CN117854577A - 一种基于电流监测的3d nand存储器辐照效应测试装置及方法 - Google Patents
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Abstract
在实际工程测试中，一般采用外接的直流电源分析仪来对器件的电流进行实时监测，体积笨重且价格昂贵，而且还需要外接复杂的线缆，杂乱无序，不利于实际试验的开展。为解决器件实际测试过程中遇到的工程问题，本发明提出了一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置，并提供了完整的硬件实现电路，在设计硬件测试电路时新增一种电流监测模块，实时观测实验中3D NAND存储器的电学参数变化，可以省掉辐照实验中专门用于给3DNAND存储器电流监测的直流电源分析仪设备，使用简便，节约成本，提高测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置及方法，属于电子器件测试技术领域。
背景技术
在现有的工程测试中，对3D NAND存储器的电流监测主要采用外接的直流电源分析进行。然而，这种测试方法需要笨重的设备和高昂的价格，同时还需要复杂且混乱的线缆，给实际试验带来诸多不便。
在现有的工程测试中，对3D NAND存储器的电流监测主要采用外接的直流电源分析进行。然而，这种方法需要使用笨重的测试设备和昂贵的测试仪器，同时还需要复杂的线缆连接，给实际测试带来了很多不便。此外，这种测试方法可能会影响被测设备的正常运行，增加测试误差和不确定性。因此，需要一种更加简便、高效且可靠的电流监测方法来满足工程测试的需求。
发明内容
本发明解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供了一种基于电流监测的3DNAND存储器辐照效应测试装置及方法，通过实时监测3D NAND存储器的电流变化，研究其在辐照环境下的电学性能变化。
本发明的技术解决方案是：一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置，包括：
电源模块，接收外部输入电压并转为3D NAND存储器需要的电压，根据控制模块信号关断或打开为3D NAND存储器供电；
电流监测模块，接收控制模块发送的信号，实时监测3D NAND存储器的电流，并将采集的电流信号发送至数据处理模块；
数据处理模块，用于接收电流信号并对电流信号进行处理、存储，并将数据传送到上位机，实时观测3D NAND存储器的电学参数变化；
控制模块，接收上位机发送过来的控制信号，控制电源模块关断或启动。
进一步地，所述电源模块、电流监测模块、数据处理模块和控制模块集成在一个测试装置中。
进一步地，所述测试装置和上位机通过网线通信。
进一步地，所述控制信号包括控制电源模块输出不同电压值。
进一步地，所述电源模块输出四路不同的电压。
进一步地，所述实时监测3D NAND存储器的电流的精度为uA级。
进一步地，当3D NAND存储器的电流超过极限值时，上位机发出控制指令控制关闭电源模块。
根据所述的一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置实现的3DNAND存储器辐照效应测试方法，包括：
接收上位机发送过来的控制信号，控制电源模块关断或启动；
接收外部输入电压并转为3D NAND存储器需要的电压，根据控制模块信号关断或打开为3D NAND存储器供电；
接收控制模块发送的信号，实时监测3D NAND存储器的电流；
对电流信号进行处理、存储，并将数据传送到上位机，实时观测3D NAND存储器的电学参数变化。
一种计算机可读存储介质，所述的计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述的计算机程序被处理器执行时实现所述一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试方法的步骤。
一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述的处理器执行所述的计算机程序时实现所述一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试方法的步骤。
本发明与现有技术相比的优点在于：
(1)实时监测：通过设计的硬件测试电路和电流监测模块，可以实时监测3D NAND存储器的电流变化，从而能够及时、准确地掌握其在辐照环境下的电学性能变化。
(2)省去专门设备：与传统的直流电源分析仪相比，本发明的测试装置不需要专门的设备进行电流监测。这大大简化了测试过程，降低了成本，提高了测试效率。
(3)便携式设计：本发明将硬件测试电路和数据采集、处理模块集成到便携式的测试装置中，使得用户可以方便地携带和使用。此外，该设计还具有良好的散热性能和抗震能力，能够在各种环境条件下稳定运行。
(4)自动化控制和数据采集：通过软件编程，本发明的测试装置可以实现自动化控制和数据采集。用户只需通过简单的操作界面即可完成测试过程的各种操作，提高了测试的便捷性和效率。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
图1为本发明原理示意图。
具体实施方式
为了更好的理解上述技术方案，下面通过附图以及具体实施例对本申请技术方案做详细的说明，应当理解本申请实施例以及实施例中的具体特征是对本申请技术方案的详细的说明，而不是对本申请技术方案的限定，在不冲突的情况下，本申请实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。
以下结合说明书附图对本申请实施例所提供的一种基于电流监测的3DNAND存储器辐照效应测试装置及方法做进一步详细的说明，具体实现方式可以包括(如图1所示)：
(1)电源模块：为3D NAND存储器提供稳定的电压和电流，同时具备过载保护和短路保护功能，确保设备在试验过程中的安全。
(2)电流监测模块：该模块是本发明的核心部分，通过实时监测流经3DNAND存储器的电流，反映其在辐照环境下的电学性能变化。该模块应具有高精度的电流测量能力，能够准确地捕捉到存储器的微小电流变化。
(3)数据采集和处理模块：该模块负责接收和处理由电流监测模块发送的电流数据，将数据进行处理、存储和显示。该模块应具有大容量的存储空间和高效的数据处理能力，以确保数据的准确性和实时性。
(4)控制模块：负责控制整个测试装置的运行。用户可以通过该模块设置测试参数、启动和停止测试过程，同时还可以实时查看测试结果。
其次，将设计的硬件测试电路集成到一个便携式的测试装置中。该装置具有优异的散热性能和抗震能力，确保在各种环境条件下都能稳定运行。此外，装置还配备有高精度的数据采集和处理系统，能够对获取的数据进行实时处理、分析和显示。
最后，为了进一步简化测试过程和提高测试效率，本发明的测试装置还需要配合相应的软件编程来实现自动化控制和数据采集。用户通过简单的操作界面即可完成测试条件的设置、启动和停止测试以及实时查看数据和图表等操作。
在本申请实施例所提供的方案中，先根据需求设定好相应的监测条件和参数，然后将该装置应用到需要进行辐照实验的3D NAND存储器上。在辐照实验过程中，装置会实时监测存储器的电流变化并记录相关数据。实验结束后，用户可以通过操作界面查看实验结果并进行分析。此外，由于该装置具有省去专门设备、便携式设计以及自动化控制等优点，使得其实用性和可推广性较强，可以广泛应用于辐射效应研究、电子器件性能研究等领域。因此，本发明的应用前景广阔。
具体包括：
电源模块，接收外部输入电压并转为3D NAND存储器需要的电压，根据控制模块信号关断或打开为3D NAND存储器供电；
电流监测模块，接收控制模块发送的信号，实时监测3D NAND存储器的电流，并将采集的电流信号发送至数据处理模块；
数据处理模块，用于接收电流信号并对电流信号进行处理、存储，并将数据传送到上位机，实时观测3D NAND存储器的电学参数变化；
控制模块，接收上位机发送过来的控制信号，控制电源模块关断或启动。
进一步，所述电源模块、电流监测模块、数据处理模块和控制模块集成在一个测试装置中。
可选的，在一种可能实现的方式中，所述测试装置和上位机通过网线通信。
进一步，所述控制信号包括控制电源模块输出不同电压值。
在一种可能实现的方式中，所述电源模块输出四路不同的电压。
进一步，所述实时监测3D NAND存储器的电流的精度为uA级。
在一种可能实现的方式中，当3D NAND存储器的电流超过极限值时，上位机发出控制指令控制关闭电源模块。
基于与图1相同的发明构思，本发明还提供一种根据所述的一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置实现的3D NAND存储器辐照效应测试方法，包括：
接收上位机发送过来的控制信号，控制电源模块关断或启动；
接收外部输入电压并转为3D NAND存储器需要的电压，根据控制模块信号关断或打开为3D NAND存储器供电；
接收控制模块发送的信号，实时监测3D NAND存储器的电流；
对电流信号进行处理、存储，并将数据传送到上位机，实时观测3D NAND存储器的电学参数变化。
本发明提供了一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置，解决了现有技术中存在的问题和不足。通过实时监测3D NAND存储器的电学参数变化，省去了辐照实验中专门用于给3D NAND存储器电流监测的直流电源分析仪设备等繁琐的外部设备和线缆等杂乱无序的线缆连接方式，实现了使用简便、节约成本、提高测试效率的目的。同时，本发明的便携式设计使得用户可以方便地携带和使用该装置，自动化控制和数据采集则提高了测试的便捷性和效率。
显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。
本发明说明书中未作详细描述的内容属本领域技术人员的公知技术。
Claims (10)
1.一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置，其特征在于，包括：
电源模块，接收外部输入电压并转为3D NAND存储器需要的电压，根据控制模块信号关断或打开为3D NAND存储器供电；
电流监测模块，接收控制模块发送的信号，实时监测3D NAND存储器的电流，并将采集的电流信号发送至数据处理模块；
数据处理模块，用于接收电流信号并对电流信号进行处理、存储，并将数据传送到上位机，实时观测3D NAND存储器的电学参数变化；
控制模块，接收上位机发送过来的控制信号，控制电源模块关断或启动。
2.根据权利要求1所述的一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置，其特征在于，所述电源模块、电流监测模块、数据处理模块和控制模块集成在一个测试装置中。
3.根据权利要求1所述的一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置，其特征在于，所述测试装置和上位机通过网线通信。
4.根据权利要求1所述的一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置，其特征在于，所述控制信号包括控制电源模块输出不同电压值。
5.根据权利要求1所述的一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置，其特征在于，所述电源模块输出四路不同的电压。
6.根据权利要求1所述的一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置，其特征在于，所述实时监测3D NAND存储器的电流的精度为uA级。
7.根据权利要求1所述的一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置，其特征在于，当3D NAND存储器的电流超过极限值时，上位机发出控制指令控制关闭电源模块。
8.根据权利要求1～7任一项所述的一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置实现的3D NAND存储器辐照效应测试方法，其特征在于，包括：
接收上位机发送过来的控制信号，控制电源模块关断或启动；
接收外部输入电压并转为3D NAND存储器需要的电压，根据控制模块信号关断或打开为3D NAND存储器供电；
接收控制模块发送的信号，实时监测3D NAND存储器的电流；
对电流信号进行处理、存储，并将数据传送到上位机，实时观测3D NAND存储器的电学参数变化。
9.一种计算机可读存储介质，所述的计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述的计算机程序被处理器执行时实现如权利要求8所述方法的步骤。
10.一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于：所述的处理器执行所述的计算机程序时实现如权利要求8所述方法的步骤。
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