存在超过预设要求的电压波动、频率波动或功率波动；
若存在超过预设要求的情况，则认为产生的异常情况，并将该次的测试结果反馈。
7.如权利要求1所述的一种光储一体式自动测试方法，其特征在于，所述设置最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试，具体包括：
通过等效光储一体模型对保护的每种逻辑进行逐一测试和确认，确认全部的保护均能够正常启动；
利用第四计算公式计算每个保护的保护最低判断条件指数；
根据仿真测试中每个保护的保护最低判断条件指数中最低的对应测试条件作为最低条件；
将最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试；
所述第四计算公式为：
DT=(RS-R)÷RS+BS÷B
其中，R为保护时延，RS为当前的测试条件下的故障持续时间，B为保护整定值，BS为当前测试条件下仿真获得的超过保护整定值的总额，DT为保护最低判断条件指数。
8.一种光储一体式自动测试系统，其特征在于，该系统用于实施如权利要求1-7中任一项所述的方法，该系统包括：
接入控制模块，用于设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式；
控制幅度模块，用于按照预先设置每种控制模式的典型运行方式，逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令；
反馈结果测试模块，用于在收到切换监视指令后，等效在不同频率段对应的等效阻抗；
阻抗和功率模块，用于获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型；
仿真测试控制模块，用于按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况；
综合设置模块，用于设置最低条件作为保护的测试条件，对全部的保护进行实际测试。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储计算机程序指令，其特征在于，所述计算机程序指令在被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的方法。
10.一种电子设备，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器用于存储一条或多条计算机程序指令，其中，所述一条或多条计算机程序指令被所述处理器执行以实现如权利要求1-7任一项所述的方法。
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