CN117792392A - 一种宽松条件下的adc动态参数测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明请求保护一种用于宽松测试条件下的ADC动态参数测试方法，该方法可使ADC的动态参数测试在非高精度设备下进行。该方法包括：削波序列识别与重构、数据预处理、ADC参数还原三部分。削波序列识别与重构包括：采集ADC输出削波序列，对序列进行分段，计算每段非相干削波序列的频率，然后基于最小二乘法获取原本ADC输入信号的关键参数以重新构建理想削波信号，得到残差序列。数据预处理部分包括：将首尾不连续的残差序列转变为首尾连续的相干序列，计算每段ADC输出序列的SNR、SINAD、ENOB、THD等性能参数。ADC参数还原部分：通过每段ADC输出序列的差值，估计ADC自身杂散分量，从ADC输出序列的性能参数中还原ADC器件的性能参数。
Description
技术领域
本发明属于集成电路测试领域，具体涉及一种测试ADC动态参数的方法，特别涉及一种宽松测试条件下的ADC动态参数测试方法。
背景技术
随着汽车电子、医疗、雷达通信、工业控制等领域的快速发展以及数字电路工作速度的提高，电子系统对信号灵敏度的要求越来越高，因此，模数转换器的性能成为了用来评估信号采集电路的关键因素之一。
ADC动态参数能够衡量器件对模拟信号的数字重构能力，用信噪比(Signal toNoise，SNR)、信纳比(Signal to Noise And Distortion，SINAD)、总谐波失真(TotalHarmonic Distortion，THD)、有效位数(Effective Number of Bits，ENOB)等参数表征。常用的动态参数测试方法有正弦拟合法和频谱分析法。其中正弦拟合法仅用于测试ADC有效位数，频谱分析法不仅能够测试ADC所有动态参数，而且还能够进行多频点测试，适用性更强。但是，对于高精度ADC的测试而言，这两种方法存在的挑战在于IEEE Standard 1057和IEEE Standard 1241针对测试有效性，所提出的严苛测试要求。其中包括，信号幅度、信号源纯度、信号源与时钟源的相干度。
对于非周期性序列而言，序列在进行离散傅里叶变换拓展时的相位不连续性将导致频谱分量出现拖尾、泄露等现象。因此，在业界中，通常采用高精度时钟源和信号源来控制采样的周期以及时钟频率与信号源的频率，或者在后端加入高效实用算法来减轻频谱泄露程度，常用的算法有窗函数法、相干替换法。窗函数法能够通过窗口函数增强ADC输出序列首尾的连续性，但是不同窗函数具有不同性能，只有在窗函数旁瓣衰减大于ADC底噪时才能有效抑制频谱泄露，准确获取频谱信息，算法设计难度大，对测试人员的专业性要求高。而对于相干替换法而言，只有在ADC实际输出序列和理想序列之间的残差不具备周期性时，才能够完美重构相干序列，不适用于具有周期性残差的削波序列。
测试标准对ADC动态测试的幅值要求是，输入信号幅度略低于ADC转换范围。但是，在实际测试中受设备老化和时钟抖动等因素影响，信号幅值可能会在噪声、抖动等影响下超过ADC限幅，波形出现削波失真，增加频谱杂散分量。因此，在测试中通常会使用高精密设备控制输入信号幅值，使其始终工作在ADC转换范围之下。对于现存的削波信号的频谱分析算法而言，其主要聚焦在削波信号的重构，测试准确度会随着削波失真的增大而降低。当为了提升测试效率，而考虑适用同组采样数据来进行ADC的静态和动态参数测试时，ADC静态测试的信号超量程需求将影响ADC动态测试结果。
除此之外，测试标准对信号源纯度的要求体现在，只有信号源线性度比被测ADC器件高3～4位时才能有效表征器件性能参数。因此，对16位高精度ADC进行测试时至少需要采用18位线性度的信号源。高线性度的信号源，不仅成本高而且设计难度大；在传统测试中所使用的信号源加模拟或者数字滤波器的组合，只能在某一范围内的信号源下使用，覆盖性较低，一旦信号源改变或者从ADC测试板噪声等级较高，测试结果将失去有效性。因此，通过不同幅值的采样信号来分离信号源杂散和ADC自身杂散成为了非标准测试条件下的一大选择，该方法能够有效抵消信号源噪声的前提是以测试效率为代价，不适用于ADC生产厂商的大规模测试。
在现有发明中，CN114966373A所提出的二重卷积算法虽然能够有效抑制非相干采样所带来的频谱泄露，但系统运算量较大，并且对于高精度ADC的测试而言，该方法仍需配套高精度信号源，而且还需要严格控制输入信号的幅值，避免抖动、串扰等客观因素导致输入信号幅值超过ADC转换范围，影响频谱参数。因此，为了解决传统测试对外部高精度设备的依赖，本发明从信号源线性度、幅度、相干度三方面出发，通过削波识别与重构、数据预处理、参数还原三步骤，来实现在低精度信号源下，超量程的非相干序列对ADC性能参数的测试。
发明内容
针对现有测试方法中存在的不足，本发明提出了一种用于宽松测试条件下的ADC动态参数测试方法，能够在信号源纯度、信号源和时钟源相干度不满足严苛测试条件的情况下，通过超量程信号实现ADC动态参数的测试。降低ADC测试原型机的设计成本的同时，提高市场上模数混合测试设备的测试范围，降低测试成本。
本发明的技术方案如下：
一种应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法，其包括以下步骤：
削波序列识别与重构步骤、数据预处理步骤及ADC参数还原步骤；其中，所述削波序列识别与重构步骤包括：削波序列识别步骤、削波序列重构步骤两部分；所述削波序列识别是指从ADC输出削波序列中识别出ADC输入信号的幅值、频率、相位以及直流偏置；所述削波序列重构步骤是指根据信号参数构建出无任何杂散分量的理想削波序列，以获得包含拟合误差、信号源杂散、ADC自身杂散的残差序列；
所述数据预处理步骤包括：通过重构削波信号提取残差，并将非相干的残差序列转变为首尾连续的相干序列，调整SNR、SINAD、THD、ENOB的计算方式，以减少频谱泄露和参数拟合误差的影响。
所述ADC参数还原步骤包括：根据各段数据在上述预处理步骤中所得与信号源杂散有关的SNR、SINAD、THD、ENOB参数差值，估计ADC内部随机噪声来计算与信号源杂散无关的ADC性能参数。
进一步的，所述削波序列识别步骤具体包括：
采集ADC输出序列，进行数字重构将输出码值序列转变为电压序列；
对ADC输出序列进行分段处理，分段点数至少包含10个采样周期，以准确反映信号频谱信息；
通过无高阶求反的频谱插值算法求输入信号频率：所得频率误差
Li＝(Lp+η),
其中，Y是频谱幅值、p是输入信号频率所对应的整数频谱索引值，η代表频谱能量泄露的大小，即频谱索引偏移值；Lp是输入信号频率所对应的整数频谱索引值；Li是输入信号频率实际所对应的频谱索引值；Fs是采样频率，N是每段序列的点数；Q是窗函数幅值的校正常数，使用两项汉宁窗时Q＝2；
通过最小二乘法拟合输入信号幅值A、相位直流偏置D0：
其中，E是ADC输出序列与输入信号所对应的拟合序列的方差、x(n)和x用于表示ADC输出削波序列、是拟合序列的频率、N是采样点数、D0是直流偏置、M是拟合序列的矩阵表达式、r对应ADC输出序列的拟合参数、/>是拟合序列的幅值、/>表示拟合序列的相位。A0和B0是表示拟合序列幅值和相位的参数。
进一步的，所述削波序列重构步骤具体包括：根据参数构建理想削波序列，获取ADC实际输出削波序列与理想削波序列之间的残差：
res(n)＝xin(n)-xclipping(n)
其中，xclipping(n)表示理想削波序列、Vfs表示ADC的满量程电压幅值、是ADC输入信号所对应的拟合序列、res(n)是ADC输出削波序列与理想削波序列的残差。
进一步的，所述数据预处理步骤包括：
将残差转换为首尾连续的相干序列，公式为：
Jint＝int(J),
J是根据每段序列点数所计算的采样周期，Jint为整数采样周期，Nnew为整数采样周期所对应的非整数序列点数，Nint为整数周期下的整数个序列点数，x(n)是ADC输出序列，w(n)是加强序列收敛性的汉宁窗；
对每段序列进行离散傅里叶变换，得到序列频域特性；
根据频域特性，计算每段ADC输出序列的性能参数；其中Ps Pn Ph分别代
、、表频谱基波功率、频谱噪声功率、频谱谐波功率；
SNR、THD、SINAD、ENOB分别表示输入信号经过ADC转换后所得序列的信噪比、总谐波失真、信纳比、有效位数。
进一步的，所述ADC参数还原步骤包括：
交叉计算各段序列间性能参数的差值，抵消信号源杂散分量，获取ADC自身随机杂散分量；
k2(Panr1-Panr2)＝Pn1-Pn2,
k2(Panr1-Panr2)＝Ph1-Ph2,
其中，SNRfs1代表直接由频谱计算所得的ADC输出序列参数，SNRadc是ADC自身性能参数，Pan_r是每段ADC输出序列中非信号源杂散成分,Panr是所估计的ADC自身杂散，Pn是频谱噪声功率；
取平均差值作为ADC自身随机杂散；
根据所估计的ADC自身的随机杂散和其固有量化噪声，作为计算ADC性能的参数；通过公式还原ADC自身性能参数:Prn是随机噪声功率，Pq是固有噪声功率Prh是随机谐波功率；
进一步的，所述数据预处理算法中，序列在进行离散傅里叶变换前，采用平均算法和线性拟合算法去除ADC输出序列中的直流成分和趋势项，使序列在坐标轴的零点上下均匀分布；
其中x(n)是ADC输出削波序列，y(n)是去除直流分量后的削波序列，k和b是对y(n)首尾进行拟合所得的拟合参数。
进一步的，所述ADC性能参数计算中，仅考虑残差序列中的偶次谐波，并且通过偶次谐波左右[-1，1]范围内谱线调整功率；
Ps＝(A+|Y(kp)|)2,
其中，h表示谐波次数、kh表示谐波频率所对应的频谱索引号、i是谐波索引号对应的左右索引值。
一种电子设备，其包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如任一项所述应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法。
一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其所述计算机程序被处理器执行时实现如任一项所述应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法。
一种计算机程序产品，包括计算机程序，其所述计算机程序被处理器执行时实现如任一项所述应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法。
本发明的优点及有益效果如下：
1、采用本发明上述方法可以达到如下有益效果：能够在信号相干度和纯度不满足标准测试条件的情况下，通过超量程信号测量ADC的动态性能参数，降低成本，提高测试效率。优点如下：
2、本方法的所使用的削波识别与重构算法，不仅能达到消除测试对输入信号幅值限制的目的，而且与传统重构算法相比，还可以降低频谱泄露和栅栏效应对参数拟合的影响，实现静态和动态测试共用一组采样数据；
3、本方法所使用的数据预处理算法，通过简单的采样公式变换即可增强残差序列的连续性，减少拟合误差和频谱泄露对频谱参数的影响，实现方式简单，且对具有周期特性残差而言，其泄露抑制效果好于相干替换；
4、本方法可以通过同一组采样序列抵消信号源杂散，获取ADC自身杂散，提高采样效率的同时，可使高精度ADC的测试能够在低精度信号源下进行。
附图说明
图1是本发明提供优选实施例方法的流程图。
图2为本发明所搭建的硬件系统框图。
图3为本发明在随机测试条件下的SNR、SINAD、THD、ENOB误差分布图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、详细地描述。所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例。
本发明解决上述技术问题的技术方案是：
本发明是一种应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法，样本点来自于ADC测试系统。
如附图2所示，ADC的动态参数测试系统由1、低精度信号源2、ADC测试板3、FPGA载板4、PC机5、DDR3存储模块6、以太网模块7、串口模块组成。
其中，FPGA载板作为核心处理器，用于控制、驱动外设模块、采集ADC输出序列，并且还要为ADC提供所需的采样时钟和电源。
连接方式为：低精度信号源1和FPGA载板3所产生的时钟源输入到被测ADC测试板2，ADC测试板2、串口模块7和DDR3模块5均接到FPGA载板3，以太网模块7分别连接到FPGA载板3和PC端4。
其工作流程为：电脑PC端通过以太网向FPGA载板传输信息，用以配置采样点数和采样频率，在FPGA接收到PC端传输的数据后驱动ADC进行采样工作，通过串口采集ADC输出序列，并将ADC输出序列存储到DDR3中，完成采样后FPGA载板再通过以太网将数ADC输出序列发送给PC端。
PC端接收到由FPGA载板所发送的ADC输出序列后，进行数据处理，计算ADC动态参数，步骤如下：
S1、将输出码值序列转变为电压序列；
S2、对ADC输出序列进行分段处理；
S3、通过非高阶求反的频谱插值算法求输入信号频率：
Li＝(Lp+η),
所得频率误差为：其中，η代表频谱能量泄露的大小，即频谱索引偏移值；Lp是输入信号频率所对应的整数频谱索引值；Li是输入信号频率实际所对应的频谱索引值；Fs是采样频率，N是每段序列的点数。Q是窗函数幅值的校正常数，使用两项汉宁窗时Q＝2。
S4、通过最小二乘法拟合输入信号幅值A、相位直流偏置D0：
S5、根据参数构建理想削波序列，获取ADC实际输出削波序列与理想削波序列之间的残差：
res(n)＝xin(n)-xclipping(n)
S6、将所述残差转换为首尾连续的相干序列，J是根据每段序列点数所计算的采样周期，Jint为整数采样周期，Nnew为整数采样周期所对应的非整数序列点数，Nint为整数周期下的整数个序列点数，x(n)是ADC输出序列，w(n)是加强序列收敛性的汉宁窗。
S7、采用平均算法和线性拟合算法去除ADC输出序列中的直流成分和趋势项。
其中x(n)是ADC输出削波序列，y(n)是去除直流分量后的削波序列，k和b是对y(n)首尾进行拟合所得的拟合参数。
S8、对每段序列进行离散傅里叶变换，得到序列频域特性；
S9、对谐波和基波功率进行调整，减少频谱泄露和拟合误差所带来的测试误差。
Ps＝(A+|Y(kp)|)2,
S10、根据频域特性，计算每段ADC输出序列的性能参数。其中Ps Pn Ph分别代表频谱基波功率、频谱噪声功率、频谱谐波功率。
S11、交叉计算各段序列间性能参数的差值，抵消信号源杂散分量，获取ADC自身随机杂散分量；
k2(Panr1-Panr2)＝Pn1-Pn2,
k2(Panr1-Panr2)＝Ph1-Ph2,
其中，SNRfs1代表直接由频谱计算所得的ADC输出序列参数，SNRadc是ADC自身性能参数，Pan_r是每段ADC输出序列中非信号源杂散成分,Panr是所估计的ADC自身杂散，Pn是频谱噪声功率。
S12、取平均差值作为ADC自身随机杂散，减少随机噪声所带来的误差影响；
S13、根据所估计的ADC自身的随机杂散和其固有量化噪声，作为计算ADC性能的参数；
k2(Pan_r1-Pan_r2)＝Pn1-Pn2,
k2(Pan_r1-Pan_r2)＝Ph1-Ph2,
S14、通过公式还原ADC自身性能参数:Prn是随机噪声功率，Pq是固有噪声功率Prh是随机谐波功率。
进一步的，根据以上所述算法所搭建的ADC测试框图如图1所示，包括：信号源、ADC测试板、载板、PC机、DDR3存储模块、以太网模块、串口模块构成。
进一步的，FPGA载板作为核心处理器，用于控制、驱动外设模块、采集ADC输出序列，为ADC提供采样时钟和电源；测试系统通过以太网配置采样点数和采样频率，在FPGA接收到PC端传输的数据后驱动ADC进行采样工作，然后将串口采集到的ADC输出序列存储到DDR3中，完成采样后FPGA通过以太网再将数据发送给PC端，由PC端完成权利要求1到权利3中所述算法。
进一步的，在所述的ADC测试系统下，在采样频率为200KHz，信号源分辨率为14位，采样点数为16384，输入信号幅值位为5.2V，ADC输出序列分为三段时，所测16位ADC芯片7606的性能参数SNR，SINAD，THD，ENOB与数据手册典型值相比，其误差分别为0.39dB，0.23dB，7.24dB，0.16位，THD虽与典型值具有较大误差，但仍在手册所给出的最小值与典型值范围内。
进一步的，在所述算法下，当信号源纯度SINAD、信号源幅度和泄露大小分别在75dB～95dB，5V～5.2V，0～0.5内随机产生时，500次随机实验的SNR、SINAD、THD、ENOB测试结果与理想参数之间的误差如图2所示。信噪比和信纳比误差集中分布在0～1dB内，有效位数误差集中分布在0～0.2内，受参数估计未考虑器件固有谐波失真影响，总谐波失真误差集中分布在0～5dB内。
将上述方法应用于ADC仿真测试中，采样频率为200KHz，采样点数为16200个，输入正弦波频率为1KHz，相位为60°，信号源的信纳比为80和时，所提算法在不同幅值下对ADC性能测试结果如表1和表2所示。当输入幅值为5.2V，信号源纯度为80dB时所测16位理想ADC的信噪比与严苛测试结果仅相差0.49dB，有效位数仅相差0.12，该误差受到参数拟合和噪声的随机性影响，在实际测试中可通过增加采样样本来减少随机误差。
表1 80dB纯度下所提算法所得ADC参数
根据测试所得SNR、SINAD、THD、ENOB参数值，可以看出，本申请算法所得结果与理想ADC的参考值非常接近，表明本申请算法能够在非严苛测试条件下测量ADC的动态参数。
上述实施例阐明的系统、装置、模块或单元，具体可以由计算机芯片或实体实现，或者由具有某种功能的产品来实现。一种典型的实现设备为计算机。具体的，计算机例如可以为个人计算机、膝上型计算机、蜂窝电话、相机电话、智能电话、个人数字助理、媒体播放器、导航设备、电子邮件设备、游戏控制台、平板计算机、可穿戴设备或者这些设备中的任何设备的组合。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上这些实施例应理解为仅用于说明本发明而不用于限制本发明的保护范围。在阅读了本发明的记载的内容之后，技术人员可以对本发明作各种改动或修改，这些等效变化和修饰同样落入本发明权利要求所限定的范围。
Claims (10)
1.一种应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
削波序列识别与重构步骤、数据预处理步骤及ADC参数还原步骤；其中，所述削波序列识别与重构步骤包括：削波序列识别步骤、削波序列重构步骤两部分；所述削波序列识别是指从ADC输出削波序列中识别出ADC输入信号的幅值、频率、相位以及直流偏置；所述削波序列重构步骤是指根据信号参数构建出无任何杂散分量的理想削波序列，以获得包含拟合误差、信号源杂散、ADC自身杂散的残差序列；
所述数据预处理步骤包括：通过重构削波信号提取残差，并将非相干的残差序列转变为首尾连续的相干序列，调整SNR、SINAD、THD、ENOB的计算方式，以减少频谱泄露和参数拟合误差的影响；
所述ADC参数还原步骤包括：根据各段数据在上述预处理步骤中所得与信号源杂散有关的SNR、SINAD、THD、ENOB参数差值，估计ADC内部随机噪声来计算与信号源杂散无关的ADC性能参数。
2.根据权利要求1所述的一种应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法，其特征在于，所述削波序列识别步骤具体包括：
采集ADC输出序列，进行数字重构将输出码值序列转变为电压序列；
对ADC输出序列进行分段处理，分段点数至少包含10个采样周期，以准确反映信号频谱信息；
通过无高阶求反的频谱插值算法求输入信号频率：所得频率误差
Li＝(Lp+η),
其中，Y是频谱幅值、p是输入信号频率所对应的整数频谱索引值，η代表频谱能量泄露的大小，即频谱索引偏移值；Lp是输入信号频率所对应的整数频谱索引值；Li是输入信号频率实际所对应的频谱索引值；Fs是采样频率，N是每段序列的点数；Q是窗函数幅值的校正常数，使用两项汉宁窗时Q＝2；
通过最小二乘法拟合输入信号幅值A、相位直流偏置D0：
其中，E是ADC输出序列与输入信号所对应的拟合序列的方差，x(n)和x用于表示ADC输出削波序列，是拟合序列的频率，N是采样点数，D0是直流偏置，M是拟合序列的矩阵表达式，r对应ADC输出序列的拟合参数，/>是拟合序列的幅值，/>表示拟合序列的相位，A0和B0是表示拟合序列幅值和相位的参数。
3.根据权利要求2所述的一种应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法，其特征在于，所述削波序列重构步骤具体包括：根据参数构建理想削波序列，获取ADC实际输出削波序列与理想削波序列之间的残差：
res(n)＝x(n)-xclipping(n)
其中，xclipping(n)表示理想削波序列，Vfs表示ADC的满量程电压幅值，是ADC输入信号所对应的拟合序列，res(n)是ADC输出削波序列与理想削波序列的残差。
4.根据权利要求3所述的一种应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法，其特征在于，所述数据预处理步骤包括：
将残差转换为首尾连续的相干序列，公式为：
J是根据每段序列点数所计算的采样周期，Jint为整数采样周期，Nnew为整数采样周期所对应的非整数序列点数，Nint为整数周期下的整数个序列点数，x(n)是ADC输出序列，w(n)是加强序列收敛性的汉宁窗；
对每段序列进行离散傅里叶变换，得到序列频域特性；
根据频域特性，计算每段ADC输出序列的性能参数；其中Ps、Pn、Ph分别代表频谱基波功率、频谱噪声功率、频谱谐波功率；
SNR、THD、SINAD、ENOB分别表示输入信号经过ADC转换后所得序列的信噪比、总谐波失真、信纳比、有效位数。
5.根据权利要求1所述的一种应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法，其特征在于，所述ADC参数还原步骤包括：
交叉计算各段序列间性能参数的差值，抵消信号源杂散分量，获取ADC自身随机杂散分量；
k2(Panr1-Panr2)＝Pn1-Pn2,
k2(Panr1-Panr2)＝Ph1-Ph2,
其中，SNRfs1代表直接由频谱计算所得的ADC输出序列参数，SNRadc是ADC自身性能参数，Pan_r是每段ADC输出序列中非信号源杂散成分,Panr是所估计的ADC自身杂散，Pn是频谱噪声功率；
取平均差值作为ADC自身随机杂散；
根据所估计的ADC自身的随机杂散和其固有量化噪声，作为计算ADC性能的参数SNRadc、THDadc、SINADadc、ENOBadc；通过公式还原ADC自身性能参数:Prn是随机噪声功率，Pq是固有噪声功率Prh是随机谐波功率；
6.根据权利要求4所述的一种应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法，其特征在于，所述数据预处理算法中，序列在进行离散傅里叶变换前，采用平均算法和线性拟合算法去除ADC输出序列中的直流成分和趋势项，使序列在坐标轴的零点上下均匀分布；
其中x(n)是ADC输出削波序列，y(n)是去除直流分量后的削波序列，是序列无趋势项的削波序列，k和b是对y(n)首尾进行拟合所得的拟合参数。
7.根据权利要求6所述的一种应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法，其特征在于，所述ADC性能参数计算中，仅考虑残差序列中的偶次谐波，并且通过偶次谐波左右[-1，1]范围内谱线调整功率；
Ps＝(A+|Y(Lp)|)2,
其中，h表示谐波次数、kh表示谐波频率所对应的频谱索引号、i是谐波索引号对应的左右索引值。
8.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任一项所述应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法。
9.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法。
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法。
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