CN117746056A - 一种查找屏体标记的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种查找屏体标记的方法，工业相机采集屏体上的mark图像，所述mark图像为四个矩形块呈矩形阵列布置，对采集到的mark图像进行预处理，得到轮廓清晰的mark图像；查找mark图像中所有矩形块的轮廓并保存；对查找的所述轮廓与屏体mark模板进行形状匹配，保留满足条件的轮廓，实现形状匹配，根据保存的轮廓，计算整体mark图像的中心位置及角度。本发明将屏体mark轮廓特征作为一个整体，在待测图像上来寻找与其轮廓相似的轮廓通过对屏体mark图像进行预处理，查找轮廓并对轮廓进行形状匹配，达到了准确查找屏体mark效果，在mark图像有残缺时，如有1个方块不清晰，也能够准确找到mark位置及角度。
Description
技术领域
本发明涉及一种查找屏体标记的方法。
背景技术
在检测屏体缺陷过程中，需要将屏体点亮进行拍照检测。为了确保屏体能够点亮就要准确完成屏体和FPC(柔性电路板)的对位，即将屏体的mark(标记)与FPC的mark准确对位，如图4。这就要求精确查找屏体mark和FPC的mark，以实现精确对位
由于在屏体与FPC对位时，采集的屏体mark图像质量较差，导致mark不清晰或者有残缺，因此，存在无法准确查找屏体mark的问题。
发明内容
本发明是为了解决上述现有技术存在的问题而提供一种查找屏体标记的方法。
本发明所采用的技术方案有：
一种查找屏体标记的方法，包括如下步骤：
1)工业相机采集屏体上的mark图像，所述mark图像为四个矩形块呈矩形阵列布置，对采集到的mark图像进行预处理，得到轮廓清晰的mark图像；
2)查找mark图像中所有矩形块的轮廓并保存；
3)对步骤2)查找的所述轮廓与屏体mark模板进行形状匹配，保留满足条件的轮廓，实现形状匹配，根据保存的轮廓，计算整体mark图像的中心位置及角度。
进一步地，mark图像中矩形块的轮廓与屏体mark模板进行匹配的过程具体为：
31)首先获取屏体mark模板中四个方块的轮廓X以及所有方块的平均面积Y；
32)计算mark图像中每个矩形块的轮廓M和对应方块的轮廓X的匹配得分S；
33)计算每个矩形块的面积A，保留每个矩形块面积A在对应方块面积Y的80％～120％的部分，即保留满足0.8*Y≤A≤1.2*Y的轮廓；
34)计算经步骤32)-33)筛选后的mark图像中轮廓的数量N，当数量N≥3时，进行如下判定：
计算轮廓M中心点与mark图像中其他轮廓中心点的距离d，判定min(a,b)≤d≤c，并保存满足此条件轮廓的数量m1；
其中，所述a为mark图像中横向两个矩形块之间的中心距离，b为mark图像中纵向两个矩形块之间的中心距离，c为mark图像中两个对角矩形块之间的中心距离；
当m1≥2时，保存当前轮廓K；
根据保存的轮廓K，计算整体mark图像的中心位置及角度。
进一步地，步骤32)中，采用平方差匹配法计算每个轮廓M和轮廓X的匹配得分S，得分范围为[0,1],将S≤0.5的保留用于后续判定。
进一步地，步骤1)中，对采集到的mark图像进行预处理，包括如下过程：
11)将采集到的mark图像转换为灰度图像的过程；
12)Kernel滤波的过程；
13)膨胀处理的过程；
14)腐蚀处理的过程；
15)自适应二值化处理的过程。
本发明具有如下有益效果：
本发明将屏体mark轮廓特征作为一个整体，在待测图像上来寻找与其轮廓相似的轮廓通过对屏体mark图像进行预处理，查找轮廓并对轮廓进行形状匹配，达到了准确查找屏体mark效果，在mark图像有残缺时，如有1个方块不清晰，也能够准确找到mark位置及角度。
附图说明
图1为本发明流程图。
图2为mark图像中矩形块的轮廓与屏体mark模板进行匹配的流程图。
图3为屏体mark模板中四个方块的示意图。
图4为现有技术中屏体的mark与FPC的mark的结构图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步的说明。
如图1所示，本发明一种查找屏体标记的方法，包括如下步骤：
1)工业相机采集屏体上的mark图像，所述mark图像为四个矩形块呈矩形阵列布置，对采集到的mark图像进行预处理，得到轮廓清晰的mark图像。
预处理，包括如下过程,：
11)将采集到的mark图像转换为灰度图像的过程；
12)Kernel滤波的过程；
13)膨胀处理的过程；
14)腐蚀处理的过程；
15)自适应二值化处理的过程。
2)查找mark图像中所有矩形块的轮廓并保存。
3)对步骤2)查找的所述轮廓与屏体mark模板进行形状匹配，具体为，如图2和图3：
31)首先获取屏体mark模板中四个方块的轮廓X以及所有方块的平均面积Y；X中包含4个轮廓x1、x2、x3、x4,即4个方块的轮廓；如图3，根据mark模板，可得到内部方块1和2中心距离a，2和3的中心距离为b，1和3的距离中心为c。
32)采用平方差匹配法，计算每个轮廓M和轮廓X的匹配得分S，该得分取与轮廓x1、x2、x3、x4匹配的最低分，得分范围为[0,1],越接近于0，相似性越高，将S≤0.5的保留用于后续判定。计算每个轮廓M和模板轮廓X的匹配得分S
T(x′，y′)--屏体mark模板的像素值
I(x+x′，y+y′)--mark图像的像素值
R(x，y)--所述模板与图像的平方差，即匹配得分。
33)计算每个矩形块的面积A，保留每个矩形块面积A在对应方块面积Y的80％～120％的部分，即保留满足0.8*Y≤A≤1.2*Y的轮廓；
34)计算经步骤32)-33)筛选后的mark图像中轮廓的数量N，当数量N≥3时，进行如下判定：
计算轮廓M中心点与mark图像中其他轮廓中心点的距离d，判定min(a,b)≤d≤c，并保存满足此条件轮廓的数量m1；
当m1≥2时，保存当前轮廓K；
根据保存的轮廓K，计算整体mark的位置及角度，一般K的数量为3或者4，直接根据3个或4个轮廓的最外轮廓计算mark图像中心位置和角度。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下还可以作出若干改进，这些改进也应视为本发明的保护范围。
Claims (4)
1.一种查找屏体标记的方法，其特征在于：包括如下步骤：
1）工业相机采集屏体上的mark图像，所述mark图像为四个矩形块呈矩形阵列布置，对采集到的mark图像进行预处理，得到轮廓清晰的mark图像；
2）查找mark图像中所有矩形块的轮廓并保存；
3）对步骤2）查找的所述轮廓与屏体mark模板进行形状匹配，保留满足条件的轮廓，实现形状匹配，根据保存的轮廓，计算整体mark图像的中心位置及角度。
2.如权利要求1所述的查找屏体标记的方法，其特征在于：mark图像中矩形块的轮廓与屏体mark模板进行匹配的过程具体为：
31）首先获取屏体mark模板中四个方块的轮廓X以及所有方块的平均面积Y；
32）计算mark图像中每个矩形块的轮廓M和对应方块的轮廓X的匹配得分S；
33）计算每个矩形块的面积A，保留每个矩形块面积A在对应方块面积Y的80%~120%的部分，即保留满足0.8*Y≤A≤1.2*Y的轮廓；
34）计算经步骤32）-33）筛选后的mark图像中轮廓的数量N，当数量N≥3时，进行如下判定：
计算轮廓M中心点与mark图像中其他轮廓中心点的距离d，判定min(a,b)≤d≤c，并保存满足此条件轮廓的数量m1；
其中，所述a为mark图像中横向两个矩形块之间的中心距离，b为 mark图像中纵向两个矩形块之间的中心距离，c为mark图像中两个对角矩形块之间的中心距离；
当m1≥2时，保存当前轮廓K；
根据保存的轮廓K，计算整体mark图像的中心位置及角度。
3.如权利要求2所述的查找屏体标记的方法，其特征在于：步骤32）中，采用平方差匹配法计算每个轮廓M和轮廓X的匹配得分S，得分范围为[0,1],将S≤0.5的保留用于后续判定。
4.如权利要求1所述的查找屏体标记的方法，其特征在于：步骤1）中，对采集到的mark图像进行预处理，包括如下过程：
11）将采集到的mark图像转换为灰度图像的过程；
12）Kernel滤波的过程；
13）膨胀处理的过程；
14）腐蚀处理的过程；
15）自适应二值化处理的过程。
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