CN117666204A - 显示面板及液晶显示装置 - Google Patents
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Abstract
本公开关于一种显示面板及液晶显示装置,涉及显示面板切割技术领域。该显示面板包括显示区和非显示区;非显示区包括多个键合区、与键合区一一对应的转接引线区,以及多个测试垫;键合区设置有多条键合垫;转接引线区包括多个转接引线;转接引线与测试垫电连接;转接引线与键合垫电连接;非显示区还设置有多个金属块,至少部分金属块位于转接引线区之间;非显示区具有切割道,转接引线和金属块均被切割道切割为两部分。本公开通过金属块的设置,可以实时监测切割道的切割偏差,提高显示面板制备的良率。
Description
技术领域
本公开涉及显示面板切割技术领域,具体而言,涉及一种显示面板及液晶显示装置。
背景技术
TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)面板设计中,当COF(Chip On Flex,or,Chip On Film,覆晶薄膜)输出引线数较少时,为了使扇出区可以等阻抗设计,避免扇出区mura和色偏,经常将覆晶薄膜区输出引线均分为两组分别设计在覆晶薄膜区两端,这样在覆晶薄膜区的中间区域会有一段较大的(34mm左右)空置区02(dummy)无金属走线,如图1。同时,通常在转接引线和测试垫走线之间同样有一段约12mm的空间无金属走线,如图2。
测试机台对测试垫扎针测试完成后,需要将转接引线和测试垫走线切断,否则最后覆晶薄膜COF绑定在覆晶薄膜COF键合区域上后会发生短路。如图1和图2中的实际切割道100,如果切割精度出现较大偏差,在最终切到金属线时才会被发现。这可能会导致有效信号金属线发生断路,还会可能导致不能将短路杆走线和测试垫走线全部切断;这些均可能导致在键合区上绑定覆晶薄膜COF后,IC的传输信号发生短路或者断路,造成面板无法正常显示。
以图1和图2中的空置区02为例,上述不存在金属线的空置区02的存在将导致切割过程中不能利用切割金属线后留下的痕迹来随时监控切割方向和切割精度。
需要说明的是,上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
本公开的目的在于克服上述现有技术的不足,提供一种显示面板及液晶显示装置,该显示面板在切割过程中可以通过金属块对切割道是否存在较大偏差进行实时监测,进而提高该显示面板的良率。
根据本公开的一个方面,一种显示面板,包括显示区和位于显示区外至少一侧的非显示区;
所述显示面板在所述非显示区包括多个键合区、与所述键合区一一对应的转接引线区,以及多个测试垫;
所述键合区设置有多条键合垫;所述转接引线区位于对应的所述键合区远离所述显示区的一侧,且包括多个转接引线;所述转接引线与所述测试垫电连接;所述转接引线与所述键合垫电连接;
所述非显示区还设置有多个金属块,至少部分所述金属块位于所述转接引线区之间;
所述非显示区具有切割道,所述转接引线和所述金属块均被所述切割道切割为两部分。
在本公开的一种示例性实施例中,所述非显示区包括多个键合区组,每个所述键合区组包括相邻的两个所述键合区;同一所述键合区组内的所述键合垫用于与同一覆晶薄膜COF键合;
所述非显示区具有与各个所述键合区组一一对应的第一辅助区,所述第一辅助区位于对应的所述键合区组的所述键合区对应的所述转接引线区之间;
所述第一辅助区内设置有第一金属块组,所述第一金属块组包括多个被所述切割道割断的所述金属块。
在本公开的一种示例性实施例中,所述转接引线包括第一转接引线和第二转接引线;
所述第一转接引线被所述切割道分割为第一部分和第二部分;所述第一部分与所述键合垫电连接;所述第二部分与所述测试垫电连接;
至少部分所述第一转接引线之间设置有所述金属块,所述金属块被所述切割道分割为两部分。
在本公开的一种示例性实施例中,所述第一转接引线包括第一引线组和第二引线组,所述第一引线组包括多个第一转接引线,所述第二引线组包括多个第一转接引线;
所述第一引线组的各个所述第一转接引线分别连接一个所述第二转接引线;
所述第二引线组中,任意一条所述第一转接引线均与至少另外一条所述第一转接引线一起连接至同一个所述第二转接引线;
所述非显示区具有至少一个第二辅助区,所述第二辅助区位于所述第一引线组和所述第二引线组之间;
所述第二辅助区内设置有第二金属块组,所述第二金属块组包括多个被所述切割道隔断的所述金属块。
在本公开的一种示例性实施例中,所述非显示区还包括测试垫走线区;所述测试垫走线区设置有使得所述第二转接引线和所述测试垫电连接的测试垫引线;
所述非显示区具有至少一个第三辅助区,所述第三辅助区位于所述转接引线区和所述测试垫走线区之间;
所述第三辅助区内设置有第三金属块组,所述第三金属块组包括多个被所述切割道隔断的所述金属块。
在本公开的一种示例性实施例中,沿所述切割道形成切割区域,所述切割区域与所述转接引线相交的区域具有与所述转接引线一一对应的第一钝化层沟槽;所述第一钝化层沟槽的延伸方向与所述切割道的延伸方向垂直;
所述转接引线设置在对应的所述第一钝化层沟槽的槽底。
在本公开的一种示例性实施例中,沿所述切割道形成切割区域,所述切割区域与所述金属块相交的区域具有与所述金属块一一对应的第二钝化层沟槽;所述第二钝化层沟槽的延伸方向与所述切割道的延伸方向垂直;
所述金属块设置在对应的所述第二钝化层沟槽的槽底。
在本公开的一种示例性实施例中,沿所述切割道形成切割区域,所述切割区域与所述测试垫引线相交的区域具有与所述测试垫引线一一对应的第三钝化层沟槽;所述第三钝化层沟槽的延伸方向与所述切割道的延伸方向垂直;
所述测试垫引线设置在对应的所述第三钝化层沟槽的槽底。
在本公开的一种示例性实施例中,所述金属块与所述转接引线同层设置。
根据本公开的另一个方面,一种液晶显示装置,包括上述显示面板。
本公开的显示面板在切割过程中,可以通过在转接引线区之间设置的金属块和其他金属引线在切割后留下的黑色的印迹,实时判断出切割道是否存在偏差,并利于在切割过程中做出实时调整,提高了显示面板的制备良率。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术中,显示面板切割道的切割偏差示意图。
图2为现有技术中,显示面板切割道的切割偏差示意图。
图3为本公开一种实施方式中,显示面板的结构示意图。
图4为本公开一种实施方式中,显示面板的第一辅助区设置金属块结构示意图。
图5为本公开一种实施方式中,显示面板的第二辅助区设置金属块结构示意图。
图6为本公开一种实施方式中,显示面板的第一辅助区和第三辅助区设置金属块结构示意图。
图7为本公开一种实施方式中,显示面板的第一钝化沟槽结构示意图。
图8为本公开一种实施方式中,显示面板的第一钝化沟槽剖面示意图。
附图标记如下:
100、实际切割道,02、空置区;
AA、显示区,BB、非显示区,COF、覆晶薄膜,ARR、阵列基板,CF、彩膜基板,SUB、衬底基板,PDCL、像素驱动电路层,PVX、钝化层,PCB、印刷电路板,CP、切割道,1、金属块,10、键合区,101、键合垫,20、转接引线区,201、第一转接引线,2011、第一引线组,2012、第二引线组,202、第二转接引线,2021、短路杆,30、测试垫走线区,301、测试垫引线,40、测试垫,50、第一金属块组,60、第二金属块组,70、第三金属块组,80、第一钝化层沟槽。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而,示例实施方式能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的实施方式;相反,提供这些实施方式使得本公开将全面和完整,并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构,因而将省略它们的详细描述。此外,附图仅为本公开的示意性图解,并非一定是按比例绘制。
虽然本说明书中使用相对性的用语,例如“上”“下”来描述图标的一个组件对于另一组件的相对关系,但是这些术语用于本说明书中仅出于方便,例如根据附图中所述的示例的方向。能理解的是,如果将图标的装置翻转使其上下颠倒,则所叙述在“上”的组件将会成为在“下”的组件。当某结构在其它结构“上”时,有可能是指某结构一体形成于其它结构上,或指某结构“直接”设置在其它结构上,或指某结构通过另一结构“间接”设置在其它结构上。
用语“一个”、“一”、“该”、“所述”和“至少一个”用以表示存在一个或多个要素/组成部分/等;用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等;用语“第一”、“第二”和“第三”等仅作为标记使用,不是对其对象的数量限制。
本公开实施方式提供了一种显示面板,如图3所示,显示面板可以包括依次层叠设置的阵列基板ARR和彩膜基板CF,在阵列基板ARR和彩膜基板CF之间设置有封框胶围绕出的液晶盒,液晶盒内设置有液晶。阵列基板ARR上设置有像素电极和用于向像素电极加载数据电压的像素驱动电路。阵列基板ARR或者彩膜基板CF上设置有公共电极。通过控制像素电极与公共电极之间的电场强度,可以调整像素电极对应范围内的液晶的扭转程度或者倒伏程度,进而调整通过液晶的偏振光的偏振方向,最终调整显示面板在像素电极对应范围内的出光率。
在显示面板的测试方面,一般制造的液晶显示面板需要通过短路杆(shortingbar)测试或通过全部接点(full contact)测试,以确定所制造的显示面板能够正常运行。而测试后的,用于与测试垫40连接的转接引线和测试垫引线需要切断,以避免后续采用COF(Chip On Flex,or,Chip On Film,覆晶薄膜)或COP(Chip On Pi)键合后,出现短路或信号传输断路,导致显示面板无法正常使用。
如图3至图6所示,本实施例提供的显示面板包括显示区AA和位于显示区AA外至少一侧的非显示区BB。所述非显示区BB包括多个键合区10、与所述键合区10一一对应的转接引线区20,以及多个测试垫40。所述键合区10设置有多条键合垫101;所述转接引线区20位于对应的所述键合区10远离所述显示区AA的一侧,且包括多个转接引线。所述转接引线与所述测试垫40电连接,同时,转接引线与键合垫101电连接。也就是说,键合垫101、转接引线、测试垫40依次电连接。在测试阶段(为切割前),转接引线未被切割道隔断,测试垫40可以与测试机台连接,进而实现对显示面板的测试。所述非显示区BB还设置有多个金属块1,其中,至少部分所述金属块1位于所述转接引线区20之间。在切割时,在非显示区BB形成切割道CP,使得显示面板最终还具有切割道CP,所述转接引线和所述金属块1均被所述切割道CP切割为两部分。也就是说,金属块1设置在切割道CP上,在形成切割道CP时被切割为两部分。可以理解的是,在对转接引线进行切割时,通常采用激光等方式,金属材料的转接引线在切割后会留下黑色的印迹,可以很容易判断出切割道CP上的转接引线被切断。但是如果转接引线区20之间存在较大的空置区(无金属引线区),在对空置区进行切割时,无法实时判断是否沿着预设的切割轨迹进行切割以形成预期的切割道。当通过空置区后,在对后续的转接引线进行切割时,可能会因为空置区切割轨迹存在较大的偏差,导致转接引线切割不完全或切割至键合垫101。例如,如图1所示,实际切割道100向远离显示区AA方向倾斜,进而导致转接引线无法全部切断,后续工序中绑定覆晶薄膜COF或COP后会导致短路,进而导致显示面板无法使用。再例如,实际切割道100向靠近显示区AA方向倾斜,进而导致键合区10的键合垫101被切断,后续工序中绑定覆晶薄膜COF或COP后会导致断路,显示面板部分区域无法正常显示。
本实施例通过在转接引线区20之间设置金属块1,方便实时判断切割过程是否沿预设的切割轨迹进行切割,以便及时调整切割轨迹,保证切割道CP可以将金属块1和转接引线均切断,避免空置区存在较大的切割偏差而不能及时发现,导致显示面板出现不可逆损坏。这种切割轨迹大偏差一旦出现,即使切割完成后进行切割道检查发现切割偏差的存在,也已经很难补救。本公开实施方式的显示面板在未切割前,在转接引线区20之间设置金属块1,金属块1设置在预设的切割轨迹上;切割过程中,在切割至金属块区域,可以根据切割后是否存在金属切割痕迹,来判断切割道是否出现较大的偏差,使得在切割过程中可以实时的调节切割精准性,从而提高了显示面板制备的良率。
在本公开的一种实施方式中,所述金属块1可以与所述转接引线同层设置。如此,切割道CP可以同时将金属块1和转接引线切断,并产生切割痕迹,方便实时判断切割的准确性。当然,以阵列基板ARR的衬底基板SUB为基准高度,金属块1也可以至少部分物理高度与转接引线设置在同一层,以使得沿切割道CP切割后可以留下切割金属痕迹。
如图4所示,在本公开的一种实施方式中,所述非显示区BB包括多个键合区组,每个所述键合区组包括相邻的两个所述键合区10。同一所述键合区组内的所述键合垫101用于与同一覆晶薄膜COF键合;所述非显示区BB具有与各个所述键合区组一一对应的第一辅助区。第一辅助区位于对应的所述键合区组的所述键合区10对应的所述转接引线区20之间。所述第一辅助区内设置有第一金属块组50,所述第一金属块组50包括多个被所述切割道CP隔断的所述金属块1。
如图3和图4所示,在一种示例中,显示面板在切割道切割后,绑定覆晶薄膜COF。覆晶薄膜COF的一端可以与印刷电路板PCB连接,覆晶薄膜COF的另一端可以分别与两个键合区10连接,与同一个覆晶薄膜COF连接的两个键合区10为一个键合区组。其中,图4为图3中C部分在切割前的局部放大图。在两个键合区10对应的转接引线区20之间具有第一辅助区,所述第一辅助区在切割道CP的切割深度内没有设置金属引线。例如,第一辅助区内没有设置金属走线。以图4从左至右切割为例,本实施例通过在第一辅助区设置第一金属块组50,从左侧切割至第一辅助区时,可以通过第一金属块组50的金属块1切割后留下的痕迹,以判断切割轨迹是否正确,避免在第一辅助区切割出现较大偏差而不能实时的发现,导致切割道CP向远离或靠近显示区AA一侧偏移。
在一种示例中,所述第一金属块组50包括多个金属块1,所述金属块1在第一辅助区沿切割道CP延伸方向可以等间隔设置,也可以不等间隔设置;又或者,将第一金属块组50的金属块1分为多个第一子金属块组,分别沿切割道CP设置在转接引线区20之间。同一第一子金属块组内的金属块1沿切割道CP延伸方向可以等距排列,相邻的第一子金属块组之间的不等距排列。本公开不做特别限定。以图4为例,在第一辅助区设置两个第一子金属块组,在同一个第一子金属块组中,相邻的金属块1沿切割道CP延伸方向等间距设置,设该间距为d1;两个第一子金属块组沿切割道CP延伸方向的距离为d2,则d2大于d1。可以理解的是,在保证第一辅助区内的金属块1可以实时判断切割偏差的前提下,金属块1沿切割道CP延伸方向的设置间距可以根据需要调整。
在本公开的一种实施方式中,所述转接引线包括第一转接引线201和第二转接引线202。所述第一转接引线201被所述切割道CP分割为第一部分和第二部分;所述第一部分与所述键合垫101电连接;所述第二部分可以通过第二转接引线202与所述测试垫40电连接。至少部分所述第一转接引线201之间设置有所述金属块1,所述金属块1被所述切割道CP分割为两部分。
在一种示例中,如图4至图6所示,第一转接引线201与所述第二转接引线202弯折连接,键合垫101通过第一转接引线201与第二转接引线202连接。所述第一转接引线201包括第一引线组2011和第二引线组2012,所述第一引线组2011包括依次相邻的多个第一转接引线,所述第二引线组2012包括依次相邻的多个第一转接引线。
所述第一引线组2011的各个第一转接引线分别连接一个所述第二转接引线202。也就是,第一引线组2011中的各个第一转接线与对应的第二转接引线202采用一一对应的方式进行连接。在第二引线组2012中,任意一条所述第一转接引线均与至少另外一条所述第一转接引线一起连接至同一个所述第二转接引线202。也就是说,第二引线组2012中的第一转接引线与第二转接引线202的连接方式为:多个第一转接引线与同一条第二转接引线202连接。在一种示例中,第二转接引线202可以为短路杆2021,该短路杆2021可以同时与多条第一转接引线连接,短路杆2021与测试垫40一一对应连接,进而可以实现多个键合垫101与同一个测试垫40的电连接。
如图5所示,在第一引线组2011和第二引线组2012之间形成至少一个第二辅助区,第二辅助区在切割道CP的切割深度内没有设置金属走线。例如,第二辅助区内没有设置金属走线。以图5从左至右切割为例,在第二辅助区内设置有第二金属块组60。当从左至右切割至第二辅助区时,可以通过第二金属块组60的金属块1切割后留下的痕迹,判断切割的轨迹是否与预设的切割轨道存在较大偏差,以便实时的进行调整,避免出现如图2所示,切割道CP向远离显示区AA或靠近显示区AA的大幅度偏差,进而避免了显示面板出现显示问题。
示例性的,所述第二金属块组60包括多个金属块1,所述金属块1在第二辅助区沿切割道CP延伸方向可以等间隔设置,也可以不等间隔设置;又或者,将第二金属块组60的金属块1分为多个第二子金属块组,分别沿切割道CP设置在第一引线组2011和第二引线组2012之间。同一第二子金属块组中的金属块1沿切割道CP延伸方向可以等距排列,相邻的第二子金属块组之间可以不等距排列。本公开不做特别限定。
在一种示例中,显示面板还包括测试垫走线区30。所述测试垫走线区30设置有使得所述第二转接引线202和所述测试垫40电连接的测试垫引线301。如此,非显示区BB的键合垫101依次通过第一转接引线201、第二转接引线202、测试垫引线301与测试垫40连接。示例性的,第一转接引线201与第二转接引线202弯折连接,测试垫引线301也是弯折后与测试垫40电连接。
在一种示例中,第二转接引线202可以与测试垫引线301一一对应连接,也就是说,第二转接引线202中的短路杆2021与一个测试垫引线301连接,进而与一个测试垫40的连接,实现一个测试垫40对多个键合垫101的性能测试。
在一种示例中,如图6所示,在所述转接引线区20和所述测试垫走线区30之间还可以设置有第三辅助区,第三辅助区在切割道CP的切割深度内没有设置金属走线。切割道CP沿延伸方向贯穿所述非显示区BB,为了使切割道CP在经过两个键合区组之间区域时不会发生较大的切割偏差,第三辅助区内设置有第三金属块组70,所述第三金属块组70包括多个被所述切割道CP隔断的所述金属块1。如此,在第三辅助区内设置第三金属块组70,可以在切割过程中实时的通过金属的切割印迹判断切割是否存在偏差,避免转接引线区20和测试垫走线区30之间出现较大的切割偏差,进而导致切割至下一个键合区组时偏差过大,导致下一个键合区组中的转接引线无法正常切断,或者导致下一个键合区组中的有效引线(例如键合区10的键合垫101)被切断,导致显示面板的部分区域损坏,无法正常显示。
示例性的,所述第三金属块组70包括多个金属块1,所述金属块1在第三辅助区沿切割道CP延伸方向可以等间隔设置,也可以不等间隔设置;又或者,将第三金属块组70的金属块1分为多个第三子金属块组,分别沿切割道CP设置在转接引线区20和测试垫走线区30之间。同一第三子金属块组中的金属块1沿切割道CP延伸方向可以等距排列,相邻的第三子金属块组之间可以不等距排列。本公开不做特别限定。
在本公开的一种实施方式中,在切割形成切割道之前,沿第一转接引线201延伸方向,金属块1的尺寸大于等于切割道CP的在第一转接引线201延伸方向上的尺寸。同时,金属块1沿第一转接引线201延伸方向的尺寸不能超出对应的第一辅助区、第二辅助区或第三辅助区在第一转接引线201延伸方向上的尺寸。在切割形成切割道以后,金属块1被切割为第一亚金属块和第二亚金属块两部分,两个部分之间被切割道隔开。第一亚金属块远离第二亚金属块的端部,与第二亚金属块远离第一亚金属块的端部之间的距离,就是未被切割的金属块1沿第一转接引线201延伸方向的尺寸。举例而言,金属块1沿第一转接引线201延伸方向的尺寸为100um,金属块1沿切割道CP延伸方向的尺寸为10um;沿切割道CP延伸方向,相邻两个金属块的间隔为10um。
可以理解的是,在本公开实施方式中,显示面板存在切割前状态(用于检测)和切割后状态。在切割前,显示面板没有上述的切割道CP,第一转接引线没有被切割道分为两部分,这使得测试垫能够通过第一转接引线与键合垫电连接;同时,在切割轨迹上的金属块也是完整的。在切割时,沿切割轨迹进行切割以形成切割道CP。该切割道CP使得完整的金属块被切割为两部分,该金属块被切割为两部分所产生的痕迹用于对实际切割轨迹的监测,进而能够用于对实际切割轨迹的调整,避免实际切割轨迹的偏差而导致不良。同时,第一转接引线也被切割为互不电连接的两部分,使得测试垫与键合垫之间断路。
本公开实施例中所说的第一辅助区、第二辅助区、第三辅助区可以同时设置金属块1,以避免无金属引线的各个辅助区的存在,可能导致的切割大偏差不能及时发现的问题。也可以根据实际情况在第一辅助区和/或第二辅助区和/或第三辅助区设置金属块1。
在本公开的一种实施方式中,阵列基板ARR可以包括依次层叠设置的衬底基板SUB、像素驱动电路层PDCL及钝化层PVX。其中,薄膜晶体管(TFT,Thin Film Transistor)的各个膜层均设置于像素驱动电路层PDCL;每个薄膜晶体管TFT对应于一个子像素,并按照阵列的方式进行排布;通过控制薄膜晶体管TFT在相应区域形成电场,并利用电场实现该区域内液晶分子的偏转,进而实现射入液晶层中光线的光路控制。在电场强度不同时,可以实现液晶分子偏转角度的调整,进而实现不同灰阶颜色,使液晶显示面板具有丰富的显示效果。在一种示例中,薄膜晶体管TFT包括依次层叠设置的柵极层、栅极绝缘层、有源层、源漏电极层;其中,源漏电极层包括TFT源电极和TFT漏电极,所述TFT漏电极与像素电极电连接。
在本公开的一种实施方式中,所述金属块1可以采用与TFT柵极层或TFT源漏电极层相同的金属材料。
在本公开的一种实施方式中,沿所述切割道CP可以形成切割区域,所述切割区域与所述转接引线相交的区域具有与所述转接引线一一对应的第一钝化层沟槽80;所述第一钝化层沟槽80的延伸方向与所述切割道CP的延伸方向垂直;转接引线设置在对应的所述第一钝化层沟槽80的槽底。在一种示例中,设置在阵列基板ARR上的钝化层PVX较厚,大约在6000A左右,因此在钝化层PVX上可以设置钝化层沟槽,以容置转接引线,不影响阵列基板ARR的各项性能。如图7和图8所示,位于切割区域的转接引线的延伸方向与所述切割道CP的延伸方向垂直。如此,在切割区域与转接引线相交的区域设置多条与转接引线平行的第一钝化层沟槽80,使得切割区域的转接引线位于第一钝化层沟槽80的槽底部,当对转接引线进行切割时,产生的金属碎屑落入第一钝化层沟槽80中,有利于提高切割精度。
进一步地,还可以在所述切割区域与所述金属块1相交的区域设置与所述金属块1一一对应的第二钝化层沟槽;所述第二钝化层沟槽的延伸方向与所述切割道CP的延伸方向垂直;金属块1设置在对应的所述第二钝化层沟槽的槽底。如此,在切割区域与金属块1相交的区域设置多条与金属块1平行的第二钝化层沟槽,使得金属块1位于第二钝化层沟槽的槽底部,当对金属块1进行切割时,产生的金属碎屑落入第二钝化层沟槽中,有利于提高切割精度。
进一步地,切割道CP沿延伸方向可以贯穿所述非显示区BB,形成一条连续的切割道CP,如此,切割道CP会与测试垫引线301相交。所述切割区域与所述测试垫引线301相交的区域具有与所述测试垫引线301一一对应的第三钝化层沟槽;所述第三钝化层沟槽的延伸方向与所述切割道CP的延伸方向垂直;测试垫引线301设置在对应的所述第三钝化层沟槽的槽底。如此,在切割区域与测试垫引线301相交的区域设置多条与测试垫引线301平行的第三钝化层沟槽,使得测试垫引线301位于第三钝化层沟槽的槽底部,当对测试垫引线301进行切割时,产生的金属碎屑落入第三钝化层沟槽中,有利于提高切割精度。
本公开实施方式还提供一种液晶显示装置,该液晶显示装置包括上述显示面板实施方式所描述的任意一种显示面板。该液晶显示装置可以为智能手机屏幕、智能手表屏幕或者其他类型的显示装置。由于该液晶显示装置具有上述显示面板实施方式所描述的任意一种显示面板,因此具有相同的有益效果,本公开在此不再赘述。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后,将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的真正范围和精神由所附的权利要求指出。
Claims (10)
1.一种显示面板,其特征在于,包括显示区和位于所述显示区外至少一侧的非显示区;
所述显示面板在所述非显示区包括多个键合区、与所述键合区一一对应的转接引线区,以及多个测试垫;
所述键合区设置有多条键合垫;所述转接引线区位于对应的所述键合区远离所述显示区的一侧,且包括多个转接引线;所述转接引线与所述测试垫电连接;所述转接引线与所述键合垫电连接;
所述非显示区还设置有多个金属块,至少部分所述金属块位于所述转接引线区之间;
所述非显示区具有切割道,所述转接引线和所述金属块均被所述切割道切割为两部分。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述非显示区包括多个键合区组,每个所述键合区组包括相邻的两个所述键合区;同一所述键合区组内的所述键合垫用于与同一覆晶薄膜COF键合;
所述非显示区具有与各个所述键合区组一一对应的第一辅助区,所述第一辅助区位于对应的所述键合区组的所述键合区对应的所述转接引线区之间;
所述第一辅助区内设置有第一金属块组,所述第一金属块组包括多个被所述切割道割断的所述金属块。
3.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述转接引线包括第一转接引线和第二转接引线;
所述第一转接引线被所述切割道分割为第一部分和第二部分;所述第一部分与所述键合垫电连接;所述第二部分与所述测试垫电连接;
至少部分所述第一转接引线之间设置有所述金属块,所述金属块被所述切割道分割为两部分。
4.根据权利要求3所述的显示面板,其特征在于,所述第一转接引线包括第一引线组和第二引线组,所述第一引线组包括多个第一转接引线,所述第二引线组包括多个第一转接引线;
所述第一引线组的各个所述第一转接引线分别连接一个所述第二转接引线;
所述第二引线组中,任意一条所述第一转接引线均与至少另外一条所述第一转接引线一起连接至同一个所述第二转接引线;
所述非显示区具有至少一个第二辅助区,所述第二辅助区位于所述第一引线组和所述第二引线组之间;
所述第二辅助区内设置有第二金属块组,所述第二金属块组包括多个被所述切割道隔断的所述金属块。
5.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述非显示区还包括测试垫走线区;所述测试垫走线区设置有使得所述第二转接引线和所述测试垫电连接的测试垫引线;
所述非显示区具有至少一个第三辅助区,所述第三辅助区位于所述转接引线区和所述测试垫走线区之间;
所述第三辅助区内设置有第三金属块组,所述第三金属块组包括多个被所述切割道隔断的所述金属块。
6.根据权利要求3所述的显示面板,其特征在于,沿所述切割道形成切割区域,所述切割区域与所述转接引线相交的区域具有与所述转接引线一一对应的第一钝化层沟槽;所述第一钝化层沟槽的延伸方向与所述切割道的延伸方向垂直;
所述转接引线设置在对应的所述第一钝化层沟槽的槽底。
7.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,沿所述切割道形成切割区域,所述切割区域与所述金属块相交的区域具有与所述金属块一一对应的第二钝化层沟槽;所述第二钝化层沟槽的延伸方向与所述切割道的延伸方向垂直;
所述金属块设置在对应的所述第二钝化层沟槽的槽底。
8.根据权利要求6或7所述的显示面板,其特征在于,还包括测试垫走线区;所述测试垫走线区设置有使得所述第二转接引线和所述测试垫电连接的测试垫引线;
沿所述切割道形成切割区域,所述切割区域与所述测试垫引线相交的区域具有与所述测试垫引线一一对应的第三钝化层沟槽;所述第三钝化层沟槽的延伸方向与所述切割道的延伸方向垂直;
所述测试垫引线设置在对应的所述第三钝化层沟槽的槽底。
9.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述金属块与所述转接引线同层设置。
10.一种液晶显示装置,其特征在于,包括权利要求1-9任意一项所述的显示面板。
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Applications Claiming Priority (1)
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CN202311663042.9A Pending CN117666204A (zh) | 2023-11-30 | 2023-11-30 | 显示面板及液晶显示装置 |
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2023
- 2023-11-30 CN CN202311663042.9A patent/CN117666204A/zh active Pending
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