CN117849767A - 测距方法、控制装置及测距装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及测距方法、控制装置及测距装置，属于激光测距技术领域。本发明通过控制发光电路发射多个激光信号至被测目标，再接收被测目标反射的回波信号，对回波信号进行处理后，生成对应的整形回波信号，并根据多个所述整形回波信号，生成对应的目标回波时长，通过对回波信号进行处理得出整形回波信号，实现了有效去除测试过程中出现的虚警信号，从而使中远距离下的测试过程准确可靠，精准度较高，提高激光测距产品的市场竞争力，满足用户需求。

Description

测距方法、控制装置及测距装置

技术领域

本申请涉及激光测距技术领域，尤其涉及测距方法、控制装置及测距装置。

背景技术

激光具有方向性强、亮度高、单色性好、相干性好等的独特特性，因而人们尝试着将激光用作光电测距的光源，激光测距技术也由此应运而生。激光测距是光学、激光技术、计算技术和集成学的发展，在各种测量行业中得到了广泛的应用，无论是在军事领域，还是在科学技术、生产建设方面，都起着重要的作用，其与一般的光学测距系统相比，具有测量精确度高、分辨率高、抗干扰能力强、体积小和重量轻等一系列的优点。

随着技术进步，国内外研究者一直在推动激光测距技术的应用，激光测距也正朝着数字化、自动化、低成本以及小型轻便化的方向发展，使得激光测距的测程精度也得到了极大的提高，然而，现有的激光测距虽然在短距离下测量具有极高的精度，但在中远距离下进行测量时，往往会由于距离过远，测试过程中出现较多的虚警信号，导致测距装置的测距测程受限，从而引起测试不精准的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种测距方法，旨在解决现有的激光测距在中远距离下进行测量时，往往会由于距离过远，导致测试过程中出现较多的虚警信号，从而引起测试不精准，导致激光测距装置的测距测程受限的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种测距方法，所述方法包括以下步骤：

控制发光电路发射多个激光信号至被测目标，并接收被测目标反射的回波信号，以生成对应的整形回波信号；

根据多个所述整形回波信号，生成对应的目标回波时长。

如上所述的测距方法，所述接收被测目标反射的回波信号，以生成对应的整形回波信号的步骤包括：

获取预设门槛电压；

按照所述预设门槛电压对所述回波信号进行处理，并生成相应的所述整形回波信号。

如上所述的测距方法，所述按照所述预设门槛电压对所述回波信号进行处理，并生成相应的所述整形回波信号的步骤，具体包括：单个所述回波信号包括有多个脉冲。

如上所述的测距方法，所述按照所述预设门槛电压对所述回波信号进行处理，并生成相应的所述整形回波信号的步骤，包括：

基于二进制化方法和所述预设门槛电压，整形所述回波信号；

确定整形后的回波信号为所述整形回波信号。

如上所述的测距方法，所述控制发光电路发射多个激光信号至被测目标的步骤还包括：

在发射每一所述激光信号时，开始第一计时；

所述接收被测目标反射的回波信号，以生成对应的整形回波信号的步骤还包括：

当接收到的对应的所述回波信号的电压大于所述预设门槛电压时，根据所述第一计时，生成相应的第一时长；

根据多个所述整形回波信号，生成对应的目标回波信号的步骤具体包括：

根据多个所述第一时长，生成对应的所述目标回波时长。

如上所述的测距方法，所述根据多个所述第一时长，生成对应的所述目标回波时长的步骤，具体包括：

将多个第一时长中相同时长的数量最多的一者，设置为所述目标回波时长。

如上所述的测距方法，所述将多个第一时长中相同时长的数量最多的一者，设置为所述目标回波时长的步骤具体包括：

将多个所述第一时长分配为多个第一时长组；其中，每一所述第一时长组内的任意两个所述第一时长之间的差值小于预设差值；

将包括所述第一时长的数量最多的所述第一时长组设置为目标第一时长组，并根据所述目标第一时长组中的多个所述第一时长，生成所述目标回波时长。

如上所述的测距方法，所述方法还包括：根据所述目标回波时长，确定目标距离。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种控制装置，所述控制装置包括：

存储器；

处理器，存储在所述存储器上并被所述处理器执行的测距程序，所述测距设备控制程序在被所述处理器执行时，实现如上所述的测距方法。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种测距装置，所述测距装置包括如上所述的控制装置。

本发明实施例通过控制发光电路发射多个激光信号至被测目标，再接收被测目标反射的回波信号，对回波信号进行处理后，生成对应的整形回波信号，并根据多个所述整形回波信号，生成对应的目标回波时长，通过对回波信号进行处理得出整形回波信号，能够有效去除测试过程中出现的虚警信号，从而使中远距离下的测试过程准确可靠，精准度较高，提高激光测距产品的市场竞争力，满足用户需求。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获取其他的附图。

图1是本发明测距方法一实施例的流程示意图。

图2为本发明测距方法另一实施例的流程示意图。

图3为本发明测距方法又一实施例的流程示意图。

图4为本发明测距方法还一实施例的流程示意图。

图5为本发明测距方法再一实施例的流程示意图。

图6为本发明测距方法另一实施例的流程示意图。

图7为本发明测距方法又一实施例的流程示意图。

图8是本发明测距方法所实现功能的波形图一。

图9是本发明测距方法所实现功能的波形图二。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，众所周知的模块、单元及其相互之间的连接、链接、通信或操作没有示出或未作详细说明。并且，所描述的特征、架构或功能可在一个或一个以上实施方式中以任何方式组合。本领域技术人员应当理解，下述的各种实施方式只用于举例说明，而非用于限制本发明的保护范围。还可以容易理解，本文所述和附图所示的各实施方式中的模块或单元或处理方式可以按各种不同配置进行组合和设计。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获取的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

下述实施例中所指的对各种名词或方法的限定，除了在逻辑上无法成立的情况外，所述名词或方法通常以在实施例中公开内容的前提下可以实施的广义概念为准，在这样的理解下，所述名词或方法的各种具体的下位特定限定均应当视为本发明的发明内容，而不应当以说明书未公开该特定限定为由，对其进行狭义的理解或产生偏见性的解释。同理，在逻辑上可以实现的前提下，方法中的各步骤的顺序是灵活多变的，对各种名词或方法的广义概念中的具体的下位特定限定，都属于本发明保护的范围。

在现有的测距装置上，一般采用TDC的方式进行计时，首先由主控制器发出指令，让TDC(计时器)开始计时，同时发出发射控制信号使发光电路发出激光，激光到达被测目标后反射回来到达收光电路，被收光电路接收，信号被接收后由于杂波信号的存在，需再送入比较整形电路，信号通过比较器与门槛电平2比较后，滤去小幅杂波，整形后送入TDC，让TDC停止计时，以此来获得回波信号的返回时间，从而计算得出距离。

在构思及实现本申请过程中，发明人发现至少存在如下问题：在采用激光测距的过程中，现有的激光测距装置采用上述方式在中远距离下进行测量时，往往会由于距离过远，测试过程中出现较多的虚警信号，导致测距装置的测距测程受限，从而引起测试不精准的问题。

可以知道的是，当被测目标距离变远时，激光回波的幅度就化大大降低，此时的回波信号与虚警信号的幅度变得差不多的大小，甚至小于虚警信号，此时若要对回波信号进行测试，则需要降低门槛电平，但门槛电平一旦被降低，则又很容易被虚警，导致现有的技术方案有测距测程具有较大局限性。

为此，本发明提出了一种测距方法；可以理解的是，测距装置内设置有用于存储和执行下述方法的控制装置，控制装置可以采用主控制器来实现，例如MCU(MicrocontrollerUnit，微控制单元)、DSP(Digital Signal Process，数字信号处理芯片)、FPGA(FieldProgrammable Gate Array，可编程逻辑门阵列芯片)、SOC(System On Chip，系统级芯片)等来实现。

参照图1至图9所示，图1是本发明测距方法一实施例的流程示意图；图2为本发明测距方法另一实施例的流程示意图；图3为本发明测距方法又一实施例的流程示意图；图4为本发明测距方法还一实施例的流程示意图；图5为本发明测距方法再一实施例的流程示意图；图6为本发明测距方法另一实施例的流程示意图；图7为本发明测距方法又一实施例的流程示意图；图8是本发明测距方法所实现功能的波形图一；图9是本发明测距方法所实现功能的波形图二。

参照图1，图1为本发明一种测距方法一实施例的流程示意图，在本发明一实施例中，所述测距方法包括：

S100、控制发光电路发射多个激光信号至被测目标，并接收被测目标反射的回波信号，以生成对应的整形回波信号。

S200、根据多个所述整形回波信号，生成对应的目标回波时长。

在本实施例中，所述回波信号包括虚警信号和真实回波信号，最后所需要得到的目标回波信号则为真实回波信号，本实施例通过先控制发光电路发射多个激光信号至被测目标上，再通过收光电路接收反射回的激光信号，得到回波信号，请参照图8所示，将回波信号通过预设门槛电压和对应的二进制算法，对回波信号进行整形，从而得到对应的整形回波信号，再将同一回波时间内的回波信号进行信号叠加，具体地，所述整形回波信号为方波，所述信号叠加为在波形的高度方向上进行简单的叠加，并确定叠加后波形最高的波形为目标回波信号，所述目标回波信号的回波时长为目标回波时长，能够有效去除测试过程中出现的虚警信号，从而使中远距离下的测试过程准确可靠，精准度较高，提高激光测距产品的市场竞争力，满足用户需求。

进一步的，作为一种优选方案而非具体限定，请参照图9所示，所述接收被测目标反射的回波信号的步骤，包括：基于FPGA的时钟相移功能，生成多个等相位差的第一时钟，根据所述第一时钟，分别采集所述回波信号的前沿信号，根据第一时钟和前沿信号，确定最早采集到端口的时间为目标回波时长。具体的，所述第一时钟为四个，所述相位差为90°，通过同时产生4个相差90度的时钟读数，100M的工作频率提升到4倍的读数速度，即，从10nS读一次提升到2.5nS读一次，精度提高了4倍，使得在提高测程的同时也提高了监测的精度。

本实施例通过假设FPGA主频为120M，即IO口采样时钟为120M，约为8nS采样一次，而在本实施例中，利用FPGA的4个IO实现4倍于主频的采样功能，即过采样，通过间接的方式提高采样速率，从而提高采样精度，即测距精度。其具体原理为，采用FPGA内部PLL产生多个等相位差的采样时钟，具体地，为4个相位相差90度的采样时钟，可以理解的是，本实施例所体积的4个相位相差90度的采样时钟仅仅是为了便于本领域技术人员理解本方案而举例的，并非具体限定，本实施例的过采样方法同理可以用更多的不同相位时钟进行采样。请参照图9所示，具体包括了0度相位IO采集时钟、90度相位IO采集时钟、180度相位IO采集时钟以及270度相位IO采集时钟，这4个不同相位时钟的采集IO对4个回波信号前沿分别采集，最终取最早采集到的IO口的时间T作为我们计算距离的时间，例如图9中，最早采集到的是T180，也就是180度相位采样时钟采集到的回波上升沿时间最接近真实时间T_X，T_X与T₁₈₀最大相差2nS，得：

实际距离：S＝C*T_X/2；

测量距离：S＝C*T₁₈₀/2；

误差距离：因为ΔT＝T180-TX<2nS；

故，ΔS＝C*ΔT/2<0.3*2/2＝0.3m，可以理解地，光速为0.3m/1nS；

通过上述过采样的方法，实现精度小于0.3m的目标，在同等测程和同等成本的情况下，大大的提高了测距精度，在同等测程和同等测距精度情况下，大大的降低了成本。

在本实施例中，控制装置通过采用FPGA替代所述TDC进行模拟计时，需要注意的是，TDC只能单次或几次计时，而用FPGA模拟TDC，可以实现多次计时，依据前述所讲，测试距离远时信号低，要想采到信号就要降低门槛电平，但降低门槛电平又会造成虚警，而通过本方法结合控制装置来实现，能够有效排除掉测试过程中出现的虚警信号，由于采用FPGA触发计时，门槛降低后的虚警信号和被测目标的真实回波信号的时间都可以计录下来，所述虚警信号为电路中的电磁干扰、半导体元器件特性干扰或光信号干扰等的之一或多个组成，其与固定发射出的激光信号上并没有时域上的固定关系，也即是说，多次测试中，干扰信号的计时不会相同时间出现，或很少相同时间出现，而通过发光电路发射的激光信号，其属于同一目标的回波信号，而同一目标的回波信号一定是相同时间出现，故通过本方法可以对多次发出的激光信号的回波信号进行记录，并进行叠加，参照图8所示，累加后波形中很容易看出目标回波信号的高度为最高，且与其他虚警信号的波形相差较大，则可以快速高效地确定出目标回波信号，通过目标回波信号的回波时长，又能够较为准确可靠的确定出所测试的距离，能够有效去除测试过程中出现的虚警信号，从而使中远距离下的测试过程准确可靠，精准度较高，提高激光测距产品的市场竞争力，实现测试距离的大大提升，满足用户需求。

控制装置在激光信号发射出的同时，控制模拟的计时器进行启动计时，并在接收被测目标反射的回波信号后，及时进行记录并对回波信号进行处理，以得到整形回波信号，再累加各整形回波信号的高度，以在所述回波结束后，可以快速高效地生成对应的目标回波时长，有效保证了距离测量的可靠性和具有较高地测程，同时，需要理解的是，相比较于现有技术中进行测距的方式是采用TDC进行计时，且通过MCU分别控制发光电和TDC而言，本申请通过FPGA进行模拟计时并发射激光信号，减少了中间的信号传输环节，其反应速度更快，控制精度更高，处理的效率更高，且能够实现多次的计时，能够较好地排除掉虚警信号，实现测距距离的大大提升，且对于短距离的测程而言，同样能够实现更好地去除干扰信号，实现更加高精度的测试过程。

此外，可以理解的是，控制装置还可以存储当前内部存在主控制器中的电压信息，例如门槛电压，以便于收光电路接收到回波信号后，能够读取控制装置内存储的门槛电压，并对回波信号进行整形，从而提高数据计算的效率。

在本实施例中通过控制发光电路发射多个激光信号至被测目标，再接收被测目标反射的回波信号，对回波信号进行处理后，生成对应的整形回波信号，并根据多个所述整形回波信号，生成对应的目标回波时长，通过对回波信号进行处理得出整形回波信号，能够有效去除测试过程中出现的虚警信号，从而使中远距离下的测试过程准确可靠，精准度较高，提高激光测距产品的市场竞争力，满足用户需求。

进一步的，参照图2，本发明第二实施例提供一种测距方法，基于上述图1所示的实施例，所述接收被测目标反射的回波信号，以生成对应的整形回波信号的步骤包括：

S110、获取预设门槛电压。

S120、按照所述预设门槛电压对所述回波信号进行处理，并生成相应的所述整形回波信号。

在本实施例中，所述预设门槛电压是在控制装置启动测试工作前，由测试人员将数据导入到所述控制装置上的，所述预设门槛电压的大小，是与测试距离相关的，由于测试距离越远，回波信号越低，其所需的门槛电压值也就越低，但是近距离测试时，回波信号较高，若还是采用较低的门槛电平，则容易将一些虚警信号也误判收集，故设置合理的门槛电平，还能够减少信号处理过程中的麻烦，以使处理过程更加简便，通过预设门槛电压对所述回波信号进行处理，实际上，在本方法中，只有信号电平超过门槛电平才会被记录，并通过门槛电平结合二进制方法对电平整形成方波，能够较为快速高效地生成相应的所述整形回波信号，从而使中远距离下的测试过程准确可靠，精准度较高，提高激光测距产品的市场竞争力，满足用户需求。

进一步的，参照图3，本发明第二实施例提供一种测距方法，基于上述图2所示的实施例，所述按照所述预设门槛电压对所述回波信号进行处理，并生成相应的所述整形回波信号的步骤，具体包括：单个所述回波信号包括有多个脉冲。

本实施例的单个回波信号是包括了多个脉冲的回波信号，所述多个脉冲具体包括了虚警信号脉冲和真实回波信号脉冲，通过一个发射出的激光信号对应一个回波信号，能够使测试过程更加高效简单，准确性更强，且通过将多个不同的脉冲信号合在一个回波信号中，能够更好地对信号进行处理并进行比对，所述脉冲均处于不同的回波时长中，当回波时长在允许的范围内时，则属于同一脉冲，能够较为准确可靠的确定出所测试的距离，能够有效去除测试过程中出现的虚警信号，从而使中远距离下的测试过程准确可靠，精准度较高，提高激光测距产品的市场竞争力，实现测距距离的大大提升，满足用户需求。

作为一种优选方案而非具体限定，所述按照所述预设门槛电压对所述回波信号进行处理，并生成相应的所述整形回波信号的步骤，包括：

S121、基于二进制化方法和所述预设门槛电压，整形所述回波信号。

S122、确定整形后的回波信号为所述整形回波信号。

在本实施例中通过基于二进制化方法对回波信号进行整形，且基于所述预设门槛电压对波形的最高点进行限制，能够更加快速高效地得出整形回波信号，通过对回波信号的波形的面积进行计算，且与所述预设门槛电压的高度进行比对，确定回波信号超出预设门槛电压的位置，再结合二进制化方法对计算出的波形进行整形，以使波形变换为方形波，请参照如图8所示，首先去除低于门槛电压的波形，该类波形全部确定为杂波信号，再将等于或高于门槛电平的信号进行平整化，并将弦波变换为方波，其回波时长也做同步变换，能够使变换出的方波更加准确可靠，能够更好地排除掉虚警信号，且能够实现测距距离的大大提升，从而使不管在短距离亦或者中远距离下的测试过程准确可靠，提高激光测距产品的市场竞争力，满足用户需求。

进一步的，参照图4，本发明第二实施例提供一种测距方法，基于上述图1所示的实施例，所述控制发光电路发射多个激光信号至被测目标的步骤还包括：

S130、在发射每一所述激光信号时，开始第一计时。

S100、所述接收被测目标反射的回波信号，以生成对应的整形回波信号的步骤还包括：

S140、当接收到的对应的所述回波信号的电压大于所述预设门槛电压时，根据所述第一计时，生成相应的第一时长。

S200、根据多个所述整形回波信号，生成对应的目标回波信号的步骤具体包括：

S210、根据多个所述第一时长，生成对应的所述目标回波时长。

在本实施例中在发射一次激光时，控制装置即需要开始进行一次计时动作，即所述第一计时有多个，其个数与所述发出的激光信号个数相关，且在所述接收到的对应的所述回波信号的电压大于所述预设门槛电压时，根据所述第一计时记录的时间长度，生成对应的第一时长，所述第一时长有多个，根据回波信号的脉冲数确定，由于发射一次激光对应有一个回波信号，但是一个回波信号有对应多个脉冲，当回波信号出现一次超出预设门槛电压的脉冲时，即生成一次相应的第一时长，并根据多个所述第一时长，对信号的波形进行纵向叠加，从而能够生成对应的目标回波时长，能够较好地解决现有技术中对于中远距离测试过程中存在较大的误差且常常被虚警信号所干扰的情况，能够较好地去除干扰信息，较为快速高效地生成相应的所述目标回波时长，从而使中远距离下的测试过程准确可靠，精准度较高，提高激光测距产品的市场竞争力，满足用户需求。

进一步的，参照图5，本发明第二实施例提供一种测距方法，基于上述图4所示的实施例，所述根据多个所述第一时长，生成对应的所述目标回波时长的步骤，具体包括：

S211、将多个第一时长中相同时长的数量最多的一者，设置为所述目标回波时长。

在本实施例中，通过对多个回波信号进行叠加，且将在所述多个第一时长中相同时长的数量最多的一者设置为所述目标回波时长，由于多个第一时长中相同时长的数量最多的一者其叠加后的波形为最高，而根据干扰信号与发出的发射控制信号没有时域上的固定关系的原理，由于干扰信号的计时不会相同时间出现，或很少相同时间出现，而同一目标的回波信号一定是相同时间出现，而在相同时长的数量最多的一者，则定然为同一目标，利用这一原理，经过相同时间的二进制信号累加后就很容易找出目标的实际时长信号，能够较为轻松简单地通过判断目标回波时长，确定出测距距离的长度，能够较好地去除干扰信息，较为快速高效地确定出对应的测距距离的长度，从而使不管在短距离亦或者中远距离下的测试过程准确可靠，精准度较高，提高激光测距产品的市场竞争力，满足用户需求。

进一步的，参照图6，本发明第二实施例提供一种测距方法，基于上述图4所示的实施例，所述将多个第一时长中相同时长的数量最多的一者，设置为所述目标回波时长的步骤具体包括：

S212、将多个所述第一时长分配为多个第一时长组；其中，每一所述第一时长组内的任意两个所述第一时长之间的差值小于预设差值。

S213、将包括所述第一时长的数量最多的所述第一时长组设置为目标第一时长组，并根据所述目标第一时长组中的多个所述第一时长，生成所述目标回波时长。

在本实施例中为了避免出现因为光干扰或发射角度等的原因导致回波信号的脉冲靠近，但是很难判断出属于或不属于同一脉冲的情况，通过对第一时长分配为多个第一时长组，并在其中设置任意两个所述第一时长之间的差值小于预设差值，这样当两个时长相近的脉冲相近时，则可以通过先行判断出两个时长的差值是否在阈值范围内，若在阈值范围中，则将该脉冲列为相同的信号，则其所属的时长信息也即为第一时长，能够较好地避免因为光干扰或发射角度导致回波信号的脉冲时长出现偏差而导致靠近，但是因为时长上数值定义过于死板而导致错漏信息，通过上述设置，能够更好地满足测试的需要，快速高效地确定出对应的测距距离的长度，从而使不管在短距离亦或者中远距离下的测试过程准确可靠，精准度较高，提高激光测距产品的市场竞争力，满足用户需求。

进一步的，参照图7，本发明第二实施例提供一种测距方法，基于上述图1所示的实施例，所述方法还包括：

S300、根据所述目标回波时长，确定目标距离。

本实施例在确定目标回波时长之后，通过距离-时长公式进行计算，所述公式为：S＝C*T₁/2，其中S为距离，T1为时长，C为光速，由于激光发射出去到接收回来是有来回程两程的距离的，故通过光速乘以时间，并除以2，得出单程的距离，能够较为方便快速地得出所测的距离，可以实现较远的测程，且通过采用计算得出的目标回波时长，不管是短距离还是中远距离，都能够非常精准地进行测量，对于一些需要应用超长距离测试的，例如路政施工人员、建筑测量员等，能够提供较好地帮助，测试精度较高，准确性好，能够提高激光测距产品的市场竞争力，满足用户需求。

本发明还提出了一种控制装置，所述控制装置包括：

存储器；

处理器，存储在所述存储器上并被所述处理器执行的测距程序，所述测距设备控制程序在被所述处理器执行时，实现如上述实施例所述的测距方法。

值得注意的是，由于本发明控制装置基于上述的测距方法，因此，本发明控制装置的实施例包括上述测距方法全部实施例的全部技术方案，且所达到的技术效果也完全相同，在此不再赘述。

本发明还提出了一种测距装置，所述测距装置包括如上述实施例所述的控制装置。

值得注意的是，由于本发明测距装置基于上述的控制装置，因此，本发明测距装置的实施例包括上述控制装置全部实施例的全部技术方案，且所达到的技术效果也完全相同，在此不再赘述。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种测距方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

控制发光电路发射多个激光信号至被测目标，并接收被测目标反射的回波信号，以生成对应的整形回波信号；

根据多个所述整形回波信号，生成对应的目标回波时长。

2.根据权利要求1所述的测距方法，其特征在于，所述接收被测目标反射的回波信号，以生成对应的整形回波信号的步骤包括：

获取预设门槛电压；

按照所述预设门槛电压对所述回波信号进行处理，并生成相应的所述整形回波信号。

3.根据权利要求2所述的测距方法，其特征在于，所述按照所述预设门槛电压对所述回波信号进行处理，并生成相应的所述整形回波信号的步骤，具体包括：单个所述回波信号包括有多个脉冲。

4.根据权利要求3所述的测距方法，其特征在于，所述按照所述预设门槛电压对所述回波信号进行处理，并生成相应的所述整形回波信号的步骤，包括：

基于二进制化方法和所述预设门槛电压，整形所述回波信号；

确定整形后的回波信号为所述整形回波信号。

5.根据权利要求1所述的测距方法，其特征在于，所述控制发光电路发射多个激光信号至被测目标的步骤还包括：

在发射每一所述激光信号时，开始第一计时；

所述接收被测目标反射的回波信号，以生成对应的整形回波信号的步骤还包括：

当接收到的对应的所述回波信号的电压大于所述预设门槛电压时，根据所述第一计时，生成相应的第一时长；

根据多个所述整形回波信号，生成对应的目标回波信号的步骤具体包括：

根据多个所述第一时长，生成对应的所述目标回波时长。

6.根据权利要求5所述的测距方法，其特征在于，所述根据多个所述第一时长，生成对应的所述目标回波时长的步骤，具体包括：

将多个第一时长中相同时长的数量最多的一者，设置为所述目标回波时长。

7.根据权利要求5所述的测距方法，其特征在于，所述将多个第一时长中相同时长的数量最多的一者，设置为所述目标回波时长的步骤具体包括：

将多个所述第一时长分配为多个第一时长组；其中，每一所述第一时长组内的任意两个所述第一时长之间的差值小于预设差值；

将包括所述第一时长的数量最多的所述第一时长组设置为目标第一时长组，并根据所述目标第一时长组中的多个所述第一时长，生成所述目标回波时长。

8.根据权利要求1-3任一项所述的测距方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述目标回波时长，确定目标距离。

9.一种控制装置，其特征在于，所述控制装置包括：

存储器；

处理器，存储在所述存储器上并被所述处理器执行的测距程序，所述测距设备控制程序在被所述处理器执行时，实现如权利要求1-8任一项所述的测距方法。

10.一种测距装置，其特征在于，所述测距装置包括如权利要求9所述的控制装置。