CN117693728A - 电容检测电路、触摸显示装置和电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供了一种电容检测电路、触摸显示装置和电子设备。电容检测电路应用于包括检测电极和阴极的触摸显示装置，电容检测电路包括：检测通道、参考通道和信号调整模块；检测通道用于接收检测电极输出的电容检测信号，并将电容检测信号输出至信号调整模块；参考通道用于接收阴极输出的干扰信号，并将干扰信号输出至信号调整模块；信号调整模块用于对电容检测信号进行放大处理，并基于历史去噪电容检测信号对干扰信号进行放大处理，使放大后的干扰信号与放大后的电容检测信号中的噪声信号相匹配，并对放大后的干扰信号和放大后的电容检测信号进行差分后输出去噪电容检测信号，从而对放大后的电容检测信号中的噪声信号进行降噪处理。

Description

电容检测电路、触摸显示装置和电子设备

本申请要求申请日为2022年12月28日、申请号为“PCT/CN2022/142932”、专利名称为“电容检测电路、触控芯片和电子设备”的PCT申请的优先权，其全部内容通过应用结合在本申请中。

技术领域

本申请实施例涉及电子技术领域，尤其涉及一种电容检测电路、触摸显示装置和电子设备。

背景技术

当前，智能终端的AMOLED(Active-Matrix OLED，有源驱动式有机发光二极体)屏幕的使用率越来越高，AMOLED屏幕又分为硬屏和软屏，随着市场的需求，软屏的使用越来越普及。AMOLED屏幕为软屏时，由于屏幕的触摸传感器与屏幕的阴极的距离近，所以触摸传感器与屏幕的阴极之间将产生较大的耦合电容，从而导致屏幕的触摸传感器通过阴极耦合大量来自屏幕显示面板的显示干扰，严重影响触控性能。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供一种电容检测电路、触摸显示装置和电子设备，至少部分解决上述问题。

根据本申请实施例的第一方面，提供了一种电容检测电路，应用于触摸显示装置，所述触摸显示装置包括检测电极和阴极，所述电容检测电路包括：检测通道、参考通道和信号调整模块；所述检测通道，用于接收所述检测电极输出的电容检测信号，并将所述电容检测信号输出至所述信号调整模块；所述参考通道，用于接收所述阴极输出的干扰信号，并将所述干扰信号输出至所述信号调整模块；所述信号调整模块，用于对所述电容检测信号进行放大处理，并基于历史去噪电容检测信号对所述干扰信号进行放大处理，使放大后的所述干扰信号与放大后的所述电容检测信号中的噪声信号相匹配，并对放大后的所述干扰信号和放大后的所述电容检测信号进行差分后输出去噪电容检测信号。

在一种可能的实现方式中，所述电容检测电路还包括控制模块；所述控制模块用于获取所述历史去噪电容检测信号，并根据所述历史去噪电容检测信号，调整所述信号调整模块对所述干扰信号进行放大的倍数。

在一种可能的实现方式中，所述信号调整模块包括第一调整模块、第二调整模块和差分模块；所述控制模块用于根据所述历史去噪电容检测信号，向所述第一调整模块发送第一控制信号；所述第一调整模块，用于根据第一控制信号对所述干扰信号进行放大处理，并将放大后的所述干扰信号输出至所述差分模块；所述第二调整模块，用于对所述电容检测信号进行放大处理，并将放大后的所述电容检测信号输出至所述差分模块；所述差分模块用于对放大后的所述干扰信号和放大后的所述电容检测信号进行差分，以去除所述电容检测信号中的噪声，输出所述去噪电容检测信号。

在一种可能的实现方式中，所述第一调整模块包括第一放大器和阻值可调的第一电阻；所述第一放大器的同相输入端与所述参考通道电连接，所述第一放大器的反相输入端通过第一支路接地，所述第一放大器的输出端与所述差分模块电连接；所述第一电阻包括第一连接端、第二连接端和控制端；所述第一连接端与所述第一放大器的输出端电连接，所述第二连接端与所述第一支路电连接，所述控制端与所述控制模块电连接；所述第二调整模块包括第二放大器和第二电阻；所述第二放大器的同相输入端与所述检测通道电连接，所述第二放大器的反相输入端通过第二支路接地，所述第二放大器的输出端与所述差分模块电连接；所述第二电阻的第一端与所述第二放大器的输出端电连接，所述第二电阻的第二端与所述第二支路电连接。

在一种可能的实现方式中，所述第一支路还包括第三电阻，所述第三电阻的第一端与所述第一电阻和所述第一支路的连接节点电连接，所述第三电阻的第二端接地；所述第二支路还包括第四电阻，所述第四电阻的第一端与所述第二电阻和第二支路的连接节点电连接，所述第四电阻的第二端接地。

在一种可能的实现方式中，所述差分模块包括全差分电路，所述全差分电路的第一输入端与所述第二调整模块的输出端电连接，所述全差分电路的第二输入端与所述第一调整模块的输出端电连接。

在一种可能的实现方式中，所述信号调整模块包括差分差值放大器；所述控制模块用于根据所述历史去噪电容检测信号，向所述差分差值放大器发送第二控制信号；差分差值放大器，用于根据所述第二控制信号对所述干扰信号进行放大处理，以及对所述电容检测信号进行放大处理，并将放大后的所述干扰信号和放大后的所述电容检测信号进行差分，以去除所述电容检测信号中的噪声，输出所述去噪电容检测信号。

在一种可能的实现方式中，所述差分差值放大器包括第一同相输入端、第一反相输入端、第二同相输入端、第二反相输入端，所述第一同相输入端与所述检测通道电连接，所述第一反相输入端与所述参考通道电连接，所述第二同相输入端通过第四支路接地、所述第二反相输入端通过第三支路接地；所述信号调整模块还包括阻值可调的第五电阻，所述第五电阻包括第三连接端、第四连接端和控制端；所述第三连接端与所述差分差值放大器的第一输出端电连接，所述第四连接端与所述第三支路电连接，所述控制端与所述控制模块电连接；其中，所述差分差值放大器的第一输出端用于输出所述去噪电容检测信号；所述信号调整模块还包括第六电阻，所述第六电阻的第一端与所述差分差值放大器的第二输出端电连接，所述第六电阻的第二端与所述第四支路电连接，其中，所述差分差值放大器的第二输出端用于输出经过所述差分差值放大器处理后的所述干扰信号。

在一种可能的实现方式中，所述第三支路还包括第七电阻，所述第七电阻的第一端与所述第五电阻和所述第三支路的连接节点电连接，所述第七电阻的第二端接地；所述第四支路还包括第八电阻，所述第八电阻的第一端与所述第六电阻和所述第四支路的连接节点电连接，所述第八电阻的第二端接地。

在一种可能的实现方式中，所述电容检测电路还包括第九电阻，所述第九电阻的第一端与所述信号调整模块和所述参考通道的连接节点电连接，所述第九电阻的第二端与上拉电源连接或者接地；所述电容检测电路还包括第十电阻，所述第十电阻的第一端与所述信号调整模块与所述检测通道的连接节点电连接，所述第十电阻的第二端与所述上拉电源连接或者接地。

在一种可能的实现方式中，所述参考通道为面板裂纹检测通道。

在一种可能的实现方式中，所述电容检测电路包括至少两个所述检测通道和所述信号调整模块，其中，所述信号调整模块与所述检测通道一一对应。

在一种可能的实现方式中，各所述信号调整模块共用一个所述参考通道

根据本申请实施例的第二方面，提供了一种触摸显示装置，包括检测电极、阴极以及如上面任一实施例所述的电容检测电路。

根据本申请实施例的第三方面，提供了一种电子设备，包括如上面任一实施例所述的触摸显示装置。

本申请实施例中，可以通过检测通道接收检测电极输出的电容检测信号，并将电容检测信号输出至信号调整模块，通过参考通道，接收阴极输出的干扰信号，并将干扰信号输出至信号调整模块，通过信号调整模块对电容检测信号进行放大处理，并可以以信号调整模块反馈的历史去噪电容检测信号为参考依据对干扰信号进行放大处理，使放大后的干扰信号与放大后的电容检测信号中的显示噪声相匹配，并对放大后的干扰信号和放大后的电容检测信号进行差分，从而保证电容检测信号中的显示噪声能被放大后的干扰信号尽可能地抵消，以减少显示面板的干扰对触控的不利影响。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请实施例中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的一种触摸显示装置的触摸面板100的结构示意图；

图2是本申请实施例提供的一种电容检测电路的结构框图；

图3是本申请实施例提供的另一种电容检测电路的结构框图；

图4是本申请实施例提供的又一种电容检测电路的结构框图；

图5是本申请实施例提供的一种电容检测电路的电路示意图；

图6是一种现有的放大器的结构示意图；

图7是本申请实施例提供的第一放大器和现有放大器的幅频特性曲线对比示意图；

图8是本申请实施例提供的又一种电容检测电路的电路示意图；

图9是本申请实施例提供的又一种电容检测电路的电路示意图；

图10是本申请实施例提供的又一种电容检测电路的结构框图；

图11是本申请实施例提供的又一种电容检测电路的电路示意图；

图12是本申请实施例提供的又一种电容检测电路的电路示意图；

图13是本申请实施例提供的又一种电容检测电路的电路示意图；

图14是本申请实施例提供的又一种电容检测电路的电路示意图；

图15是本申请实施例提供的又一种电容检测电路的电路示意图；

图16是本申请实施例提供的又一种触摸显示装置的结构框图。

附图标记：

100、触摸面板；110、驱动电极；111、驱动通道；120、接收电极；121、接收通道；122、连接桥；130、屏蔽走线；140、屏幕检测走线140；150、接地走线；

200、触摸显示装置；210、检测电极；220、阴极；

300、电容检测电路；310、检测通道；320、参考通道；330、信号调整模块；331、第一调整模块；3311、第一放大器；332、第二调整模块；3321、第二放大器；333、差分模块；334、现有放大器；3341、现有放大器的输出端；3342、现有放大器的输入端；335、差分差值放大器；3351、差分差值放大器的第一输出端；3352、差分差值放大器的第二输出端；336、反馈电路；3361、反馈电路的第一连接；3362、反馈电路的第二连接端；340、控制模块

400、触控芯片；

R1、第一电阻；R2、第二电阻；R3、第三电阻；R4、第四电阻；R5、第五电阻；R6、第六电阻；R7、第七电阻；R8、第八电阻；R9、第九电阻；R10、第十电阻；

Vdd、上拉电源。

具体实施方式

为了使本领域的人员更好地理解本申请实施例中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请实施例一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请实施例中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请实施例保护的范围。

在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本申请可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本申请范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，相似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。

本申请实施例中，触摸显示装置可以为手机、平板等电子设备的显示屏幕，例如AMOLED屏幕。触摸显示装置主要包括触控面板和显示面板两部分，触控面板布置在显示面板之上，以更好地感应触摸显示装置外的触摸，触控面板和显示面板的具体布置可参照相关技术，此处不再进行赘述。触控面板用于实现触摸显示装置的触控功能，显示面板用于将进行图像显示。在对本申请实施例的电容检测电路进行说明之前，下面先对触摸显示装置的应用原理进行简略说明，以便于理解。

触摸显示装置的触控方案关键点在于检测触控面板中触摸传感器的电容变化。具体地，触摸传感器中包括驱动电极和接收电极，当手触摸到触摸显示装置时，接收电极对触摸显示装置阴极(Cathode)的自电容会变化，驱动电极和接收电极之间的互电容也会变化，根据上述自电容变化或互电容的变化，获得电容检测信号，根据电容检测信号便可进一步确定手接触触摸显示装置的位置。实际上，触摸传感器的电容检测可以是在驱动电极或接收电极加激励信号(又称驱动信号)，从被激励的驱动电极或接收电极采集电容检测信号，进行自电容检测，获得相应的电容检测信号；也可以是利用激励信号激励驱动电极，从接收电极采集电容检测信号，进行互电容检测。可见，面对不同的场景，触摸显示装置中输出电容检测信号的检测电极也有所不同，例如检测电极可以是自电容检测中被激励的驱动电极或被激励的接收电极，也可以是互电容检测中的接收电极，均在本申请实施例的保护范围之内。

图1为触摸显示装置中触控面板100的结构示意图。参照图1可见，触控面板中的触摸传感器包括驱动电极110和接收电极120。其中，驱动电极110的沿着纵向进行布置，其中，纵向相邻的两个驱动电极110相互连接；接收电极120沿着与驱动电极垂直的方向，即横向，进行布置，由于接收电极间被驱动电极隔开，所以横向相邻的两个接收电极120之间通过连接桥122进行电连接，以绕过驱动电极110。进行触摸检测时，若对驱动电极110施加激励信号，则激励信号通过驱动电极110和接收电极120间的耦合电容到达接收电极120，通过接收电极120的信号的变化便可判断触摸的位置。

此外，如图1所示，每列驱动电极110端部的驱动电极110连接有驱动通道111，每行接收电极120一端的接收电极120连接有接收通道121，驱动通道111和接收通道121均与触控芯片400电连接，通过驱动通道111和接收通道121可分别将驱动电极110中的信号和接收电极120中的信号传输到触控芯片400中，之后通过触控芯片400对驱动电极110和接收电极120中的信号进行处理，便可实现触摸显示装置的触控，触控的具体实现方式可参照相关技术此处不在进行赘述。

如图1所示，在驱动通道111和接收通道121的外围还设置有屏蔽走线130、屏幕检测走线140以及接地走线150。屏蔽走线130用于将驱动通道111或接收通道121与接地走线150进行隔离，保证靠近接地走线150的驱动通道111的对地电容与远离接地走线150的驱动通道111的对地电容相同，以及保证靠近接地走线150的感应通道的对地电容与远离接地走线150的感应通道的对地电容相同。屏幕检测走线140用于检测触摸显示装置是否断裂，由于触摸显示装置出现断裂时，屏幕检测走线140的阻值上升，所以可以通过判断屏幕检测走线140的电阻值确定触摸显示装置是否断裂。接地走线150为接地的线路通道，用于释放触摸屏上静电，防止静电对信号的干扰。屏蔽走线130、屏幕检测走线140以及接地走线150与触摸显示装置的阴极220分层布置，并且屏蔽走线130、屏幕检测走线140以及接地走线150与阴极220之间均会形成耦合电容。

触摸显示装置中，显示面板在进行图像显示时会有部分信号传递到阴极220上形成阴极220的干扰信号，通过阴极220与触摸传感器之间的耦合电容，阴极220的干扰信号将对触摸传感器检测到的电容检测信号造成干扰，从而导致电容检测信号中产生相应的显示噪声(即因显示面板的干扰产生的噪声信号)，严重影响触摸显示装置的触控性能。

为解决以上问题，本申请提供一种电容检测电路，可以通过检测通道接收检测电极输出的电容检测信号，并将电容检测信号输出至信号调整模块，通过参考通道，接收阴极输出的干扰信号，并将干扰信号输出至信号调整模块，通过信号调整模块对电容检测信号进行放大处理，并可以以信号调整模块反馈的历史去噪电容检测信号为参考依据对干扰信号进行放大处理，使放大后的干扰信号与放大后的电容检测信号中的显示噪声相匹配，并对放大后的干扰信号和放大后的电容检测信号进行差分，从而保证电容检测信号中的显示噪声能被放大后的干扰信号尽可能地抵消，以减少显示面板的干扰对触控的不利影响。

下面结合附图2-15对本申请实施例提供的电容检测电路300进行详细说明：

本申请实施利提供一种电容检测电路300，应用于前述触摸显示装置，如图2，触摸显示装置200包括检测电极210和阴极220，电容检测电路300包括：检测通道310、参考通道320、信号调整模块330。触摸显示装置200的阴极为一种公共参考信号层，通常与阴极电源电连接以提供阴极电压，阴极的具体设置方式可参照相关技术，此处不再进行赘述。

检测通道310用于接收检测电极210输出的电容检测信号，并将电容检测信号输出至信号调整模块330。检测通道310被配置成与检测电极210电连接，从而接收检测电极210输出的电容检测信号。应该理解，检测电极210为触摸传感器中输出电容检测信号的电极，检测电极210可以是前述自电容检测中被激励的驱动电极或被激励的接收电极，也可以是前述互电容检测中的接收电极，检测通道310可以采用驱动通道也可以采用接收通道，均在本申请实施例的保护范围之内。

参考通道320用于接收阴极220输出的干扰信号，并将干扰信号输出至信号调整模块330。参考通道320优选以电容耦合的方式接收阴极220输出的干扰信号，接收到的干扰信号的形态与触摸传感器中来自阴极220的噪声信号的形态越接近，电容检测电路300的去噪效果越好。当然，参考通道320也可以通过与阴极220电连接的方式接收阴极输出的干扰信号，也在本申请实施例的保护范围之内。

作为一种可行的实现方式，参考通道320优选为前述屏幕检测走线140，屏幕检测走线140与驱动电极和接收电极的耦合电容较小，在触摸显示装置200被触摸时，触摸动作基本不会影响屏幕检测走线140中的信号。申请人通过示波器测量对屏幕检测走线140上通过电容耦合从阴极220接收的干扰信号进行了测量，发现屏幕检测走线140中干扰信号的形态与触摸传感器由阴极220耦合的噪声信号的形态几乎完全一致，只是幅值大小不同。因此，参考通道320优选为屏幕检测走线140能够尽可能地去除电容检测信号中的噪声信号，达到较好的去噪效果。当然，参考通道320也可以采用前述屏蔽走线130、接地走线150或者其他的驱动通道111和接收通道121，除图1中的通道或走线外，参考通道320还可以采用其他合适的走线或通道，均在本申请实施例的保护范围之内。

信号调整模块330用于：

对电容检测信号进行放大处理，并基于历史去噪电容检测信号对干扰信号进行放大处理，使放大后的干扰信号与放大后的电容检测信号中的噪声信号相匹配，以便于在后续的差分过程中使得放大后的干扰信号可以抵消掉放大后的电容检测信号中因显示面板的干扰而导致的噪声信号。应该理解，上述“使干扰信号与电容检测信号中的噪声信号相匹配”中，“噪声信号”为电容检测信号中的因显示面板的干扰而导致的噪声信号，即前述显示噪声；并且，干扰信号与电容检测信号中的噪声信号“相匹配”可以理解为：干扰信号的幅值变化与电容检测信号中的显示噪声的幅值变化近似相等，以便于采用干扰信号抵消电容检测信号中的显示噪声。

对放大后的干扰信号和放大后的电容检测信号进行差分后输出去噪电容检测信号，以对放大后的电容检测信号进行降噪处理。

历史去噪电容检测信号为采用干扰信号的历史放大倍数对应得到的去噪电容检测信号，本实施例中信号调整模块可通过历史去噪电容检测信号的反馈，调整干扰信号的放大倍数。此外，在信号调整模块330初始启动时，可从对应的存储装置(例如，互补金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor，CMOS)，可读写的并行或串行FLASH芯片等可以二进制串的形式来保存初始倍数的存储元件)中获取对干扰信号进行放大的初始倍数，以使信号调整模块330在没有历史去噪电容检测信号的情况下，可按照初始倍数对干扰信号进行放大。在对放大后的干扰信号和放大后的电容检测信号进行差分获得历史去噪电容检测信号后，基于历史去噪电容检测信号的反馈，调整干扰信号的放大倍数。当然，对于其他缺失历史去噪电容检测信号的情况，也可从存储装置中获取对干扰信号进行放大的初始倍数，按照初始倍数对干扰信号进行放大。

去噪电容检测信号可输出至触控芯片400，利用触控芯片400对去噪电容检测信号进行进一步处理，以计算手指触摸的位置，触控芯片400可以是集成在触摸显示装置200中的触控芯片400，也可以是另外设置的触控芯片400，本申请实施例对此不进行限定，触控芯片400的具体结构可参照相关技术，此处不再进行赘述。

本申请实施例中，可以通过检测通道310接收检测电极210输出的电容检测信号，并将电容检测信号输出至信号调整模块330，通过参考通道320，接收阴极220输出的干扰信号，并将干扰信号输出至信号调整模块330，通过信号调整模块330对电容检测信号进行放大处理，并可以以信号调整模块反馈的历史去噪电容检测信号为参考依据，对干扰信号进行放大处理，使放大后的干扰信号与放大后的电容检测信号中的显示噪声相匹配，并对放大后的干扰信号和放大后的电容检测信号进行差分，从而保证电容检测信号中的显示噪声能被放大后的干扰信号尽可能地抵消，以减少显示面板的干扰对触控的不利影响。

如图3所示，在一些可选的实施例中，电容检测电路还包括控制模块340。控制模块340用于获取历史去噪电容检测信号，并根据历史去噪电容检测信号的幅值，调整信号调整模块对干扰信号进行放大的倍数。

控制模块340可以直接与信号调整模块330的电连接，以便于从信号调整模块330的输出端获取历史去噪电容检测信号，也可以不与信号调整模块330直接连接，而是从接收历史去噪电容检测信号的反馈电路获取历史去噪电容检测信号，当然，控制模块340也可以采用其他合适的方式获取历史去噪电容检测信号，均在本申请实施例的保护范围之内。

应该理解，在放大后的干扰信号与放大后的电容检测信号不匹配的情况下，就对放大后的干扰信号和放大后的电容检测信号进行差分，将无法完全去除电容检测信号中的显示噪声，使得去噪电容检测信号中有较多的显示噪声残余，为解决此问题，本申请实施例中，基于历史去噪电容检测信号的反馈调整干扰信号的放大倍数，以便于使放大后的干扰信号能与放大后的电容检测信号相匹配。下面对调整干扰信号放大倍数的过程进行详细描述。

由于显示噪声的存在会导致放大后的电容检测信号波动较大，所以去噪电容检测信号的幅值变化可在很大程度上代表去噪电容检测信号中显示噪声的多少，即去噪电容检测信号的幅值变化量可显示信号调整模块330去除显示噪声的效果，从而间接体现放大后的干扰信号与放大后的电容检测信号的匹配程度。本申请实施例中，控制模块340获取历史去噪电容检测信号后，可对历史去噪电容检测信号的幅值变化进行检测，基于去噪电容检测信号的幅值变化量对干扰信号的放大倍数进行调整，以使放大后的干扰信号能与放大后的电容检测信号中的显示噪声相匹配。

示例性地，控制模块340可在去噪电容检测信号的幅值变化量较大时，按照一定梯度调高信号调整模块330对干扰信号放大采用的放大倍数，若调高信号放大倍数后，去噪电容检测信号的幅值变化量减小，且此时的幅值变化量小于预定阈值，则认为对检测信号的去噪已到达预定效果，并认为此时放大后的干扰信号与放大后的电容检测信号能够匹配，从而以此放大倍数作为之后信号调整模块330对干扰信号放大采用的放大倍数；若调高放大倍数后，去噪电容检测信号的幅值变化量减小，但此时的幅值变化量仍未小于预定阈值，则控制模块340需重复调高放大倍数的过程，直至去噪电容检测信号的幅值变化量小于预定阈值；另外，若调高放大倍数后，去噪电容检测信号的幅值变化量反而增大，则说明干扰信号的放大倍数太高，控制模块340应调低原有的放大倍数，调低放大倍数的原理与上面调高放大倍数相似，具体的调整过程此处不再进行赘述。

上述预定阈值可以以电容检测信号的幅值变化量作为显示噪声的参考依据进行确定，例如，可以为对检测通道直接输出的电容检测信号进行检测，预定阈值取该电容检测信号的幅值变化量的1/10、1/12、1/15等，从而使信号调整模块330输出的去噪电容检测信号的幅值变化量可被优化为：小于检测通道输出的电容检测信号的幅值变化量1/10、1/12、1/15。即可通过信号调整模块330的差分等处理，将去噪电容检测信号中的显示噪声降低至小于检测通道直接输出的电容检测信号中显示噪声的1/10、1/12、1/15。

需要说明的是，控制模块340可包括相应的处理单元，通过处理单元执行上述确定干扰信号放大倍数的过程，并根据放大倍数生成相应的控制指令，将控制指令发送给信号调整模块330，以通过控制指令使信号调整模块330将干扰信号的放大倍数调整为控制模块340确定的放大倍数。

本申请实施例中，通过控制模块340，根据历史去噪电容检测信号，调整信号调整模块330对干扰信号进行放大的倍数，可以利用历史去噪电容检测信号的反馈，准确并实时地调整干扰信号的放大倍数，提升放大后的干扰信号与放大后的电容检测信号中的噪声信号的匹配程度，使差分过程能够有效地去除显示噪声，从而确保差分后输出的去噪电容检测信号的准确性，保障触摸显示装置的触控性能。

如图4所示，在一个可选的实施例中，信号调整模块330包括第一调整模块331、第二调整模块332和差分模块333。此时，控制模块340用于根据历史去噪电容检测信号，向第一调整模块331发送第一控制信号。需要说明的是，第一控制信号包含上面实施例中控制模块340根据放大倍数生成相应的控制指令，以便于通过控制指令调整干扰信号的放大倍数。

第一调整模块331用于根据第一控制信号对干扰信号进行放大处理，并将放大后的干扰信号输出至差分模块333。

第二调整模块332，用于对电容检测信号进行放大处理，并将放大后的电容检测信号输出至差分模块333。电容检测信号的放大倍数可直接采用本领域电容检测信号的常用放大倍数，也可以根据电容检测信号的检测要求进行确定，均在本申请实施例的保护范围之内。

差分模块333用于对放大后的干扰信号和放大后的电容检测信号进行差分，可以使放大后的电容检测信号减去放大后的干扰信号，以去除电容检测信号中的噪声，输出去噪电容检测信号。差分模块333主要用于对放大后的干扰信号和放大后的电容检测信号进行差分，可以采用普通的差分电路、差分放大器等，本申请实施例对于差分模块333的具体结构不进行限制，只要能够实现差分的功能即可。

作为一种可行的实现方式，差分模块333包括全差分电路，全差分电路可直接采用现有的全差分放大器(Fully differential amplifiers，FDA)，也可以采用相应电子元件组成具有全差分功能的全差分电路，均在本申请实施例的保护范围之内。

如图5所示，全差分电路的第一输入端与第二调整模块332的输出端电连接，全差分电路的第二输入端与第一调整模块331的输出端电连接，第一输入端优选为全差分电路的同相输入端，第二输入端优选为全差分点路的反相输入端。通过全差分电路在输出去噪电容检测信号的同时，还会输出去噪电容检测信号的反相信号，从而在触控芯片处理去噪电容检测信号时，利用去噪电容检测信号和去噪电容检测信号的反相信号，增加对外部噪声的抗扰度。

本申请实施例中，通过控制模块340获取历史去噪电容检测信号，并根据历史去噪电容检测信号，向第一调整模块331发送第一控制信号，通过第一控制信号调整干扰信号的放大倍数，使得第一调整模块331可根据历史去噪电容检测信号的反馈，使放大后的干扰信号与放大后的电容检测信号相匹配；其后，通过差分模块333用于对放大后的干扰信号和放大后的电容检测信号进行差分，能够采用放大后的干扰信号较为干净地抵消放大后的电容检测信号中的显示噪声，从而保证触摸显示装置200的触控性能。

如图5所示，在一些可选的实施例中，第一调整模块331包括第一放大器3311和阻值可调的第一电阻R1。第一放大器3311的同相输入端与参考通道320电连接，第一放大器3311的反相输入端通过第一支路接地，第一放大器3311的输出端与差分模块333电连接。第一电阻R1包括第一连接端、第二连接端和控制端；第一连接端与第一放大器3311的输出端电连接，第二连接端与第一支路电连接，控制端与控制模块340电连接。

第一电阻R1的控制端用于接收第一控制信号，通过第一控制信号可调节第一电阻R1的阻值，以使得第一放大器3311的放大倍数为控制模块340确定的放大倍数，第一电阻R1的具体结构可参照相关技术，此处在不再进行赘述，均在本申请实施例的保护范围之内。应该理解，第一电阻R1的阻值与第一放大器3311放大倍数之间的关系式为现有的公式，此处不再进行展开介绍。

第二调整模块332包括第二放大器3321和第二电阻R2；第二放大器3321的同相输入端与检测通道310电连接，第二放大器3321的反相输入端通过第二支路接地，第二放大器3321的输出端与差分模块333电连接；第二电阻R2的第一端与第二放大器3321的输出端电连接，第二电阻R2的第二端与第二支路电连接。另外，图5中CL为检测电极210对应的触摸传感器与阴极220之间的耦合电容，由于耦合电容CL的存在，阴极220上的干扰信号将通过耦合电容CL，对触摸传感器检测到的电容检测信号造成干扰；Cr为参考通道320与阴极220之间的耦合电容，参考通道可通过耦合电容Cr的电容值变化，感知到阴极220上的干扰信号的变化，从而接收阴极220上的干扰信号，应该理解，在其他附图中CL和Cr也代表相同的物理意义。

另外，本申请实施例提供的电容检测电路300中第一放大器3311和第二放大器3321相对于现有的放大器也进行了一定的改进。如图6所示，现有的放大器电路334通常在放大器的输出端3341和放大器的接收电容检测信号的输入端3342之间设置电阻R_f，进而控制放大器的增益，下面以将现有的放大器替换图5中第二放大器3321为例，对本申请实施例中第一放大器3311和第二放大器3321的改进进行示例性说明：

将现有的放大器替换第二放大器3321后，现有放大器的幅频特性(Amplitude-Frequency Characteristics)公式为下面的式(1)，对应图7中G1(s)指示的幅频特性曲线。幅频特性曲线用于表示放大器放大倍数和频率之间的关系，可以反映放大器的放大性能(即放大倍数越高放大性能越好)。

图7中横坐标为放大器输入信号(即电容检测信号)的频率f/kHz，纵坐标为对信号的增益G/dB，用于表征放大器的放大倍数。通过式(1)和图7可见，现有放大器在输入信号为低频时放大倍数较低、放大性能较差，不能对低频信号进行有效的放大，并且随着输入信号频率的增加，现有放大器对输入信号的进行放大的倍数也在不停地增加，放大性能的稳定性较差。

G1(s)＝SC_mR_f (1)

式中，S为拉普拉斯算子，S＝jw＝j*2π*f，j为虚数单位，w为频率f对应的角频率；C_m为检测电极210对应的触摸传感器中的驱动电极与接收电极间的互电容；R_f为电阻R_f的阻值。

本申请实时例图5中第二放大器3321的幅频特性公式为下面的式(2)，对应图7中G2(s)指示的幅频特性曲线。由图7可见，第二放大器3321的幅频特性曲线在f＝0时有一段截距，使得第二放大器3321对低频信号也有较好的放大效果，并且幅频特性曲线在f₁和f₂间存在一段平坦期，此阶段放大倍数保持稳定，与现有放大器相比，本实施例第二放大器3321的放大性能具有更高的稳定性。

式中，S为拉普拉斯算子，R_L为检测电极210对应的触摸传感器的电阻，C_L为触摸传感器与阴极220的耦合电容，C_m为检测电极210对应的触摸传感器中的驱动电极与接收电极间的互电容。

本申请实施例中，通过阻值可变的第一电阻R1可实现干扰信号放大倍数的自动调整，增强了电容检测电路300的自动化程度，扩展了电容检测电路300的适用范围。通过设置第一电阻R1的第一连接端与第一放大器3311的输出端电连接，第一电阻R1的第二连接端与第一支路电连接，第二电阻R2的第一端与第二放大器3321的输出端电连接，第二电阻R2的第二端与第二支路电连接，还可以改进了第一放大器3311和第二放大器3321的放大性能，使得第一放大模块和第二放大模块在输入信号为低频时也可以有较好的放大效果，增强了电容检测电路300的实用性。

如图8所示，在一些可选的实施例中，第一支路还包括第三电阻R3，第三电阻R3的第一端与第一电阻R1和第一支路的连接节点电连接，第三电阻R3的第二端接地；第二支路还包括第四电阻R4，第四电阻R4的第一端与第二电阻R2和第二支路的连接节点电连接，第四电阻R4的第二端接地。通过第三电阻R3和第四电阻R4，可以进一步调节第一放大器3311和第二放大器3321的放大性能，仍以第二放大器3321为例，此时其放大性能随频率变化的关系为下面的式(3)。

/>

式中，S为拉普拉斯算子，R_L为检测电极210对应的触摸传感器的电阻值，C_L为触摸传感器与阴极220的耦合电容，C_m为驱动电极与接收电极间的互电容，R2为第二电阻R2的电阻值，R4为第四电阻R4的电阻值。

可见，本申请实施例中，通过设置第三电阻R3和第四电阻R4，能够进一步调整第一放大器3311和第二放大器3321的幅频特性，使得第一放大器3311和第二放大器3321的放大性能能够被更方便地调整，并且，通过第三电阻R3可辅助调节干扰信号的放大倍数，通过第四电阻R4可辅助调节电容检测信号的放大倍数，增强了放大干扰信号和电容检测信号的灵活性。

如图10所示，作为本申请实施例的另一种实现方式，信号调整模块330包括差分差值放大器335(Differential Difference Amplifier，DDA)。由图11-图13可见，差分差值放大器335为有两个正相输入端和两个反相输入端的一种放大器，可放大两路差分信号的差值，其输入信号与输出信号的关系如下：

V_O＝A_O[(V1-V2)-(V3-V4)]

其中，Vo为差分差值放大器335输出的信号，Ao为差分差值放大器335对应的放大倍数，V1为差分差值放大器335第一正相输入端接收的信号，V2为差分差值放大器335第一反相输入端接收的信号，V3为差分差值放大器335第二正相输入端接收的信号的电压值，V4为差分差值放大器335第二反相输入端接收的信号的电压值。以图11中的差分差值放大器335为例，V_O为差分差值放大器335的第一输出端3351输出的去噪电容检测信号，V1为检测通道310输出的电容检测信号，V2为参考通道输出的干扰信号，V3为反馈电路336第一连接端3361输出至差分差值放大器335第二正相输入端的信号，V4为反馈电路336第二连接端3362输出至差分差值放大器335第二反相输入端的信号。以图13中的差分差值放大器335为例，V_O为差分差值放大器335的第一输出端3351输出的去噪电容检测信号，V1为经上拉电源Vdd和电阻R10调整过的电容检测信号，V2为经上拉电源Vdd和电阻R9调整过的干扰信号，V3为反馈电路336第一连接端3361输出至差分差值放大器335第二正相输入端的信号，V4为反馈电路336第二连接端3362输出至差分差值放大器335第二反相输入端的信号。如图11-13所示，本实施例中，差分差值放大器335可以包括反馈电路336。反馈电路336包括相应的反馈电阻(例如R5、R6)，用于通过调整反馈电阻的电阻值，设置差分差值放大器335的放大倍数。

本实施例中，控制模块340用于根据历史去噪电容检测信号，向差分差值放大器335发送第二控制信号；应该理解，第二控制信号包含上面实施例中控制模块340根据放大倍数生成相应的控制指令，以便于通过控制指令调整干扰信号的放大倍数。

差分差值放大器335，用于根据第二控制信号对干扰信号进行放大处理，以及对电容检测信号进行放大处理，并将放大后的干扰信号和放大后的电容检测信号进行差分，以去除电容检测信号中的噪声，输出去噪电容检测信号。

本申请实施例中，仅通过一个差分差值放大器335便可实现上述实施例中第一调整模块331和第二调整模块332的功能，极大地简化了电容检测电路300的电路结构，能够显著减小电容检测电路300所占用的空间。

如图11所示，在一些可选的实施例中，差分差值放大器335包括第一同相输入端、第一反相输入端、第二同相输入端、第二反相输入端，并且第一同相输入端与检测通道310电连接，第一反相输入端与参考通道320电连接，第二同相输入端通过第四支路接地、第二反相输入端通过第三支路接地；如图12所示，信号调整模块330还包括阻值可调的第五电阻R5。第五电阻R5包括第三连接端、第四连接端和控制端；第三连接端与差分差值放大器335的第一输出端3351电连接，第四连接端与第三支路电连接，控制端与控制模块340电连接；其中，差分差值放大器335的第一输出端3351用于输出去噪电容检测信号。

信号调整模块330还包括第六电阻R6，第六电阻R6的第一端与差分差值放大器335的第二输出端3352电连接，第六电阻R6的第二端与第四支路电连接，其中，差分差值放大器335的第二输出端3352用于输出去噪电容检测信号的反相信号。

与上面实施例中R1和R2的作用相似，第五电阻R5和第六电阻R6也可以改进差分差值放大器335的幅频特性，使得差分差值放大器335正在V1和V2的频率较低时，能够得到较大的放大倍数A₀，从而提高差分差值放大器335的适用性。

另外，第五电阻R5的控制端用于接收第二控制信号，通过第二控制信号可调节第五电阻R5的阻值，以使得干扰信号的放大倍数为控制模块340确定的放大倍数。

本申请实施例中，通过第五电阻R5可实现干扰信号放大倍数的自动调整，增强了电容检测电路300的自动化程度，扩展了电容检测电路300的适用范围。通过设置第五电阻R5的第三连接端与差分差值放大器335的第一输出端3351电连接，第五电阻R5的第四连接端与第三支路电连接，以及，第六电阻R6的第一端与差分差值放大器335的第二输出端3352电连接，第六电阻R6的第二端与第四支路电连接，还可以改进了差分差值放大器335的放大性能，使得差分差值放大器335在输入信号为低频时也可以有较好的放大效果，增强了电容检测电路300的实用性。

在一些可选的实施例中，第三支路还包括第七电阻R7，第七电阻R7的第一端与第五电阻R5和第三支路的连接节点电连接，第七电阻R7的第二端接地；第四支路还包括第八电阻R8，第八电阻R8的第一端与第六电阻R6和第四支路的连接节点电连接，第八电阻R8的第二端接地。

本申请实施例中，第与第三电阻R3和R3的作用相似。通过设置第七电阻R7和第八电阻R8，能够进一步调整差分差值放大器335的幅频特性，使得第一放大器3311和第二放大器3321的放大性能能够被更方便地调整，并且，通过第七电阻R7可辅助调节差分差值放大器335的放大倍数A₀，增强了放大干扰信号和电容检测信号的灵活性。

如图9或图13所示，在一些可选的实施例中，电容检测电路300还包括第九电阻R9，第九电阻R9的第一端与信号调整模块330和参考通道320的连接节点电连接，第九电阻R9的第二端与上拉电源Vdd连接或者接地；电容检测电路300还包括第十电阻R10，第十电阻R10的第一端与信号调整模块330与检测通道310的连接节点电连接，第十电阻R10的第二端与上拉电源Vdd连接或者接地。第九电阻R9和第十电阻R10可根据检测通道310的和参考通道320输出阻抗进行设置，使第九电阻R9的阻抗小于检测通道310的阻抗、第十电阻R10的阻抗远小于参考通道310的阻抗，第九电阻R9和第十电阻R10的具体设置方式可参照相关技术，此处不再进行赘述。上拉电源Vdd用于为干扰信号或电容检测信号提供正向的参考电压，可以直接采用触摸显示装置200中提供正电压的电源，也可以采用其他合适的电源，均在本申请实施例的保护范围之内。

另外，对应于上述第一放大器3311和第二放大器3321的实施例，通过第九电阻R9和第十电阻R10，可以在第三电阻R3和第四电阻R4的基础上，进一步调节第一放大器3311和第二放大器3321的放大性能，仍以第二放大器3321为例，此时第二放大器3321的幅频特性公式为下面的式(4)。

式中，R_S为第十电阻R10的电阻值，S为拉普拉斯算子，R_L为检测电极210对应的触摸传感器的电阻值，C_L为触摸传感器与阴极220的耦合电容，C_m为驱动电极与接收电极间的互电容，R2为第二电阻R2的电阻值，R4为第四电阻R4的电阻值。

可见，本申请实施例中，通过设置第九电阻R9和第十电阻R10，能够改进第一放大器3311和第二放大器3321的幅频特性，使得第一放大器3311和第二放大器3321的放大性能能够被更方便地调整，并且，通过第九电阻R9可辅助调节干扰信号的放大倍数，通过第十电阻R10可辅助调节电容检测信号的放大倍数，增强了放大干扰信号和电容检测信号的灵活性。应该理解，对应于上述差分差值放大器335对应的实施例，第九电阻R9和第十电阻R10也能起到相似的作用，此处不在进行赘述。

由于检测通道310的和参考通道320输出阻抗通常较大，所以利用第九电阻R9和第十电阻R10能够将检测通道310和参考通道320耦合的电磁干扰信号及其他的共模信号，通过连接上拉电源Vdd或接地释放掉，实现初步的降噪，使得检测通道310中的信号主要为电容检测信号，参考通道320中的信号主要为干扰信号。

如图14或图15所示，在一些可选的实施例中，电容检测电路300包括至少两个检测通道310和信号调整模块330，其中，信号调整模块330与检测通道310一一对应。

本实施例可以通过多个检测通道对手指的触摸进行检测，能够提高对手指触摸的检测范围，通过设置与检测通道310一一对应的信号调整模块330，可使各个信号调整模块330间相对独立地去除相应电容检测信号中的显示噪声，从而能更灵活地对电容检测信号进行去噪。

如图14或图15所示，在一些可选的实施例中，各信号调整模块330连接的参考通道320相同，即各信号调整模块330共用一个参考通道320，以节省成本信号。

本申请实施例中，通过设置至少各信号调整模块330共用一个参考通道310，不仅可以节省成本，而且可以使各信号调整模块330基于相同的干扰信号进行去噪，从而提高各信号调整模块330的去噪的一致性，从而保证电容检测电路300的整体去噪效果。另外，本实施例中可通过信号调整模块330与检测通道310一一对应的设置，利用信号调整模块330中对干扰信号进行放大的电路结构，例如图4中的第一调整模块331，接收干扰信号对应的电压信号，从而避免检测通道310自身电阻对干扰信号的影响，以及检测通道310与信号调整模块330间连接线路的电阻对干扰信号的影响，防止多个信号调整模块330接收到的干扰信号之间存在差异，从而保证信号调整模块330的降噪效果。

如图16所示，本申请实施例提供一种触摸显示装置，包括检测电极210、阴极220以及上面任一实施例对应的电容检测电路300。触摸显示装置可以为图1实施例对应的触摸显示装置，也可以是其他合适的触摸显示装置，均在本申请实施例的保护范围之内。

需要说明的是，本申请实施例提供的触摸显示装置与前述电容检测电路300的实施例基于相同的发明构思，可达到相同的效果，触摸显示装置的具体实现方式可参见前述电容检测电路300实施例中的叙述，此处不再赘述。

本申请实施例还提供了一种电子设备，例如智能手机、平板电脑等，该电子设备包括上述实施例中的触摸显示装置200。本申请实施例提供的电子设备与前述电容检测电路300的实施例基于相同的发明构思，可达到相同的效果，电子设备的具体实现方式可参见前述电容检测电路300实施例中的描述，此处不再赘述。

需要指出，根据实施的需要，可将本申请实施例中描述的各个部件/步骤拆分为更多部件/步骤，也可将两个或多个部件/步骤或者部件/步骤的部分操作组合成新的部件/步骤，以实现本申请实施例的目的。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及方法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请实施例的范围。

以上实施方式仅用于说明本申请实施例，而并非对本申请实施例的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本申请实施例的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本申请实施例的范畴，本申请实施例的专利保护范围应由权利要求限定。

Claims (15)

1.一种电容检测电路，其特征在于，应用于触摸显示装置，所述触摸显示装置包括检测电极和阴极，所述电容检测电路包括：检测通道、参考通道和信号调整模块；

所述检测通道，用于接收所述检测电极输出的电容检测信号，并将所述电容检测信号输出至所述信号调整模块；

所述参考通道，用于接收所述阴极输出的干扰信号，并将所述干扰信号输出至所述信号调整模块；

所述信号调整模块，用于对所述电容检测信号进行放大处理，并基于历史去噪电容检测信号对所述干扰信号进行放大处理，使放大后的所述干扰信号与放大后的所述电容检测信号中的噪声信号相匹配，并对放大后的所述干扰信号和放大后的所述电容检测信号进行差分后输出去噪电容检测信号。

2.根据权利要求1所述的电容检测电路，其特征在于，所述电容检测电路还包括控制模块；

所述控制模块用于获取所述历史去噪电容检测信号，并根据所述历史去噪电容检测信号，调整所述信号调整模块对所述干扰信号进行放大的倍数。

3.根据权利要求2所述的电容检测电路，其特征在于，所述信号调整模块包括第一调整模块、第二调整模块和差分模块；

所述控制模块用于根据所述历史去噪电容检测信号，向所述第一调整模块发送第一控制信号；

所述第一调整模块，用于根据第一控制信号对所述干扰信号进行放大处理，并将放大后的所述干扰信号输出至所述差分模块；

所述第二调整模块，用于对所述电容检测信号进行放大处理，并将放大后的所述电容检测信号输出至所述差分模块；

所述差分模块用于对放大后的所述干扰信号和放大后的所述电容检测信号进行差分，以去除所述电容检测信号中的噪声，输出所述去噪电容检测信号。

4.根据权利要求3所述的电容检测电路，其特征在于，所述第一调整模块包括第一放大器和阻值可调的第一电阻；所述第一放大器的同相输入端与所述参考通道电连接，所述第一放大器的反相输入端通过第一支路接地，所述第一放大器的输出端与所述差分模块电连接；所述第一电阻包括第一连接端、第二连接端和控制端；所述第一连接端与所述第一放大器的输出端电连接，所述第二连接端与所述第一支路电连接，所述控制端与所述控制模块电连接；

所述第二调整模块包括第二放大器和第二电阻；所述第二放大器的同相输入端与所述检测通道电连接，所述第二放大器的反相输入端通过第二支路接地，所述第二放大器的输出端与所述差分模块电连接；所述第二电阻的第一端与所述第二放大器的输出端电连接，所述第二电阻的第二端与所述第二支路电连接。

5.根据权利要求4所述的电容检测电路，其特征在于，所述第一支路还包括第三电阻，所述第三电阻的第一端与所述第一电阻和所述第一支路的连接节点电连接，所述第三电阻的第二端接地；

所述第二支路还包括第四电阻，所述第四电阻的第一端与所述第二电阻和第二支路的连接节点电连接，所述第四电阻的第二端接地。

6.根据权利要求3所述的电容检测电路，所述差分模块包括全差分电路，所述全差分电路的第一输入端与所述第二调整模块的输出端电连接，所述全差分电路的第二输入端与所述第一调整模块的输出端电连接。

7.根据权利要求2所述的电容检测电路，其特征在于，所述信号调整模块包括差分差值放大器；

所述控制模块用于根据所述历史去噪电容检测信号，向所述差分差值放大器发送第二控制信号；

差分差值放大器，用于根据所述第二控制信号对所述干扰信号进行放大处理，以及对所述电容检测信号进行放大处理，并将放大后的所述干扰信号和放大后的所述电容检测信号进行差分，以去除所述电容检测信号中的噪声，输出所述去噪电容检测信号。

8.根据权利要求7所述的电容检测电路，其特征在于，所述差分差值放大器包括第一同相输入端、第一反相输入端、第二同相输入端、第二反相输入端，所述第一同相输入端与所述检测通道电连接，所述第一反相输入端与所述参考通道电连接，所述第二同相输入端通过第四支路接地、所述第二反相输入端通过第三支路接地；

所述信号调整模块还包括阻值可调的第五电阻，所述第五电阻包括第三连接端、第四连接端和控制端；所述第三连接端与所述差分差值放大器的第一输出端电连接，所述第四连接端与所述第三支路电连接，所述控制端与所述控制模块电连接；其中，所述差分差值放大器的第一输出端用于输出所述去噪电容检测信号；

所述信号调整模块还包括第六电阻，所述第六电阻的第一端与所述差分差值放大器的第二输出端电连接，所述第六电阻的第二端与所述第四支路电连接，其中，所述差分差值放大器的第二输出端用于输出经过所述差分差值放大器处理后的所述干扰信号。

9.根据权利要求8所述的电容检测电路，其特征在于，所述第三支路还包括第七电阻，所述第七电阻的第一端与所述第五电阻和所述第三支路的连接节点电连接，所述第七电阻的第二端接地；

所述第四支路还包括第八电阻，所述第八电阻的第一端与所述第六电阻和所述第四支路的连接节点电连接，所述第八电阻的第二端接地。

10.根据权利要求1所述的电容检测电路，其特征在于，所述电容检测电路还包括第九电阻，所述第九电阻的第一端与所述信号调整模块和所述参考通道的连接节点电连接，所述第九电阻的第二端与上拉电源连接或者接地；

所述电容检测电路还包括第十电阻，所述第十电阻的第一端与所述信号调整模块与所述检测通道的连接节点电连接，所述第十电阻的第二端与所述上拉电源连接或者接地。

11.根据权利要求1所述的电容检测电路，其特征在于，所述参考通道为面板裂纹检测通道。

12.根据权利要求1-11中任一项所述的电容检测电路，所述电容检测电路包括至少两个所述检测通道和所述信号调整模块，其中，所述信号调整模块与所述检测通道一一对应。

13.根据权利要求12所述的电容检测电路，各所述信号调整模块共用一个所述参考通道。

14.一种触摸显示装置，其特征在于，包括检测电极、阴极以及如权利要求1-13任一项所述的电容检测电路。

15.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求14所述的触摸显示装置。