CN117547330A - 旋磨装置、旋磨设备和旋磨转速获取方法 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种旋磨装置、旋磨设备、旋磨转速获取方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，采用本方法在转动件跟随驱动轴转动的过程中，通过直接套设于驱动轴的转动件上的触发标志产生触发信号，获取相邻两次触发信号间的信号时间差，在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，确定驱动轴的转动速度，从而根据多个转动速度，显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图，无需因设置光纤探头而进行内部结构调整，并影响操作精度，在检测件和控制器的配合下，可以随时实现转速检测，以准确获取旋磨转速的变化情况，提高了操作灵活性和易用性。
Description
技术领域
本申请涉及旋磨导管技术领域，特别是涉及一种旋磨装置、旋磨设备、旋磨转速获取方法、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。
背景技术
目前的旋磨导管主要包括柔性驱动轴和驱动轴承载的被金刚石颗粒等耐磨材料覆盖的磨头，通过驱动轴带动磨头高速旋转，向前推进接触并磨削祛除病变。因此，对于磨头转速的控制显得尤为重要。在相关技术中，在通过光纤传感器测量转速时，需要将光纤探头置于测速电机上方。光纤探头跟随测速电机转动，在转动一周时会经过光纤传感器两次，通过光纤传感器可以由此得到两个方波，基于获得的方波可以确定转速。
由于使用光纤传感器测转速的过程中，需要在电机上方设置光纤探头，而医用旋磨装置的电机通常位于壳体内部，而壳体内部空间因设置有其它精密组件通常较为狭隘，难以放置光纤探头。另外，对于医用旋磨装置，在电机上方放置光纤探头，可能会因为对电机转动造成干扰，从而影响操作精准度。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够准确获取旋磨转速变化情况的旋磨装置、旋磨设备、旋磨转速获取方法、旋磨导管系统、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
第一方面，本申请还提供了一种旋磨装置，包括：
驱动轴；
转动件，套设于驱动轴外；转动件上设有触发标志；
检测件，配置为能够在转动件跟随驱动轴转动的情况下响应于触发标志的触发而产生触发信号；及
控制器，与检测件连接；控制器用于根据检测件的触发信号确定驱动轴的转速。
在其中一个实施例中，检测件包括用于发射光信号的光发射模块，以及用于接收光信号的光接收模块；
光发射模块的发射路径与光接收模块的接收路径构成光路路径；
在转动件的转动过程中，触发标志具有位于光路路径上的触发位置。
在其中一个实施例中，驱动轴位于马达外壳内，马达外壳上设置有开口，光发射模块和光接收模块穿过开口插入至马达外壳内。
在其中一个实施例中，在触发标志位于触发位置的情况下，触发标志导通光路路径。
在其中一个实施例中，转动件的外周面包括反光区域和阻光区域；
转动件的反光区域构成触发标志。
在其中一个实施例中，转动件位于反光区域的壁面的至少部分构造为反光面；或者
转动件位于反光区域的壁面的至少部分设有反光层。
在其中一个实施例中，转动件位于阻光区域的壁面的至少部分构造为阻光面；或者
转动件位于阻光区域的壁面的至少部分设有阻光层。
在其中一个实施例中，转动件上设有位于反光区域的凹陷部，凹陷部的内壁构成触发标志。
在其中一个实施例中，凹陷部沿转动件的径向贯穿转动件的内壁。
第二方面，本申请还提供了一种旋磨设备，包括动力源以及如第一方面任一项的旋磨装置；动力源与驱动轴传动连接，动力源用于驱动驱动轴旋转。
第三方面，本申请提供了一种旋磨转速获取方法，应用于在驱动轴外套设有转动件的旋磨装置，转动件上设有触发标志；包括：
在转动件跟随驱动轴转动的过程中，响应于触发标志的触发，获取相应的触发信号；
获取相邻两次触发信号间的信号时间差；
在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，确定驱动轴的转动速度。
在其中一个实施例中，触发信号为光信号；获取相邻两次触发信号间的信号时间差的步骤，包括：
将光信号转换为电压信号；
在电压信号满足电压要求条件的情况下，对电压信号进行放大，获取相邻两次放大后的电压信号间的信号时间差。
在其中一个实施例中，根据所有的信号时间差，确定驱动轴的当前转动速度的步骤，包括：
获取所有的信号时间差相应的平均时长，根据平均时长确定驱动轴的转动速度，平均时长为驱动轴旋转一圈所需的时间长度。
在其中一个实施例中，该方法还包括：
根据多个转动速度，显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图。
第四方面，本申请还提供了一种旋磨转速获取装置，包括：
信号获取模块，用于在转动件跟随驱动轴转动的过程中，响应于触发标志的触发，获取相应的触发信号；
时间差获取模块，用于获取相邻两次触发信号间的信号时间差；
速度确定模块，用于在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，确定驱动轴的转动速度。
第五方面，本申请还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现第三方面中任意一项的方法步骤。
第六方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现第三方面中任意一项的方法步骤。
第七方面，本申请还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现第三方面中任意一项的方法步骤。
上述旋磨装置、旋磨设备、旋磨转速获取方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，在转动件跟随驱动轴转动的过程中，通过直接套设于驱动轴的转动件上的触发标志产生触发信号，获取相邻两次触发信号间的信号时间差，在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，确定驱动轴的转动速度，从而根据多个转动速度，显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图，无需因设置光纤探头而进行内部结构调整，并影响操作精度，在检测件和控制器的配合下，可以随时实现转速检测，以准确获取旋磨转速的变化情况，提高了操作灵活性和易用性。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一个实施例中旋磨装置的结构示意图；
图2为一个实施例中转动件的结构示意图；
图3为一个另实施例中转动件的结构示意图；
图4为一个实施例中旋磨设备的结构示意图；
图5为一个实施例中旋磨设备旋钮部分局部结构的示意图；
图6为一个实施例中旋磨转速获取方法的流程示意图；
图7为一个实施例中显示屏的显示示意图；
图8为一个实施例中旋磨转速获取方法的流程示意图；
图9为一个实施例中旋磨转速获取装置的结构框图；
图10为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
附图标记说明：
100：驱动轴；
200：转动件，210：反光区域，211：凹陷部，220：阻光区域；
300：检测件，310：光发射模块，320：光接收模块；
400：控制器；
500：马达，510：马达外壳，520：马达主体，511：开口，512：进气管插孔，513：进液管插孔；
600：推进器主体，610：推进器外壳，611：移动按钮，612：档位按钮，613：导丝夹，614：锁丝机构；
700：导管组件；
800：磨头。
具体实施方式
为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施例的限制。
在本申请的描述中，需要理解的是，若有出现这些术语“中心”、“上”、“下”、“内”、“外”、“轴向”、“径向”等，这些术语指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
在本申请中，除非另有明确的规定和限定，若有出现术语“连接”、“固定”等，这些术语应做广义理解。例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
需要说明的是，若元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。若一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。如若存在，本申请所使用的术语“上”、“下”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
在一个示例性的实施例中，图1为本申请一个实施例提供的旋磨装置的结构示意图，该旋磨装置包括驱动轴100、转动件200、检测件300及控制器400。其中，转动件200套设于驱动轴100外，在驱动轴100转动的带东西同步转动，转动件200上设有触发标志。检测件300与转动件200相对设置，检测件300被配置为在转动件200跟随驱动轴100转动的情况下，响应触发标志的触发而产生触发信号。控制器400与检测件300连接，控制器400被配置为根据检测件300的触发信号确定驱动轴100的转速。
本申请实施例提供的旋磨装置，由于可以直接在套设于驱动轴的转动件上设置触发标志，从而无需因设置光纤探头而进行内部结构调整，并影响操作精度。另外，由于无需使用光纤探头，而是在已有的转动件上设置触发标志，即可实现转速检测，从而可以降低成本。最后，由于转动件因其上设置了触发标志，在检测件和控制器的配合下可以随时实现转速检测，而检测件和控制器本身无需与旋磨设备本身一体集成，也即在不需要进行转速检测的情况下，可以将检测件和控制器从旋磨设备上分离，从而提高了操作灵活性和易用性。
在其中一个实施例中，继续参见图1，检测件300包括用于发射光信号的光发射模块310及用于接收光信号的光接收模块320，其中，光发射模块310的发射路径与光接收模块320的接收路径构成光路路径，在转动件200的转动过程中，触发标志具有位于光路路径上的触发位置。
本实施例中，检测件可以包括光发射模块和光接收模块，而触发标志可以设置在光路路径的触发位置上，从而可通过光电效应实现转速检测，以使得检测过程具有更广的测量范围、更短的测量时长和更高的测量精度。
在其中一个实施例中，在图1中，该旋磨装置还包括马达500，其中，马达500包括马达外壳510和马达主体520。其中，驱动轴100位于马达外壳510内，马达外壳510表面设置有开口511，光发射模块310和光接收模块320穿过开口511插入至马达外壳510内。
其中，开口511被构造为覆盖触发标志所在的区域，可以理解的是，如图1中所示，光发射模块310和光接收模块320穿过开口511插入至马达外壳510内，且与转动件200正对设置。
本实施例中，通过在马达外壳上设置开口，光发射模块和光接收模块可通过开口导入至马达内。由于在马达外壳上设置开口，即可在马达内部构建光学路径，而无需设置额外的路径通道，从而可以降低成本。
在其中一个实施例中，在触发标志位于触发位置的情况下，触发标志导通光路路径。其中，触发位置指的是触发标志处于光发射模块310和光接收模块320的检测范围内对应的位置，在转动件200跟随驱动轴100转动的过程中、在触发标志跟随转动件200转动至触发位置的情况下，由于光发射模块310和光接收模块320是与转动件200正对设置的，光发射模块310始终将光信号传导至转动件200，而只有在触发标志转动至触发位置的情况下，光路路径被导通，光发射模块310将光信号传导至触发标志，同时，光接收模块320响应于触发标志的触发，获取转动件200的触发信号。
本实施例中，由于可以直接在套设于驱动轴的转动件上设置触发标志，从而无需因设置光纤探头而进行内部结构调整，并影响操作精度。另外，由于无需使用光纤探头，而是在已有的转动件上设置触发标志，即可实现转速检测，从而可以降低成本。
在其中一个实施例中，请参阅图2，图2,为转动件200的一种结构示意图，在图2中，转动件200外周面包括反光区域210和阻光区域220，其中，转动件200的反光区域210构成触发标志。
其中，反光区域210指的是可以传导光信号的区域，阻光区域220指的是不传导光信号的区域，光发射模块310将光信号传导至转动件200时，在阻光区域220转动至与光接收模块320相对的情况下，光信号被吸收，因此光接收模块320接收不到传导的光信号，只有在反光区域210转动至与光接收模块320相对的情况下，光信号通过反光区域210传导至光接收模块320，产生触发信号。其中，为了保证触发信号的准确性，通常反光区域210的尺寸应小于阻光区域220的尺寸，若反光区域210设置过大，光信号的传导时长过长，导致光接收模块320可能接受不到完整的触发信号。
本实施例中，由于可以在转动件的外周面设置反光区域和阻光区域，反光区域可以构成触发标志，阻光区域可以阻挡光线传播减少对触发标志的干扰，从而提高测量精度。
在其中一个实施例中，继续参阅图2，转动组件200位于反光区域210的壁面的至少部分构造为反光面，或者转动件200位于反光区域210的壁面的至少部分设有反光层。其中，反光区域210可以是通过电镀等方式形成的反光面，或是利用可以传导光信号的材质在反光区域210的壁面构成的反光层，在转动组件200转动至触发位置的情况下，光接收模块320接收到反光区域210传导的光信号，实现触发信号的采集。
本实施例中，由于可以将反光区域的壁面的至少部分构造为反光面或者反光层，而无需额外使用其它构件形成反光区域。因此，无需进行旋磨装置的内部结构作大范围调整，从而可降低改造和使用成本。
在其中一个实施例中，转动件200位于阻光区域220的壁面的至少部分构造为阻光面，或者转动件200位于阻光区域220的壁面的至少部分设有阻光层。其中，阻光区域220可以是通过氧化等方式形成的阻光面，或是利用不传导光信号在阻光区域220的壁面构成的阻光层，由于阻光区域220不传导光信号，在阻光区域220转动至触发位置的情况下，光发射模块310传导的光信号被吸收，光接收模块320未接收到传导的光信号。
本实施例中，由于可以将阻光区域的壁面的至少部分构造为阻光面或者阻光层，而无需额外使用其它构件形成阻光区域。因此，无需进行旋磨装置的内部结构作大范围调整，从而可降低改造和使用成本。
在其中一个实施例中，请参与图3，图3为转动件200的另一种结构示意图，在图3中，转动件200上设有位于反光区域210的凹陷部211，凹陷部211的内壁构成触发标志。
其中，凹陷部211的内壁构成触发标志时可以是通过嵌入金属构件等方式形成，进一步地，凹陷部211位于转动件200的外表面，在转动件200转动的过程中，凹陷部211跟随转动件200转动，直至凹陷部211转动至触发位置的情况下，光接收模块320接收到凹陷部211内壁构成的触发标志传导的光信号。可以理解的是，本申请实施例提供的转动件200中形成反光区域210和阻光区域220的具体方式不限，只要能够构成触发标志即可。
本实施例中，通过在转动件上设置凹陷部，并通过凹陷部的内壁构成触发标志。由于仅需对转动件本身进行调整，而无需对旋磨设备的内部结构作大范围调整，从而可降低改造和使用成本。
在其中一个实施例中，凹陷部211沿转动件200的径向贯穿转动件200的内壁。其中，由于转动件200套设于驱动轴100外，驱动轴100的外表面通常为金属材质构成，因此，凹陷部211被构造为沿转动件200的径向贯穿转动件200的内壁，以使得驱动轴100的外表面通过凹陷部211露出，在凹陷部211转动至触发位置的情况下，通过驱动轴100露出的部分传导光信号。其中，在其他实施例中，凹陷部211可以是沿转动件200的径向开设的槽孔，不贯穿转动件200的内壁，反光区域210可以是由槽孔的底部设有反光层形成。
本实施例中，通过将凹陷部径向贯穿所述转动件的内壁，可露出驱动轴的金属外壁，以作为反光区域。由于仅需对转动件本身进行调整，且无需额外使用构成反光区域的构件，从而可降低改造和使用成本。
在其中一个实施例中，请参阅图4至图5，提供了一种旋磨设备，该旋磨设备包括上述实施例中的旋磨装置，该旋磨设备还包括进器主体600、导管组件700及磨头800。推进器主体600沿x方向的一端通过导管组件700与磨头800连接，检测件300一端插入至推进器主体600内部，检测件300另一端连接至控制器400，可以理解的是，图5中为控制器400的连接方式示意，控制器400可以选择任意具有嵌入式算法的处理器，例如终端等。其中，该旋磨设备还包括动力源，动力源与驱动轴传动连接，用于驱动旋磨装置的驱动轴旋转。
其中，推进器主体600包括推进器外壳610及设置在推进器外壳610内部的驱动轴100和马达500，驱动轴100与导管组件700连接，被构造为能够在马达500的带动下转动，从而驱动磨头800旋转，推进器外壳610表面设有移动按钮611、档位按钮612，移动按钮611位于推进器外壳610表面凹槽内沿x方向移动，移动按钮611与马达500连接，被设置为沿x方向移动时通过马达500带动驱动轴100移动，以通过导管组件700带动磨头800伸长或缩短，档位按钮612位于靠近推进器主体600沿x方向的另一端，其中，推进器外壳610沿x方向的另一端还设有导丝夹613和锁丝机构614。其中，x方向为沿推进器主体600中轴线上，朝向磨头800的方向。其中，推进器主体600侧表面设有开口，与推进器外壳610内部连通，且开口尺寸覆盖推进器外壳610表面凹槽，其中，马达外壳510上还设置有进气管插孔512及进液管插孔513。
本申请实施例提供的旋磨装置，由于可以直接在套设于驱动轴的转动件上设置触发标志，从而无需因设置光纤探头而进行内部结构调整，并影响操作精度。另外，由于无需使用光纤探头，而是在已有的转动件上设置触发标志，即可实现转速检测，从而可以降低成本。最后，由于转动件因其上设置了触发标志，在检测件和控制器的配合下可以随时实现转速检测，而检测件和控制器本身无需与旋磨设备本身一体集成，也即在不需要进行转速检测的情况下，可以将检测件和控制器从旋磨设备上分离，从而提高了操作灵活性和易用性。
在一个示例性的实施例中，如图6所示，提供了一种旋磨转速获取方法，以该方法应用于图2的控制器500为例进行说明，包括以下步骤602至步骤606。
其中：
S602：在转动件跟随驱动轴转动的过程中，响应于触发标志的触发，获取相应的触发信号。
其中，转动件包括反光区域和阻光区域，反光区域构成触发标志，在转动件跟随转动轴转动的过程中，控制器通过检测件中的光发射模块向转动件发射出光信号，在光信号发射至反光区域的情况下，光接收模块接收到反光区域反射回的光信号，即在触发标志的触发下，接收到相应的触发信号，而在光信号发射至阻光区域的情况下，光接收模块不被触发。
S604：获取相邻两次触发信号间的信号时间差。
其中，触发信号的接收频率与驱动轴的转速有关，因此，根据触发信号的接收时刻，确定相邻两次触发信号间的信号时间差，信号时间差表示为驱动轴转动一周所需的时长，即旋磨装置磨头转动一周所需的时长。
S606：在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，确定驱动轴的转动速度。
其中，由于驱动轴的转速较快，通常情况下，获取到的信号时间差较短，为了保证转速的准确性，需要获取足够数量的信号时间差，在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，通过对信号时间差进行平均值处理，得到驱动轴在该时间段内的转动速度，也即磨头的转动速度。
上述旋磨转速获取方法中，在转动件跟随驱动轴转动的过程中，通过直接套设于驱动轴的转动件上的触发标志产生触发信号，获取相邻两次触发信号间的信号时间差，在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，确定驱动轴的转动速度，从而根据多个转动速度，显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图，无需因设置光纤探头而进行内部结构调整，并影响操作精度，在检测件和控制器的配合下，可以随时实现转速检测，以准确获取旋磨转速的变化情况，提高了操作灵活性和易用性。
在一个示例性的实施例中，触发信号为光信号；获取相邻两次触发信号间的信号时间差的步骤，包括：将光信号转换为电压信号；在电压信号满足电压要求条件的情况下，对电压信号进行放大，获取相邻两次放大后的电压信号间的信号时间差。
其中，控制器能够处理的信号为2V至3.3V的电压信号，首先需要将光信号转换为电压信号，此时的电压信号为0-0.8V的电压，由于光信号受到环境的影响较大，在转换成电压信号时，可能会存在电压值过小的情况，因为，需要对电压信号进行判断，在电压信号满足电压要求条件的情况下，表示电压信号有效，则对电压信号进行放大，放大至控制器能够处理的电压范围，控制器获取相邻两次放大后的电压信号间的信号时间差，其中，电压要求条件为电压值大于0.5V。
本实施例中，通过将光信号转换为电压信号，在电压信号满足电压要求条件的情况下，对电压信号进行放大，获取相邻两次放大后的电压信号间的信号时间差，能够保证电压信号的有效性，从而准确获取旋磨转速。
在一个示例性的实施例中，根据所有的信号时间差，确定驱动轴的当前转动速度的步骤，包括：获取所有的信号时间差相应的平均时长，根据平均时长确定驱动轴的转动速度，平均时长为驱动轴旋转一圈所需的时间长度。
其中，控制器在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，进行平均值计算，得到所有的信号时间差相应的平均时长，其中，平均时长即为驱动轴旋转一圈所需的时间长度，通过对平均时长进行计算，确定驱动轴的转动速度。
本实施例中，通过获取所有的信号时间差相应的平均时长，根据平均时长确定驱动轴的转动速度，平均时长为驱动轴旋转一圈所需的时间长度，能够保证转动速度的准确性。
在一个示例性的实施例中，该方法还包括：根据多个转动速度，显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图。
其中，在每次获取到目标数量的信号时间差的情况下，控制器计算得到这一段时间内的转动速度，以得到随时间变化的多个转动速度，并且，控制器通过外接导线与显示屏连接，将转动速度发送至显示屏，以显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图。其中，如图7所示，图7为显示屏显示转速波形图的示意图，图7中转速波形图的横轴为时间，纵轴为转速(rpm)，同时，显示屏还会显示驱动轴每次驱动时的单次旋磨时长和累计旋磨时长，以及实时转速。
本实施例中，通过根据多个转动速度，显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图，能够实时获取磨头的转速变化情况。
在一个示例性的实施例中，如图8所示，提供了一种旋磨转速获取方法，该方法包括以下步骤：
S802：在转动件跟随驱动轴转动的过程中，响应于触发标志的触发，获取相应的触发信号。
S804：将光信号转换为电压信号；在电压信号满足电压要求条件的情况下，对电压信号进行放大，获取相邻两次放大后的电压信号间的信号时间差。
S806：在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，获取所有的信号时间差相应的平均时长，根据平均时长确定驱动轴的转动速度，平均时长为驱动轴旋转一圈所需的时间长度。
S808：根据多个转动速度，显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图。
本实施例中，通过在转动件跟随驱动轴转动的过程中，响应于触发标志的触发，获取相应的触发信号，获取相邻两次触发信号间的信号时间差，在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，确定驱动轴的转动速度，从而根据多个转动速度，显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图，能够根据转速波形图准确获取旋磨转速的变化情况。
应该理解的是，虽然如上的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的旋磨转速获取方法的旋磨转速获取装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个旋磨转速获取装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于旋磨转速获取方法的限定，在此不再赘述。
在一个示例性的实施例中，如图9所示，提供了一种旋磨转速获取装置，包括：信号获取模块10、时间差获取模块20和速度确定模块30，其中：
信号获取模块10，用于在转动件跟随驱动轴转动的过程中，响应于触发标志的触发，获取相应的触发信号。
时间差获取模块20，用于获取相邻两次触发信号间的信号时间差。
速度确定模块30，用于在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，确定驱动轴的转动速度。
在一个示例性的实施例中，时间差获取模块20还用于将光信号转换为电压信号；在电压信号满足电压要求条件的情况下，对电压信号进行放大，获取相邻两次放大后的电压信号间的信号时间差。
在一个示例性的实施例中，速度确定模块30还用于获取所有的信号时间差相应的平均时长，根据平均时长确定驱动轴的转动速度，平均时长为驱动轴旋转一圈所需的时间长度。
在一个示例性的实施例中，速度确定模块30还用于根据多个转动速度，显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图。
上述旋磨转速获取装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个示例性的实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图10所示。该计算机设备包括处理器、存储器、输入/输出接口、通信接口、显示单元和输入装置。其中，处理器、存储器和输入/输出接口通过系统总线连接，通信接口、显示单元和输入装置通过输入/输出接口连接到系统总线。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的输入/输出接口用于处理器与外部设备之间交换信息。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过WIFI、移动蜂窝网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种旋磨转速获取方法。该计算机设备的显示单元用于形成视觉可见的画面，可以是显示屏、投影装置或虚拟现实成像装置。显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解，图10中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个示例性的实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：在转动件跟随驱动轴转动的过程中，响应于触发标志的触发，获取相应的触发信号；获取相邻两次触发信号间的信号时间差；在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，确定驱动轴的转动速度。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时涉及的触发信号为光信号；获取相邻两次触发信号间的信号时间差，包括：将光信号转换为电压信号；在电压信号满足电压要求条件的情况下，对电压信号进行放大，获取相邻两次放大后的电压信号间的信号时间差。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时涉及的根据所有的信号时间差，确定驱动轴的当前转动速度，包括：获取所有的信号时间差相应的平均时长，根据平均时长确定驱动轴的转动速度，平均时长为驱动轴旋转一圈所需的时间长度。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据多个转动速度，显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：在转动件跟随驱动轴转动的过程中，响应于触发标志的触发，获取相应的触发信号；获取相邻两次触发信号间的信号时间差；在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，确定驱动轴的转动速度。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时涉及的触发信号为光信号；获取相邻两次触发信号间的信号时间差，包括：将光信号转换为电压信号；在电压信号满足电压要求条件的情况下，对电压信号进行放大，获取相邻两次放大后的电压信号间的信号时间差。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时涉及的根据所有的信号时间差，确定驱动轴的当前转动速度，包括：获取所有的信号时间差相应的平均时长，根据平均时长确定驱动轴的转动速度，平均时长为驱动轴旋转一圈所需的时间长度。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据多个转动速度，显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图。
在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：在转动件跟随驱动轴转动的过程中，响应于触发标志的触发，获取相应的触发信号；获取相邻两次触发信号间的信号时间差；在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，确定驱动轴的转动速度。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时涉及的触发信号为光信号；获取相邻两次触发信号间的信号时间差，包括：将光信号转换为电压信号；在电压信号满足电压要求条件的情况下，对电压信号进行放大，获取相邻两次放大后的电压信号间的信号时间差。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时涉及的根据所有的信号时间差，确定驱动轴的当前转动速度，包括：获取所有的信号时间差相应的平均时长，根据平均时长确定驱动轴的转动速度，平均时长为驱动轴旋转一圈所需的时间长度。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据多个转动速度，显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory，FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory，PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory，DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (16)
1.一种旋磨装置，其特征在于，包括：
驱动轴；
转动件，套设于所述驱动轴外；所述转动件上设有触发标志；
检测件，配置为能够在所述转动件跟随所述驱动轴转动的情况下响应于所述触发标志的触发而产生触发信号；及
控制器，与所述检测件连接；所述控制器用于根据所述检测件的触发信号确定所述驱动轴的转速。
2.根据权利要求1所述的旋磨装置，其特征在于，所述检测件包括用于发射光信号的光发射模块，以及用于接收光信号的光接收模块；
所述光发射模块的发射路径与所述光接收模块的接收路径构成光路路径；
在所述转动件的转动过程中，所述触发标志具有位于所述光路路径上的触发位置。
3.根据权利要求2所述的旋磨装置，其特征在于，所述驱动轴位于马达外壳内，所述马达外壳上设置有开口，所述光发射模块和所述光接收模块穿过所述开口插入至所述马达外壳内。
4.根据权利要求2所述的旋磨装置，其特征在于，在所述触发标志位于所述触发位置的情况下，所述触发标志导通所述光路路径。
5.根据权利要求4所述的旋磨装置，其特征在于，所述转动件的外周面包括反光区域和阻光区域；
所述转动件的所述反光区域构成所述触发标志。
6.根据权利要求5所述的旋磨装置，其特征在于，所述转动件位于所述反光区域的壁面的至少部分构造为反光面；或者
所述转动件位于所述反光区域的壁面的至少部分设有反光层。
7.根据权利要求5所述的旋磨装置，其特征在于，所述转动件位于所述阻光区域的壁面的至少部分构造为阻光面；或者
所述转动件位于所述阻光区域的壁面的至少部分设有阻光层。
8.根据权利要求5所述的旋磨装置，其特征在于，所述转动件上设有位于所述反光区域的凹陷部，所述凹陷部的内壁构成所述触发标志。
9.根据权利要求8所述的旋磨装置，其特征在于，所述凹陷部沿所述转动件的径向贯穿所述转动件的内壁。
10.一种旋磨设备，其特征在于，包括动力源以及如权利要求1-9任一项所述的旋磨装置；所述动力源与所述驱动轴传动连接，所述动力源用于驱动所述驱动轴旋转。
11.一种旋磨转速获取方法，其特征在于，应用于在驱动轴外套设有转动件的旋磨装置，所述转动件上设有触发标志；所述方法包括：
在所述转动件跟随所述驱动轴转动的过程中，响应于所述触发标志的触发，获取相应的触发信号；
获取相邻两次触发信号间的信号时间差；
在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，确定所述驱动轴的转动速度。
12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述触发信号为光信号；所述获取相邻两次触发信号间的信号时间差，包括：
将光信号转换为电压信号；
在所述电压信号满足电压要求条件的情况下，对所述电压信号进行放大，获取相邻两次放大后的电压信号间的信号时间差。
13.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述根据所有的信号时间差，确定所述驱动轴的当前转动速度，包括：
获取所有的信号时间差相应的平均时长，根据所述平均时长确定所述驱动轴的转动速度，所述平均时长为所述驱动轴旋转一圈所需的时间长度。
14.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
根据多个转动速度，显示用于表征磨头转速变化趋势的转速波形图。
15.一种旋磨转速获取装置，其特征在于，所述装置包括：
信号获取模块，用于在所述转动件跟随所述驱动轴转动的过程中，响应于所述触发标志的触发，获取相应的触发信号；
时间差获取模块，用于获取相邻两次触发信号间的信号时间差；
速度确定模块，用于在获取到的信号时间差的数量达到目标数量的情况下，根据所有的信号时间差，确定所述驱动轴的转动速度。
16.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求11至14中任一项所述的方法的步骤。
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| CN202311545694.2A CN117547330A (zh) | 2023-11-17 | 2023-11-17 | 旋磨装置、旋磨设备和旋磨转速获取方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN202311545694.2A CN117547330A (zh) | 2023-11-17 | 2023-11-17 | 旋磨装置、旋磨设备和旋磨转速获取方法 |
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| CN117547330A true CN117547330A (zh) | 2024-02-13 |
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Family Applications (1)
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| CN202311545694.2A Pending CN117547330A (zh) | 2023-11-17 | 2023-11-17 | 旋磨装置、旋磨设备和旋磨转速获取方法 |
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2023
- 2023-11-17 CN CN202311545694.2A patent/CN117547330A/zh active Pending
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