CN117824492A - 一种检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

一种检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质，检测方法，包括：获取待测件的三维数据；根据三维数据计算待测件在第一坐标系下的姿态信息；根据姿态信息，驱动待测件调整至目标姿态；获取待测件位于目标姿态下的检测图像，检测图像为二维图像。本申请可以根据三维数据判断待测件的姿态与目标姿态的偏差，调整待测件的空间角度，以使得在进行二维的检测图像的采集时，减小或去除正交投影误差，提高后续基于检测图像的检测精度与准确性。

Description

一种检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质

技术领域

本发明涉及图像检测技术领域，具体涉及一种检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质。

背景技术

在产品的生产过程中，需要对其边缘外形轮廓进行测量，以确定产品(例如是眼镜片、汽车玻璃、面板等)制造是否合格。

测量物体外形轮廓的方式常见是通过二维影像拍摄出物体的边缘外形轮廓，这样的方式采集到的图像容易出现正交投影误差。或者通过三坐标机器去触碰物体的外形，这样的方式由于是接触式测量，其测量速度比二维影像测量要慢，测量效率较低。

基于生产效率的需求，多采用二维影像测量的方式测量边缘外形轮廓。

发明内容

本发明提供一种检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质，用于解决现有二维影像测量边缘外形轮廓存在正交投影误差的技术问题，下面具体说明。

根据第一方面，一种实施例中提供一种检测方法，包括：

获取待测件的三维数据；

根据三维数据计算待测件在第一坐标系下的姿态信息；

根据姿态信息，驱动待测件调整至目标姿态；

获取待测件位于目标姿态下的检测图像，检测图像为二维图像。

一种实施例中，三维数据为三维点云数据；根据三维数据计算待测件在第一坐标系下的姿态信息，包括：

获取待测件对应的标准模型数据；

将三维点云数据与标准模型数据进行点云拟合配准；若拟合误差满足预设标准，则计算待测件在第一坐标系下的姿态信息。

一种实施例中，根据姿态信息，驱动待测件调整至目标姿态，包括：

根据姿态信息，得到待测件的俯仰角与滚动角；

根据俯仰角以及滚动角，驱动待测件分别绕第一方向以及第二方向转动，以调整至目标姿态。

一种实施例中，驱动待测件调整至目标姿态之后，还包括：

重新获取待测件的姿态信息，得到待测件在当前姿态下的俯仰角和滚动角；

将在当前姿态下的俯仰角和滚动角，与目标姿态下的俯仰角和滚动角进行比较，计算两个姿态之间的误差值；

若误差值满足预设误差标准，则确定待测件已经运动至目标姿态；

若误差值不满足预设误差标准，则根据误差值调整待测件的姿态；重新获取误差值，直至满足预设误差标准。

一种实施例中，在驱动待测件调整至目标姿态之后，还包括：

计算待测件第一坐标系下的位置信息；

获取待测件位于目标姿态下的检测图像，包括：

根据位置信息，确定待测件的扫描路径，按照扫描路径，获取待测件位于目标姿态下的检测图像。

一种实施例中，在获取待测件的三维数据之前，还包括：

根据目标姿态与第一坐标系的对应关系，将待测件设置在调平部件的承载面上；调平部件用于驱动待测件绕第一方向和/或第二方向转动，以改变待测件在第一坐标系下的姿态。

一种实施例中，根据目标姿态与第一坐标系的对应关系，将待测件设置在调平部件的承载面上，包括：

确定在目标姿态下，待测件的物体坐标系与第一坐标系之间的对应关系，确定在目标姿态下待测件的物体坐标系的第四轴与第一坐标系的第一轴的第一夹角；

将待测件设置在调平部件的承载面上，以使得在初始姿态下物体坐标系的第四轴与第一坐标系的第一轴的第二夹角基本与第一夹角相同。

一种实施例中，在目标姿态下，物体坐标系的第四轴与第一坐标系的第一轴平行，物体坐标系的第五轴与第一坐标系的第二轴平行。

一种实施例中，在将待测件相对固定在调平部件的承载面上之前，还包括：

对应第一坐标系将调平部件进行调整，以使得第一方向与第一坐标系的第一轴平行，且第二方向与第一坐标系的第二轴平行。

根据第二方面，一种实施例中提供一种检测装置，包括：

三维图像检测系统，被配置为获取待测件的三维图像，得到对应的三维数据；

二维图像检测系统，被配置为获取待测件的二维图像，得到检测图像；

调平部件，具有承载面，承载面用于承载待测件，调平部件被配置为驱动承载面绕第一方向和/或第二方向转动，以改变待测件在第一坐标系下的姿态；第一坐标系为三维图像检测系统的相机坐标系；

控制器，被配置为获取所述待测件的所述三维数据；根据所述三维数据计算所述待测件在第一坐标系下的姿态信息；根据所述姿态信息，驱动所述待测件调整至目标姿态；获取所述待测件位于所述目标姿态下的检测图像，所述检测图像为二维图像。

根据第三方面，一种实施例中提供一种终端设备，包括：

存储器，用于存储程序；

处理器，用于通过执行存储器存储的程序以实现如第一方面所描述的方法。

根据第四方面，一种实施例中提供一种计算机可读存储介质，介质上存储有程序，程序能够被处理器执行以实现如第一方面所描述的方法。

依据上述实施例的检测方法、装置、终端设备以及计算机可读存储介质，先通过三维传感器对待测件进行三维数据采集，根据三维数据判断待测件的姿态与目标姿态的偏差，调整待测件的空间角度，以使得在进行二维的检测图像的采集时，减小或去除正交投影误差，提高后续基于检测图像的检测精度与准确性。

附图说明

图1为一种实施例的检测装置的结构示意图；

图2为一种实施例的三维图像检测系统的结构示意图；

图3为一种实施例的检测图像的示意图；

图4为一种实施例的调平部件的结构示意图；

图5为一种实施例的检测方法的流程图；

图6为另一种实施例的检测方法的流程图；

图7为一种实施例的待测件姿态调整前后的示意图。

附图标记：10-三维图像检测系统；20-二维图像检测系统；30-调平部件；31-承载面；32-第一调节组件；32-第二调节组件；40-控制器；100-待测件。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。

另外，说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时，方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此，说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例，并不意味着是必须的顺序，除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。

本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。

在本申请中，待测件可以为具有曲面的物体，且在外形轮廓的尺寸上具有精度要求。例如，待测件可以是眼镜片或汽车玻璃等曲面物体。以待测件为眼镜片为例，眼镜片需要按在安装在眼镜架的镜框上，这就需要眼镜片的外形轮廓与镜框对应，当眼镜片的外形轮廓尺寸不合格时，就无法安装到镜框上。在一些实施方式中，待测件可以为仅具有平面的物体，如手机玻璃面板。本申请虽然以待测面为曲面为例进行说明，但是并不是限制待测面为平面的待测件的具体应用。

常规的测量工具(如卡尺等)并不能快速准确测量其外形尺寸。因此，采用二维相机进行图像获取后，通过计算机算法测量外形尺寸成为主要检测方式。一些测量方式还可以是通过三坐标机器去触碰物体的外形，由于是接触式测量，其测量速度比二维影像测量要慢，不满足对测量时间有要求的情况。

在常规检测中，待测件的待测面需要正对二维探测器的光轴，申请人研究发现，以眼镜片为例，眼镜片一方面边缘轮廓一般为弧面，两个镜面也是曲面。这一类的待测件放置在台面上，不容易放置到位，空间姿态没有达到理想情况(即未达到目标姿态)，导致采集到的图像出现正交投影误差，针对这样的检测图像计算出来的外形尺寸，也存在误差，测量精度与准确度有待提高。此外，若承载待测件的台面相对于二维拍摄相机的光轴存在倾斜角度，也会导致相机采集到的图像出现正交投影误差，从而导致根据图像计算出的待测件的外形尺寸存在误差。上述多种原因均会导致待测件放置在台面后，初始姿态与目标姿态存在偏差，导致采集到的图像出现正交投影误差。

在本发明实施例中，通过采用检测装置，利用检测装置的调平部件可以调整待测件的空间姿态，结合三维数据的检测，调整待测件的姿态，以使得在进行二维检测图像获取时，待测件能够在目标姿态下被拍摄，将正交投影误差降低至最低，提高对外形轮廓检测的精度与准确度。

如图1所示，本申请实施例提供一种检测装置，其可以包括三维图像检测系统10、二维图像检测系统20、调平部件30以及控制器40。

三维图像检测系统10被配置为获取待测件100的三维图像，得到对应的三维数据；三维图像检测系统10可以包括三维传感器或三维探测器，例如是共聚焦点探头传感器、共聚焦线探头传感器等，具体的形式并不局限。

例如，如图2所示，以光谱共聚焦三维传感器为例，三维探测器通过获取待测件表面待测点的反射光，可以计算出待测点与探测器的高度差，结合三维探测器的三维坐标系，可以得到待测点的空间位置，以此方式可以获取待测件100的表面的三维数据。

二维图像检测系统20被配置为获取所述待测件100的二维图像，得到检测图像；如图3所示，例如二维图像检测系统20可以包括二维图像传感器，如相机，至少对待测件100进行一次拍摄，二维图像检测系统20对应具有自身的坐标系，定义为二维坐标系。通过获取待测点在检测图像中的像素位置，可以换算出待测点在二维坐标系的位置。

如图4所示，调平部件30具有承载面31，承载面31用于承载待测件100，调平部件30被配置为驱动承载面31绕第一方向和/或第二方向转动，以改变待测件100在第一坐标系下的姿态；第一坐标系可以为三维图像检测系统10的探测器坐标系，或者是检测装置的机台坐标系，通常情况下，探测器坐标系与机台坐标系可进行标定统一。例如，调平部件30还可以包括第一调节组件32与第二调节组件33，第一调节组件32用于驱动承载面31绕第一方向转动，第二调节组件33用于驱动承载面31绕第二方向转动。其中，承载面31上可以设有安装槽，安装槽用于安装并定位装夹组件，装夹组件用于装夹并限位待测件100，以使得不同的待测件100通过对应的装夹组件可以被固定在承载面31上。

控制器40被配置为控制三维图像检测系统10、二维图像检测系统20以及调平部件30工作，根据三维数据进行计算待测件100的姿态信息，根据姿态信息调整待测件100的空间姿态，在目标姿态下获取检测图像，另外，还可以通过检测图像至少进行待测件100的外形轮廓计算。

上面为检测装置的说明，下面针对检测方法进行具体说明。

在一些实施例中，本申请还提供一种检测方法，应用在上述实施例所述的检测装置，如图5所示，该检测方法可以包括：

步骤1、获取待测件100的三维数据。

步骤2、根据三维数据计算待测件100在第一坐标系下的姿态信息。

步骤3、根据姿态信息，驱动待测件100调整至目标姿态。

步骤5、获取待测件100位于目标姿态下的检测图像，检测图像为二维图像。

下面针对检测方法的各个步骤进行展开说明。

在一种实施例中，步骤1之前，检测方法还可以包括装置调整步骤以及待测件安装步骤。

装置调整步骤：对应第一坐标系将调平部件30进行调整，以使得第一方向与第一坐标系的第一轴(X轴)平行，且第二方向与第一坐标系的第二轴(Y轴)平行。

待测件安装步骤：根据目标姿态与第一坐标系的对应关系，将待测件100设置在调平部件30的承载面31上；调平部件30用于驱动待测件100绕第一方向和/或第二方向转动，以改变待测件100在第一坐标系下的姿态。

一些实施例中，由于待测件设置在承载面后具有一个初始姿态，为减少调整姿态的计算量与难度，可以采用以下方式将待测件设置在承载面下。

首先，确定在目标姿态下，待测件100的物体坐标系与第一坐标系之间的对应关系，确定在目标姿态下待测件的物体坐标系的第四轴(X轴)与所述第一坐标系的第一轴(X轴)的第一夹角，以及物体坐标系的第五轴(Y轴)与第一坐标系的第二轴(Y轴)的夹角。

然后，将待测件设置在调平部件的承载面上，以使得在初始姿态下物体坐标系的第四轴与所述第一坐标系的第一轴的第二夹角与所述第一夹角基本相同。在实际检测过程中，作业人员是可以通过目视或者装夹组件将待测件放置在承载面的初始姿态与目标姿态基本相同，至少将待测面基本朝向于二维探测器，在本申请中，初始姿态与目标姿态基本相同可以理解为通过目视已经基本看不出偏差，也就是待测件基本放平。

通过上述对待测件的初始姿态的控制，可以使得初始姿态尽量趋向于目标姿态，一方面是后续调节待测件的姿态需要的机械调节时间以及算法计算量减少，另一方面也是避免初始姿态与目标姿态过大，导致采用三维点云数据配准时，拟合误差过大，无法计算出初始姿态。最终使得更快的将待测件调整至目标姿态，完成检测图像的拍摄，提高整体的检测效率。

需要说明的是，在本申请中，第一坐标系可以是三维图像检测系统10的三维坐标系。在本申请实施例中，为了使得在后续步骤进行姿态调整中，减少运算的复杂程度，至少将调平部件30的两个调节方向与第一坐标系的两个轴对应调整，还可以调整承载面31的中心与第一坐标系的第三轴(Z轴)对准。

在上述待测件安装步骤中，结合现在的工业设计生产，待测件100通过预先设计有对应的设计模型，在设计的过程中已经建立有关于待测件100的物体坐标系，再根据设计模型进行生产得到待测件100，生产出来的待测件100，作业人员可以通过结合设计图纸或者设计模型，通过目视待测件的外形来判断其物体坐标系的第四轴(X轴)、第五轴(Y轴)以及第六轴(Z轴)的大致方向。这个也可以通过装夹组件来判断来实现，例如是装夹组件与待测件的外形匹配，以使得待测件只能以固定的姿态安装在装夹组件上，通过安装槽与装夹组件的对应关系，限制装夹组件以固定的姿态安装到安装槽上，最终使得待测件以固定的方向设置在调平部件上。

在本申请中，待测件100的目标姿态与第一坐标系的对应关系可以理解为，对于待测件的检测，具有指定的检测方法，假设待测件为方形面板时，理想状态下，其长度方向与二维图像检测系统的二维坐标系的X轴平行，宽度方向与Y轴平行，待测面正对二维探测器。因此，这个目标姿态对应物体坐标系与三维图像检测系统的第一坐标系的方向、角度都是可以计算得到的。在本申请中，通过装夹组件来实现上述效果，通过与待测件匹配的装夹组件，以使得待测件被设置在承载面后的初始姿态基本与目标姿态相同。

在一种实施例中，在目标姿态下，物体坐标系的第四轴与第一坐标系的第一轴平行，物体坐标系的第五轴与第一坐标系的第二轴平行。也就是说，待测件在进行设计的时候，物体坐标系对应检测时需要的目标姿态进行设置。

综上所述，由于调平部件的调节方向与三维图像检测系统的第一坐标系进行对应调整，待测件也基本按照目标姿态设置在调整部件上，调整待测件的空间姿态与调整承载面的空间姿态进行关联，如在调整待测件的滚动角时可以直接对应在第一方向转动，不需要对滚动角与第一方向的转动角度进行换算，简化调整待测件姿态的难度以及计算量。

根据上面的步骤进行检测装置的安装调整以及待测件100的安装后，下面可以进行待测件100的三维图像获取以及二维图像获取。

在一些实施例中，在步骤1中，控制器40通过控制三维图像检测系统10对放置在调平部件30上的待测件100的表面进行三维信息采集，生成对应的三维数据。其中，标准模型数据可以为设计模型数据，待测件100通过设计模型数据制造形成；或者，标准模型数据可以为标准待测件100在目标姿态下的三维数据。标准待测件100可以理解为外形尺寸合格的待测件100。

在一种实施例中，三维数据可以为三维点云数据；步骤2可以包括：

获取待测件100对应的标准模型数据，将三维点云数据与标准模型数据进行点云拟合配准；若拟合误差满足预设标准，则计算待测件100在第一坐标系下的姿态信息。例如是三维点云数据的配准误差小于10％则可以认为三维点云数据与标准模型数据匹配，进而计算待测件的当前姿态信息。

依据三维传感器的类型不同，得到的三维数据的具体形式对应不同，因此，进行三维数据与标准模型数据进行配准时，需要根据三维数据的具体形成，采用对应的配准算法，以提高配准的效率以及准确性。在本申请一些实施例中，当三维传感器采用图2所示的光谱共聚焦三维传感器时，三维数据对应可以为三维点云数据，此时可以采用点云拟合配准算法(例如Iterative Closest Point，简称ICP算法)进行自由曲面拟合，获取待测件100在第一坐标系下的姿态信息E和位置信息P。

当待测件的待测面为曲面时，需要采用三维数据配准的方式来确定空间姿态，此时需要三维数据与标准模型数据进行配准。当待测面为平面时，可以是直接根据三维数据计算待测面的法向量，根据法向量来调整空间姿态。

通过上述实施例检测方法可以获取到待测件100的当前姿态信息E，下面针对姿态调整进行具体说明。

在一种实施例中，步骤3可以包括：

根据姿态信息，得到待测件100的俯仰角与滚动角。

根据俯仰角以及滚动角，驱动待测件100分别绕第一方向以及第二方向转动，以调整至目标姿态。

如图7所示，经过调整后的待测件100空间姿态被调平，物体坐标系的Z轴与第一坐标系的Z轴平行，在此姿态下获得的检测图像能准确测量待测件的外形轮廓。

例如，通过对姿态信息E的矩阵进行欧拉角分解，分解顺序为Z轴、Y轴、X轴，分别得到待测件100的偏航角、俯仰角以及滚动角，其中，偏航角为Z轴转动角，滚动角为X轴转动角，俯仰角为Y轴转动角。根据对比当前的姿态信息E与目标姿态Es之间的俯仰角以及滚动角的差值，作为在第一方向与第二方向需要转动角度。当在目标姿态下，物体坐标系的第四轴与第一坐标系的第一轴平行，物体坐标系的第五轴与第一坐标系的第二轴平行时，目标姿态下的俯仰角以及滚动角对应为零，此时，当前的姿态的俯仰角以及滚动角对应为在第一方向与第二方向需要转动角度。同时，通过上述实施例的装置调整步骤以及待测件安装步骤，待测件100绕调平部件30的第一方向与第二方向的轴旋转与在第一坐标系下的旋转是起到相同的作用。

在一种实施例中，在步骤3之后，如图6所示，检测方法还可以包括步骤4，步骤4可以包括：

重新获取待测件100的姿态信息，得到待测件100在当前姿态下的俯仰角和滚动角。

将在当前姿态下的俯仰角和滚动角，与目标姿态下的俯仰角和滚动角进行比较，计算两个姿态之间的误差值。

若误差值满足预设误差标准，则确定待测件100已经运动至目标姿态。

若误差值不满足预设误差标准，则根据误差值调整待测件100的姿态；重新获取误差值，直至满足预设误差标准。

通过上述步骤4，可以重新获取待测件100的姿态信息，以此判断通过调平部件30进行调整后，待测件100的空间姿态是否调整至目标姿态。这是由于调平部件30存在精度，并不能确保已经将待测件100调整至目标姿态，需要进行确认，防止后续进行检测图像获取时，依旧存在正交投影误差。基于调平部件30的调整精度，通过对应精度设定预设误差标准，例如是俯仰角和滚动角的误差值小于或等于0.1°则视为调整至目标姿态。若未调整至目标姿态，根据重新获取的姿态信息进行待测件100的姿态调整，直至满足预设误差标准，之后再执行步骤5。

在一种实施例中，在确认拟合误差满足预设标准之后，检测方法还可以包括：

计算待测件100第一坐标系下的位置信息。根据第一坐标系下的位置信息P，结合第一坐标系与二维坐标系之间的对应关系，可以得到待测件100在二维坐标系下的位置信息P2。

在步骤5中的获取待测件100位于目标姿态下的检测图像，可以包括：

根据位置信息P，转换得到在二维坐标系下的位置信息P2，确定待测件100的扫描路径，按照扫描路径，获取待测件100位于目标姿态下的检测图像。

这是由于一些待测件100的外形尺寸超出二维图像检测系统20的单次拍摄范围，需要进行多次拍摄后才能得到待测件100的完整图像，因此，通过二维坐标系下的位置信息P2，可以确定二维图像传感器相对于待测件100的运动轨迹(扫描路径)。当待测件100的外形尺寸小时，可以是直接一次获取完成的检测图像，只需要根据在二维坐标系下的位置信息P2确定后续计算边缘轮廓的中心点即可(如待测件100的物体坐标系的原心)。

本申请通过调平部件30将三维图像检测系统10与二维图像检测系统20结合，利用三维传感器减少二维传感器固有的正交投影误差，提升了二维影像测量的精度，减少放置待测件100在Z轴方向的正交投影误差，对于管控产品外形轮廓度，图形位置度，长宽等的测量均有提升效果。在处理了正交投影误差后，二维影像测量的结果要比无矫正测量结果更精确，提升测量结果的重复性，同时相对于三坐标机器的探针测量速度上要更快，更能满足快速检测的需求。

另一方面，本申请在进行三维图像检测之前，通过采用装夹组件等方式，将待测件以基本与目标姿态相同的初始姿态设置在调平部件上，可以降低三维配准的难度以及提高配准效率，以提高对待测件的检测效率。

本申请提供的检测方法，通过终端设备来实现，终端设备可包括存储器与处理器。例如，终端设备可以是计算机、手机、服务器等具有运算、数据处理能力的设备。

存储器，用于存储程序。处理器，用于通过执行所述存储器存储的程序以实现如上述实施例所描述的检测方法。

本领域技术人员可以理解，上述实施方式中各种方法的全部或部分功能可以通过硬件的方式实现，也可以通过计算机程序的方式实现。当上述实施方式中全部或部分功能通过计算机程序的方式实现时，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括：只读存储器、随机存储器、磁盘、光盘、硬盘等，通过计算机执行该程序以实现上述功能。例如，将程序存储在设备的存储器中，当通过处理器执行存储器中程序，即可实现上述全部或部分功能。另外，当上述实施方式中全部或部分功能通过计算机程序的方式实现时，该程序也可以存储在服务器、另一计算机、磁盘、光盘、闪存盘或移动硬盘等存储介质中，通过下载或复制保存到本地设备的存储器中，或对本地设备的系统进行版本更新，当通过处理器执行存储器中的程序时，即可实现上述实施方式中全部或部分功能。

本文参照了各种示范实施例进行说明。然而，本领域的技术人员将认识到，在不脱离本文范围的情况下，可以对示范性实施例做出改变和修正。例如，各种操作步骤以及用于执行操作步骤的组件，可以根据特定的应用或考虑与系统的操作相关联的任何数量的成本函数以不同的方式实现(例如一个或多个步骤可以被删除、修改或结合到其他步骤中)。

虽然在各种实施例中已经示出了本文的原理，但是许多特别适用于特定环境和操作要求的结构、布置、比例、元件、材料和部件的修改可以在不脱离本披露的原则和范围内使用。以上修改和其他改变或修正将被包含在本文的范围之内。

前述具体说明已参照各种实施例进行了描述。然而，本领域技术人员将认识到，可以在不脱离本披露的范围的情况下进行各种修正和改变。因此，对于本披露的考虑将是说明性的而非限制性的意义上的，并且所有这些修改都将被包含在其范围内。同样，有关于各种实施例的优点、其他优点和问题的解决方案已如上所述。然而，益处、优点、问题的解决方案以及任何能产生这些的要素，或使其变得更明确的解决方案都不应被解释为关键的、必需的或必要的。本文中所用的术语“包括”和其任何其他变体，皆属于非排他性包含，这样包括要素列表的过程、方法、文章或设备不仅包括这些要素，还包括未明确列出的或不属于该过程、方法、系统、文章或设备的其他要素。此外，本文中所使用的术语“耦合”和其任何其他变体都是指物理连接、电连接、磁连接、光连接、通信连接、功能连接和/或任何其他连接。

具有本领域技术的人将认识到，在不脱离本发明的基本原理的情况下，可以对上述实施例的细节进行许多改变。因此，本发明的范围应仅由权利要求确定。

Claims (12)

1.一种检测方法，其特征在于，包括：

获取待测件的三维数据；

根据所述三维数据计算所述待测件在第一坐标系下的姿态信息；

根据所述姿态信息，驱动所述待测件调整至目标姿态；

获取所述待测件位于所述目标姿态下的检测图像，所述检测图像为二维图像。

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述三维数据为三维点云数据；根据所述三维数据计算所述待测件在第一坐标系下的姿态信息，包括：

获取所述待测件对应的标准模型数据；

将所述三维点云数据与所述标准模型数据进行点云拟合配准；若拟合误差满足预设标准，则计算所述待测件在第一坐标系下的姿态信息。

3.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，根据所述姿态信息，驱动所述待测件调整至目标姿态，包括：

根据所述姿态信息，得到所述待测件的俯仰角与滚动角；

根据所述俯仰角以及滚动角，驱动所述待测件分别绕第一方向以及第二方向转动，以调整至目标姿态。

4.如权利要求3所述的检测方法，其特征在于，驱动所述待测件调整至目标姿态之后，还包括：

重新获取所述待测件的姿态信息，得到所述待测件在当前姿态下的俯仰角和滚动角；

将在当前姿态下的俯仰角和滚动角，与所述目标姿态下的俯仰角和滚动角进行比较，计算两个姿态之间的误差值；

若所述误差值满足预设误差标准，则确定所述待测件已经运动至目标姿态；

若所述误差值不满足预设误差标准，则根据所述误差值调整所述待测件的姿态；重新获取所述误差值，直至满足预设误差标准。

5.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在驱动所述待测件调整至目标姿态之后，还包括：

计算所述待测件第一坐标系下的位置信息；

获取所述待测件位于所述目标姿态下的检测图像，包括：

根据所述位置信息，确定所述待测件的扫描路径，按照所述扫描路径，获取所述待测件位于所述目标姿态下的检测图像。

6.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在获取所述待测件的三维数据之前，还包括：

根据所述目标姿态与所述第一坐标系的对应关系，将所述待测件设置在调平部件的承载面上；所述调平部件用于驱动所述待测件绕第一方向和/或第二方向转动，以改变所述待测件在所述第一坐标系下的姿态。

7.如权利要求6所述的检测方法，其特征在于，根据所述目标姿态与所述第一坐标系的对应关系，将所述待测件设置在调平部件的承载面上，包括：

确定在目标姿态下所述待测件的物体坐标系的第四轴与所述第一坐标系的第一轴的第一夹角；

将所述待测件设置在调平部件的承载面上，以使得在初始姿态下所述物体坐标系的第四轴与所述第一坐标系的第一轴的第二夹角与所述第一夹角基本相同。

8.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，在所述目标姿态下，所述物体坐标系的第四轴与所述第一坐标系的第一轴平行，所述物体坐标系的第五轴与所述第一坐标系的第二轴平行。

9.如权利要求6所述的检测方法，其特征在于，在将所述待测件相对固定在调平部件的承载面上之前，还包括：

对应所述第一坐标系将所述调平部件进行调整，以使得所述第一方向与所述第一坐标系的第一轴平行，且所述第二方向与所述第一坐标系的第二轴平行。

10.一种检测装置，其特征在于，包括：

三维图像检测系统，被配置为获取待测件的三维图像，得到对应的三维数据；

二维图像检测系统，被配置为获取所述待测件的二维图像，得到检测图像；

调平部件，具有承载面，所述承载面用于承载所述待测件，所述调平部件被配置为驱动所述承载面绕第一方向和/或第二方向转动，以改变所述待测件在第一坐标系下的姿态；所述第一坐标系为所述三维图像检测系统的相机坐标系；

控制器，被配置为获取所述待测件的所述三维数据；根据所述三维数据计算所述待测件在第一坐标系下的姿态信息；根据所述姿态信息，驱动所述待测件调整至目标姿态；获取所述待测件位于所述目标姿态下的检测图像，所述检测图像为二维图像。

11.一种终端设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储程序；

处理器，用于通过执行所述存储器存储的程序以实现如权利要求1-9中任一项所述的方法。

12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述介质上存储有程序，所述程序能够被处理器执行以实现如权利要求1-9中任一项所述的方法。