CN117806893A - 一种存储器件异常数据的处理方法及存储器件 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种存储器件异常数据的处理方法及存储器件，所述处理方法包括：提供存储器件，存储器件包括主控制器和闪存芯片；在主控制器运行固件时，检测闪存芯片存储的关键参数信息，判断是否存在固件卡死标记；若存在固件卡死标记，使主控制器执行固件卡死处理指令；若不存在固件卡死标记，使主控制器执行资料读取指令，并判断指令执行是否异常；当资料读取指令执行正常时，使主控制器继续运行固件以读取资料数据；当资料读取指令执行异常时，记录当前位置的异常信息，并在当前位置的异常次数达到触发阈值时，使主控制器执行固件卡死标记指令。本发明可解决存储器频繁异常，无法正常运行的问题，可缩短固件优化时间。

Description

一种存储器件异常数据的处理方法及存储器件

技术领域

本发明涉及存储器件领域，特别是涉及一种存储器件异常数据的处理方法及存储器件。

背景技术

以NAND FLASH闪存作为存储介质的存储器，因Read Disturb（读干扰）和DataRetention（数据保持）等问题会造成电子的泄露，导致Error Bit增多。除此之外当NandFlash使用到寿命的后期，也会因为绝缘层的长期磨损，导致Error Bit增多。

存储器运行过程中，当读取NAND FLASH中资料出现异常时，即读到的资料UECC等，存储器的固件需要立即卡住，以便保护现有资料的可靠性。现有技术中，如果固件每次运行到同一个地方都卡住的话，即说明存储器已经无法保留数据并恢复正常运行。固件问题可能会导致主机乃至整个电子设备报废，损失重大。因此，存在待改进之处。

发明内容

本发明的目的在于提供一种存储器件异常数据的处理方法及存储器件，能够及时发现并解决存储设备的固件问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种存储器件，包括：

提供存储器件，所述存储器件包括主控制器和闪存芯片；

在所述主控制器运行固件时，检测所述闪存芯片存储的关键参数信息，判断是否存在固件卡死标记；

若存在固件卡死标记，使所述主控制器执行固件卡死处理指令；

若不存在固件卡死标记，使所述主控制器执行资料读取指令，并判断指令执行是否异常；

当所述资料读取指令执行正常时，使所述主控制器继续运行固件以读取资料数据；

当所述资料读取指令执行异常时，记录当前位置的异常信息，并在所述当前位置的异常次数达到触发阈值时，使所述主控制器执行固件卡死标记指令。

在本发明一实施例中，所述当所述资料读取指令执行异常时，记录当前位置的异常信息，并在所述当前位置的异常次数达到触发阈值时，使所述主控制器执行固件卡死标记指令的步骤，包括：

记录当前位置的异常信息，并根据所述异常信息，判断所述当前位置的异常次数是否达到触发阈值；

当所述当前位置的异常次数未达到触发阈值时，使所述主控制器执行固件恢复指令；

当所述当前位置的异常次数达到触发阈值时，使所述主控制器执行固件卡死标记指令。

在本发明一实施例中，所述当所述当前位置的异常次数未达到触发阈值时，使所述主控制器执行固件恢复指令的步骤，包括：

判断所述存储器件是否为可断电设备；

当所述存储器件为可断电设备时，使所述主控制器执行断电并重新上电操作；

当存储器件为不可断电设备时，使所述主控制器执行软件初始化。

在本发明一实施例中，所述当所述当前位置的异常次数达到触发阈值时，使所述主控制器执行固件卡死标记指令的步骤，包括：

使所述主控制器执行固件卡死标记指令，以在所述当前位置置起所述固件卡死标记；

以仿真日志格式，将当前时刻内存上所有的全局变量、以及寄存器存储在所述闪存芯片中。

在本发明一实施例中，所述若存在固件卡死标记，使所述主控制器执行固件卡死处理指令的步骤，包括：

通过主控制器接收并执行重置指令，以将所述闪存芯片恢复为出厂状态。

在本发明一实施例中，所述检测所述闪存芯片存储的关键参数信息的步骤包括：

读取所述闪存芯片存储的所述关键参数信息，并从所述关键参数信息中提取固件卡死标记信息。

在本发明一实施例中，所述以仿真日志格式，将当前时刻内存上所有的全局变量、以及寄存器存储在所闪存芯片中的步骤之后，包括：

采用软件初始化或者断电再上电的操作，使所述主控制器执行所述固件卡死处理指令。

本发明还提供一种存储器件，包括主控制器和闪存芯片，所述主控制器和所述闪存芯片电性连接，所述闪存芯片中存储有计算机指令，所述计算机指令被所述主控制器执行时实现如上述任一项所述的存储器件异常数据的处理方法。

在本发明一实施例中，所述闪存芯片包括：

关键参数存储单元，用以存储所述关键参数信息；

固件存储单元，用以存储固件；以及

日志存储单元，用以存储仿真日志数据。

在本发明一实施例中，所述关键参数存储单元包括：

映射表存储块，用以存储地址映射表；

标记信息存储块，用以存储固件卡死原因数据与固件卡死标记信息；以及

异常点信息存储块，用以存储异常的点在固件中的位置信息、出现异常的原因以及在该点处出现异常的次数数据。

如上所述，本发明的一种存储器件异常数据的处理方法及存储器件，具有以下有益效果：本发明可解决各种带有存储器件的电子平台频繁异常，不能够正常运行的问题，本发明可准确的定位到异常的原因，缩短固件优化升级的时间周期。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1显示为本发明提供的一种存储器件的结构示意图。

图2显示为本发明中关键参数存储单元的结构示意图。

图3显示为本发明提供的一种存储器件异常数据的处理方法的流程示意图。

图4显示为图3中步骤S600的一具体实施方式的流程示意图。

图5显示为图4中步骤S620的一具体实施方式的流程示意图。

元件标号说明

10、主机；20、存储器件；30、主控制器；40、闪存芯片；50、数据存储模块；60、关键参数存储单元；61、映射表存储块；62、标记信息存储块；63、异常点信息存储块；70、固件存储单元；80、日志存储单元。

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其它优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。还应当理解，本发明实施例中使用的术语是为了描述特定的具体实施方案，而不是为了限制本发明的保护范围。下列实施例中未注明具体条件的试验方法，通常按照常规条件，或者按照各制造商所建议的条件。

须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容所能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本发明可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更技术内容下，当亦视为本发明可实施的范畴。

首先需要说明的是，固件（Firmware）是指写入可擦写可编程只读存储器（Erasable ProgrammableRead-Only Memory，EPROM）或电可擦可编程只读存储器（Electrically Erasable Programmableread Only Memory，EEPROM）或快闪存储器（FLASHMemory）中的程序。通过固件，电子设备的操作系统才能按照标准的设备驱动程序实现机器的特定运行动作。固件是担任着一个操作系统最基础最底层工作的软件。而在硬件设备中，固件也直接影响了硬件设备的功能及性能。同时，固件还带有许多附加功能，如纠错技术、安全刻录技术、播放控制技术等。在存储技术中，应用到的固件逻辑复杂程度高，很可能出错，尤其是应用在嵌入式存储器（embedded Multi Media Card，eMMC）中，在终端用户的使用过程中或是下游厂商的测试过程中，出现固件问题后，很难对固件进行修复，往往会导致存储器甚至整个电子设备都报废。

请参阅图1，图1显示为本发明提供的一种存储器件20的结构示意图。在本发明的一个实施例中，存储器件20可包括主控制器30和闪存芯片40。主控制器30与闪存芯片40电性连接，主控制器30电性连接于主机10。其中，主机10可为计算机或者是数码设备。存储器件20可以是嵌入式存储器。闪存芯片40可包括数据存储模块50。其中，闪存芯片40可为NAND芯片，数据存储模块50可为闪存芯片40中的物理区块（block）构成的存储阵列。数据存储模块50具有非易失性，可用于存储用户数据。

请参阅图1，在本发明的一个实施例中，数据存储模块50可包括关键参数存储单元60、固件存储单元70和日志存储单元80。其中，关键参数存储单元60可用于存储存储器件20的关键参数信息，例如映射表信息以及固件的相关信息等。固件存储单元70可用于存储固件。在存储器件20出厂之前，可以将固件烧录在闪存芯片40中，形成固件存储单元70。日志存储单元80可以用于存储仿真日志数据。

请参阅图2，图2显示为本发明中关键参数存储单元60的结构示意图。在本发明的一个实施例中，关键参数存储单元60可为数据存储模块50中的部分物理区块，其可包括映射表存储块61、标记信息存储块62以及异常点信息存储块63。其中，映射表存储块61可用于存储地址映射表。根据地址映射表，可以从数据存储模块50中调取对应的数据。在数据存储模块50进行数据的读写时，在数据的逻辑地址和实际存储的物理地址之间建立映射关系，形成地址映射表，并将地址映射表存储在映射表存储块61中。当需要调取数据时，可以根据映射表存储块61中的对应地址映射表，根据数据的逻辑地址获取数据的物理地址，再根据数据的物理地址读出数据。

请参阅图2，在本发明的一个实施例中，标记信息存储块62可用于存储固件卡死原因数据与固件卡死标记信息。固件卡死标记表征固件中某一点卡死次数已达到或超过触发阈值。异常点信息存储块63可用于存储从NAND闪存中读取出异常的点在固件中的位置信息、出现异常的原因以及在该点处出现异常的次数。在存储器件20运行时，主控制器30根据主机10的控制指令，从固件存储单元70中调取对应的固件，并运行固件，执行固件的对应操作。当出现固件问题，例如固件部分语句出现逻辑错误或存储器件20的硬件特性问题导致的变数错误，主控制器30运行固件就无法执行对应的操作，并且还会出现数据错误甚至数据丢失，并且固件错误的情况还无法及时获知，因为固件问题导致的损失难以估量。因此，可以设置固件卡死标记以区别固件是否出现卡死问题，也可以存储固件卡死原因以便于追溯固件问题，提升固件的运行合理性。映射表存储块61、标记信息存储块62以及异常点信息存储块63可以是数据存储模块50中的一个或多个物理区块，也可以是数据存储模块50中的一个或多个物理页面（Page），本发明不限定关键信息存储单元60的大小。

请参阅图3，图3显示为本发明提供的一种存储器件异常数据的处理方法的流程示意图。本发明还提出了一种存储器件异常数据的处理方法，可应用于以上述存储器件中。本发明的存储器件异常数据的处理方法可以在存储器件20出现固件问题时，及时发现固件问题并对存储器件20进行修复，且可以应用于终端用户存储设备的修复和下游厂商的设备测试过程中。可包括有如下的步骤：

步骤S100、提供存储器件，存储器件包括主控制器和闪存芯片；

步骤S200、在主控制器运行固件时，检测闪存芯片存储的关键参数信息，判断是否存在固件卡死标记；

步骤S300、若存在固件卡死标记，使主控制器执行固件卡死处理指令；

步骤S400、若不存在固件卡死标记，使主控制器执行资料读取指令，并判断指令执行是否异常；

步骤S500、当资料读取指令执行正常时，使主控制器继续运行固件以读取资料数据；

步骤S600、当资料读取指令执行异常时，记录当前位置的异常信息，并在当前位置的异常次数达到触发阈值时，使主控制器执行固件卡死标记指令。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S100时，即提供存储器件，存储器件包括主控制器和闪存芯片。具体的，存储器件20可包括主控制器30和闪存芯片40。主控制器30与闪存芯片40电性连接，主控制器30电性连接于主机10。存储器件20可以是嵌入式存储器。闪存芯片40可包括数据存储模块50。其中，闪存芯片40可为NAND芯片，数据存储模块50可为闪存芯片40中的物理区块（block）构成的存储阵列。数据存储模块50具有非易失性，可用于存储用户数据。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S200时，即在主控制器运行固件时，检测闪存芯片存储的关键参数信息，判断是否存在固件卡死标记。具体的，存储器件20在上电后，可首先读取关键参数存储单元60中存储的存储器件20的关键参数信息，例如映射表信息以及固件相关信息等。本实施例中，关键参数存储单元60可包括映射表存储块61、标记信息存储块62以及异常点信息存储块63。其中，其中，映射表存储块61可用于存储地址映射表，根据地址映射表，可以从数据存储模块50中调取对应的数据。标记信息存储块62可用于存储固件卡死原因数据与固件卡死标记信息。异常点信息存储块63可用于存储从NAND闪存中读取处异常的点在固件中的位置信息、出现异常的原因以及在该点处出现异常的次数。主控制器30可读取闪存芯片40存储的关键参数信息，并从关键参数信息中提取固件卡死标记信息，从而判断是否存在固件卡死标记。设置固件卡死标记可以区别固件是否出现卡死问题，也可以存储固件卡死原因以便于追溯固件问题，提升固件的运行合理性。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S300时，即若存在固件卡死标记，使主控制器执行固件卡死处理指令。具体的，若标记信息存储块62存储有固件卡死标记信息，则表明固件已频繁异常，无法正常运行。此时，需使主控制器30执行固件卡死处理指令。本实施例中，当固件的同一个位置多次发生异常并被置起固件卡死标记后，可通过烧录机将存储器件20恢复出厂设置。

在本发明的一个实施例中，在存储器件20的固件存储单元70中设置有固件卡死处理指令。固件存储单元70中存储有固件卡死处理指令以及存储器件20的功能固件。功能固件为存储器件20中烧录的原始固件。通过对功能固件的运行，存储器件20可以配合主机10实现多种功能，从而实现数码设备的各项功能。功能固件在不同的数码设备和应用需求中都有变化，本发明对功能固件的具体语句不做限定。本实施例中，固件卡死处理指令可以是特定程序语句，且在存储器件20中，固件卡死处理指令为第一优先指令。例如，可以将固件卡死处理指令作为一种固件烧录在固件存储单元70中。当固件卡死处理指令被触发，功能固件将被搁置，存储器件20将持续执行固件卡死处理指令。并且，在执行固件卡死处理指令时，不影响存储器件20在功能固件被运行后所获得的固件数据。而在存储器件20中，由于功能固件较为复杂，出现固件问题的地方有多种可能性。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S400时至步骤S500时，即若不存在固件卡死标记，使主控制器执行资料读取指令，并判断指令执行是否异常；当资料读取指令执行正常时，使主控制器继续运行固件以读取资料数据。具体的，若标记信息存储块62未存储固件卡死标记信息，则表明固件运行正常。此时，可通主控制器30根据主机10的控制指令，从固件存储单元70中调取对应的功能固件，执行资料读取指令，并判断指令执行是否异常。例如，是否读到的资料UECC（uncorrectable ECC，即error bit超过ECC Threshold）等。当资料读取指令执行正常时，主控制器30可继续根据执行读取对应资料数据，并将读取到的资料数据传输至主机10。

请参阅图4，图4显示为图3中步骤S600的一具体实施方式的流程示意图。本发明的一个实施例中，当执行步骤S600时，即当资料读取指令执行异常时，记录当前位置的异常信息，并在当前位置的异常次数达到触发阈值时，使主控制器执行固件卡死标记指令。具体的，可包括步骤S610至步骤S630，详细介绍如下：

步骤S610、记录当前位置的异常信息，并根据异常信息，判断当前位置的异常次数是否达到触发阈值；

步骤S620、当当前位置的异常次数未达到触发阈值时，使主控制器执行固件恢复指令；

步骤S630、当当前位置的异常次数达到触发阈值时，使主控制器执行固件卡死标记指令。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S610时，即记录当前位置的异常信息，并根据异常信息，判断当前位置的异常次数是否达到触发阈值。具体的，当资料读取指令执行异常时，首先记录下发生固件异常的当前位置的异常信息，异常信息包括当前位置的位置信息、异常原因信息以及异常次数信息。然后，根据异常次数信息，判断当前位置的异常次数是否达到触发阈值。读取时出现异常时，会让固件卡住不继续往下运行，此时可通过让存储器Reset（重置）或者对存储器执行断电再上电等操作，让存储器可以再次正常运行起来。但是当固件再次运行到之前读取异常的位置时存在两种情况，其中，第一种情况为再次读取异常，继续让固件卡在同一个地方。第二种情况为可读取到正确的资料，让固件正常的继续运行。例如，存储器件因使用磨损过高导致读取UECC时，当再次运行到同一位置时，会再次发生读取异常。而当存储器件因温度异常导致读取UECC时，在存储器件恢复至至正常工作温度后，可通过执行固件恢复指令，使存储器件恢复正常读取。本发明增加了根据当前位置的异常次数是否达到触发阈值，来判断执行固件卡住或卡死的步骤，从而保护了存储资料的可靠性。本实施例中，触发阈值表征同一位置出现读取异常的最大次数，当固件卡在同一地方的次数达到触发阈值时，即说明白存储器已无法通过Reset或者断电再上电等操作救回来了。

请参阅图5，图5显示为图4中步骤S620的一具体实施方式的流程示意图。本发明的一个实施例中，当执行步骤S620时，即当当前位置的异常次数未达到触发阈值时，使主控制器执行固件恢复指令。具体的，可包括步骤S621至步骤S623，详细介绍如下：

步骤S621、判断存储器件是否为可断电设备；

步骤S622、当存储器件为可断电设备时，使主控制器执行断电并重新上电操作；

步骤S623、当存储器件为不可断电设备时，使主控制器执行软件初始化。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S621至步骤S623时。具体的，首先，可以根据用户终端的应用环境以及用户需求确认存储器件20，是否为可断电设备。例如，用户终端若为手机、平板等可以接受即时断电关机的设备，则判断存储器件20为可断电设备。例如，用户终端若为实验设备等不可即时断电关机的设备，断电可能会影响到实验数据的获取，则判断存储器件20为不可断电设备。本实施例中，可以在出厂前或是设备使用前将存储器件20设定为可断电设备或不可断电设备。在一些实施例中，也可以在用户终端的使用过程中，向用户询问是否接受立刻断电。若是本发明存储器件异常数据的处理方法应用于测试环境中，则可默认存储器件20为可断电设备。

在本发明的一个实施例中，若是存储器件20为可断电设备，则执行步骤S622，对存储器件20进行断电，使功能固件的运行进程回到初始端。本实施例中，主控制器30从闪存芯片40的固件存储单元70中调取功能固件的程序指令，再运行功能固件。主控制器30运行功能固件的过程中，若是发生断电，闪存芯片40中的存储数据能够保存，而主控制器30中的运行数据则会全部丢失。因此，对存储器件20断电，可以直接使功能固件的运行进程回到初始端。在复杂的功能固件中，断电可以快速中断功能固件的运行进程并使固件的运行进程回到初始端。然后，对存储器件20重新上电。

在本发明的一个实施例中，若是存储器件20为不可断电设备，则执行步骤S623，停止存储器件20的指令运行进程，进行软件初始化（Reset）。具体的，停止存储器件20的多个指令，使功能固件的运行进程回到初始端。其中，可以在固件存储单元70中预设回初始端指令。此时，主控制器30可以从固件存储单元70中获取回初始端指令，从而使功能固件的运行回到初始端。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S630时，即当当前位置的异常次数达到触发阈值时，使主控制器执行固件卡死标记指令。具体的，当当前位置的异常次数达到触发阈值时，说明白存储器已经没办法通过Reset（重置）或者断电再上电等操作救回来了。此时，可使存储器件执行固件卡死标记指令。本实施例中，存储器件首先使固件卡死，并在当前位置置起固件开始标记。同时，存储器件还会将当前RAM上所有有的全局变量、寄存器等以仿真日志的目的存储在NAND闪存里，以便固件设计者后续分析异常原因的时候作为参考，可以更快更准确的定位到异常的原因，缩短固件优化升级的时间周期。最后，采用Reset或者断电再上电等操作，使存储器件执行固件卡死处理指令。

在本发明的一个实施例中，当执行完成步骤S630之后，还需对置起固件开始标记的存储器件20进行采用软件初始化或者断电再上电的操作，使主控制器30采用软件初始化或者断电再上电的操作，使主控制器进入执行固件卡死处理指令，即处理固件卡死，执行步骤S300。

综上，本发明提出一种存储器件异常数据的处理方法及存储器件，本发明可解决各种带有存储器的电子平台频繁异常，不能够正常运行的问题。当同一个位置异常次数达到一定值之后，就会通过烧录机将存储器恢复出厂设置，然后可以让存储器可以继续正常运行；尤其是量级大的时候，不用将存储器从平台上取下修复，可以大大缩减修复成本。本发明在置起固件卡死标记的同时，还会将当前内存数据存储至闪存芯片中，以便固件设计者后续分析异常原因的时候作为参考，可以更快更准确的定位到异常的原因，缩短固件优化升级的时间周期。所以，本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。

Claims (10)

1.一种存储器件异常数据的处理方法，其特征在于，包括：

提供存储器件，所述存储器件包括主控制器和闪存芯片；

在所述主控制器运行固件时，检测所述闪存芯片存储的关键参数信息，判断是否存在固件卡死标记；

若存在固件卡死标记，使所述主控制器执行固件卡死处理指令；

若不存在固件卡死标记，使所述主控制器执行资料读取指令，并判断指令执行是否异常；

当所述资料读取指令执行正常时，使所述主控制器继续运行固件以读取资料数据；

当所述资料读取指令执行异常时，记录当前位置的异常信息，并在所述当前位置的异常次数达到触发阈值时，使所述主控制器执行固件卡死标记指令。

2.根据权利要求1所述的存储器件异常数据的处理方法，其特征在于，所述当所述资料读取指令执行异常时，记录当前位置的异常信息，并在所述当前位置的异常次数达到触发阈值时，使所述主控制器执行固件卡死标记指令的步骤，包括：

记录当前位置的异常信息，并根据所述异常信息，判断所述当前位置的异常次数是否达到触发阈值；

当所述当前位置的异常次数未达到触发阈值时，使所述主控制器执行固件恢复指令；

当所述当前位置的异常次数达到触发阈值时，使所述主控制器执行固件卡死标记指令。

3.根据权利要求2所述的存储器件异常数据的处理方法，其特征在于，所述当所述当前位置的异常次数未达到触发阈值时，使所述主控制器执行固件恢复指令的步骤，包括：

判断所述存储器件是否为可断电设备；

当所述存储器件为可断电设备时，使所述主控制器执行断电并重新上电操作；

当存储器件为不可断电设备时，使所述主控制器执行软件初始化。

4.根据权利要求2所述的存储器件异常数据的处理方法，其特征在于，所述当所述当前位置的异常次数达到触发阈值时，使所述主控制器执行固件卡死标记指令的步骤，包括：

使所述主控制器执行固件卡死标记指令，以在所述当前位置置起所述固件卡死标记；

以仿真日志格式，将当前时刻内存上所有的全局变量、以及寄存器存储在所述闪存芯片中。

5.根据权利要求1所述的存储器件异常数据的处理方法，其特征在于，所述若存在固件卡死标记，使所述主控制器执行固件卡死处理指令的步骤，包括：

通过主控制器接收并执行重置指令，以将所述闪存芯片恢复为出厂状态。

6.根据权利要求1所述的存储器件异常数据的处理方法，其特征在于，所述检测所述闪存芯片存储的关键参数信息的步骤包括：

读取所述闪存芯片存储的所述关键参数信息，并从所述关键参数信息中提取固件卡死标记信息。

7.根据权利要求4所述的存储器件异常数据的处理方法，其特征在于，所述以仿真日志格式，将当前时刻内存上所有的全局变量、以及寄存器存储在所闪存芯片中的步骤之后，包括：

采用软件初始化或者断电再上电的操作，使所述主控制器执行所述固件卡死处理指令。

8.一种存储器件，其特征在于，包括主控制器和闪存芯片，所述主控制器和所述闪存芯片电性连接，所述闪存芯片中存储有计算机指令，所述计算机指令被所述主控制器执行时实现如权利要求1至权利要求7任一项所述的存储器件异常数据的处理方法。

9.根据权利要求8所述的存储器件，其特征在于，所述闪存芯片包括：

关键参数存储单元，用以存储所述关键参数信息；

固件存储单元，用以存储固件；以及

日志存储单元，用以存储仿真日志数据。

10.根据权利要求9所述的存储器件，其特征在于，所述关键参数存储单元包括：

映射表存储块，用以存储地址映射表；

标记信息存储块，用以存储固件卡死原因数据与固件卡死标记信息；以及

异常点信息存储块，用以存储异常的点在固件中的位置信息、出现异常的原因以及在该点处出现异常的次数数据。