CN117677851A - 检体传送装置及检体传送方法 - Google Patents

检体传送装置及检体传送方法 Download PDF

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CN117677851A CN202280051184.7A CN202280051184A CN117677851A CN 117677851 A CN117677851 A CN 117677851A CN 202280051184 A CN202280051184 A CN 202280051184A CN 117677851 A CN117677851 A CN 117677851A
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本间章太郎
鬼泽邦昭
志贺雄一朗
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Abstract

本发明提供一种能够推定导致检体的传送速度降低的要因的检体传送装置。检体传送装置1包括:传送容器(11),该传送容器(11)具有磁体(10)或磁性体、且用于收纳检体;传送部,该传送部配置有多个具有芯体(22)和线圈(21)的磁极(25),使传送容器(11)在传送平面(12)上移动;以及控制部(40),该控制部(40)控制施加于多个磁极(25)的电压,检测传送容器(11)在传送平面(12)上的位置,并控制传送容器(11)的移动。控制部(40)检测传送容器(11)分别接近多个磁极(25)时流过多个磁极(25)各自的线圈(21)的电流的振幅,根据检测出的电流的所述振幅,判定传送平面(12)的劣化。

Description

检体传送装置及检体传送方法
技术领域
本发明涉及例如执行血液、血浆、血清、尿、其他体液等生物试料(以下称为“检体”)的分析的检体分析装置及检体传送方法。
背景技术
在用于临床检查的检体分析系统中,对血液、血浆、血清、尿、其他体液等检体(样品)执行所指示的分析项目的检查。
该检体分析系统连接具有多个功能的装置,自动地执行各工序的处理。即,为了使检查室的业务合理化,通过传送线连接执行生物化学、免疫等多个分析的分析部(分析工序)、执行该分析所需的多个前处理的前处理部(前处理工序)等,将它们作为一个检体分析系统使用。
近年来,随着医疗的高度化以及患者的高龄化,检体分析的重要性提高。因此,为了提高检体分析系统的分析处理能力,要求检体的高速传送、大量传送、同时传送以及向多个方向的传送。
作为本技术领域的背景技术,存在有专利文献1。
在该专利文献1中记载了非常灵活、且具有高传送性能的研究室试料配送系统。并且,在专利文献1中记载了下述内容:研究室试料配送系统包括:若干个容器载体,该若干个容器载体分别包括至少一个磁活性器件(优选为至少一个永磁体)、且适合于运输包含试料的试料容器;传送器件;以及控制器件,传送器件是适合于运输多个容器载体的传送平面和静止地配置在传送路径下方的若干个电磁致动器,电磁致动器适合于通过对容器载体施加磁力而使配置在传送平面上方的容器载体移动,控制器件适合于驱动电磁致动器,且适合于控制移动,使得三个以上的容器载体能够同时且彼此独立地移动(参照摘要)。
并且,在专利文献1中记载了下述内容:通过比较调度位置和检测出的位置,例如能够检测出由导致摩擦力增加的传送路径的污垢引起的传送速度的缓慢降低,并在检测出传送速度的缓慢降低的情况下,控制器件使由电磁致动器产生的磁力增加,和/或在传输速度低于给定阈值时显示错误消息(参照专利文献1的段落[0021])。
现有技术文献
专利文献
专利文献1
日本专利特开2016-166890号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
在专利文献1中,记载了通过比较容器载体的调度位置和检测出的位置,检测由传送平面的污垢引起的传送速度的降低。
但是,在专利文献1所记载的研究室试料配送系统中,没有记载关于判别引起传送速度降低的要因。关于传送速度的降低的要因,除了传送平面的污染以外,还考虑传送平面的刮伤等传送平面的劣化。
在专利文献1所记载的技术中,在传送速度降低的要因是传送平面的劣化的情况下,无法对其进行推定,从而不能实施适当的处理。
本发明的目的在于提供一种能够推定导致检体的传送速度降低的要因的检体传送装置及检体传送方法。
用于解决技术问题的技术手段
为了达成上述目的,本发明按下述方式构成。
在检体传送装置中,包括:传送容器,该传送容器具有磁体或磁性体、用于收纳检体;传送部,该传送部配置有多个具有芯体和线圈的磁极,使所述传送容器在传送平面上移动;以及控制部,该控制部控制施加在多个所述磁极上的电压,检测所述传送容器在所述传送平面上的位置,并控制所述传送容器的移动,所述控制部检测所述传送容器分别接近所述多个所述磁极时流过所述多个所述磁极各自的所述线圈的电流的振幅,基于检测出的所述电流的所述振幅,判定所述传送平面的劣化。
在检体传送方法中,包括:传送容器,该传送容器具有磁体或磁性体、用于收纳检体;以及传送部,该传送部配置有多个具有芯体和线圈的磁极,使所述传送容器在传送平面上移动,利用所述检体传送方法,控制施加在所述多个所述磁极上的电压,检测所述传送容器在所述传送平面上的位置,并控制所述传送容器的移动,所述检体传送方法检测所述传送容器分别接近所述多个所述磁极时流过所述多个所述磁极各自的所述线圈的电流的振幅,基于检测出的所述电流的所述振幅,判定所述传送平面的劣化。
发明效果
根据本发明,能够提供一种能够推定导致检体的传送速度降低的要因的检体传送装置及检体传送方法。
除上述以外的问题、结构及效果可通过以下的实施方式的说明来更为明确。
附图说明
图1是实施例1的检体传送装置的简要结构图。
图2是按照时间序列示意性地说明实施例1的检体传送装置的截面及电流振幅的说明图。
图3是按照时间序列示意性地说明实施例1的检体传送装置的截面及电流振幅的说明图。
图4是表示从实施例2的检体传送装置的传送路径计算到异常判定为止的流程的流程图。
图5是表示从实施例3的检体传送装置的传送路径有异常的判定到警报通知为止的流程的流程图。
图6是表示从实施例4的检体传送装置的传送路径无异常的判定到警报通知为止的流程的流程图。
图7是表示从实施例5的传送装置的传送路径无异常的判定到警报通知为止的流程的流程图。
具体实施方式
以下,参照附图对本发明的实施方式进行说明。
[实施例]
(实施例1)
首先,说明实施例1所涉及的检体传送装置1的简要结构。
图1是实施例1所涉及的检体传送装置1的简要结构的说明图。
实施例1所涉及的检体传送装置1包括:使具备永磁体(或磁性体)10且用于收纳检体的传送容器11在其上表面移动并传送的传送路径的传送平面12(图2所示);检测具备永磁体10的传送容器11的传送平面12的位置的位置检测部30;配置在传送平面12的下方、且具备作为磁性体的芯体22和卷绕在其外周侧的绕组即线圈21的磁极25;对磁极25的线圈21施加电压的驱动部(驱动传送容器11的驱动装置)50;以及控制驱动部50的控制部(控制驱动装置的控制装置)40。由传送容器11、包含芯体22及线圈21的磁极25、传送平面12构成传送部。
控制部40具有计算传送容器11的传送路径的运算部41、根据传送路径的信息计算传送所需时间的移动时间计算部42、保持计算出的传送时间的存储部43。控制部40与显示部60连接。
磁极25和永磁体10隔着传送平面12相对配置。永磁体10在磁极25的上方相对移动。即,永磁体10经由传送平面12在磁极25的上方移动。由此,在磁极25和永磁体10之间配置传送平面12,永磁体10在传送平面12上滑动地移动。
永磁体10配置在传送容器11中。对于永磁体10,例如使用钕或铁氧体等永磁体10。在实施例1中,使用永磁体10进行说明,但也可以使用其他磁体或软磁性体代替永磁体10。另外,也可以组合使用永磁体10和软磁性体来代替永磁体10。
“磁性体”是指永磁体10、其他磁体或软磁性体、或永磁体10与软磁性体的组合等。在实施例1中,代表性地使用永磁体10进行说明。
在容器载体等传送容器11中配置永磁体10。传送容器11是检体托架(未图示)或保持多根检体托架的检体支架(未图示)等。在传送容器11中,通常配置一个收纳检体的检体容器。并且,随着永磁体10的移动,检体容器被传送到所期望的位置。即,传送容器11具有永磁体10、检体容器,在传送平面12上被传送。
检体传送装置1通过对磁极25的线圈21施加电压,使芯体22产生电磁力,使配置在传送容器11中的永磁体10在多个磁极25之间(磁极25与磁极25之间)移动。为了有效地使电磁力作用于永磁体10,并且为了使永磁体10向目标方向移动,需要永磁体10与磁极25的相对位置信息。
例如,假设永磁体10位于两个磁极25中一方的上方(正上方)的情况。即使将电压施加到位于永磁体10的正下方的磁极25(线圈21)上,也不会在永磁体10中产生朝向传送方向的力(推力)。另一方面,若向在上方(正上方)没有永磁体10的磁极25(线圈21)施加电压,则在永磁体10中产生被吸引到该磁极25的力,并且产生朝向传送方向的力(推力)。
即,通过向期望的磁极25(线圈21)施加电压,能在永磁体10中有效地产生朝向传送方向的力。并且,通过选择多个磁极25(线圈21)中施加电压的磁极25(线圈21),能够控制朝向传送方向的力的朝向(方向)。
另外,位置检测部30检测包括永磁体10的传送容器11在传送平面12上的位置。向磁极25(线圈21)施加脉冲电压,经过一定时间后获取电流振幅。电流振幅根据磁极25(线圈21)和永磁体10的距离而变化。具体而言,由于磁极25(线圈21)和永磁体10的间隔缩小,磁极25(线圈21)的电感变小。由于电感变小,电流的上升变快,振幅增大。在电感较大的情况下,电流的上升变慢,振幅减小。
即,位置检测部30通过检测向磁极25(线圈21)施加电压时的电流变化,能够推定永磁体10相对于磁极25(线圈21)的距离。
实施例1中的检体传送装置1中,传送平面12的厚度恒定,以使由磁极25(线圈21)产生的推力最适合于传送。但是,由于传送容器11和传送平面12的上表面的摩擦,可能会产生传送平面12的上表面被刮伤等劣化。
由于传送平面12的上表面被刮伤,从而在传送容器11与传送平面12之间作用的摩擦力变化,产生能够向传送平面12的上表面倾斜、磁极25(线圈21)与永磁体10的距离变化、推力从最佳状态变化等问题。
关于位置检测部30对传送容器11的位置检测,在开始向磁极25(线圈21)施加电压后等待一定时间,开始电流振幅的获取,在电流振幅超过阈值的时刻完成。在传送平面12的上表面的厚度恒定的情况下,无论哪个位置的磁极25(线圈21),推定从开始获取电流振幅到电流振幅超过阈值为止的振幅都为相同的值。
由于传送平面12的上表面被刮伤,因此磁极25(线圈21)与永磁体10的距离缩短,电流振幅增大。因此,在传送平面12的上表面的厚度因劣化而变小的情况下,开始获取电流振幅的定时的振幅与传送平面12的上表面为恒定厚度的情况相比成为较大的值。
图2是按照时间序列示意性地说明实施例1中的检体传送装置1的简要截面及电流振幅的说明图。
在图2中,实施例1中的检体传送装置1中,例如永磁体10相对于4个磁极25a、磁极25b、磁极25c、磁极25d相对移动。
在时刻ta时对磁极25a进行励磁,在时刻tb时对磁极25b进行励磁,在时刻tc时对磁极25c进行励磁,在时刻td时对磁极25d进行励磁,对永磁体10产生推力。各磁极25a、25b、25c及25d分别包括位置检测部30。
在时刻ta,由驱动部50对磁极25a施加电压,对磁极25a进行励磁时,永磁体10相对于磁极25a被吸引。位置检测部30在从励磁开始经过了一定时间的阶段,获取电流振幅。随着永磁体10接近磁极25a,电流振幅增大。当电流振幅超过阈值Th时,驱动部50停止向磁极25a施加电压,开始向磁极25b施加电压。
位置检测部30和驱动部50对磁极25b、25c、25d执行上述处理,直到磁极25d的电流振幅超过阈值为止。在磁极25d中电流振幅超过阈值时,驱动部50对磁极25d进行励磁直至永磁体10在磁极25d的正上方停止。在上述一系列控制中,位置检测部30开始获取电流振幅的定时的振幅在磁极25a、磁极25b、磁极25c、磁极25d的各磁极25中为相同的值。
图3是按照时间序列示意性地说明实施例1中的检体传送装置1的简要截面及电流振幅的说明图。图2所示的传送平面12的上表面为恒定的厚度,而图3所示的示例中,存在传送平面12的上表面的厚度不同的位置。
在图3的示例中,与图2所示的示例同样,在时刻ta,磁极25a吸引永磁体10。
在时刻tb,如果磁极25b吸引永磁体10,则在传送平面12的上表面的厚度较小的部分,永磁体10与磁极25b的距离变短。当位置检测部30在永磁体10和磁极25b的距离较短的状态下开始获取电流振幅时,电流振幅的值比磁极25a的情况要大。
在时刻tc,磁极25c相对于永磁体10的距离比磁极25b要远,比磁极25a要近,因此电流振幅的获取开始时的振幅比磁极25b的情况要小,比磁极25a的电流振幅要大。
各磁极25a、25b、25c及25d的位置检测的定时的电流振幅被存储在控制部40的存储部43中,通过由运算部41进行比较,能够检测因传送平面12的上表面的刮伤等引起的状态变化。
即,实施例1中的传送装置1能够根据开始位置检测的定时的电流振幅的值,检测因传送平面12的上表面的状态的变化而引起的传送装置1的异常。
由此,根据实施例1,能够提供一种能够推定导致检体的传送速度降低的要因的检体传送装置及检体传送方法。
(实施例2)
接着,对实施例2中的检体传送装置1进行说明。实施例2是计算在传送平面12的上表面传送的传送容器11的传送时间,判定传送平面12是否存在刮伤的示例。检体传送装置1的整体结构与实施例1相同,因此省略图示及其详细说明。
使用图4说明实施例2。
图4是控制部40的动作流程图。在图4中,运算部41将传送容器11的当前位置作为传送源,计算向传送目的地的传送路径(步骤101)。进而,运算部41通过使用传送路径的移动距离和传送容器11的理论上的传送速度,计算传送所需的推定传送时间,并存储在存储部43中(步骤102)。
控制部40对传送部的磁极25(线圈21)施加电压,开始传送容器11的传送(步骤103)。移动时间计算部42获取从控制部40向传送部的磁极25(线圈21)发送传送指示的时间和在设定的传送目的地由位置检测部30检测出传送容器11的时间(步骤104),获取实际传送所需的时间。
当传送容器11的传送结束(步骤105)时,运算部41进行传送时间判定处理,该传送时间判定处理为:比较由移动时间计算部42计算出的传送时间是否比在步骤102中计算并存储在存储部43中的传送时间要短(步骤106)。在步骤106中,在由移动时间计算部42计算出的传送时间比在步骤102中计算出的传送时间要短的情况下,运算部41判定为传送没有异常(步骤107),计算下一传送路径(步骤114)。
在步骤106中,在由移动时间计算部42计算出的传送时间比在步骤102计算出的传送时间长的情况下,运算部41参照传送中使用的磁极25(线圈21)的电流振幅,进行实施例1所记载的传送平面12的上表面的异常检测(劣化判定)(步骤108)。
在步骤108中,运算部41判定传送路径上的线圈的电流振幅在应收敛为阈值以内的时间内是否在阈值以内。
运算部41在传送路径上的线圈的电流振幅在应收敛为阈值以内的时间内在阈值以内的情况下,判定为传送平面12的上表面没有被刮伤(步骤109)。
在步骤108中,在传送路径上的线圈的电流振幅在应收敛为阈值以内的时间内不在阈值以内的情况下,判定为传送平面12的上表面存在刮伤(步骤110)。
在实施例2中,也与实施例1同样,能够提供能够推定导致检体的传送速度降低的要因的检体传送装置及检体传送方法。
(实施例3)
接着,对实施例3中的检体传送装置1进行说明。实施例3是在检体传送装置1中,执行判定为传送平面12的上表面存在异常时的处理的示例。检体传送装置1的整体结构与实施例1相同,因此省略图示及其详细说明。
使用图5说明实施例3。
图5是控制部40的动作流程图。在实施例3中,与图4所示的示例相比在步骤108中判定为“否”时的处理不同,其他步骤相同。因此,对在步骤108中判定为“否”时的步骤进行说明。
在步骤108中,在检测到传送路径上的磁极25的线圈21的电流振幅超过阈值、在传送平面12的上表面存在异常的情况下(判定为“否”的情况下),运算部41判定传送所使用的传送路径是否包含不能排除的路径(步骤111)。在传送部中存在在系统中具有特定功能的传送路径。例如,配置有读取传送容器11的ID的传感器的传送路径、成为分析装置或系统本身的出入口的传送路径。这些传送路径不能绕过传送容器11。
在运算部41中,这些传送路径作为不能排除的路径而登记在存储部43中。在步骤111中判定为包含不能排除的路径的情况下,该传送路径不被排除,通过在显示部60上显示表示不能排除传送路径的警报来通知用户(步骤118)。然后,计算下一传送路径(步骤116)。
在步骤111中,在不包含不能排除的传送路径的情况下,将该传送所使用的磁极25(线圈21)中电流的振幅超过阈值的磁极25(线圈21)及其跟前(上游侧)的磁极25(线圈21)判定为不能作为传送路径使用,并进行登记(存储在存储部43中)(步骤112)。即,将配置在与被判定为存在劣化的传送平面12对应的位置的磁极25(线圈21)和配置在其上游侧的磁极25(线圈21)从传送容器11的传送路径中排除。电流的振幅超过阈值的磁极25(线圈21)是配置在与被判定为存在劣化的传送平面12对应的位置的磁极25(线圈21)。
运算部41与实施例2同样,计算传送所需的时间(推定传送时间)。即,根据一个传送容器11中传送所需的时间,能够计算传送部中的传送容器11的处理能力。传送容器11的处理能力表示一个传送部每单位时间能够处理的传送容器11的数量。传送部所要求的处理能力根据系统中的传送部的位置而不同。
在步骤112中,在登记为不能使用存在劣化的传送路径的情况下,运算部41基于新的限制(排除存在劣化的传送路径的限制),计算传送路径。此时,根据传送所需的时间,计算传送部的处理能力。运算部41判定新计算出的传送处理能力是否在该传送部中求出的阈值以上(步骤113)。
在步骤113中,在传送处理能力为阈值以上的情况下,由于能够变更为将发生了劣化的传送平面12排除的传送路径,因此运算部41通过在显示部60上显示传送路径变更警报来通知用户(步骤115)。然后,计算下一传送路径(步骤116)。
在步骤113中,在传送处理能力小于阈值的情况下,需要更换发生了劣化的传送平面12的上表面来使用,因此运算部41通过在显示部60上显示表示需要更换传送部的发生了劣化的传送平面12的上表面的更换警报来通知用户(步骤117)。然后,计算下一传送路径(步骤116)。
如上所述,根据实施例3,除了能够得到与实施例1同样的效果之外,还能够提供在判定为传送平面12的上表面存在异常的情况下,能够向用户通知传送路径的变更或传送平面12的上表面的更换的检体传送装置及检体传送方法。
(实施例4)
接着,对实施例4中的检体传送装置1进行说明。实施例4是在检体传送装置1中,如实施例2所述那样传送容器11的传送时间超过由运算部41计算出的传送时间,进行传送平面12的上表面的异常检测,并且执行判定为传送平面12的上表面没有异常时的处理的示例。检体传送装置1的整体结构与实施例1相同,因此省略图示及其详细说明。
使用图6说明实施例4。
图6是控制部40的动作流程图。在实施例4中,与图4所示的示例相比在步骤108中判定为“否”时的处理不同,其他步骤相同。因此,对在步骤108中判定为“否”时的步骤进行说明。
在步骤108中,在判定为传送路径上的磁极25的线圈21的电流振幅在阈值以内,在传送平面12的上表面没有异常的情况下,运算部41判定传送中所使用的传送路径中是否包含不能排除的路径(步骤120)。
在步骤120中判定为包含不能排除的路径的情况下,该传送路径不被排除,通过在显示部60上显示表示不能排除传送路径的警报来通知用户(步骤123)。然后,计算下一传送路径(步骤124)。
在步骤120中,在不包含不能排除的路径的情况下,判定为因在传送平面12上存在障碍物而导致的异常,为了在传送路径的计算时不使用,将通过的传送路径整体登记在存储部43中(步骤121)。另外,将因障碍物而变更传送路径的情况作为警报显示在显示部60上,并通知用户(步骤122)。然后,计算下一传送路径(步骤124)。
在步骤108中,在传送路径上的磁极25的线圈21的电流振幅超过阈值的情况下,判定为传送平面12存在刮伤异常,前进至步骤119。在步骤119中,能够使显示部60上显示传送平面12存在刮伤异常。
如上所述,根据实施例4,除了能够得到与实施例1同样的效果之外,还能够提供一种检体传送装置及检体传送方法,不仅在判定为传送平面12存在异常的情况下,而且在传送平面12上存在障碍物的情况下,能够向用户通知传送路径的变更或更换。
(实施例5)
接着,对实施例5中的检体传送装置1进行说明。实施例5省略实施例2中的步骤106及步骤107,从步骤105前进至步骤108。然后,在步骤108中判定为“否”的情况下,执行实施例3中的步骤111~113、115~118。然后,在步骤108中判定为“是”的情况下,执行实施例4中的步骤120~123,并执行步骤116。
图7中的步骤编号中的处理内容与图4、图5及图6所示的步骤编号中的处理内容相同,因此省略详细的说明。
根据实施例5,能够得到实施例3的效果以及实施例4的效果。
标号说明
1…检体传送装置,10…永磁体,11…传送容器,12…传送平面,21…线圈,22…芯体,25、25a、25b、25c、25d…磁极,30…位置检测部,40…控制部,41…运算部,42…移动时间推定部,43…存储部,50…驱动部,60…显示部,101、114、116、124…传送路径计算处理步骤,102…推定传送时间计算处理步骤,103…向传送路径上的线圈施加电压的处理步骤,104…电流振幅和时间信息的获取处理步骤,105…传送完成处理步骤,106…传送时间判定处理步骤,107…传送部正常判定处理步骤,108…电流振幅判定处理步骤,109…传送部上表面未被刮伤判定处理步骤,110、119…传送部上表面有刮伤判定处理步骤,111…线圈可否排除判定处理步骤,112…针对劣化异常的传送路径设定处理步骤,113…传送处理能力判定处理步骤,115、122…传送路径变更警报通知处理步骤,117…传送面更换警报通知处理步骤,118、123…不可排除警报通知处理步骤,120…传送路径可否排除判定处理步骤,121…针对障碍物异物劣化异常的传送路径设定处理步骤。

Claims (12)

1.一种检体传送装置,其特征在于,包括:
传送容器,该传送容器具有磁体或磁性体、且用于收纳检体;
传送部,该传送部配置有多个具有芯体和线圈的磁极,使所述传送容器在传送平面上移动;以及
控制部,该控制部控制施加于多个所述磁极的电压,检测所述传送容器在所述传送平面上的位置,并控制所述传送容器的移动,
所述控制部检测所述传送容器分别接近所述多个所述磁极时流过所述多个所述磁极各自的所述线圈的电流的振幅,根据检测出的所述电流的所述振幅,判定所述传送平面的劣化。
2.如权利要求1所述的检体传送装置,其特征在于,
所述控制部具有:运算部,该运算部计算与所述传送部的所述传送容器的传送源、传送目的地、传送路径及传送距离相对应的推定传送时间;以及移动时间计算部,该移动时间计算部获取所述传送容器实际传送所需的时间,
所述运算部比较所述传送容器的所述实际传送所需的时间和所述推定传送时间,在所述实际传送所需的时间不在所述推定传送时间以内的情况下,根据所述检测出的所述电流的所述振幅,进行所述传送平面的劣化判定。
3.如权利要求1或2所述的检体传送装置,其特征在于,
所述运算部判定所述传送平面有无劣化,在判定为存在劣化的情况下,判定为不能使用判定为存在劣化的所述传送平面,并从所述传送容器的传送路径中排除,且将配置在与被判定为存在所述劣化的所述传送平面对应的位置的所述磁极及配置在其上游侧的所述磁极从所述传送容器的所述传送路径中排除。
4.如权利要求1或2所述的检体传送装置,其特征在于,
还包括显示部,
所述运算部基于所述检测出的所述电流的所述振幅,进行所述传送平面的劣化判定,在判定为没有劣化的情况下,判定在移动时间比推定传送时间大的传送路径中是否包含不能从传送所述传送容器的传送路径中排除的传送路径,在包含不能排除的传送路径的情况下,在所述显示部上显示不能排除的情况。
5.如权利要求3所述的检体传送装置,其特征在于,
还包括显示部,
所述运算部将判定为存在所述劣化的所述传送路径排除,计算所述传送容器的传送路径,计算基于所计算出的所述传送路径的所述传送容器的处理能力,判定所计算出的所述处理能力是否在阈值以上,在所述处理能力为所述阈值以上的情况下,在所述显示部显示变更传送路径的情况,在所述处理能力小于所述阈值的情况下,在所述显示部显示更换被判定为存在所述劣化的所述传送路径的所述传送平面的上表面的情况。
6.如权利要求4所述的检体传送装置,其特征在于,
所述运算部基于所述检测出的所述电流的所述振幅,进行所述传送平面的劣化判定,在判定为没有劣化的情况下,判定在移动时间比推定传送时间大的传送路径中是否包含不能从传送所述传送容器的传送路径中排除的传送路径,在不包含不能排除的传送路径的情况下,判定为因在所述传送平面上存在障碍物而导致的异常,并在所述显示部上显示变更传送路径的情况。
7.一种检体传送方法,包括:传送容器,该传送容器具有磁体或磁性体、且用于收纳检体;以及传送部,该传送部配置有多个具有芯体和线圈的磁极,使所述传送容器在传送平面上移动,所述检体传送方法控制施加于所述多个所述磁极的电压,检测所述传送容器在所述传送平面上的位置,并控制所述传送容器的移动,所述检体传送方法的特征在于,
检测所述传送容器分别接近所述多个所述磁极时流过所述多个所述磁极各自的所述线圈的电流的振幅,
根据检测出的所述电流的所述振幅,判定所述传送平面的劣化。
8.如权利要求7所述的检体传送方法,其特征在于,
比较所述传送容器的实际传送所需的时间和与所述传送部的所述传送容器的传送源、传送目的地、传送路径及传送距离相对应的推定传送时间,在所述实际传送所需的时间不在所述推定传送时间以内的情况下,基于所述检测出的所述电流的所述振幅,进行所述传送平面的劣化判定。
9.如权利要求7或8所述的检体传送方法,其特征在于,
判定所述传送平面有无劣化,在判定为存在劣化的情况下,判定为不能使用被判定为存在劣化的所述传送平面,从所述传送容器的传送路径中排除,并将配置在与被判定为存在所述劣化的所述传送平面对应的位置的所述磁极及配置在其上游侧的所述磁极从所述传送容器的所述传送路径中排除。
10.如权利要求7或8所述的检体传送方法,其特征在于,
基于所述检测出的所述电流的所述振幅,进行所述传送平面的劣化判定,在判定为没有劣化的情况下,判定在移动时间比推定传送时间大的传送路径中是否包含不能从传送所述传送容器的传送路径中排除的传送路径,在包含不能排除的传送路径的情况下,在显示部上显示不能排除的情况。
11.如权利要求9所述的检体传送方法,其特征在于,
将被判定为存在所述劣化的所述传送路径排除,计算所述传送容器的传送路径,计算基于所计算出的所述传送路径的所述传送容器的处理能力,判定所计算出的所述处理能力是否在阈值以上,在所述处理能力为所述阈值以上的情况下,在显示部显示变更传送路径的情况,在所述处理能力小于所述阈值的情况下,在所述显示部显示更换被判定为存在所述劣化的所述传送路径的所述传送平面的上表面的情况。
12.如权利要求10所述的检体传送方法,其特征在于,
基于所述检测出的所述电流的所述振幅,进行所述传送平面的劣化判定,在判定为没有劣化的情况下,判定在移动时间比推定传送时间大的传送路径中是否包含不能从传送所述传送容器的传送路径中排除的传送路径,在不包含不能排除的传送路径的情况下,判定为因在所述传送平面上存在障碍物而导致的异常,并在所述显示部上显示变更传送路径的情况。
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