CN117593974A - 显示面板、显示面板的侦测方法和显示装置 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种显示面板、显示面板的侦测方法和显示装置,涉及显示设备技术领域;显示面板包括第一侦测电路和判断单元,第一侦测电路包括第一侦测单元和第一控制开关,第一控制开关的第一端与第一侦测单元连接,第一控制开关的第二端与发光单元的阳极连接,第一控制开关的第三端与显示面板的时序控制芯片连接;判断单元与第一侦测电路连接,判断单元接收第一侦测单元的侦测数据,并基于第一侦测单元的侦测数据来判断像素结构的状态;其中,当发光单元处于工作状态时,第一控制开关导通以使第一侦测单元侦测发光单元的阳极电压,以得知像素结构为正常工作或异常工作;本申请的显示面板通过设置第一侦测电路和判断单元,提高了显示面板检测的准确度。
Description
技术领域
本申请涉及显示设备技术领域,尤其涉及一种显示面板、显示面板的侦测方法和显示装置。
背景技术
有机发光显示器利用有机发光二极管显示图像,是一种主动发光的显示器,其显示方式与传统的薄膜晶体管液晶显示器显示方式不同,无需背光灯,而且具有高对比度、响应速度快、轻薄等诸多优点,因此,有机发光显示器被誉为可以取代薄膜晶体管液晶显示器的新一代的显示器。
通常的,有机发光显示器在出厂前,通常会对显示器进行检测以得知是否达到出厂标准,通常是通过显示图像以进行人眼目检的方式来对显示器进行检测,直观了当的判断显示器是否达到出厂标准,但是,这种检测方式通常只能够得知显示器是否达到出厂标准,且长时间的检测过程中,检测人员的人眼检测中会出现视觉疲劳,容易出现漏检或误检。
发明内容
本申请的目的是提供一种显示面板、显示面板的侦测方法和显示装置,通过设置第一侦测电路和判断单元,提高显示面板检测的准确度。
本申请公开了一种显示面板,包括多个像素结构,每个所述像素结构包括一个发光单元,所述显示面板还包括第一侦测电路和判断单元,所述第一侦测电路包括第一侦测单元和第一控制开关,所述第一控制开关的第一端与所述第一侦测单元连接,所述第一控制开关的第二端与所述发光单元的阳极连接,所述第一控制开关的第三端与所述显示面板的时序控制芯片连接;所述判断单元与所述第一侦测电路连接,所述判断单元接收所述第一侦测单元的侦测数据,并基于所述第一侦测单元的侦测数据来判断所述像素结构的状态;其中,当所述发光单元处于工作状态时,所述第一控制开关导通以使所述第一侦测单元侦测所述发光单元的阳极电压,以得知所述像素结构为正常工作或异常工作。
可选的,所述显示面板还包括存储单元,所述存储单元与所述第一侦测单元和所述判断单元连接,所述存储单元存储所述第一侦测单元的侦测数据和所述判断单元的判断结果。
可选的,所述显示面板还包括外接模块,所述外接模块与所述判断单元连接,所述外接模块与设置在显示面板外侧的摄像模块连接;其中,所述判断单元通过所述外接模块接收所述摄像模块的拍摄数据,并基于所述侦测数据和拍摄数据来判断所述像素结构的状态。
可选的,所述显示面板还包括第二侦测电路,所述第二侦测电路包括第二侦测单元和第二控制开关,所述第二控制开关的第一端与所述第二侦测单元连接,所述第二控制开关的第二端与所述发光单元的阳极连接,所述第二控制开关的第三端与所述显示面板的时序控制芯片连接,所述判断单元与所述第二侦测电路连接;其中,所述判断单元接收所述第一侦测电路的侦测数据和所述第二侦测电路的侦测数据,并基于所述第一侦测电路的侦测数据和第二侦测电路的侦测数据来判断所述像素结构的状态;其中,当所述发光单元处于工作状态时,所述第一控制开关导通以使所述第一侦测单元侦测所述发光单元的阳极电压,所述第二控制开关导通以使所述第二侦测单元侦测所述发光单元的阴极电压,以得知所述像素结构为正常工作或异常工作。
可选的,所述显示面板还包括补偿计算模块,所述补偿计算模块与所述存储单元连接,所述补偿计算模块根据所述存储单元的第一侦测单元的侦测数据,计算所述发光单元的补偿电压值以补偿所述发光单元。
本申请还公开了一种显示面板的侦测方法,应用于如上所述的显示面板,所述侦测方法包括步骤:
侦测显示面板内的发光单元的工作电压;
根据侦测的工作电压数据判断像素结构的状态;
其中,当发光单元处于工作状态时,侦测发光单元的工作电压。
可选的,侦测显示面板内的发光单元的工作电压的步骤包括:
使发光单元处于工作状态;
控制第一控制开关和第二控制开关导通;
分别侦测发光单元工作时的阳极电压和阴极电压;
其中,所述发光单元处于工作状态时,所述显示面板显示特定画面,所述特定画面为红像素、绿像素和蓝像素灰阶相同的画面。
可选的,根据侦测数据判断像素结构的状态的步骤包括:
拟定正常数据范围;
侦测的工作电压超出正常数据范围时,则判定该工作电压对应的像素结构为异常工作;侦测的工作电压处于正常数据范围时,则判定该工作电压对应的像素结构为正常工作;
其中,正常数据范围为Min<S<Max,Min为S-2V,Max为S+2V。
可选的,所述侦测方法还包括步骤:
根据像素结构建立对应的坐标系;
读取判断的像素结构的状态,根据异常数据的坐标特征,判定显示面板的不良区域;
其中,当异常的像素结构为横向排布时,若横向排布的像素结构的数量超出预设阈值时,判定该行的对应的GOA控制电路异常,若横向排布的像素结构的数量未超出预设阈值时,判定为GOA的传输线路异常;当异常的像素结构为纵向排布时,若纵向排布的像素结构的数量超出预设阈值时,判定该行的绑定异常,若纵向排布的像素结构的数量未超出预设阈值时,判定该行对应的数据线异常;
其中,当异常数据的像素结构为单点时,若侦测的工作电压为低电位时,则判定为发光单元贯穿或薄膜晶体管工作失效,若侦测的工作电压为高电位时,则判定为薄膜晶体管异常或发光单元的阳极短路。
本申请还公开了一种显示装置,包括驱动电路和如上所述的显示面板,所述驱动电路驱动所述显示面板工作。
相对于现有的对显示器进行人眼目检的方案来说,本申请通过第一侦测电路和判断单元对发光单元的阳极电压进行检测,将检测结果与预设阈值进行比较来得知发光单元对应的像素结构为正常工作或异常工作,对整个显示面板内的多个像素结构进行一一检测,从而得到显示面板的检测结果,不仅能够快速准确地得知显示面板的检测结果,且降低了漏检和误检的可能性,提高了显示面板检测的准确度。
附图说明
所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解,其构成了说明书的一部分,用于例示本申请的实施方式,并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中:
图1是本申请的第一实施例的一种显示面板中的像素结构的结构示意图;
图2是本申请的第二实施例的一种显示面板中的像素结构的结构示意图;
图3是本申请的第二实施例的显示面板的结构示意图;
图4是本申请的第三实施例的一种显示面板的侦测方法的步骤流程图;
图5是本申请的第三实施例的一种显示面板的侦测方法的部分步骤流程图;
图6是本申请的第三实施例的一种显示面板的侦测方法的判断条件的步骤流程图
图7是本申请的第三实施例的一种显示面板的侦测方法的部分步骤流程图
图8是本申请的第四实施例的一种显示装置的结构示意图。
其中,100、显示面板;200、第一侦测电路;210、第一侦测单元;300、第二侦测电路;310、第二侦测单元;400、判断单元;500、存储单元;600、外接模块;800、驱动电路;900、显示装置。
具体实施方式
需要理解的是,这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节,仅仅是为了描述具体实施例,是代表性的,但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现,不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。
在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示相对重要性,或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,除非另有说明,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征;“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形,意为不排他的包含,可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。
另外,“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语,是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的,仅是为了便于描述本申请的简化描述,而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
此外,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
下面参考附图和可选的实施例对本申请作详细说明,需要说明的是,在不相冲突的前提下,以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
如图1所示,作为本申请的第一实施例,公开了一种显示面板100,所述显示面板100包括多个像素结构,每个所述像素结构包括一个发光单元,所述显示面板100还包括第一侦测电路20和判断单元400,所述第一侦测电路20包括第一侦测单元210和第一控制开关T1,所述第一控制开关T1的第一端与所述第一侦测单元210连接,所述第一控制开关T1的第二端与所述发光单元的阳极连接,所述第一控制开关T1的第三端与所述显示面板100的时序控制芯片连接;所述判断单元400与所述第一侦测电路20连接,所述判断单元400接收所述第一侦测单元210的侦测数据,并基于所述第一侦测单元210的侦测数据来判断;当所述发光单元处于工作状态时,所述第一控制开关T1导通以使所述第一侦测单元210侦测所述发光单元的阳极电压,以得知所述像素结构为正常工作或异常工作;需要说明的是,所述第一侦测电路20设有多个,一个所述像素结构对应一个所述第一侦测电路20,以使得多个像素结构均能够进行检测,所述第一控制开关的第一端和第二端一者是源极,另一者是漏极,所述第一控制开关的第三端为栅极。
本实施例的显示面板100,当需要对显示面板100进行检测时,首先使像素结构处于工作状态,即显示面板100进行画面显示,一般为固定的特定画面显示,以使得检测的发光单元的阳极电压具备参考值,随即显示面板100的时序控制芯片控制第一控制开关T1导通,第一控制开关T1导通以使得第一侦测单元210连接到发光单元的阳极,以使第一侦测单元210能够获取到发光单元的阳极电压值,随后判断单元400接收第一侦测单元210侦测的发光单元的阳极电压值,与预设阈值进行比较,从比较结果中得知发光单元对应的像素结构为正常工作或异常工作,通过对整个显示面板100内的多个像素结构进行一一检测,从而得到显示面板100的检测结果,且也能够得知显示面板100内出现异常的像素结构的位置;总的来说,采用上述的第一侦测电路20和判断单元400对发光单元的阳极电压进行检测以得知像素结构为正常工作或异常工作,相比起现有的对显示器进行人眼目检的检测方式相比,不仅能够快速准确地得知显示面板100的检测结果,且降低了漏检和误检的可能性,提高了显示面板100检测的准确度。
如图2至图3所示,作为本申请的第二实施例,是本申请的第一实施例的进一步改进,公开了一种显示面板100,所述显示面板100还包括第二侦测电路300,所述第二侦测电路300包括第二侦测单元310和第二控制开关T2,所述第二控制开关T2的第一端与所述第二侦测单元310连接,所述第二控制开关T2的第二端与所述发光单元的阳极连接,所述第二控制开关T2的第三端与所述显示面板100的时序控制芯片连接,所述判断单元400与所述第二侦测电路300连接;所述判断单元400接收所述第一侦测电路20的侦测数据和所述第二侦测电路300的侦测数据,并基于所述第一侦测电路20的侦测数据和所述第二侦测电路300的侦测数据来判断所述像素结构的状态;当所述发光单元处于工作状态时,所述第一控制开关T1导通以使所述第一侦测单元210侦测所述发光单元的阳极电压,所述第二控制开关T2导通以使所述第二侦测单元310侦测所述发光单元的阴极电压,以得知所述像素结构为正常工作或异常工作;其中,所述判断单元400接收到所述第一侦测电路20侦测的发光单元的阳极电压和所述第二侦测电路300侦测的发光单元的阴极电压后,将阳极电压和阴极电压进行压差计算以得知所述像素结构是正常显示或异常工作;需要说明的是,所述第一侦测单元210和所述第二侦测单元310可以为模数转换器,以使得侦测到的阳极电压和阴极电压值能够通过模数转换器将电信号转换成数字信号,便于判断单元400进行判断,所述第一控制开关的第一端和第二端一者是源极,另一者是漏极,所述第一控制开关的第三端为栅极。
进一步的,所述显示面板100还包括存储单元500,所述存储单元500与所述第一侦测单元210和所述判断单元400连接,所述存储单元500用于存储所述第一侦测单元210的侦测数据和所述判断单元400的判断结果;当判断单元400判断显示面板100内的像素结构部分为异常工作或全部为异常工作时,显示面板100需要进行返厂检修,在返厂检修过程中,可以通过读取存储在存储单元500内的第一侦测单元210的侦测数据和判断单元400的判断结果,从而能够快速得知该显示面板100中需要进行维修的像素结构的区域范围,相比起现有的显示面板100在返厂检修过程中再次进行检测的方法来说,减少了检修所需的时间,在一定程度上节约了生产成本和生产时间;其中,所述存储单元500也可以与第二侦测单元310连接,存储单元500也可以存储第二侦测单元310的侦测数据,从而能够更快地确定显示面板100内的像素结构出现异常的区域,进而能够快速找到需要检修的像素结构,节约检修所需的时间。
所述显示面板100还包括外接模块600,所述外接模块600与所述判断单元400连接,所述外接模块600与设置在显示面板100外侧的摄像模块连接,以使得所述判断单元400的判断结果更准确,所述判断单元400通过所述外接模块600接收所述摄像模块的拍摄数据,并基于所述侦测数据和拍摄数据来判断所述像素结构的状态;本实施例的显示面板100在进行检测时,除了通过第一侦测电路20和第二侦测电路300对像素结构的阳极电压和阴极电压侦测之外,还可以通过外接模块600连接设置在显示面板100外侧的摄像模块,结合摄像模块拍摄以进行目检,将两种检测方式进行结合使用,提高显示面板100检测的准确性,且两种检测方式的结果可以相互验证,进一步地降低漏检和误检的几率。
例如,通过侦测阳极电极和阴极电压判定显示面板出现线不良等严重不良情况时,即横向或纵向出现较多的异常像素结构;此时,触发外接模块600工作,这样外接模块600的方式可以对原侦测结果进行验证。通过侦测阳极电极和阴极电压判定显示面板出现点不良时,即异常数像素结构为单点时,则可以不启动外接模块600工作,以简化判定过程。另外,所述显示面板还包括补偿计算模块,所述补偿计算模块与所述存储单元连接,所述补偿计算模块根据所述存储单元存储的第一侦测单元的侦测数据,计算所述发光单元的补偿电压值以补偿所述发光单元;具体的,所述第一侦测单元可以侦测出所述发光单元在工作时的实际阳极电压值,并且可以将侦测数据存储在存储单元中,从而补偿计算模块可以在存储单元中调用发光单元的阳极电压值的侦测数据,并根据该侦测数据计算得出发光单元的阳极所需的补偿电压值,从而能够对发光单元形成补偿;这样,本实施例的显示面板则无需额外设置补偿电路来对发光单元进行补偿。
如图4所示,作为本申请的第三实施例,公开了一种显示面板的侦测方法,所述侦测方法应用于如上实施例所述的显示面板,所述侦测方法包括步骤:
S100:侦测显示面板内的发光单元的工作电压;
具体的,当发光单元处于工作状态时,再侦测发光单元的工作电压,以使得侦测的工作电压为准确的可用数值,工作电压可以是发光单元的阳极电压;
S200:根据侦测的工作电压数据判断像素结构的状态;
具体的,根据侦测的工作电压与预设阈值进行比较,从而根据比较结果来判断像素结构是处于正常工作的状态或异常工作的状态;
本实施例的侦测方法,通过侦测发光单元的工作电压,并根据侦测的工作电压判断像素结构的状态,相比起现有的对显示器进行人眼目检的检测方式相比,不仅能够快速准确地得知显示面板的检测结果,且降低了漏检和误检的可能性,提高了显示面板检测的准确度。
进一步的,如图5所示,侦测显示面板内的发光单元的工作电压的步骤包括:
S101:使发光单元处于工作状态;
具体的,所述发光单元处于工作状态时,所述显示面板显示特定画面,所述特定画面为红像素、绿像素和蓝像素灰阶相同的画面,以使得检测的工作电压可以与预设阈值进行比较,存在标准阈值;
S102:控制第一控制开关和第二控制开关导通;
S103:分别侦测发光单元工作时的阳极电压和阴极电压;
具体的,第一控制开关和第二控制开关导通,第一侦测单元接入到发光单元的阳极以侦测发光单元的阳极电压,第二侦测单元接入到发光单元的阴极以侦测发光单元的阴极电压。
进一步的,如图6所示,根据侦测数据判断像素结构的状态的步骤包括:
S201:拟定正常数据范围,其中,正常数据范围为Min<S<Max,Min为S-2V,Max为S+2V;
S202:侦测的工作电压超出正常数据范围时,则判定该工作电压对应的像素结构为异常工作;侦测的工作电压处于正常数据范围时,则判定该工作电压对应的像素结构为正常工作;
具体的,在特定画面下,第一侦测单元的侦测数据若超出正常数据范围时,则判定侦测的像素结构为异常工作,若处于正常数据范围时,则判定侦测的像素结构为正常工作;其中,Min和Max与S的关系也不仅限于是Min=S-2V,Max=S+2V,设计人员可以根据特定画面的实际情况来进行设计,此处仅做示意表示,且此正常数据范围用于侦测的发光单元的阳极电压。
进一步的,如图7所示,所述侦测方法还包括步骤:
S300:根据像素结构建立对应的坐标系;
S400:读取判断的像素结构的状态,根据异常数据的坐标特征,判定显示面板的不良区域;
具体的,当坐标系上异常数据的像素结构的位置为横向排列时,若横向排布的像素结构的数量超出预设阈值时,判定该行对应的GOA(Gate driver on array,阵列基板上栅驱动集成)控制电路异常,若横向排布的像素结构的数量未超出预设阈值时,判定为GOA的传输线路异常;而当坐标系上异常数据的像素结构的位置为纵向排列时,若纵向排布的像素结构的数量超出预设阈值时,判定该行的绑定(bonding)异常,若纵向排布的像素结构的数量未超出阈值时,判定该行对应的数据线(Date)异常;当坐标系上异常数据的像素结构的位置为单点时,若侦测的工作电压为低电位,则判定该点的发光单元贯穿或薄膜晶体管工作失效,若侦测的工作电压为高电位,则判定该点的薄膜晶体管异常或发光单元的阳极短路;其中,存储单元可以将该判断结果进行存储,以便于在进行返厂检修时,可以快速定位显示面板中的不良区域位置,实现快速检修,节省维修时间。
如图8所示,是本申请的第四实施例,公开了一种显示装置900,所述显示装置900包括驱动电路800和如上述实施例所述的显示面板100,所述驱动电路800驱动所述显示面板100工作。
本实施例的显示装置,当需要进行检测时,首先使像素结构处于工作状态,即显示装置进行画面显示,一般为固定的特定画面显示,以使得检测的发光单元的阳极电压具备参考值,随即时序控制芯片控制第一控制开关导通,第一控制开关导通以使得第一侦测单元连接到发光单元的阳极,以使第一侦测单元能够获取到发光单元的阳极电压值,随后判断单元接收第一侦测单元侦测的发光单元的阳极电压值,与预设阈值进行比较,从比较结果中得知发光单元对应的像素结构为正常工作或异常工作,通过对整个显示面板内的多个像素结构进行一一检测,从而得到显示面板的检测结果,且也能够得知显示面板内出现异常的像素结构的位置;总的来说,采用上述的第一侦测电路和判断单元对发光单元的阳极电压进行检测以得知像素结构为正常工作或异常工作,相比起现有的对显示器进行人眼目检的检测方式相比,不仅能够快速准确地得知显示装置的检测结果,且降低了漏检和误检的可能性,提高了显示装置检测的准确度。
需要说明的是,本方案中涉及到的各步骤的限定,在不影响具体方案实施的前提下,并不认定为对步骤先后顺序做出限定,写在前面的步骤可以是在先执行的,也可以是在后执行的,甚至也可以是同时执行的,只要能实施本方案,都应当视为属于本申请的保护范围。
需要说明的是,本申请的发明构思可以形成非常多的实施例,但是申请文件的篇幅有限,无法一一列出,因而,在不相冲突的前提下,以上描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例,各实施例或技术特征组合之后,将会增强原有的技术效果。
以上内容是结合具体的可选实施方式对本申请所作的进一步详细说明,不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本申请的保护范围。
Claims (10)
1.一种显示面板,包括多个像素结构,每个所述像素结构包括一个发光单元,其特征在于,所述显示面板还包括:
第一侦测电路,所述第一侦测电路包括第一侦测单元和第一控制开关,所述第一控制开关的第一端与所述第一侦测单元连接,所述第一控制开关的第二端与所述发光单元的阳极连接,所述第一控制开关的第三端与所述显示面板的时序控制芯片连接;
判断单元,所述判断单元与所述第一侦测电路连接,所述判断单元接收所述第一侦测单元的侦测数据,并基于所述第一侦测单元的侦测数据来判断所述像素结构的状态;
其中,当所述发光单元处于工作状态时,所述第一控制开关导通以使所述第一侦测单元侦测所述发光单元的阳极电压,以得知所述像素结构为正常工作或异常工作。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,还包括存储单元,所述存储单元与所述第一侦测单元和所述判断单元连接,所述存储单元存储所述第一侦测单元的侦测数据和所述判断单元的判断结果。
3.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,还包括外接模块,所述外接模块与所述判断单元连接,所述外接模块与设置在显示面板外侧的摄像模块连接;
其中,所述判断单元通过所述外接模块接收所述摄像模块的拍摄数据,并基于所述侦测数据和拍摄数据来判断所述像素结构的状态。
4.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,还包括第二侦测电路,所述第二侦测电路包括第二侦测单元和第二控制开关,所述第二控制开关的第一端与所述第二侦测单元连接,所述第二控制开关的第二端与所述发光单元的阳极连接,所述第二控制开关的第三端与所述显示面板的时序控制芯片连接,所述判断单元与所述第二侦测电路连接;
其中,所述判断单元接收所述第一侦测电路的侦测数据和所述第二侦测电路的侦测数据,并基于所述第一侦测电路的侦测数据和第二侦测电路的侦测数据来判断所述像素结构的状态;
其中,当所述发光单元处于工作状态时,所述第一控制开关导通以使所述第一侦测单元侦测所述发光单元的阳极电压,所述第二控制开关导通以使所述第二侦测单元侦测所述发光单元的阴极电压,以得知所述像素结构为正常工作或异常工作。
5.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述第一侦测单元和所述第二侦测单元为模数转换器。
6.一种显示面板的侦测方法,应用于如权利要求1至5任意一项所述的显示面板,其特征在于,所述侦测方法包括步骤:
侦测显示面板内的发光单元的工作电压;
根据侦测的工作电压数据判断像素结构的状态;
其中,当发光单元处于工作状态时,侦测发光单元的工作电压。
7.根据权利要求6所述的侦测方法,其特征在于,侦测显示面板内的发光单元的工作电压的步骤包括:
使发光单元处于工作状态;
控制第一控制开关和第二控制开关导通;
分别侦测发光单元工作时的阳极电压和阴极电压;
其中,所述发光单元处于工作状态时,所述显示面板显示特定画面,所述特定画面为红像素、绿像素和蓝像素灰阶相同的画面。
8.根据权利要求6所述的侦测方法,其特征在于,根据侦测数据判断像素结构的状态的步骤包括:
拟定正常数据范围;
侦测的工作电压超出正常数据范围时,则判定该工作电压对应的像素结构为异常工作;侦测的工作电压处于正常数据范围时,则判定该工作电压对应的像素结构为正常工作;
其中,正常数据范围为Min<S<Max,Min为S-2V,Max为S+2V。
9.根据权利要求6所述的侦测方法,其特征在于,还包括步骤:
根据像素结构建立对应的坐标系;
读取判断的像素结构的状态,根据异常数据的坐标特征,判定显示面板的不良区域;
其中,当异常的像素结构为横向排布时,若横向排布的像素结构的数量超出预设阈值时,判定该行的对应的GOA控制电路异常,若横向排布的像素结构的数量未超出预设阈值时,判定为GOA的传输线路异常;当异常的像素结构为纵向排布时,若纵向排布的像素结构的数量超出预设阈值时,判定该行的绑定异常,若纵向排布的像素结构的数量未超出预设阈值时,判定该行对应的数据线异常;
其中,当异常数据的像素结构为单点时,若侦测的工作电压为低电位时,则判定为发光单元贯穿或薄膜晶体管工作失效,若侦测的工作电压为高电位时,则判定为薄膜晶体管异常或发光单元的阳极短路。
10.一种显示装置,其特征在于,包括驱动电路和如权利要求1至5任意一项所述的显示面板,所述驱动电路驱动所述显示面板工作。
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CN105609024A (zh) * | 2016-01-05 | 2016-05-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板的测试方法及装置 |
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