CN117706141A - 一种用于电子元器件的检测装置及方法 - Google Patents

一种用于电子元器件的检测装置及方法 Download PDF

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CN117706141A CN202410162723.5A CN202410162723A CN117706141A CN 117706141 A CN117706141 A CN 117706141A CN 202410162723 A CN202410162723 A CN 202410162723A CN 117706141 A CN117706141 A CN 117706141A
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Abstract

本发明涉及电子元器件技术领域,提供一种用于电子元器件的检测装置及方法,包括支撑座和电子元器件本体,支撑座上安装有工作台,工作台上开设有工作腔,工作腔的内底部设置有便于放置电子元器件的推动槽,推动槽内设置有推动组件。本发明在使用的过程中,利用推动组件将电子元器件在推动槽内移动,并且在推动槽的指定位置利用清理组件对电子元器件中的引脚进行清理干净,然后再通过检测组件的升降板带动探针下降与单子元器件中的引脚接触,同时升降板在下降时会使支撑组件中的支撑块升起,当探针与引脚接触的同时,支撑块正好对引脚进行稳固支撑,使探针与引脚之间的接触效果更佳,从而提高电子元器件检测的效果。

Description

一种用于电子元器件的检测装置及方法
技术领域
本发明涉及电子元器件技术领域,具体为一种用于电子元器件的检测装置及方法。
背景技术
电子元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分,其本身常由若干零件构成,可以在同类产品中通用,常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件,如电容、晶体管、游丝、发条等电子器件的总称。
现有技术中,公开号为“CN215525901U”的中国专利公开了一种用于电力电子元器件生产的检测装置,通过转动把手,把手带动转盘转动,转盘带动第三螺纹杆转动,第三螺纹杆带动与其外部螺纹连接的第三螺纹套筒左右移动,第三螺纹套筒通过安装块带动第一转动杆绕着安装块和第一转动杆的连接处转动,使得单侧两个弧形夹持板相对或相背移动,从而达到了对不同尺寸的电子元器件进行夹持的目的,解决了现有的电力电子元器件生产的检测装置在使用时,电子元器件由于形状大小不一致,在检测时,容易出现与检测装置出现固定不牢固的情况,同时无法对检测的准确位置进行快速调节,进而降低了检测效率,影响检测精确度的问题。
但现有技术仍存在较大不足,如:
在对电子元器件进行检测时,通常是利用专用的检测探针与电子元器件中的引脚接触从而进行检测,为了提高电子元器件的检测效率,会使用专用的检测装置进行检测,但是一些检测装置中通常会利用升降机构带动探针进行升降,从而方便探针与引脚接触,为了使探针与引脚接触的效果更佳,升降机构会将探针的针头下降低于引脚上端面的低度,但是由于探针在电子元器件上是悬空设置的,这样容易使引脚发生形变严重时会导致损坏,并且当引脚上有灰尘时,灰尘会导致探针针头无法与引脚完全接触,这样就会导致检测出来的结构不准确。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于电子元器件的检测装置及方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种用于电子元器件的检测装置,包括支撑座和电子元器件本体,所述支撑座上安装有工作台,所述工作台上开设有工作腔,所述工作腔的内底部设置有便于放置电子元器件的推动槽,所述推动槽内设置有推动组件,通过所述推动组件便于对推动槽内的电子元器件进行位置调整;
所述工作腔的内底部设置有检测组件,所述检测组件包括探针,通过所述探针与电子元器件本体上的引脚接触,从而完成对电子元器件的检测;
所述推动槽的内底部设置有支撑组件,通过所述支撑组件便于对待检测的电子元器件本体上的引脚进行支撑。
优选的,所述推动组件包括电机,所述电机的输出端固定安装有螺纹杆,所述螺纹杆上活动安装有推动板,所述推动槽的内底部设置有配合推动板限位滑动的滑动槽,通过所述电机的驱动,使所述推动板推动电子元器件在推动槽移动。
优选的,所述检测组件还包括第一电动推杆,所述第一电动推杆的输出端固定安装有升降板,所述升降板上固定安装有限位块,所述工作腔的内侧面开设有与限位块配合使用的限位槽,所述升降板上固定安装有检测块,所述探针安装在检测块上,通过所述第一电动推杆的驱动,使所述检测块上的探针与所述电子元器件上的引脚接触。
优选的,所述支撑组件包括升降槽,所述升降槽内滑动安装有支撑块,所述支撑块的侧端面固定安装有定位滑块,所述定位滑块上固定安装有弹簧,所述升降槽的内侧面开设有与定位滑块配合使用的定位滑槽,所述升降槽的内底部设置有推动组件,通过所述推动组件便于推动支撑块升起。
优选的,所述推动组件包括安装在安装槽内底部的第一气垫,所述第一气垫上连通有分流管,所述分流管远离第一气垫的一端连通有导流管,所述导流管远离第一气垫的一端连通有第二气垫,所述第二气垫的位置安装在限位槽的内底部,通过升降板的下降,使所述第一气垫内的气体进入到第二气垫中。
优选的,所述推动槽的内侧面开设有收集槽,所述收集槽内固定安装有第二电动推杆,所述第二电动推杆的输出轴上固定安装有移动板,所述移动板的上端面安装有定位滑杆,所述定位滑杆的顶端与工作腔的内顶部滑动安装,所述移动板上设置有清理组件,通过所述清理组件便于将电子元器件中引脚上的灰尘进行清理。
优选的,所述清理组件包括马达和转动轴,所述马达安装在移动板上,所述转动轴转动安装在移动板上,所述转动轴处于马达的外侧,所述马达的输出轴上固定安装有主动齿轮,所述转动轴的侧端面固定安装有从动齿轮,所述转动轴的底端固定安装有转板,所述转板上设置有清理毛,所述主动齿轮与从动齿轮啮合,通过所述马达的驱动,使所述清理毛处于转动的状态。
优选的,所述移动板上设置有导流组件,所述导流组件包括第三气垫,所述第三气垫安装在移动板与电子元器件接触的侧端面上,所述第三气垫上连通有通管,所述通管远离第三气垫的一端安装有导风块,所述导风块内设置有导风腔,所述导风块安装在移动板的下端面,通过所述第三气垫与电子元器件相互挤压,使所述第三气垫内的气体通过导风块吹向清理毛。
优选的,所述移动板的下端面固定安装有挡板,所述移动板上固定安装有伸缩帘,所述伸缩帘远离移动板的一端安装在收集槽内。
一种检测方法,基于上述中所描述的任意一项所述的一种用于电子元器件的检测装置,包括以下步骤;
S1:使用时,将待检测的电子元器件放入到推动槽,然后通过推动组件将电子元器推动到便于清理组件清理的位置即可;
S2:然后通过第二电动推杆推动移动板上的清理组件使其处于电子元器件中引脚的上方,同时通过清理组件中的清理毛对引脚上的灰尘进行清理,并且移动板与电子元器件之间的第三气垫会通过两者的持续接近挤压导流组件中的第三气垫,第三气垫中的气体会进入到导流块中的导流腔内,最后通过导流块上的排放口吹向清理毛,清理毛清理的灰尘会进入到收集槽内收集;
S3:电子元器件中的引脚清理完毕之后,电子元器件会通过推动组件持续移动,然后将电子元器件推动到待检测的位置,通过检测组件中的升降板的下降,使探针接触电子元器件中的引脚从而进行检测,在升降板下降的过程中,升降板上的限位块挤压支撑组件中的第二气垫,第二气垫中的气体会进入到第一气垫中,第一气垫鼓起时会推动支撑块,当第二气垫中的气体完全进入到第一气垫中时,支撑块正好对电子元器件中的引脚进行支撑;
S4:当对电子元器件检测完毕之后,通过推动组件中的推动板可以直接将电子元器件从推动槽的出口推出,然后推动板恢复到原先的位置,便于对下一个电子元器件进行检测。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1.本发明中,通过检测组件中的升降板带动探针下降,使探针与电子元器件中的引脚接触进行检测,同时升降板在下降时会挤压支撑组件中的第二气垫,当第二气垫中的气体完全进入到第一气垫时,由于第一气垫的鼓起会带动支撑块升起,当探针与引脚接触的同时,支撑块正好对引脚进行稳固支撑,使探针与引脚之间的接触效果更佳,从而提高电子元器件检测的效果;
2.本发明中,当电子元器件在往检测组件的位置进行移动的过程中,通过第二电动推杆推动移动板上的清理组件使其处于电子元器件中引脚的上方,并且移动板缓慢接近电子元器件,然后清理组件中的清理毛对电子元器件中的引脚表面进行清理,避免引脚表面灰尘影响到探针与引脚之间的接触,从而提高探针对引脚的接触效果;
3.本发明中,当移动板在移动的过程中,处于移动板与电子元器件之间的第三气垫会受到持续挤压,处于第三气垫中的气体会通过通管持续进入到导风块中的导风腔,最后导风腔内的气体通过导风块上的出口持续吹向清理毛,清理毛清理下来的灰尘会进入到收集槽内,有效的避免灰尘飞溅造成引脚表面二次污染,提高清理组件的清理效果。
附图说明
图1为本发明整体结构立体结构示意图;
图2为本发明的内部结构示意图;
图3为本发明中的剖视图;
图4为本发明中检测组件的结构示意图;
图5为本发明中推动组件的结构示意图;
图6为本发明中移动刮板的结构示意图;
图7为本发明中移动板的内部结构示意图;
图8为本发明中导流组件的结构示意图。
图中:1、支撑座;2、电子元器件本体;3、工作台;4、工作腔;5、推动槽;6、探针;7、电机;8、螺纹杆;9、推动板;10、第一电动推杆;11、升降板;12、限位块;13、限位槽;14、检测块;15、升降槽;16、支撑块;17、定位滑块;18、弹簧;19、第一气垫;20、分流管;21、导流管;22、第二气垫;23、收集槽;24、第二电动推杆;25、移动板;26、定位滑杆;27、马达;28、转动轴;29、主动齿轮;30、从动齿轮;31、转板;32、清理毛;33、第三气垫;34、通管;35、导风块;36、挡板;37、伸缩帘。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-图8,本发明提供一种技术方案:
实施例一:请参阅图1-图5,一种用于电子元器件的检测装置,包括支撑座1和电子元器件本体2,支撑座1上安装有工作台3,工作台3上设置有PLC控制器和位移传感器等,通过PLC控制器和位移传感器便于控制推动板9推动电子元器件在推动槽5内的位置,具体操作步骤为现有技术,在此处不作具体赘述,工作台3上开设有工作腔4,工作腔4的内底部设置有便于放置电子元器件的推动槽5,推动槽5内设置有推动组件,通过推动组件便于对推动槽5内的电子元器件进行位置调整,推动组件包括电机7,电机7的输出端固定安装有螺纹杆8,螺纹杆8上活动安装有推动板9,推动槽5的内底部设置有配合推动板9限位滑动的滑动槽,通过电机7的驱动,使推动板9推动电子元器件在推动槽5移动;
工作腔4的内底部设置有检测组件,检测组件包括探针6,通过探针6与电子元器件本体2上的引脚接触,从而完成对电子元器件的检测,检测组件还包括第一电动推杆10,第一电动推杆10的输出端固定安装有升降板11,升降板11上固定安装有限位块12,工作腔4的内侧面开设有与限位块12配合使用的限位槽13,限位槽13内安装有升降帘,该升降帘的工作原理和伸缩帘37的工作原理相同,通过升降帘保证第二气垫22不会从限位槽13脱落,升降板11上固定安装有检测块14,探针6安装在检测块14上,通过第一电动推杆10的驱动,使检测块14上的探针6与电子元器件上的引脚接触;
推动槽5的内底部设置有支撑组件,通过支撑组件便于对待检测的电子元器件本体2上的引脚进行支撑,支撑组件包括升降槽15,升降槽15内滑动安装有支撑块16,支撑块16的侧端面固定安装有定位滑块17,定位滑块17上固定安装有弹簧18,升降槽15的内侧面开设有与定位滑块17配合使用的定位滑槽,弹簧18远离定位块的一端安装在定位滑槽的内底部,升降槽15的内底部设置有推动组件,通过推动组件便于推动支撑块16升起。
推动组件包括安装在安装槽内底部的第一气垫19,第一气垫19上连通有分流管20,分流管20远离第一气垫19的一端连通有导流管21,导流管21远离第一气垫19的一端连通有第二气垫22,第二气垫22的位置安装在限位槽13的内底部,通过升降板11的下降,使第一气垫19内的气体进入到第二气垫22中。
本实施例中,通过检测组件中的升降板11带动探针6下降,使探针6与电子元器件中的引脚接触进行检测,同时升降板11在下降时会挤压支撑组件中的第二气垫22,当第二气垫22中的气体完全进入到第一气垫19时,由于第一气垫19的鼓起会带动支撑块16升起,当探针6与引脚接触的同时,支撑块16正好对引脚进行稳固支撑,使探针6与引脚之间的接触效果更佳,从而提高电子元器件检测的效果。
实施例二:请参阅图6-图7,在实施例一的基础上,为了使探针6与电子元器件中的引脚接触的效果更佳,通过清理组件来实现这个效果,推动槽5的内侧面开设有收集槽23,收集槽23内固定安装有第二电动推杆24,第二电动推杆24的输出轴上固定安装有移动板25,移动板25的下端面固定安装有挡板36,挡板36的数量为两个,且对称安装在移动板25上,移动板25上固定安装有伸缩帘37,该伸缩帘37的具体结构为现有结构,在此处不作具体赘述,伸缩帘37远离移动板25的一端安装在收集槽23内,移动板25的上端面安装有定位滑杆26,定位滑杆26的顶端与工作腔4的内顶部滑动安装,移动板25上设置有清理组件,通过清理组件便于将电子元器件中引脚上的灰尘进行清理。
清理组件包括马达27和转动轴28,马达27安装在移动板25上,转动轴28转动安装在移动板25上,转动轴28处于马达27的外侧,马达27的输出轴上固定安装有主动齿轮29,转动轴28的侧端面固定安装有从动齿轮30,移动板25的内部设置有转动槽,主动齿轮29和从动齿轮30的位置均处于转动槽的内部,转动轴28的底端固定安装有转板31,转板31的位置处于移动板25的外侧,转板31上设置有清理毛32,主动齿轮29与从动齿轮30啮合,通过马达27的驱动,使清理毛32处于转动的状态。
本实施例中,当电子元器件在往检测组件的位置进行移动的过程中,通过第二电动推杆24推动移动板25上的清理组件使其处于电子元器件中引脚的上方,并且移动板25缓慢接近电子元器件,然后清理组件中的清理毛32对电子元器件中的引脚表面进行清理,避免引脚表面灰尘影响到探针6与引脚之间的接触,从而提高探针6对引脚的接触效果。
实施例三:请参阅图8,在实施例一的基础上,为了避免清理毛32清理的灰尘飞溅,通过导流组件来实现这个效果,移动板25上设置有导流组件,导流组件包括第三气垫33,第三气垫33安装在移动板25与电子元器件接触的侧端面上,第三气垫33上连通有通管34,通管34远离第三气垫33的一端安装有导风块35,导风块35内设置有导风腔,导风腔与外界是连通的,同时通管34远离第三气垫33的一端与导风腔连通,导风块35安装在移动板25的下端面,通过第三气垫33与电子元器件相互挤压,使第三气垫33内的气体通过导风块35吹向清理毛32。
本实施例中,当移动板25在移动的过程中,处于移动板25与电子元器件之间的第三气垫33会受到持续挤压,处于第三气垫33中的气体会通过通管34持续进入到导风块35中的导风腔,最后导风腔内的气体通过导风块35上的出口持续吹向清理毛32,清理毛32清理下来的灰尘会进入到收集槽23内,有效的避免灰尘飞溅造成引脚表面二次污染,提高清理组件的清理效果。
一种检测方法,基于上述中所描述的一种用于电子元器件的检测装置,包括以下步骤;
S1:使用时,将待检测的电子元器件放入到推动槽5,然后通过推动组件将电子元器推动到便于清理组件清理的位置即可;
S2:然后通过第二电动推杆24推动移动板25上的清理组件使其处于电子元器件中引脚的上方,同时通过清理组件中的清理毛32对引脚上的灰尘进行清理,并且移动板25与电子元器件之间的第三气垫33会通过两者的持续接近挤压导流组件中的第三气垫33,第三气垫33中的气体会进入到导流块中的导流腔内,最后通过导流块上的排放口吹向清理毛32,清理毛32清理的灰尘会进入到收集槽23内收集;
S3:电子元器件中的引脚清理完毕之后,电子元器件会通过推动组件持续移动,然后将电子元器件推动到待检测的位置,通过检测组件中的升降板11的下降,使探针6接触电子元器件中的引脚从而进行检测,在升降板11下降的过程中,升降板11上的限位块12挤压支撑组件中的第二气垫22,第二气垫22中的气体会进入到第一气垫19中,第一气垫19鼓起时会推动支撑块16,当第二气垫22中的气体完全进入到第一气垫19中时,支撑块16正好对电子元器件中的引脚进行支撑;
S4:当对电子元器件检测完毕之后,通过推动组件中的推动板9可以直接将电子元器件从推动槽5的出口推出,然后推动板9恢复到原先的位置,便于对下一个电子元器件进行检测
工作原理:
在使用时,使用时,将待检测的电子元器件放入到推动槽5,然后通过电机7的驱动带动螺纹杆8转动,螺纹杆8上的推动板9通过推动槽5的限位发生水平移动,通过推动板9便于将电子元器推动到便于清理组件清理的位置;
当电子元器件处于清理组件的位置时,通过第二电动推杆24推动移动板25,使移动板25上的清理组件处于电子元器件中引脚的上方,通过马达27的驱动带动主动齿轮29转动,再通过主动齿轮29与从动齿轮30啮合从而带动从动齿轮30转动,从动齿轮30通过转动轴28同步带动转板31转动,转板31在转动时会带动清理毛32转动,通过清理毛32对引脚上的灰尘进行清理;
并且移动板25与电子元器件之间的第三气垫33会通过两者的持续接近挤压导流组件中的第三气垫33,第三气垫33中的气体会进入到导流块中的导流腔内,最后导流腔内的气体会通过导流块上的排放口吹向清理毛32,清理毛32清理的灰尘会进入到收集槽23内收集;
电子元器件中的引脚清理完毕之后,电子元器件会通过推动板9的作用持续移动,然后将电子元器件推动到待检测的位置,通过第一电动推杆10带动升降板11下降,使检测块14上的探针6接触电子元器件中的引脚从而进行检测,在升降板11下降的过程中,升降板11上的限位块12会在限位槽13内滑动,当限位块12下降到一定高度时,限位块12会挤压第二气垫22,第二气垫22中的气体会通过导流管21和分流管20进入到第一气垫19中,第一气垫19鼓起时会推动支撑块16,当第二气垫22中的气体完全进入到第一气垫19中时,支撑块16正好对电子元器件中的引脚进行支撑;
当对电子元器件检测完毕之后,通过电机7的作用使得推动板9可以直接将电子元器件从推动槽5的出口推出,然后推动板9恢复到原先的位置,便于对下一个电子元器件进行检测,同时第一电动推杆10带动升降板11恢复原先的位置,升降块会通过弹簧18的作用恢复到原先的位置,并且鼓起的第一气垫19通过升降块的挤压,第一气垫19中的气体会通过分流管20和导流管21进入到第二气垫22中。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种用于电子元器件的检测装置,包括支撑座(1)和电子元器件本体(2),其特征在于:所述支撑座(1)上安装有工作台(3),所述工作台(3)上开设有工作腔(4),所述工作腔(4)的内底部设置有便于放置电子元器件的推动槽(5),所述推动槽(5)内设置有推动组件,通过所述推动组件便于对推动槽(5)内的电子元器件进行位置调整;
所述工作腔(4)的内底部设置有检测组件,所述检测组件包括探针(6),通过所述探针(6)与电子元器件本体(2)上的引脚接触,从而完成对电子元器件的检测;
所述推动槽(5)的内底部设置有支撑组件,通过所述支撑组件便于对待检测的电子元器件本体(2)上的引脚进行支撑;
所述推动组件包括电机(7),所述电机(7)的输出端固定安装有螺纹杆(8),所述螺纹杆(8)上活动安装有推动板(9),所述推动槽(5)的内底部设置有配合推动板(9)限位滑动的滑动槽,通过所述电机(7)的驱动,使所述推动板(9)推动电子元器件在推动槽(5)移动;
所述支撑组件包括升降槽(15),所述升降槽(15)内滑动安装有支撑块(16),所述支撑块(16)的侧端面固定安装有定位滑块(17),所述定位滑块(17)上固定安装有弹簧(18),所述升降槽(15)的内侧面开设有与定位滑块(17)配合使用的定位滑槽,所述升降槽(15)的内底部设置有推动组件,通过所述推动组件便于推动支撑块(16)升起。
2.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件的检测装置,其特征在于:所述检测组件还包括第一电动推杆(10),所述第一电动推杆(10)的输出端固定安装有升降板(11),所述升降板(11)上固定安装有限位块(12),所述工作腔(4)的内侧面开设有与限位块(12)配合使用的限位槽(13),所述升降板(11)上固定安装有检测块(14),所述探针(6)安装在检测块(14)上,通过所述第一电动推杆(10)的驱动,使所述检测块(14)上的探针(6)与所述电子元器件上的引脚接触。
3.根据权利要求2所述的一种用于电子元器件的检测装置,其特征在于:所述推动组件包括安装在安装槽内底部的第一气垫(19),所述第一气垫(19)上连通有分流管(20),所述分流管(20)远离第一气垫(19)的一端连通有导流管(21),所述导流管(21)远离第一气垫(19)的一端连通有第二气垫(22),所述第二气垫(22)的位置安装在限位槽(13)的内底部,通过升降板(11)的下降,使所述第一气垫(19)内的气体进入到第二气垫(22)中。
4.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件的检测装置,其特征在于:所述推动槽(5)的内侧面开设有收集槽(23),所述收集槽(23)内固定安装有第二电动推杆(24),所述第二电动推杆(24)的输出轴上固定安装有移动板(25),所述移动板(25)的上端面安装有定位滑杆(26),所述定位滑杆(26)的顶端与工作腔(4)的内顶部滑动安装,所述移动板(25)上设置有清理组件,通过所述清理组件便于将电子元器件中引脚上的灰尘进行清理。
5.根据权利要求4所述的一种用于电子元器件的检测装置,其特征在于:所述清理组件包括马达(27)和转动轴(28),所述马达(27)安装在移动板(25)上,所述转动轴(28)转动安装在移动板(25)上,所述转动轴(28)处于马达(27)的外侧,所述马达(27)的输出轴上固定安装有主动齿轮(29),所述转动轴(28)的侧端面固定安装有从动齿轮(30),所述转动轴(28)的底端固定安装有转板(31),所述转板(31)上设置有清理毛(32),所述主动齿轮(29)与从动齿轮(30)啮合,通过所述马达(27)的驱动,使所述清理毛(32)处于转动的状态。
6.根据权利要求5所述的一种用于电子元器件的检测装置,其特征在于:所述移动板(25)上设置有导流组件,所述导流组件包括第三气垫(33),所述第三气垫(33)安装在移动板(25)与电子元器件接触的侧端面上,所述第三气垫(33)上连通有通管(34),所述通管(34)远离第三气垫(33)的一端安装有导风块(35),所述导风块(35)内设置有导风腔,所述导风块(35)安装在移动板(25)的下端面,通过所述第三气垫(33)与电子元器件相互挤压,使所述第三气垫(33)内的气体通过导风块(35)吹向清理毛(32)。
7.根据权利要求6所述的一种用于电子元器件的检测装置,其特征在于;所述移动板(25)的下端面固定安装有挡板(36),所述移动板(25)上固定安装有伸缩帘(37),所述伸缩帘(37)远离移动板(25)的一端安装在收集槽(23)内。
8.一种检测方法,基于上述权利要求1-7任意一项所述的一种用于电子元器件的检测装置,其特征在于,包括以下步骤;
S1:使用时,将待检测的电子元器件放入到推动槽(5),然后通过推动组件将电子元器推动到便于清理组件清理的位置即可;
S2:然后通过第二电动推杆(24)推动移动板(25)上的清理组件使其处于电子元器件中引脚的上方,同时通过清理组件中的清理毛(32)对引脚上的灰尘进行清理,并且移动板(25)与电子元器件之间的第三气垫(33)会通过两者的持续接近挤压导流组件中的第三气垫(33),第三气垫(33)中的气体会进入到导流块中的导流腔内,最后通过导流块上的排放口吹向清理毛(32),清理毛(32)清理的灰尘会进入到收集槽(23)内收集;
S3:电子元器件中的引脚清理完毕之后,电子元器件会通过推动组件持续移动,然后将电子元器件推动到待检测的位置,通过检测组件中的升降板(11)的下降,使探针(6)接触电子元器件中的引脚从而进行检测,在升降板(11)下降的过程中,升降板(11)上的限位块(12)挤压支撑组件中的第二气垫(22),第二气垫(22)中的气体会进入到第一气垫(19)中,第一气垫(19)鼓起时会推动支撑块(16),当第二气垫(22)中的气体完全进入到第一气垫(19)中时,支撑块(16)正好对电子元器件中的引脚进行支撑;
S4:当对电子元器件检测完毕之后,通过推动组件中的推动板(9)可以直接将电子元器件从推动槽(5)的出口推出,然后推动板(9)恢复到原先的位置,便于对下一个电子元器件进行检测。
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