CN117571404A - 用于金相试样前期处理的装置及其制作方法和其前期处理金相试样方法 - Google Patents

用于金相试样前期处理的装置及其制作方法和其前期处理金相试样方法 Download PDF

Info

Publication number
CN117571404A
CN117571404A CN202311405263.6A CN202311405263A CN117571404A CN 117571404 A CN117571404 A CN 117571404A CN 202311405263 A CN202311405263 A CN 202311405263A CN 117571404 A CN117571404 A CN 117571404A
Authority
CN
China
Prior art keywords
adhesive tape
tape
metallographic
specimen
support piece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202311405263.6A
Other languages
English (en)
Inventor
吴晓宏
林首原
姚忠平
李杨
卢松涛
姚远
秦伟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Harbin Institute of Technology
Chongqing Research Institute of Harbin Institute of Technology
Original Assignee
Harbin Institute of Technology
Chongqing Research Institute of Harbin Institute of Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Harbin Institute of Technology, Chongqing Research Institute of Harbin Institute of Technology filed Critical Harbin Institute of Technology
Priority to CN202311405263.6A priority Critical patent/CN117571404A/zh
Publication of CN117571404A publication Critical patent/CN117571404A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/32Polishing; Etching
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/34Purifying; Cleaning

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

本发明公开了用于金相试样前期处理的装置及其制作方法和其前期处理金相试样方法,属于金属的测试分析制样领域。本发明要解决现有方法存在夹具夹持对样品的尺寸的要求较为严格,且在制备过程中易造成夹具的磨损的问题。本发明装置是由支撑件、双面胶和透明胶带构成;支撑件呈立方体,且表面平整;支撑件外壁设置有至少2圈透明胶带且其胶面暴露,并通过双面胶紧密贴合在支撑件表面。本发明方法简化了金相试样的制备前期处理和后期脱嵌的流程,有效节约时间和成本,方法的实用性高,方法简单易行,且可以根据打磨、抛光过程中的试样情况随时进行相应的调整。丰富了金相试样的制备方法,加快金属的分析检测提供了有效支撑。

Description

用于金相试样前期处理的装置及其制作方法和其前期处理金 相试样方法
技术领域
本发明属于金属的测试分析制样的技术领域,具体地说,涉及一种用于金相试样前期处理的装置及其制作方法,及所述装置前期处理金相试样方法,可用于金属类材料的金相试样制备。
背景技术
金相试样的正确制备对金属材料结构和性质的分析具有重要的影响。目前金相试样前期处理常见的方法有:冷镶嵌、热镶嵌和夹具夹持。冷镶嵌存在着制样过程中空气易混入镶嵌料中使得冷镶嵌料发生气泡甚至裂纹而使得制样失败,而且固化成型后的冷镶嵌料的脱嵌也较为费时费力。热镶嵌对样品的耐热加压等性质有一定的要求,需用使用热镶嵌机等专业设备,且热镶嵌一般为热固性树脂,不利于样品的取出。夹具夹持对样品的尺寸的要求较为严格,且在制备过程中易造成夹具的磨损。因此开发一种新型简易的金相试样制备方法对丰富金相试样的制备手段和制备效果具有十分重大的意义。
发明内容
本发明提出了一种新型简易金相试样装置及其制备方法,可用于普通金相试样的制备,为高效、高质量的金相试样制备提供可靠技术支撑,为加快金属材料的分析检测奠定重要基础。本发明通过胶带和支撑件等常用物件实现金相试样的低价、高效、高质量的可靠制备,为金属的相关分析检测工作提供有效的支撑。
为了解决上述技术问题,本发明提供了用于金相试样前期处理的装置,该装置是由支撑件、双面胶和透明胶带构成;支撑件呈立方体,且表面平整;支撑件外壁设置有至少2圈透明胶带且其胶面暴露,并通过双面胶紧密贴合在支撑件表面。
其中,紧密贴合即指双面胶的带胶面第一圈缠绕一圈后自我耦合需要整个胶带与支撑件实现完整贴合,无明显缝隙存在。
进一步地限定,所述的透明胶带在阴凉环境下放置一个月。
更进一步地限定,所述阴凉环境的湿度为60%以上,温度为20℃~30℃。
进一步地限定,所述双面胶设置在支撑件任一面的中心位置;可以在胶带缠绕起点使用双面胶固定,在透明胶带缠绕第一圈后实现带胶面的自我耦合,也可以4个面都用双面胶固定,也可以对着起点的位置用双面胶固定。
进一步地限定,所述双面胶为得力33193封箱胶带(商品编号:1527583,欧盟ECL03H003801001C)。
进一步地限定,所述支撑件材料为透明树脂、金属。
进一步地限定,所述支撑件呈正方体。
进一步地限定,所述支撑件设置透明胶带的边倒角,防止在打磨、抛光过程中划破砂纸。
为了解决上述技术问题,本发明还提供了用于金相试样前期处理的装置的制作方法,所述方法是按下述步骤进行的:
支撑件表面用无水乙醇清洗干净,晾干后,透明胶带通过双面胶紧密粘贴在支撑件上,缠绕两周,并使得透明胶带的胶面暴露。
本发明还提供了上述任意装置前期处理金相试样方法,所述方法:将金相试样的背面粘到带胶面上,完成试样的固定,进行完打磨、抛光工序后将试样从胶带上取出。
抛光后的试样去胶带取出后,用酒精清洗金相试样背面以去除残留在金相试样上的胶。
与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:
本发明方法简化了金相试样的制备前期处理和后期脱嵌的流程,有效节约时间和成本,方法的实用性高,方法简单易行,且可以根据打磨、抛光过程中的试样情况随时进行相应的调整。丰富了金相试样的制备方法,为加快金属的分析检测提供了有效支撑。
为了能够更进一步了解本发明的特征及技术内容,请参阅以下有关本发明详细说明与附图,然而所附的附图仅提供参考和说明之用,并非用来对本发明加以限制。
附图说明
图1是本发明的用于金相试样前期处理的装置的示意图;图中:①、支撑件;②透明胶带;③双面胶;④金相试样。
具体实施方式
下面将结合具体实施例对本发明进行详细的说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员对本发明专利的进一步的理解,同时不以任何形式限制本发明。应当指出的是,对本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明专利构思的前提下,还可以做出若干变形和改进。这些都属于本发明专利的保护范围。
实施例1:结合图1进行说明,本实施用于金相试样前期处理的装置是由支撑件①、双面胶③和透明胶带②构成;支撑件①呈正方体,且表面平整,其材质为透明树脂;支撑件①外壁设置有2圈透明胶带②且其胶面暴露,并通过双面胶③紧密贴合在支撑件表面,透明胶带②的起点设置在支撑件①任一面的中心位置,并且透明胶带②的起点使用双面胶③固定,透明胶带②的自我耦合通过整个透明胶带②与支撑件①实现完整贴合,且无明显缝隙存在,所述双面胶③为得力33193封箱胶带(商品编号:1527583,欧盟ECL03H003801001C)。
采用下述方法制作的金相试样前期处理的装置,所述方法是按下述步骤进行的:
支撑件①设置透明胶带②的边倒角,支撑件①表面用无水乙醇清洗干净,晾干后,将在阴凉环境下放置一个月的透明胶带②通过双面胶③紧密粘贴在任一面的中心位置上,并使得透明胶带②的胶面暴露,起点位置用双面胶③固定,一共缠绕两周,第一圈缠绕一圈后自我耦合需要整个透明胶带②与支撑件①实现完整贴合,无明显缝隙存在。
其中,所述阴凉环境的湿度保持60%以上,温度控制在20℃~30℃。
将清洗后干净的金相试样④放在透明胶带②的胶面上,用力按压固定,进行打磨、抛光工序的预处理,在打磨、抛光过程中手拿未缠绕透明胶带②通过的部分进行操作,预处理完毕后将金相试样④从透明胶带②上取下,然后用无水乙醇清洗金相试样背面以去除残留在金相试样④上的胶,即可用于检测。
并且透明胶带②未使用的区域可继续粘贴金相试样进行打磨、抛光,实现透明胶带②胶面的充分利用。待使用完整个胶面后,将透明胶带②撕下,清理干净,可用无水乙醇清洗以去除残留在支撑件表面胶,然后按上述方法重新制作的金相试样前期处理的装置并制样,用于金相试样前期处理的装置可制作新的金相试样④的前期处理,反复使用。
以上对本发明的具体实施例进行了描述。需要指出的是,本发明并不局限于上述特定实施方式,本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变形或修改,这并不影响本发明的实质内容。

Claims (10)

1.用于金相试样前期处理的装置,其特征在于,由支撑件、双面胶和透明胶带带构成;支撑件呈立方体,且表面平整;支撑件外壁设置有至少2圈透明胶带且其胶面暴露,并通过双面胶紧密贴合在支撑件表面。
2.根据权利要求1所述装置,其特征在于,透明胶带在阴凉环境下放置一个月。
3.根据权利要求2所述装置,其特征在于,阴凉环境的湿度为60%以上,温度为20℃~30℃。
4.根据权利要求1所述装置,其特征在于,双面胶设置在支撑件任一面的中心位置。
5.根据权利要求1所述装置,其特征在于,双面胶为得力33193封箱胶带。
6.根据权利要求1所述装置,其特征在于,支撑件材料为透明树脂、金属。
7.根据权利要求1所述装置,其特征在于,支撑件呈正方体。
8.根据权利要求1所述装置,其特征在于,支撑件设置透明胶带的边倒角。
9.如权利要求1-8任意一项所述装置的制作方法,其特征在于,所述方法是按下述步骤进行的:
支撑件表面用无水乙醇清洗干净,晾干后,透明胶带带通过双面胶紧密粘贴在支撑件上,缠绕两周,并使得透明胶带带的胶面暴露。
10.如权利要求1-8任意一项所述装置前期处理金相试样方法,其特征在于,所述方法:将金相试样的背面粘到带胶面上,完成试样的固定,进行完打磨、抛光工序后将试样从胶带上取出。
CN202311405263.6A 2023-10-26 2023-10-26 用于金相试样前期处理的装置及其制作方法和其前期处理金相试样方法 Pending CN117571404A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311405263.6A CN117571404A (zh) 2023-10-26 2023-10-26 用于金相试样前期处理的装置及其制作方法和其前期处理金相试样方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311405263.6A CN117571404A (zh) 2023-10-26 2023-10-26 用于金相试样前期处理的装置及其制作方法和其前期处理金相试样方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN117571404A true CN117571404A (zh) 2024-02-20

Family

ID=89861407

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202311405263.6A Pending CN117571404A (zh) 2023-10-26 2023-10-26 用于金相试样前期处理的装置及其制作方法和其前期处理金相试样方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN117571404A (zh)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040170868A1 (en) * 2003-02-28 2004-09-02 Fuji Photo Film Co., Ltd. Magnetic particle coated material containing magnetic particles having CuAu type or Cu3Au type ferromagnetic ordered alloy phase, and method for producing the same
CN111257092A (zh) * 2020-04-10 2020-06-09 昆明理工大学 一种用于抛磨光的金属及矿物薄片试样的固定方法
CN212539895U (zh) * 2020-06-29 2021-02-12 马鞍山钢铁股份有限公司 一种钢板表面金相试样制备装置
CN115078680A (zh) * 2022-06-24 2022-09-20 武汉钢铁有限公司 一种金相分析方法及试样

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040170868A1 (en) * 2003-02-28 2004-09-02 Fuji Photo Film Co., Ltd. Magnetic particle coated material containing magnetic particles having CuAu type or Cu3Au type ferromagnetic ordered alloy phase, and method for producing the same
CN111257092A (zh) * 2020-04-10 2020-06-09 昆明理工大学 一种用于抛磨光的金属及矿物薄片试样的固定方法
CN212539895U (zh) * 2020-06-29 2021-02-12 马鞍山钢铁股份有限公司 一种钢板表面金相试样制备装置
CN115078680A (zh) * 2022-06-24 2022-09-20 武汉钢铁有限公司 一种金相分析方法及试样

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
齐延生;胡晓峰;王静;慕松;: "高强度螺栓断裂失效分析", 理化检验(物理分册), no. 05, 8 May 2018 (2018-05-08) *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Samuels Metallographic polishing by mechanical methods
CN102581650A (zh) 真空吸附固持蜂窝零件的方法
US4812216A (en) Method of handling and transporting a transfer membrane used in a blotting apparatus
CN111044338B (zh) 一种针对薄、小样品的磨抛夹具及其磨抛方法
CN117571404A (zh) 用于金相试样前期处理的装置及其制作方法和其前期处理金相试样方法
CN204177661U (zh) 一种可快速装夹的通用型金相试样夹具
CN202428217U (zh) 用于蜂窝芯零件加工固持的工装
CN110596167A (zh) 一种样品制备工艺方法
CN108188584A (zh) 一种用于圆柱形状物体的旋转打标机及打标方法
CN111257092A (zh) 一种用于抛磨光的金属及矿物薄片试样的固定方法
JPH05249028A (ja) 塗膜の接着力測定試験機
CN208681188U (zh) 一种简易金相磨抛机构
CN115266795A (zh) 一种强放射性燃料元件裂变气体产物扩散行为表征方法
CN112894591A (zh) 一种针对航空金属材料的抛光工艺
CN106926131A (zh) 一种岩石薄片夹持装置
CN207991910U (zh) 薄钢板表面的制样装置
CN114755129A (zh) 一种电感自停止泰伯尔试验机及其使用方法
CN106903576A (zh) 一种高温拉伸试样磨抛装置及其使用方法
JP3758314B2 (ja) 機能性フィルムの貼付方法及び機能性フィルム貼付装置
CN208672544U (zh) 用于全反射x光荧光光谱仪测量滤膜载颗粒的压环装置
CN202668781U (zh) 一种晶体切割定位粘接台
CN106381049A (zh) 一种磁性组合白板
CN207215553U (zh) 制备金相显微试样用夹具
CN213423022U (zh) 一种ebsd测试用薄片样品夹持装置
CN213842847U (zh) 用于定位一组碳纤维复合棒的夹具

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination