CN117664530A - 基于双参考信号的激光信号特性测量方法及装置 - Google Patents

基于双参考信号的激光信号特性测量方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN117664530A
CN117664530A CN202311676344.XA CN202311676344A CN117664530A CN 117664530 A CN117664530 A CN 117664530A CN 202311676344 A CN202311676344 A CN 202311676344A CN 117664530 A CN117664530 A CN 117664530A
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
laser
beat frequency
laser signal
frequency electric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202311676344.XA
Other languages
English (en)
Inventor
刘世锋
刘俊宇
潘时龙
杨丽
傅剑斌
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou 614 Information Technology Co ltd
Suzhou Liuyaoliu Photoelectric Technology Co ltd
Suzhou Research Institute Of Nanjing University Of Aeronautics And Astronautics
Nanjing University of Aeronautics and Astronautics
Original Assignee
Suzhou 614 Information Technology Co ltd
Suzhou Liuyaoliu Photoelectric Technology Co ltd
Suzhou Research Institute Of Nanjing University Of Aeronautics And Astronautics
Nanjing University of Aeronautics and Astronautics
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou 614 Information Technology Co ltd, Suzhou Liuyaoliu Photoelectric Technology Co ltd, Suzhou Research Institute Of Nanjing University Of Aeronautics And Astronautics, Nanjing University of Aeronautics and Astronautics filed Critical Suzhou 614 Information Technology Co ltd
Priority to CN202311676344.XA priority Critical patent/CN117664530A/zh
Publication of CN117664530A publication Critical patent/CN117664530A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/4257Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G01J9/04Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by beating two waves of a same source but of different frequency and measuring the phase shift of the lower frequency obtained

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

本发明公开了一种基于双参考信号的激光信号特性测量方法。其包括:步骤1、将两个参考激光信号与待测激光信号波分复用为一路后进行基于短延时的自零差/自外差探测并解波分复用,然后对所得到的自零差/自外差探测光信号分别进行光电探测,分别得到两个参考和待测激光信号的拍频电信号;步骤2、分别提取待测激光信号的拍频电信号相对于两个参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据;步骤3、将两组相对相位数据进行互相关功率谱估计,得到待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度,并据此计算出待测激光信号的相位、频率噪声功率谱密度和线宽。本发明还公开了一种基于双参考信号的激光信号特性测量装置。本发明可提高测量精度并减少测量条件限制。

Description

基于双参考信号的激光信号特性测量方法及装置
技术领域
本发明属于光电测量技术领域,尤其涉及一种激光信号特性测量方法及装置。
背景技术
随着激光器技术的飞速发展,半导体激光器在人类生活的各个领域如航空航天、材料加工、军事等具有广泛的应用。而窄线宽激光器由于线宽窄、噪声低、抗电磁干扰能力强、安全、可远程控制和价格比较合理等优点,在光通信、光传感、光遥感、高精度光谱、材料技术及矿井监测等领域都有它的身影。同时,激光器的线宽和相频噪声等参数对光纤传感系统的探测距离、探测精度、灵敏度以及噪声特性起决定性的作用,对通信的质量和水平有巨大的影响。
传统的激光器线宽测量方法主要有光谱分析仪法和法布里-玻罗(F-P)扫描干涉仪法两大类,但光谱分析仪法仅能测量GHz量级线宽,且法布里-玻罗(F-P)扫描干涉仪法检测的线宽极限在MHz量级。显然这两种方法已经不满足当前激光器线宽测量的发展需求。
常用的测量线宽的方法中延时自外差法和延时自零差法只需要一个光源,测试环境简单,但随着激光器线宽越来越窄,延时所需要的光纤可达上百公里,导致测量系统庞大、难以集成、成本高,并且会产生新的测量误差;而常用的测量线宽方法中双光束外差法具有高频带、高分辨率、高灵敏度的优点,但需与待测激光器频率相近的参考激光器,且两个激光器的光谱需为洛伦兹线型,这样所得的拍频功率谱的线宽大小为两激光器线宽的和。若两个激光器的光谱为高斯线型,则拍频功率谱线宽的大小为两激光器线宽的平方和,这就要求待测激光器的线宽远大于参考激光器的线宽,才能使得拍频谱的线宽与待测激光器的线宽近似相等。此外,现有基于相位解调原理的延时自外差或延时自零差探测的激光信号相频噪声测量方法受限于测量系统的信噪比和环境噪声的影响,要求对于线宽很窄的待测激光信号根据高频噪声信号的噪声谱密度确定待测激光信号的线宽,不能进一步直观地展示全频域下任意频率噪声谱对激光线型和线宽的影响。
综上可知,现有激光信号的线宽和相频噪声特性测量方案均存在较大不足,有必要进行改进。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于克服现有技术不足,提供一种基于双参考信号的激光信号特性测量方法,在大幅提高激光信号的线宽和相频噪声特性测量精度的同时,可有效克服现有技术对于延时光纤长度、参考激光器性能等的限制,降低系统成本。
本发明具体采用以下技术方案解决上述技术问题:
一种基于双参考信号的激光信号特性测量方法,包括以下步骤:
步骤1、将两个参考激光信号与待测激光信号波分复用为一路后,对其进行基于短延时的自零差/自外差探测并解波分复用,然后对所得到的对应于两个参考激光信号和待测激光信号的自零差/自外差探测光信号分别进行光电探测,分别得到两个参考激光信号和待测激光信号的拍频电信号;两个参考激光信号与待测激光信号的波长各不相同;
步骤2、分别提取待测激光信号的拍频电信号相对于两个参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据;
步骤3、将所提取的两组相对相位数据进行互相关功率谱估计,得到待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度,并据此计算出待测激光信号以下特性参数中的至少一个:相位噪声功率谱密度、频率噪声功率谱密度、线宽。
作为其中一个优选方案,步骤1中使用自零差探测;步骤2中使用以下方法提取待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据:对每一路拍频电信号,将其分为两路,对其中的一路移相90度作为同相分量,另一路作为正交分量,然后将同相分量与正交分量相除后提取其反正切函数,从而得到这一路拍频电信号的相位数据;将待测激光信号的拍频电信号相位数据与参考激光信号的拍频电信号相位数据相减,即得待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据。
进一步地,先对待测激光信号的拍频电信号相位数据与参考激光信号的拍频电信号相位数据分别进行相位角平滑及去直流偏置操作,然后再将两者相减。
作为其中另一个优选方案,步骤1中使用自外差探测;步骤2中使用以下方法提取待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据:以待测激光信号的拍频电信号、参考激光信号的拍频电信号分别作为RF信号、LO信号,对两者进行IQ解调,并对IQ解调所得到的同相分量与正交分量分别进行低通滤波和放大;最后将低通滤波和放大后的同相分量与正交分量相除后提取其反正切函数,即得待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据。
进一步地,在提取待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据时,还包括:对所提取的反正切函数进行相位角平滑及去直流偏置操作。
基于同一发明构思还可以得到以下技术方案:
一种基于双参考信号的激光信号特性测量装置,包括:
探测模块,用于将两个参考激光信号与待测激光信号波分复用为一路后,对其进行基于短延时的自零差/自外差探测并解波分复用,然后对所得到的对应于两个参考激光信号和待测激光信号的自零差/自外差探测光信号分别进行光电探测,分别得到两个参考激光信号和待测激光信号的拍频电信号;两个参考激光信号与待测激光信号的波长各不相同;
两个相对相位提取模块,分别用于提取待测激光信号的拍频电信号相对于两个参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据;
数据处理模块,用于将所提取的两组相对相位数据进行互相关功率谱估计,得到待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度,并据此计算出待测激光信号以下特性参数中的至少一个:相位噪声功率谱密度、频率噪声功率谱密度、线宽。
作为其中一个优选方案,探测模块使用自零差探测;相对相位提取模块使用以下方法提取待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据:对每一路拍频电信号,将其分为两路,对其中的一路移相90度作为同相分量,另一路作为正交分量,然后将同相分量与正交分量相除后提取其反正切函数,从而得到这一路拍频电信号的相位数据;将待测激光信号的拍频电信号相位数据与参考激光信号的拍频电信号相位数据相减,即得待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据。
进一步地,相对相位提取模块先对待测激光信号的拍频电信号相位数据与参考激光信号的拍频电信号相位数据分别进行相位角平滑及去直流偏置操作,然后再将两者相减。
作为其中另一个优选方案,探测模块使用自外差探测;相对相位提取模块使用以下方法提取待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据:以待测激光信号的拍频电信号、参考激光信号的拍频电信号分别作为RF信号、LO信号,对两者进行IQ解调,并对IQ解调所得到的同相分量与正交分量分别进行低通滤波和放大;最后将低通滤波和放大后的同相分量与正交分量相除后提取其反正切函数,即得待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据。
进一步地,相对相位提取模块还对所提取的反正切函数进行相位角平滑及去直流偏置操作。
相比现有技术,本发明技术方案具有以下有益效果:
本发明将双参考激光信号与待测激光信号的波分复用、互相关功率谱估计与自零差/自外差探测方式有机结合,并利用相对相位提取的方式消除本底噪声,可基于短延时光纤实现激光信号的相频噪声、线宽的精确测量,降低受1/f噪声影响而引起相位抖动的问题,改善测量系统的噪底限制和测量线宽的范围限制,且易于集成以实现小型化。
附图说明
图1为采用自零差探测方式的本发明激光信号特性测量装置原理框图;
图2为采用自零差探测方式的本发明激光信号特性测量装置中相对相位提取模块的一种优选结构示意图;
图3为互相关功率谱估计的流程示意图;
图4为图1所示装置不同次数互相关运算得到的差分相位噪声功率谱密度与待测激光器差分相位噪声功率谱密度之间的百分比误差变化示意图;
图5为采用自外差探测方式的本发明激光信号特性测量装置原理框图;
图6为采用自外差探测方式的本发明激光信号特性测量装置中相对相位提取模块的一种优选结构示意图。
具体实施方式
针对现有技术不足,本发明的解决思路是将双参考激光信号与待测激光信号的波分复用、互相关功率谱估计与自零差/自外差探测方式有机结合,并利用相对相位提取的方式消除本底噪声,可基于短延时光纤实现激光信号的相频噪声、线宽的精确测量,降低受1/f噪声影响而引起相位抖动的问题,改善测量系统的噪底限制和测量线宽的范围限制,且易于集成以实现小型化。
本发明所提出的基于双参考信号的激光信号特性测量方法,包括以下步骤:
步骤1、将两个参考激光信号与待测激光信号波分复用为一路后,对其进行基于短延时的自零差/自外差探测并解波分复用,然后对所得到的对应于两个参考激光信号和待测激光信号的自零差/自外差探测光信号分别进行光电探测,分别得到两个参考激光信号和待测激光信号的拍频电信号;两个参考激光信号与待测激光信号的波长各不相同;
步骤2、分别提取待测激光信号的拍频电信号相对于两个参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据;
步骤3、将所提取的两组相对相位数据进行互相关功率谱估计,得到待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度,并据此计算出待测激光信号以下特性参数中的至少一个:相位噪声功率谱密度、频率噪声功率谱密度、线宽。
本发明所提出的基于双参考信号的激光信号特性测量装置,包括:
探测模块,用于将两个参考激光信号与待测激光信号波分复用为一路后,对其进行基于短延时的自零差/自外差探测并解波分复用,然后对所得到的对应于两个参考激光信号和待测激光信号的自零差/自外差探测光信号分别进行光电探测,分别得到两个参考激光信号和待测激光信号的拍频电信号;两个参考激光信号与待测激光信号的波长各不相同;
两个相对相位提取模块,分别用于提取待测激光信号的拍频电信号相对于两个参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据;
数据处理模块,用于将所提取的两组相对相位数据进行互相关功率谱估计,得到待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度,并据此计算出待测激光信号以下特性参数中的至少一个:相位噪声功率谱密度、频率噪声功率谱密度、线宽。
为了便于公众理解,下面分别通过采用自零差探测、自外差探测的两个具体实施例并结合附图来对本发明的技术方案进行详细说明:
图1显示了采用自零差探测方式的本发明激光信号特性测量装置原理框图,其包括参考激光器1、参考激光器2、光电探测器1-3、波分复用器、解波分复用器、短延时光纤、两个光耦合器、两个相对相位提取模块、数据处理模块;其中,参考激光器1、2的波长分别为λ1、λ3,且两者与待测激光器的波长λ2各不相同。如图1所示,波分复用器将参考激光器1、2所发出的参考激光信号与待测激光器发出的待测激光信号波分复用为一路后经由第一个光耦合器分为两路,其中一路经短延时光纤延时后与另一路再次耦合并解波分复用,从而得到分别对应于两个参考激光信号和待测激光信号的三路自零差探测光信号;三路自零差探测光信号分别经光电探测器1-3拍频,分别得到两个参考激光信号λ1、λ3和待测激光信号λ2的拍频电信号;待测激光信号λ2的拍频电信号被分为两路,一路与参考激光信号λ1的拍频电信号一起输入第一个相对相位提取模块以提取出待测激光信号λ2的拍频电信号相对于参考激光信号λ1的拍频电信号的相对相位数据;另一路与参考激光信号λ3的拍频电信号一起输入另一个相对相位提取模块以提取出待测激光信号λ2的拍频电信号相对于参考激光信号λ3的拍频电信号的相对相位数据;数据处理模块将两个相对相位提取模块所提取的两组相对相位数据进行互相关功率谱估计,得到待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度,并据此计算出待测激光信号以下特性参数中的至少一个:相位噪声功率谱密度、频率噪声功率谱密度、线宽。
其中相对相位提取模块可采用移相器、ADC等器件构成,考虑到基于ADC的相对相位提取模块在相对差足够小时,可完成“电压起伏-相位起伏”的转换,但是消除不了幅度噪声,而基于移相器的相对相位提取模块能消除幅度噪声;为此,本实施例中的相位提取模块采用图2所示结构,对所输入的每一路拍频电信号,将其分为两路,对其中的一路移相90度作为同相分量,另一路作为正交分量,然后对同相分量与正交分量进行ADC模数转换,并在数字域中相除后提取其反正切函数,从而得到这一路拍频电信号的相位数据,为了进一步提高相对相位提取的准确性,本实施例中还进一步对每一路拍频电信号的相位数据分别进行相位角平滑及去直流偏置操作;然后利用减法器将待测激光信号的拍频电信号相位数据与参考激光信号的拍频电信号相位数据相减,即得待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据。
光电探测器1~3所获得的电信号可分别表示为:
其中,I1、I2、I3分别表示λ1参考激光信号、λ2待测激光信号、λ3参考激光信号自零差探测光信号的拍频电信号;同理,E1、E2、E3分别表示对应激光信号上下两路输出合并返回到光耦合器的光场强度,w1、w2、w3分别表示对应激光信号的频率,分别表示对应激光信号的相位差;td为短延时光纤的延时时间,A(t)为测量系统和环境振动的本底噪声。
两个相对相位提取模块所提取的两列相对相位数据信号可表示为:
可以看出,经相对相位提取模块处理后,测量系统和环境振动的本底噪声A(t)被完全消除。
数据处理模块对这两列相对相位数据进行互相关功率谱估计,可得到待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度。互相关功率谱估计为现有技术,其基本原理及流程如图3所示。经互相关功率谱估计所得到的待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度为:
其中,A、B、C分别为的FFT变换;m为互相关次数,T为测量时间;由于三个激光器在统计上是相互独立的,在互相关过程中不相关噪声功率谱密度满足互相关次数增大m倍,均值减小/>的规律。
在图4中,y轴代表10次、100次、1000次、5000次互相关运算得到的差分相位噪声功率谱密度与待测激光器差分相位噪声功率谱密度之间的百分比误差,x轴代表频偏。将分别含有参考激光器1差分相位噪声和参考激光器2差分相位噪声的待测激光器差分相位噪声经过互相关运算即可计算出待测激光器的差分相位噪声谱,我们将互相关运算得到的差分相位噪声谱密度与原本待测激光器的差分相位噪声谱按照如下公式即可得到百分比误差。从图4可以发现,互相关次数越大,从整个频偏范围来看百分比误差越小。
将待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度进行数学换算,可得待测激光信号的相位噪声功率谱密度和频率噪声功率谱密度Sf(f)分别为:
根据所得到的频率噪声功率谱密度,即可进一步采用β算法、功率面积法等各种现有激光线宽评估方案来表征激光器的线宽特性。
图5显示了采用自外差探测方式的本发明激光信号特性测量装置原理框图,其包括参考激光器1、参考激光器2、光电探测器1-3、波分复用器、解波分复用器、移频模块、短延时光纤、两个光耦合器、两个相对相位提取模块、数据处理模块;其中,参考激光器1、2的波长分别为λ1、λ3,且两者与待测激光器的波长λ2各不相同。如图5所示,波分复用器将参考激光器1、2所发出的参考激光信号与待测激光器发出的待测激光信号波分复用为一路后经由第一个光耦合器分为两路,其中一路经短延时光纤延时,另一路经移频模块进行移频,两路光信号再次耦合并解波分复用,从而得到分别对应于两个参考激光信号和待测激光信号的三路自外差探测光信号;三路自外差探测光信号分别经光电探测器1-3拍频,分别得到两个参考激光信号λ1、λ3和待测激光信号λ2的拍频电信号;待测激光信号λ2的拍频电信号被分为两路,一路与参考激光信号λ1的拍频电信号一起输入第一个相对相位提取模块以提取出待测激光信号λ2的拍频电信号相对于参考激光信号λ1的拍频电信号的相对相位数据;另一路与参考激光信号λ3的拍频电信号一起输入另一个相对相位提取模块以提取出待测激光信号λ2的拍频电信号相对于参考激光信号λ3的拍频电信号的相对相位数据;数据处理模块将两个相对相位提取模块所提取的两组相对相位数据进行互相关功率谱估计,得到待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度,并据此计算出待测激光信号以下特性参数中的至少一个:相位噪声功率谱密度、频率噪声功率谱密度、线宽。
其中,移频模块可采用声光调制器、电光调制器等方案实现。
相对相位提取模块可采用鉴相器、鉴频器、混频器、IQ解调器等器件来构成;其中,基于鉴频器或鉴频器的相对相位提取模块设置相对复杂,基于混频器的相对相位提取模块消除不了幅度噪声,而基于IQ解调器的相对相位提取模块无鉴相器和锁相环,不需要进行环路带宽修正,可以简化校准过程,并且消除幅度噪声;为此,本实施例中的相位提取模块采用图6所示结构,以待测激光信号的拍频电信号、参考激光信号的拍频电信号分别作为RF信号、LO信号,对两者进行IQ解调,并对IQ解调所得到的同相分量与正交分量分别进行低通滤波和放大;最后将低通滤波和放大后的同相分量与正交分量相除后提取其反正切函数;为了进一步提高相对相位提取的准确性,本实施例中还进一步对每一路反正切函数分别进行相位角平滑及去直流偏置操作,即得待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据。
光电探测器1~3所获得的电信号可分别表示为:
其中,其中,I1、I2、I3分别表示λ1参考激光信号、λ2待测激光信号、λ3参考激光信号自零差探测光信号的拍频电信号;同理,E1、E2、E3分别表示对应激光信号上下两路输出合并返回到光耦合器的光场强度,w1、w2、w3分别表示对应激光信号的频率,分别表示对应激光信号的相位差;Ω为移频模块的移频频率,td为短延时光纤的延时时间,A(t)为测量系统和环境振动的本底噪声。
经过相对相位提取模块中的低通滤波器和低噪声放大器的I/Q分量电信号可表示为:
其中,I21(t)、Q21(t)分别表示为λ2待测激光信号的拍频电信号作为RF信号与λ1参考激光信号的拍频电信号作为LO信号的I/Q分量电信号;I23(t)、Q23(t)分别表示λ2待测激光信号的拍频电信号作为RF信号与λ3参考激光信号的拍频电信号作为LO信号的I/Q分量电信号。
将四个通道的I/Q分量电信号转换为数字信号,将上两路通道信号和下两路通道信号分别相除可剔除幅度随机起伏的影响:
将上述运算结果再通过反正切函数并进行相位角平滑及去直流偏置操作,可得两路待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据:
数据处理模块对这两列相对相位数据进行互相关功率谱估计,可得到待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度;然后即可根据待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度得到待测激光信号的相位噪声功率谱密度和频率噪声功率谱密度以及线宽。具体处理过程与上一实施例相同,为节省篇幅起见,此处不再赘述。

Claims (10)

1.一种基于双参考信号的激光信号特性测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1、将两个参考激光信号与待测激光信号波分复用为一路后,对其进行基于短延时的自零差/自外差探测并解波分复用,然后对所得到的对应于两个参考激光信号和待测激光信号的自零差/自外差探测光信号分别进行光电探测,分别得到两个参考激光信号和待测激光信号的拍频电信号;两个参考激光信号与待测激光信号的波长各不相同;
步骤2、分别提取待测激光信号的拍频电信号相对于两个参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据;
步骤3、将所提取的两组相对相位数据进行互相关功率谱估计,得到待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度,并据此计算出待测激光信号以下特性参数中的至少一个:相位噪声功率谱密度、频率噪声功率谱密度、线宽。
2.如权利要求1所述基于双参考信号的激光信号特性测量方法,其特征在于,步骤1中使用自零差探测;步骤2中使用以下方法提取待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据:对每一路拍频电信号,将其分为两路,对其中的一路移相90度作为同相分量,另一路作为正交分量,然后将同相分量与正交分量相除后提取其反正切函数,从而得到这一路拍频电信号的相位数据;将待测激光信号的拍频电信号相位数据与参考激光信号的拍频电信号相位数据相减,即得待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据。
3.如权利要求2所述基于双参考信号的激光信号特性测量方法,其特征在于,先对待测激光信号的拍频电信号相位数据与参考激光信号的拍频电信号相位数据分别进行相位角平滑及去直流偏置操作,然后再将两者相减。
4.如权利要求1所述基于双参考信号的激光信号特性测量方法,其特征在于,步骤1中使用自外差探测;步骤2中使用以下方法提取待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据:以待测激光信号的拍频电信号、参考激光信号的拍频电信号分别作为RF信号、LO信号,对两者进行IQ解调,并对IQ解调所得到的同相分量与正交分量分别进行低通滤波和放大;最后将低通滤波和放大后的同相分量与正交分量相除后提取其反正切函数,即得待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据。
5.如权利要求4所述基于双参考信号的激光信号特性测量方法,其特征在于,在提取待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据时,还包括:对所提取的反正切函数进行相位角平滑及去直流偏置操作。
6.一种基于双参考信号的激光信号特性测量装置,其特征在于,包括:
探测模块,用于将两个参考激光信号与待测激光信号波分复用为一路后,对其进行基于短延时的自零差/自外差探测并解波分复用,然后对所得到的对应于两个参考激光信号和待测激光信号的自零差/自外差探测光信号分别进行光电探测,分别得到两个参考激光信号和待测激光信号的拍频电信号;两个参考激光信号与待测激光信号的波长各不相同;
两个相对相位提取模块,分别用于提取待测激光信号的拍频电信号相对于两个参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据;
数据处理模块,用于将所提取的两组相对相位数据进行互相关功率谱估计,得到待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度,并据此计算出待测激光信号以下特性参数中的至少一个:相位噪声功率谱密度、频率噪声功率谱密度、线宽。
7.如权利要求6所述基于双参考信号的激光信号特性测量装置,其特征在于,探测模块使用自零差探测;相对相位提取模块使用以下方法提取待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据:对每一路拍频电信号,将其分为两路,对其中的一路移相90度作为同相分量,另一路作为正交分量,然后将同相分量与正交分量相除后提取其反正切函数,从而得到这一路拍频电信号的相位数据;将待测激光信号的拍频电信号相位数据与参考激光信号的拍频电信号相位数据相减,即得待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据。
8.如权利要求7所述基于双参考信号的激光信号特性测量装置,其特征在于,相对相位提取模块先对待测激光信号的拍频电信号相位数据与参考激光信号的拍频电信号相位数据分别进行相位角平滑及去直流偏置操作,然后再将两者相减。
9.如权利要求6所述基于双参考信号的激光信号特性测量装置,其特征在于,探测模块使用自外差探测;相对相位提取模块使用以下方法提取待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据:以待测激光信号的拍频电信号、参考激光信号的拍频电信号分别作为RF信号、LO信号,对两者进行IQ解调,并对IQ解调所得到的同相分量与正交分量分别进行低通滤波和放大;最后将低通滤波和放大后的同相分量与正交分量相除后提取其反正切函数,即得待测激光信号的拍频电信号相对于参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据。
10.如权利要求9所述基于双参考信号的激光信号特性测量装置,其特征在于,相对相位提取模块还对所提取的反正切函数进行相位角平滑及去直流偏置操作。
CN202311676344.XA 2023-12-07 2023-12-07 基于双参考信号的激光信号特性测量方法及装置 Pending CN117664530A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311676344.XA CN117664530A (zh) 2023-12-07 2023-12-07 基于双参考信号的激光信号特性测量方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311676344.XA CN117664530A (zh) 2023-12-07 2023-12-07 基于双参考信号的激光信号特性测量方法及装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN117664530A true CN117664530A (zh) 2024-03-08

Family

ID=90069419

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202311676344.XA Pending CN117664530A (zh) 2023-12-07 2023-12-07 基于双参考信号的激光信号特性测量方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN117664530A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107528638B (zh) 基于微波光子滤波的宽带微波信号到达角估计方法
CN105674905B (zh) 脉冲预泵浦单端矢量botda动态应变测量方法及装置
CN108088655A (zh) 基于双边带调制与频移的光器件测量方法、装置
US10644806B2 (en) Coherent optical receiver testing
CN103414513B (zh) 一种具有高动态范围的脉冲光动态消光比测量装置及方法
JP5637358B2 (ja) スペクトル測定装置及び測定方法
CN105136175A (zh) 一种基于自混频技术的相位敏感光时域反射系统
CN108362388B (zh) 一种双通道差分激光器相位噪声的测量方法
CN113391136B (zh) 一种基于固定低频检测的微波光子频率测量装置及方法
CN108344515B (zh) 一种双通道激光器相位噪声的测量装置
CN108692816B (zh) 基于镜频抑制的快速光谱测量方法及装置
CN114761778A (zh) 光纤特性测定装置以及光纤特性测定方法
US10389451B2 (en) Coherent optical receiver testing
CN117664530A (zh) 基于双参考信号的激光信号特性测量方法及装置
US7265849B2 (en) Systems and methods for determining the spectral content of an optical signal
CN117664531A (zh) 基于单参考信号的激光信号特性测量方法及装置
US7068374B2 (en) Phase-diverse coherent optical spectrum analyzer
CN117191348A (zh) 一种星载窄线宽激光器线宽和频率噪声测量系统
JP2005172832A (ja) 種々の位相のコヒーレント光スペクトラムアナライザを使用したスペクトル位相の測定
CN113933586A (zh) 一种光电探测器的频率响应测试装置及方法
Hafiz et al. Digitally balanced detection for optical tomography
CN112505406B (zh) 基于Sagnac环和I/Q探测的全光微波频移相移装置及测量方法
CN118392326B (zh) 一种单频激光的噪声测量装置及测量方法
EP1669729A1 (en) A phase-diverse coherent optical spectrum analyzer
Michel How to detect complex modulated optical signals

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination