CN117592872B - 一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法，涉及卷绕工序的尺寸闭环控制技术领域，包括：基于卷绕前准备序列，对当前的卷绕设备进行检验，得到相对应的检验结果；基于检验结果合格的电五金的卷绕工序获取的实时卷绕参数，得到相对应的卷绕工作参数；计算本次卷绕过程的CMK指数以及CPK指数；若所述CMK指数与CPK指数中存在任一指数不合格，则获取卷绕过程的卷绕图像，进行嵌套GRR验证；若嵌套GRR验证不合格，则获取GRR验证中的异常环节，并匹配相对应的调整措施进行调整。通过对电五金卷绕工序的每个环节进行多次验证，对异常的卷绕过程及时进行调整，保证卷绕工序后的电五金成果的质量，提高电五金的卷绕工序的效率。
Description
技术领域
本发明涉及卷绕工序的尺寸闭环控制技术领域，特别涉及一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法。
背景技术
目前，电五金根据封装方式和外形可分类为软包、方形和圆柱电五金，从内部成型工艺角度看，软包和方形电五金可以采用卷绕或叠片工艺，圆柱电五金处处具有弧度，只能采用卷绕工艺。在电五金的卷绕工序中，准备工作的不准确以及卷绕工序中的每个环节的卷绕尺寸都会影响到卷绕后的成品的质量。
因此，本发明提供一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法。
发明内容
本发明提供一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法，用以通过分析卷绕前准备序列，对当前的卷绕设备进行检验，得到相对应的检验结果，分析检验结果合格的电五金的卷绕工序获取的实时卷绕参数，得到相对应的卷绕工作参数并分析，计算本次卷绕过程的CMK指数以及CPK指数，若CMK指数与CPK指数中存在任一指数不合格，则获取卷绕过程的卷绕图像，进行嵌套GRR验证，若嵌套GRR验证不合格，则获取GRR验证中的异常环节，并匹配相对应的调整措施进行调整，对电五金卷绕工序的每个环节进行多次验证，对异常的卷绕过程及时进行调整，保证卷绕工序后的电五金成果的质量，提高电五金的卷绕工序的效率。
本发明提供一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法，包括：
步骤1：基于卷绕前准备序列，对当前的卷绕设备进行检验，得到相对应的检验结果；
步骤2：基于检验结果合格的电五金的卷绕工序获取的实时卷绕参数，得到相对应的卷绕工作参数；
步骤3：计算本次卷绕过程的CMK指数以及CPK指数；
步骤4：若所述CMK指数与CPK指数中存在任一指数不合格，则获取卷绕过程的卷绕图像，进行嵌套GRR验证；
步骤5：若嵌套GRR验证不合格，则获取GRR验证中的异常环节，并匹配相对应的调整措施进行调整。
优选的，本发明提供一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法，基于卷绕前准备序列，对当前的卷绕设备进行检验，得到相对应的检验结果，包括：
基于电五金卷绕工序的卷绕需求以及卷绕材料，得到相对应的张力参数；
基于张力参数对卷绕设备进行设置，得到需要进行检验的卷绕前准备序列；
基于所述卷绕前准备序列对设置好的卷绕设备进行检验，得到相对应的检验结果。
优选的，本发明提供一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法，基于检验结果合格的电五金的卷绕工序获取的实时卷绕参数，得到相对应的卷绕工作参数，包括：
基于电五金卷绕工序的卷绕需求，得到相对应的卷绕的误差范围、规格范围以及卷绕工序每个卷绕环节的标准卷绕长度；
获取检验结果合格的电五金的卷绕工序中的每个卷绕环节的实时卷绕长度；
基于相同卷绕环节的实时卷绕长度以及标准卷绕长度，得到相对应的第一差值；
基于全部第一差值，按照卷绕工序的全部卷绕环节的顺序构建差值点图；
去除所述差值点图中第一差值在误差范围内的点；
基于保留的点连续的差值点图中的点进行拟合，得到拟合函数；
若所述拟合函数只有一个因变量，则确定第一个点相对应的卷绕环节为异常环节，进行调整；
若所述拟合函数有两个以上的因变量或差值点图保留的点不连续，则计算相对应的差值点图中保留的点相对应的第一差值的第一标准差；
若所述第一标准差大于或等于预设标准差，则发出停止工作信号，进行检修调整；
若所述第一标准差小于预设标准差，则获取相对应的第一差值点图；
基于第一差值点图相对应的每个卷绕环节的实时卷绕长度，输入至张力分析模型，得到相对应的实时张力大小；
基于相同的卷绕环节的实时张力大小、张力参数、实时卷绕长度、标准卷绕长度、误差范围以及规格范围，构建卷绕工作参数。
优选的，本发明提供一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法，基于所述卷绕工作参数，计算本次卷绕过程的CMK指数以及CPK指数，包括：
；其中，指数表示卷绕工序中与卷绕过程的长度有关的卷绕过程能力的指数；/>表示电五金卷绕工序的规格范围中的最大值；/>表示电五金卷绕工序的规格范围中的最小值；表示卷绕工序下基于卷绕长度的过程指数；/>表示电五金卷绕工序基于卷绕长度的标准差；/>表示电五金卷绕工序的全部卷绕环节的数量；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的实时卷绕长度；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的标准卷绕长度；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的卷绕长度权重；/>表示基于卷绕长度所对应误差范围的最大值；k02表示基于卷绕长度所对应误差范围的最小值；p1表示k01的历史出现概率；/>表示k02的历史出现概率；/>表示基于/>与/>的调节函数，取值范围为(0.1,0.5)。
优选的，本发明提供一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法，基于所述卷绕工作参数，计算本次卷绕过程的CMK指数以及CPK指数，还包括：
；其中，指数表示卷绕工序中与卷绕过程的张力有关的卷绕过程能力的指数；/>表示卷绕工序下基于张力的过程指数；/>表示电五金卷绕工序基于张力的标准差；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的实时张力大小；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的张力参数的标准张力大小；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的卷绕张力权重；k11表示基于张力所对应误差范围的最大值；k12表示基于张力所对应误差范围的最小值；p3表示k11的历史出现概率；p4表示k12的历史出现概率；/>表示基于/>与/>的调节函数，取值范围为(0.1,0.5)。
优选的，本发明提供一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法，获取卷绕过程的卷绕图像，进行嵌套GRR验证之前，包括：
确定卷绕工序的卷绕需求的卷绕电芯的中心为测量位置；
基于卷绕工序的卷绕部分，得到能够达到测量位置的三个预设距离。
优选的，本发明提供一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法，若所述CMK指数与CPK指数中存在任一指数不合格，则获取卷绕过程的卷绕图像，进行嵌套GRR验证，包括：
若所述CMK指数与CPK指数中存在任一指数不合格，则获取相对应的每个卷绕环节的卷绕图像；
获取每个卷绕图像的测量位置分别到三个预设距离的点的第二卷绕张力参数；
将每个第二卷绕张力参数与张力参数输入至嵌套GRR验证模型，得到相对应的验证报告。
优选的，本发明提供一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法，获取GRR验证中的异常环节，并匹配相对应的调整措施进行调整，包括：
获取验证报告不合格的卷绕环节，得到相对应的异常环节；
基于全部异常环节的连贯性，得到连贯组合；
基于全部连贯组合、全部异常环节以及调整措施数据库，匹配相对应的调整措施进行调整。
与现有技术相比，本申请的有益效果如下：通过分析卷绕前准备序列，对当前的卷绕设备进行检验，得到相对应的检验结果，分析检验结果合格的电五金的卷绕工序获取的实时卷绕参数，得到相对应的卷绕工作参数并分析，计算本次卷绕过程的CMK指数以及CPK指数，若CMK指数与CPK指数中存在任一指数不合格，则获取卷绕过程的卷绕图像，进行嵌套GRR验证，若嵌套GRR验证不合格，则获取GRR验证中的异常环节，并匹配相对应的调整措施进行调整，对电五金卷绕工序的每个环节进行多次验证，对异常的卷绕过程及时进行调整，保证卷绕工序后的电五金成果的质量，提高电五金的卷绕工序的效率。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为本发明实施例中一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法的流程图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
实施例1：
本发明实施例提供一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法，如图1所示，包括：
步骤1：基于卷绕前准备序列，对当前的卷绕设备进行检验，得到相对应的检验结果；
步骤2：基于检验结果合格的电五金的卷绕工序获取的实时卷绕参数，得到相对应的卷绕工作参数；
步骤3：计算本次卷绕过程的CMK指数以及CPK指数；
步骤4：若所述CMK指数与CPK指数中存在任一指数不合格，则获取卷绕过程的卷绕图像，进行嵌套GRR验证；
步骤5：若嵌套GRR验证不合格，则获取GRR验证中的异常环节，并匹配相对应的调整措施进行调整。
该实施例中，卷绕前准备序列指的是包括卷绕工序开始前的准备工作的序列，例如：极片、隔膜批号、状态及尺寸检测-设备参数设置是否符合工艺要求。
该实施例中，卷绕设备指的是进行电五金的卷绕工序所需的设备，例如：卷绕架，卷绕材料输入通道，卷绕材料输出通道。
该实施例中，检验结果指的是卷绕前准备序列中的每个准备工作的检验的合格与否。
该实施例中，实时卷绕参数指的是检验结果合格的电五金的卷绕工序中的每个卷绕环节的当下时刻的卷绕完成的长度以及张力大小，其中，卷绕环节指的是需要卷绕的圈数相对应的每圈卷绕过程的环节。
该实施例中，卷绕工作参数指的是通过对实时卷绕参数进行分析，得到的表示相同卷绕环节的卷绕工作的情况的参数，包括：实时卷绕参数以及本次卷绕工序的合理误差。
该实施例中，CMK指数指的是卷绕工序中与卷绕过程的长度有关的卷绕过程能力的指数。
该实施例中，CPK指数指的是表示卷绕工序中与卷绕过程的张力有关的卷绕过程能力的指数
该实施例中，卷绕图像指的是电五金的卷绕工序中每个卷绕环节进行完成的图像。
该实施例中，嵌套GRR验证指的是通过对同一个测量位置附近很小的位置去测三个值，对卷绕工序的每个卷绕环节的实际的尺寸进行验证。
该实施例中，异常环节指的是电五金的卷绕工序中卷绕不正常的环节。
该实施例中，调整措施指的是能够针对异常环节进行调整使卷绕工序正常运作的方法。
上述技术方案的工作原理及有益效果是：通过分析卷绕前准备序列，对当前的卷绕设备进行检验，得到相对应的检验结果，分析检验结果合格的电五金的卷绕工序获取的实时卷绕参数，得到相对应的卷绕工作参数并分析，计算本次卷绕过程的CMK指数以及CPK指数，若CMK指数与CPK指数中存在任一指数不合格，则获取卷绕过程的卷绕图像，进行嵌套GRR验证，若嵌套GRR验证不合格，则获取GRR验证中的异常环节，并匹配相对应的调整措施进行调整，对电五金卷绕工序的每个环节进行多次验证，对异常的卷绕过程及时进行调整，保证卷绕工序后的电五金成果的质量，提高电五金的卷绕工序的效率。
实施例2：
根据发明实施例1提供的方法，基于卷绕前准备序列，对当前的卷绕设备进行检验，得到相对应的检验结果，包括：
基于电五金卷绕工序的卷绕需求以及卷绕材料，得到相对应的张力参数；
基于张力参数对卷绕设备进行设置，得到需要进行检验的卷绕前准备序列；
基于所述卷绕前准备序列对设置好的卷绕设备进行检验，得到相对应的检验结果。
该实施例中，卷绕需求指的是电五金的卷绕需要达到的卷绕的曲度以及直径。
该实施例中，卷绕材料指的是卷绕使用的材料。
该实施例中，张力参数指的是使卷绕材料达到卷绕需求，所需的在卷绕工序中的张力大小以及张力方向。
上述技术方案的工作原理及有益效果是：通过分析电五金卷绕工序的卷绕需求以及卷绕材料，得到相对应的卷绕前准备序列，按照卷绕前准备序列对卷绕工序前的准备工作进行检验，保证卷绕工序的准备工作精准完成，有利于后续对卷绕工序的分析。
实施例3：
根据发明实施例1提供的方法，基于检验结果合格的电五金的卷绕工序获取的实时卷绕参数，得到相对应的卷绕工作参数，包括：
基于电五金卷绕工序的卷绕需求，得到相对应的卷绕的误差范围、规格范围以及卷绕工序每个卷绕环节的标准卷绕长度；
获取检验结果合格的电五金的卷绕工序中的每个卷绕环节的实时卷绕长度；
基于相同卷绕环节的实时卷绕长度以及标准卷绕长度，得到相对应的第一差值；
基于全部第一差值，按照卷绕工序的全部卷绕环节的顺序构建差值点图；
去除所述差值点图中第一差值在误差范围内的点；
基于保留的点连续的差值点图中的点进行拟合，得到拟合函数；
若所述拟合函数只有一个因变量，则确定第一个点相对应的卷绕环节为异常环节，进行调整；
若所述拟合函数有两个以上的因变量或差值点图保留的点不连续，则计算相对应的差值点图中保留的点相对应的第一差值的第一标准差；
若所述第一标准差大于或等于预设标准差，则发出停止工作信号，进行检修调整；
若所述第一标准差小于预设标准差，则获取相对应的第一差值点图；
基于第一差值点图相对应的每个卷绕环节的实时卷绕长度，输入至张力分析模型，得到相对应的实时张力大小；
基于相同的卷绕环节的实时张力大小、张力参数、实时卷绕长度、标准卷绕长度、误差范围以及规格范围，构建卷绕工作参数。
该实施例中，误差范围指的是能够达到卷绕需求允许的卷绕工序中的卷绕的长度的合理误差的范围。
该实施例中，规格范围指的是卷绕需求要求的合格的卷绕工序后得到的成果的卷绕的长度的范围。
该实施例中，卷绕环节指的是通过对卷绕需求进行分析，得到的需要卷绕的圈数相对应的每圈卷绕过程的环节。
该实施例中，标准卷绕长度指的是卷绕需求要求的标准的卷绕工序后得到的成果的卷绕的长度。
该实施例中，实时卷绕长度指的是检验结果合格的电五金的卷绕工序中的每个卷绕环节的当下时刻的卷绕完成的长度。
该实施例中，第一差值指的是相同卷绕环节的实时卷绕长度以及标准卷绕长度的差值。
该实施例中，差值点图指的是对全部第一差值按照卷绕工序的全部卷绕环节的顺序构建得到的点图。
该实施例中，拟合函数指的是对保留的点连续的差值点图中的点进行拟合，得到的曲线的函数。
该实施例中，异常环节指的是电五金的卷绕工序中卷绕不正常的环节。
该实施例中，第一标准差指的是拟合函数有两个以上的因变量或差值点图保留的点不连续的差值点图中保留的点相对应的第一差值的标准差。
该实施例中，预设标准差指的是预先设置的表示卷绕环节异常严重必须立即停止的标准差的数值。
该实施例中，第一差值点图指的是第一标准差小于预设标准差的差值点图。
该实施例中，张力分析模型指的是由卷绕需求中的需要的卷绕的直径以及卷绕长度训练得到的，能够分析卷绕张力的模型。
该实施例中，实时张力大小指的是通过张力分析模型对实时卷绕长度分析，得到的当下时刻的卷绕环节的张力的大小。
上述技术方案的工作原理及有益效果是：通过对电五金卷绕工序的卷绕需求进行分析，得到相对应的卷绕的误差范围、规格范围以及卷绕工序每个卷绕环节的标准卷绕长度，与检验结果合格的电五金的卷绕工序中的每个卷绕环节的实时卷绕参数进行综合分析，多重判断，得到卷绕工序中可以调整的卷绕工作参数，有利于后续对异常的卷绕过程及时进行调整，保证卷绕工序后的电五金成果的质量，提高电五金的卷绕工序的效率。
实施例4：
根据发明实施例1提供的方法，基于所述卷绕工作参数，计算本次卷绕过程的CMK指数以及CPK指数，包括：
；其中，指数表示卷绕工序中与卷绕过程的长度有关的卷绕过程能力的指数；/>表示电五金卷绕工序的规格范围中的最大值；/>表示电五金卷绕工序的规格范围中的最小值；/>表示卷绕工序下基于卷绕长度的过程指数；/>表示电五金卷绕工序基于卷绕长度的标准差；/>表示电五金卷绕工序的全部卷绕环节的数量；/>表示电五金卷绕工序的第个卷绕环节的实时卷绕长度；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的标准卷绕长度；表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的卷绕长度权重；/>表示基于卷绕长度所对应误差范围的最大值；k02表示基于卷绕长度所对应误差范围的最小值；p1表示k01的历史出现概率；/>表示k02的历史出现概率；/>表示基于/>与/>的调节函数，取值范围为(0.1,0.5)。
该实施例中，过程指数指的是卷绕工序下基于卷绕长度进行计算能够表示卷绕工序的过程的卷绕合格的数值。
该实施例中，卷绕长度权重指的是每个卷绕环节的实时卷绕长度以及标准卷绕长度的差值在全部卷绕环节中相对应的差值的占比，实时卷绕长度以及标准卷绕长度的差值越大，权重的数值越大。
该实施例中，历史出现概率指的是卷绕长度所对应误差范围的最大值或最小值在历史的卷绕长度的误差中出现的概率。
上述技术方案的工作原理及有益效果是：通过分析卷绕工序中与卷绕过程的长度有关的卷绕工作参数，计算本次卷绕过程的CMK指数，精准地对卷绕工序的过程进行判断，有利于保证卷绕工序后的电五金成果的质量，提高电五金的卷绕工序的效率。
实施例5：
根据发明实施例1提供的方法，基于所述卷绕工作参数，计算本次卷绕过程的CMK指数以及CPK指数，还包括：
；其中，指数表示卷绕工序中与卷绕过程的张力有关的卷绕过程能力的指数；/>表示卷绕工序下基于张力的过程指数；/>表示电五金卷绕工序基于张力的标准差；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的实时张力大小；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的张力参数的标准张力大小；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的卷绕张力权重；k11表示基于张力所对应误差范围的最大值；k12表示基于张力所对应误差范围的最小值；p3表示k11的历史出现概率；p4表示k12的历史出现概率；/>表示基于/>与/>的调节函数，取值范围为(0.1,0.5)。
上述技术方案的工作原理及有益效果是：通过分析卷绕工序中与卷绕过程的张力有关的卷绕工作参数，计算本次卷绕过程的CPK指数，精准地对卷绕工序的过程进行判断，有利于保证卷绕工序后的电五金成果的质量，提高电五金的卷绕工序的效率。
实施例6：
根据发明实施例1提供的方法，获取卷绕过程的卷绕图像，进行嵌套GRR验证之前，包括：
确定卷绕工序的卷绕需求的卷绕电芯的中心为测量位置；
基于卷绕工序的卷绕部分，得到能够达到测量位置的三个预设距离。
该实施例中，卷绕电芯指的是电五金的卷绕工序完成后得到的成果。
该实施例中，测量位置指的是卷绕工序的卷绕需求的卷绕电芯的中心的位置。
该实施例中，卷绕部分指的是卷绕材料卷绕的部分。
该实施例中，预设距离指的是能够从测量位置到达卷绕部分的随机的一个距离。
上述技术方案的工作原理及有益效果是：通过设定卷绕工序的测量位置以及预设距离，有利于后续对卷绕图像进行嵌套GRR验证。
实施例7：
根据发明实施例1提供的方法，若所述CMK指数与CPK指数中存在任一指数不合格，则获取卷绕过程的卷绕图像，进行嵌套GRR验证，包括：
若所述CMK指数与CPK指数中存在任一指数不合格，则获取相对应的每个卷绕环节的卷绕图像；
获取每个卷绕图像的测量位置分别到三个预设距离的点的第二卷绕张力参数；
将每个第二卷绕张力参数与张力参数输入至嵌套GRR验证模型，得到相对应的验证报告。
该实施例中，第二卷绕张力参数指的是每个卷绕图像的测量位置分别到三个预设距离的点的张力的大小以及方向。
该实施例中，嵌套GRR验证模型指的是由卷绕工序中张力的大小以及方向训练得到的，能够验证卷绕过程的合格与否的模型。
该实施例中，验证报告指的是嵌套GRR验证模型输出的每个卷绕环节是否合格的报告。
上述技术方案的工作原理及有益效果是：通过对CMK指数与CPK指数中存在任一指数不合格的卷绕图像进行嵌套GRR验证，得到验证结果，对电五金卷绕工序的每个环节进行多次验证，对异常的卷绕过程及时进行调整，保证卷绕工序后的电五金成果的质量，提高电五金的卷绕工序的效率。
实施例8：
根据发明实施例1提供的方法，获取GRR验证中的异常环节，并匹配相对应的调整措施进行调整，包括：
获取验证报告不合格的卷绕环节，得到相对应的异常环节；
基于全部异常环节的连贯性，得到连贯组合；
基于全部连贯组合、全部异常环节以及调整措施数据库，匹配相对应的调整措施进行调整。
该实施例中，连贯组合指的是异常环节的顺序连贯的异常环节的组合。
该实施例中，调整措施数据库指的是包含全部异常环节相对应的调整措施的数据库。
上述技术方案的工作原理及有益效果是：通过获取GRR验证中的异常环节，并匹配相对应的调整措施进行调整，对异常的卷绕过程及时进行调整，保证卷绕工序后的电五金成果的质量，提高电五金的卷绕工序的效率。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (4)
1.一种电五金卷绕工序的尺寸闭环控制方法，其特征在于，包括：
步骤1：基于卷绕前准备序列，对当前的卷绕设备进行检验，得到相对应的检验结果；
步骤2：基于检验结果合格的电五金的卷绕工序获取的实时卷绕参数，得到相对应的卷绕工作参数；
步骤3：计算本次卷绕过程的CMK指数以及CPK指数；
步骤4：若所述CMK指数与CPK指数中存在任一指数不合格，则获取卷绕过程的卷绕图像，进行嵌套GRR验证；
步骤5：若嵌套GRR验证不合格，则获取GRR验证中的异常环节，并匹配相对应的调整措施进行调整；
其中，步骤1，包括：
基于电五金卷绕工序的卷绕需求以及卷绕材料，得到相对应的张力参数；
基于张力参数对卷绕设备进行设置，得到需要进行检验的卷绕前准备序列；
基于所述卷绕前准备序列对设置好的卷绕设备进行检验，得到相对应的检验结果；
其中，步骤2，包括：
基于电五金卷绕工序的卷绕需求，得到相对应的卷绕的误差范围、规格范围以及卷绕工序每个卷绕环节的标准卷绕长度；
获取检验结果合格的电五金的卷绕工序中的每个卷绕环节的实时卷绕长度；
基于相同卷绕环节的实时卷绕长度以及标准卷绕长度，得到相对应的第一差值；
基于全部第一差值，按照卷绕工序的全部卷绕环节的顺序构建差值点图；
去除所述差值点图中第一差值在误差范围内的点；
基于保留的点连续的差值点图中的点进行拟合，得到拟合函数；
若所述拟合函数只有一个因变量，则确定第一个点相对应的卷绕环节为异常环节，进行调整；
若所述拟合函数有两个以上的因变量或差值点图保留的点不连续，则计算相对应的差值点图中保留的点相对应的第一差值的第一标准差；
若所述第一标准差大于或等于预设标准差，则发出停止工作信号，进行检修调整；
若所述第一标准差小于预设标准差，则获取相对应的第一差值点图；
基于第一差值点图相对应的每个卷绕环节的实时卷绕长度，输入至张力分析模型，得到相对应的实时张力大小；
基于相同的卷绕环节的实时张力大小、张力参数、实时卷绕长度、标准卷绕长度、误差范围以及规格范围，构建卷绕工作参数；
其中，获取卷绕过程的卷绕图像，进行嵌套GRR验证之前，包括：
确定卷绕工序的卷绕需求的卷绕电芯的中心为测量位置；
基于卷绕工序的卷绕部分，得到能够达到测量位置的三个预设距离；
其中，步骤4，包括：
若所述CMK指数与CPK指数中存在任一指数不合格，则获取相对应的每个卷绕环节的卷绕图像；
获取每个卷绕图像的测量位置分别到三个预设距离的点的第二卷绕张力参数；
将每个第二卷绕张力参数与张力参数输入至嵌套GRR验证模型，得到相对应的验证报告；
其中，CMK指数表示卷绕工序中与卷绕过程的长度有关的卷绕过程能力的指数，CPK指数表示卷绕 工序中与卷绕过程的张力有关的卷绕过程能力的指数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，计算本次卷绕过程的CMK指数，包括：
；其中，/>指数表示卷绕工序中与卷绕过程的长度有关的卷绕过程能力的指数；/>表示电五金卷绕工序的规格范围中的最大值；/>表示电五金卷绕工序的规格范围中的最小值；/>表示卷绕工序下基于卷绕长度的过程指数；/>表示电五金卷绕工序基于卷绕长度的标准差；/>表示电五金卷绕工序的全部卷绕环节的数量；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的实时卷绕长度；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的标准卷绕长度；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的卷绕长度权重；/>表示基于卷绕长度所对应误差范围的最大值；k02表示基于卷绕长度所对应误差范围的最小值；p1表示k01的历史出现概率；/>表示k02的历史出现概率；/>表示基于/>与/>的调节函数，取值范围为(0.1,0.5)。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，计算本次卷绕过程的CPK指数，包括：
；其中，/>指数表示卷绕工序中与卷绕过程的张力有关的卷绕过程能力的指数；/>表示卷绕工序下基于张力的过程指数；/>表示电五金卷绕工序基于张力的标准差；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的实时张力大小；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的张力参数的标准张力大小；/>表示电五金卷绕工序的第/>个卷绕环节的卷绕张力权重；k11表示基于张力所对应误差范围的最大值；k12表示基于张力所对应误差范围的最小值；p3表示k11的历史出现概率；p4表示k12的历史出现概率；/>表示基于/>与/>的调节函数，取值范围为(0.1,0.5)。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取GRR验证中的异常环节，并匹配相对应的调整措施进行调整，包括：
获取验证报告不合格的卷绕环节，得到相对应的异常环节；
基于全部异常环节的连贯性，得到连贯组合；
基于全部连贯组合、全部异常环节以及调整措施数据库，匹配相对应的调整措施进行调整。
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- 2024-01-19 CN CN202410078733.0A patent/CN117592872B/zh active Active
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Also Published As
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|---|---|
| CN117592872A (zh) | 2024-02-23 |
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