CN117539214B - 控制芯片的瞬时故障注入方法及装置 - Google Patents

Abstract

本公开涉及一种控制芯片的瞬时故障注入方法及装置。该方法包括：获取待检测的控制芯片的采样参数；控制所述控制芯片运行在预设状态；基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计；根据统计结果确定注入时间；在所述注入时间将瞬时故障注入目标控制芯片。本申请涉及的控制芯片的瞬时故障注入方法及装置，能够提高故障注入的成功率和被检测到的概率，从而达到减少无效故障仿真次数，提高故障仿真效率的最终目标。

Description

控制芯片的瞬时故障注入方法及装置

技术领域

本公开涉及功能安全领域，具体而言，涉及一种控制芯片的瞬时故障注入方法及装置。

背景技术

随着全球能源的紧缺，各国新能源汽车的大力发展，技术的革新，汽车有了新的定义。自动驾驶、自动泊车、辅助并线、定速巡航等一系列新的产品定义随之而来。而这些与时俱进的技术，在解放了人类大脑、双手的同时，也对汽车的车载控制系统、车载部件自身的功能安全，提出了更加严苛的要求，以保证驾驶员和乘客的人身安全和财产安全。而对于这些日渐复杂的新功能，无不需要接受车载MCU(微控制单元)的协同处理和精确控制。所谓MCU，即为控制芯片，同样也是超大规模继承电路(VLSI)中的一种，由规模庞大的晶体管组成，自然也面临着电路老化、干扰、损坏等失效的风险。模拟失效、检测失效、及时报警，防止风险发生、诊断失效覆盖率正是汽车功能安全，ISO26262的意义所在。

在功能安全领域，故障可被分为两种模式，永久性故障(Stuck-At Faults)和瞬时故障(Transient Faults)。所谓永久性故障，即电路出现短路、断路导致数字电路数值自始至终为1或0的情况。而瞬时故障描述为电路出现瞬时跳变后立刻或者保持一段时间之后消失的情况。其中，瞬时故障的模拟和检测是一大难题。

因此，需要一种新的控制芯片的瞬时故障注入方法及装置。

在所述背景技术部分公开的上述信息仅用于加强对本申请的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

有鉴于此，本申请提供一种控制芯片的瞬时故障注入方法及装置，能够提高故障注入的成功率和被检测到的概率，从而达到减少无效故障仿真次数，提高故障仿真效率的最终目标。

本申请的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本申请的实践而习得。

根据本申请的一方面，提出一种控制芯片的瞬时故障注入方法，该方法包括：获取待检测的控制芯片的采样参数；控制所述控制芯片运行在预设状态；基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计；根据统计结果确定注入时间；在所述注入时间将瞬时故障注入目标控制芯片。

在本申请的一种示例性实施例中，获取待检测的控制芯片的采样参数，包括：获取待检测的控制芯片的采样周期；和/或获取待检测的控制芯片的采样时间单位；和/或获取待检测的控制芯片的采样时间精度。

在本申请的一种示例性实施例中，获取待检测的控制芯片的采样周期，包括：根据待检测的控制芯片的芯片参数确定所述采样周期；和/或获取用户的输入以确定所述采样周期；和/或通过默认参数生成所述采样周期。

在本申请的一种示例性实施例中，控制所述控制芯片运行在预设状态，包括：控制所述控制芯片的目标信号的输出值为预设值。

在本申请的一种示例性实施例中，基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计，包括：确定目标信号；基于所述采样参数对所述目标信号进行信号翻转；对所述目标信号的信号翻转率进行统计。

在本申请的一种示例性实施例中，基于所述采样参数对所述目标信号进行信号翻转，包括：基于所述采样参数中的采样时间单位和采样时间精度确定翻转时间点；基于所述采样参数中的采样周期在所述翻转时间点周期性的将所述控制芯片的目标信号进行信号翻转。

在本申请的一种示例性实施例中，对所述控制芯片的信号翻转率进行统计，包括：对所述目标信号的信号翻转总次数进行统计；和/或对所述目标信号的翻转信号总个数进行统计。

在本申请的一种示例性实施例中，根据统计结果确定注入时间，包括：根据统计结果确定所述目标信号在多个时间范围的注入成功率；根据所述注入成功率由所述多个时间范围中确定所述注入时间。

在本申请的一种示例性实施例中，根据所述注入成功率由所述多个时间范围中确定所述注入时间，包括：根据所述注入成功率由所述多个时间点中确定注入时间点；和/或根据所述注入成功率由所述多个时间点中确定注入时间区间。

根据本申请的一方面，提出一种控制芯片的瞬时故障注入装置，该装置包括：参数模块，用于获取待检测的控制芯片的采样参数；状态模块，用于控制所述控制芯片运行在预设状态；统计模块，用于基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计；时间模块，用于根据统计结果提取注入时间；注入模块，用于在所述注入时间将瞬时故障注入目标控制芯片。

根据本申请的一方面，提出一种控制芯片的瞬时故障注入时间确定方法，其特征在于，包括：获取待检测的控制芯片的采样参数；控制所述控制芯片运行在预设状态；确定目标信号，基于所述采样参数对所述目标信号进行信号翻转，并对所述目标信号的信号翻转率进行统计；根据统计结果确定所述目标信号在多个时间范围的注入成功率；以及根据所述注入成功率由所述多个时间范围中确定所述注入时间。

在本申请的一种示例性实施例中，控制所述控制芯片运行在预设状态，包括：控制所述控制芯片的目标信号的输出值为预设值。

在本申请的一种示例性实施例中，基于所述采样参数对所述目标信号进行信号翻转，包括：基于所述采样参数中的采样时间单位和采样时间精度确定翻转时间点；基于所述采样参数中的采样周期在所述翻转时间点周期性的将所述控制芯片的目标信号进行信号翻转。

在本申请的一种示例性实施例中，对所述目标信号的翻转率进行统计，包括：对所述目标信号的信号翻转总次数进行统计；和/或对所述目标信号的翻转信号总个数进行统计。

在本申请的一种示例性实施例中，根据所述注入成功率由所述多个时间范围中确定所述注入时间，包括：根据所述注入成功率由所述多个时间点中确定注入时间点；和/或根据所述注入成功率由所述多个时间点中确定注入时间区间。

根据本申请的一方面，提出一种电子设备，该电子设备包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序；当一个或多个程序被一个或多个处理器执行，使得一个或多个处理器实现如上文的方法。

根据本申请的一方面，提出一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上文中的方法。

根据本申请的控制芯片的瞬时故障注入方法及装置，通过获取待检测的控制芯片的采样参数；控制所述控制芯片运行在预设状态；基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计；根据统计结果确定注入时间；在所述注入时间将瞬时故障注入目标控制芯片的方式，能够提高故障注入的成功率和被检测到的概率，从而达到减少无效故障仿真次数，提高故障仿真效率的最终目标。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本申请。

附图说明

通过参照附图详细描述其示例实施例，本申请的上述和其它目标、特征及优点将变得更加显而易见。下面描述的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有技术中的控制芯片的瞬时故障注入方法的示意图。

图2是现有技术中的控制芯片的瞬时故障注入方法的示意图。

图3是现有技术中的控制芯片的瞬时故障注入方法的示意图。

图4是根据一示例性实施例示出的一种控制芯片的瞬时故障注入方法的示意图。

图5是根据一示例性实施例示出的一种控制芯片的瞬时故障注入方法的流程图。

图6是根据另一示例性实施例示出的一种控制芯片的瞬时故障注入方法的流程图。

图7是根据另一示例性实施例示出的一种控制芯片的瞬时故障注入方法的流程图。

图8是根据一示例性实施例示出的一种控制芯片的瞬时故障注入装置的框图。

图9是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的框图。

图10是根据一示例性实施例示出的一种计算机可读介质的框图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施例；相反，提供这些实施例使得本申请将全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。

此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本申请的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本申请的技术方案而没有特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知方法、装置、实现或者操作以避免模糊本申请的各方面。

附图中所示的方框图仅仅是功能实体，不一定必须与物理上独立的实体相对应。即，可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。

附图中所示的流程图仅是示例性说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解，而有的操作/步骤可以合并或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。

应理解，虽然本文中可能使用术语第一、第二、第三等来描述各种组件，但这些组件不应受这些术语限制。这些术语乃用以区分一组件与另一组件。因此，下文论述的第一组件可称为第二组件而不偏离本申请概念的教示。如本文中所使用，术语“及/或”包括相关联的列出项目中的任一个及一或多者的所有组合。

本领域技术人员可以理解，附图只是示例实施例的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本申请所必须的，因此不能用于限制本申请的保护范围。

在现有技术中，常见的瞬时故障注入方法有以下几种：

在指定时刻进行瞬时故障注入，这是比较简单的一种瞬时故障注入的方法为，指定某个时间点，对该点的数值进行翻转，如图1所示，当该时刻数值为不为x/z时可成功注入故障。如图2所示，当指定的时刻数据为x时，注入故障失败，该次仿真无效

指定某几个时刻进行瞬时故障注入，这种方式通过设置多个瞬时故障注入时间点，进行故障注入，增大故障注入成功概率，如图3所示，多次故障注入的情况下，有些时刻故障能够注入成功，有些时刻故障注入仍旧会失败。

通过上面的阐述，可以明显看出，通过第一种方法，很大概率会有可能选中信号值为X的某个时刻，当电路规模较大时，大量瞬时故障会由于所选时间不准确导致故障注入失败，增加故障注入仿真次数，浪费仿真时间。第二种方法虽然增加了瞬时故障的注入时间点，加大注入次数，命中率有所提升，但单独靠人工添加故障注入时间的方式，工作量较大，需要在人工成本和提高故障注入成功率之间做平衡，仍无法大幅度提升故障的注入成功概率。

因此，在现有技术中，仍需研究更加自动化、智能化的瞬时故障(TransientFaults)注入解决方案，大幅度提升瞬时故障注入的成功概率。

有鉴于现有技术中的困境，本申提出一种控制芯片的瞬时故障注入方法。是一种新的故障注入方法，事先对瞬时故障进行模拟性的故障注入，以确定出最佳的故障注入时间，在之后的故障注入中，在最佳故障时间注入瞬时故障，这种方式能够提高故障注入的成功率和被检测到的概率，从而达到减少无效故障仿真次数，提高故障仿真效率的最终目标。

值得一提的是，本申请中的实施例均是以控制芯片功能仿真过程中的设置为例，来进行示例性说明，但是，本申请中的方法，还可以使用在非仿真环境中。

可以理解的是，本申请中的方法，可以应用在硬件的控制芯片的检测环境中，或者其他芯片的实验场景中，本申请不以此为限。

对于MCU来说，一般的故障仿真规模都很庞大。以经典的ARM CORTEX M3内核来说，当其连接外设之后，如图4所示，也有几万到几十万门级规模，一整颗芯片至少几十万到上百万个信号、存储器。

在一次功能仿真中，信号数值为X或Z是非常常见且合理的行为，往往存量巨大。故障仿真瞬时故障注入的要求是在某一时刻对该信号的值(0或1)进行翻转，并继续故障仿真。而X/Z值将会导致故障注入失败，影响仿真结果。

为减少仿真次数，缩短仿真时间，确保仿真数据的有效性，科学、合理的选择故障注入点，设定故障注入方式有着重要的意义。

下面借助于具体的实施例，对本申请的内容进行详细说明。

图5是根据一示例性实施例示出的一种控制芯片的瞬时故障注入方法的流程图。控制芯片的瞬时故障注入方法50至少包括步骤S502至S508。

如图5所示，在S502中，获取待检测的控制芯片的采样参数。可例如，获取待检测的控制芯片的采样周期；还可例如，获取待检测的控制芯片的采样时间单位；还可例如，获取待检测的控制芯片的采样时间精度。

更具体的，可根据待检测的控制芯片的芯片参数确定所述采样周期；和/或获取用户的输入以确定所述采样周期；和/或通过默认参数生成所述采样周期。

在一个具体的实施例中，可根据控制芯片的晶振频率确定采样周期，还可根据控制芯片的控制信号主频率确定采样周期，当然，还可根据待信息检测的目标信号的工作频率确定采样周期，本申请不以此为限。

在另一些具体的实施例中，可根据用户指定或者系统默认参数生成采样周期。

在S504中，控制所述控制芯片运行在预设状态。可控制所述控制芯片工作在预设状态，可例如为正常工作状态，检测状态，安全模式下或者其他用户指定的状态，在目标信号的输出值为预设值即可任务控制芯片运行在预设状态。

在一个实施例中，在故障仿真开始之前，可使得控制芯片工作在预设状态还包括：可使得本次待检测的目标信号工作在一个稳定的状态，稳定的状态是目标信号工作在预设值。其中，预设值可例如为1或0值，当然，也可以为其他的固定数值状态，本申请不以此为限。

在一个实施例中，在故障仿真开始之前，还可检测其他输出信号或者和目标信号有关联影响的其他信号的状态，可以使得这些信号也保持在稳定的工作状态。

可根据本次检测的需求确定目标信号，还可根据信号重要度确定目标信号，目标信号可为一个也可为多个，即为，在故障仿真中，可每次对一个目标信号注入瞬时故障，也可每次对多个目标信号注入瞬时故障。

在一个实施例中，在故障仿真开始之前，还可检测其他输出信号或者和目标信号有关联影响的其他信号的状态，可以使得这些信号也保持在稳定的工作状态。

在S506中，基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计。可首先确定目标信号；基于所述采样参数对所述目标信号进行信号翻转；对所述目标信号的信号翻转率进行统计。

可对指定范围内的信号按照指定的采样周期进行信号翻转，统计成功翻转的目标信号的翻转率。

在S508中，根据统计结果确定注入时间。可根据统计结果确定所述目标信号在多个时间范围的注入成功率；根据所述注入成功率由所述多个时间范围中确定所述注入时间。

更具体的，可根据所述注入成功率由所述多个时间点中确定注入时间点；还可根据所述注入成功率由所述多个时间点中确定注入时间区间。

在一个实施例中，可对指定范围内信号依照设定要求给出翻转率统计报告，确定最适合进行故障仿真的故障注入时间。最适合进行故障仿真注入的时间点可为翻转率最高的时间点，可理解为，在这个时间点进行瞬时故障注入的话，目标信号能够最大可能得翻转成功(即为，瞬时故障注入成功)。这种做法可以减少无效注入次数，增加随机故障注入成功几率，并在仿真过程中减小内存开销，在实际检测环境中，缩小测试时间。

在一个实施例中，最适合进行故障仿真注入的时间区间可为翻转率最高的几个时间点组成的时间区间，还可为以翻转率最高的时间点为中心的时间区间，或者是翻转检测周期中，翻转率最高的周期，本申请不以此为限。

在S510中，在所述注入时间将瞬时故障注入目标控制芯片。可在选择的注入时间注入单次瞬时故障，还可在选择的注入时间注入周期性瞬时故障。

根据本申请的控制芯片的瞬时故障注入方法，通过获取待检测的控制芯片的采样参数；控制所述控制芯片运行在预设状态；基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计；根据统计结果确定注入时间；在所述注入时间将瞬时故障注入目标控制芯片的方式，能够提高故障注入的成功率和被检测到的概率，从而达到减少无效故障仿真次数，提高故障仿真效率的最终目标。

应清楚地理解，本申请描述了如何形成和使用特定示例，但本申请的原理不限于这些示例的任何细节。相反，基于本申请公开的内容的教导，这些原理能够应用于许多其它实施例。

图6是根据另一示例性实施例示出的一种控制芯片的瞬时故障注入方法的流程图。图6所示的流程60是对图4所示的流程中S406“基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计”的详细描述。

如图6所示，在S602中，确定目标信号。在一个实施例中，如图4所示，目标信号可例如为系统总线和总线矩阵之间的I-code总线信号和D-code总线信号，还可为DWT和ETM之间的触发信号，当然，还可为所有的系统总线信号等等。

在S604中，基于所述采样参数中的采样时间单位和采样时间精度确定翻转时间点。

在S606中，基于所述采样参数中的采样周期在所述翻转时间点周期性的将所述控制芯片的目标信号进行信号翻转。

在目标信号当前的信号值为1时，将该信号的信号值翻转为0；或者在目标信号的信号值为0时，将该信号的信号值翻转为0。值得一提的是，如上文所述，信号翻转不一定会成功。

在S608中，对所述目标信号的信号翻转率进行统计。可对所述目标信号的信号翻转总次数进行统计；还可对所述目标信号的翻转信号总个数进行统计。

在一个实施例中，可对指定故障注入范围内的信号在指定周期内翻转的总次数，或翻转信号的总个数进行统计。

图7是根据另一示例性实施例示出的一种控制芯片的瞬时故障注入方法的流程图。图7所示的流程70以一个具体的实际应用场景的计算为例，对图5所示的流程进行了详细描述。

如图7所示，在S702中，功能仿真开始。

在S704中，采样周期设定。

在S706中，指定采样周期。可根据用户设置确定采样周期。

在S708中，选择默认采样周期。可默认以每100个时间单位作为采样周期。

在S710中，翻转率设定。

在S712中，依据信号翻转总次数。

在S714中，依据翻转信号总个数。

在S716中，根据统计结果确定注入时间。

在S718中，进行瞬时故障仿真。

在具体的应用中，可根据仿真时间单位和时间精度的设置，仿真器会默认以每100个时间单位作为采样周期，即T_sample＝100time_unit。假设timescale为1ns/1ps，则默认的T_sample＝100ns，可对指定范围内的信号按照100ns的采样周期进行信号翻转统计。

在一个实施例中，为更加灵活的设置采样周期，可设置开关：sample_period<T_sample>，用于设定统计信号翻转的采样周期。

在一个实施例中，可通过多种选择方式统计翻转率，通过设定toggle_numbervalue或toggle_number node。用于对指定故障注入范围内的信号在指定周期内翻转的总次数，或翻转信号的总个数进行统计。从而提供给使用者更加灵活的方案、更加全面的选择。具体使用组合可按照如下方式排列：

不使用-sample_period,默认100time_unit，指定-toggle_number value；

不使用-sample_period,默认100time_unit，指定-toggle_number node；

使用-sample_period<T_sample>，指定-toggle_number value；

使用-sample_period<T_sample>，指定-toggle_number node。

通过如上设定，在功能仿真结束时，即可对指定范围内信号依照设定要求给出翻转率统计报告，显示最适合进行故障仿真的故障注入时间，减少无效注入次数，增加随机故障注入成功几率，减小内存开销。

本申请中的方法，在传统方法不能够有效保证瞬时故障注入成功率情况下，寻找故障注入最合理，故障注入成功率最高的时间片段，大大提升了对于瞬时故障注入的成功概率。

本领域技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤被实现为由CPU执行的计算机程序。在该计算机程序被CPU执行时，执行本申请提供的上述方法所限定的上述功能。所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

此外，需要注意的是，上述附图仅是根据本申请示例性实施例的方法所包括的处理的示意性说明，而不是限制目的。易于理解，上述附图所示的处理并不表明或限制这些处理的时间顺序。另外，也易于理解，这些处理可以是例如在多个模块中同步或异步执行的。

下述为本申请装置实施例，可以用于执行本申请方法实施例。对于本申请装置实施例中未披露的细节，请参照本申请方法实施例。

图8是根据一示例性实施例示出的一种控制芯片的瞬时故障注入装置的框图。如图8所示，控制芯片的瞬时故障注入装置80包括：参数模块802，状态模块804，统计模块806，时间模块808，注入模块810。

参数模块802用于获取待检测的控制芯片的采样参数；参数模块802还用于获取待检测的控制芯片的采样周期；参数模块802还用于获取待检测的控制芯片的采样时间单位；参数模块802还用于获取待检测的控制芯片的采样时间精度。

状态模块804用于控制所述控制芯片运行在预设状态；状态模块804还用于控制所述控制芯片的目标信号的输出值为预设值。

统计模块806用于基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计；统计模块806还用于确定目标信号；基于所述采样参数对所述目标信号进行信号翻转；对所述目标信号的信号翻转率进行统计。

时间模块808用于根据统计结果提取注入时间；时间模块808还用于根据统计结果确定所述目标信号在多个时间范围的注入成功率；根据所述注入成功率由所述多个时间范围中确定所述注入时间。

注入模块810用于在所述注入时间将瞬时故障注入目标控制芯片。

根据本申请的控制芯片的瞬时故障注入装置，通过获取待检测的控制芯片的采样参数；控制所述控制芯片运行在预设状态；基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计；根据统计结果确定注入时间；在所述注入时间将瞬时故障注入目标控制芯片的方式，能够提高故障注入的成功率和被检测到的概率，从而达到减少无效故障仿真次数，提高故障仿真效率的最终目标。

图9是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的框图。

下面参照图9来描述根据本申请的这种实施方式的电子设备900。图9显示的电子设备900仅仅是一个示例，不应对本申请实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图9所示，电子设备900以通用计算设备的形式表现。电子设备900的组件可以包括但不限于：至少一个处理单元910、至少一个存储单元920、连接不同系统组件(包括存储单元920和处理单元910)的总线930、显示单元940等。

其中，所述存储单元存储有程序代码，所述程序代码可以被所述处理单元910执行，使得所述处理单元910执行本说明书中描述的根据本申请各种示例性实施方式的步骤。例如，所述处理单元910可以执行如图2，图6，图7中所示的步骤。

所述存储单元920可以包括易失性存储单元形式的可读介质，例如随机存取存储单元(RAM)9201和/或高速缓存存储单元9202，还可以进一步包括只读存储单元(ROM)9203。

所述存储单元920还可以包括具有一组(至少一个)程序模块9205的程序/实用工具9204，这样的程序模块9205包括但不限于：操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。

总线930可以为表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储单元总线或者存储单元控制器、外围总线、图形加速端口、处理单元或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。

电子设备900也可以与一个或多个外部设备900’(例如键盘、指向设备、蓝牙设备等)通信，使得用户能与该电子设备900交互的设备通信，和/或该电子设备900能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口950进行。并且，电子设备900还可以通过网络适配器960与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。网络适配器960可以通过总线930与电子设备900的其它模块通信。应当明白，尽管图中未示出，可以结合电子设备900使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员易于理解，这里描述的示例实施方式可以通过软件实现，也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此，如图10所示，根据本申请实施方式的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中或网络上，包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行根据本申请实施方式的上述方法。

所述软件产品可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。

所述计算机可读存储介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读存储介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质，该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。可读存储介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于无线、有线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本申请操作的程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、C++等，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中，远程计算设备可以通过任意种类的网络，包括局域网(LAN)或广域网(WAN)，连接到用户计算设备，或者，可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

上述计算机可读介质承载有一个或者多个程序，当上述一个或者多个程序被一个该设备执行时，使得该计算机可读介质实现如下功能：获取待检测的控制芯片的采样参数；控制所述控制芯片运行在预设状态；基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计；根据统计结果确定注入时间；在所述注入时间将瞬时故障注入目标控制芯片。

本领域技术人员可以理解上述各模块可以按照实施例的描述分布于装置中，也可以进行相应变化唯一不同于本实施例的一个或多个装置中。上述实施例的模块可以合并为一个模块，也可以进一步拆分成多个子模块。

通过以上的实施例的描述，本领域的技术人员易于理解，这里描述的示例实施例可以通过软件实现，也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此，根据本申请实施例的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中或网络上，包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、移动终端、或者网络设备等)执行根据本申请实施例的方法。

以上具体地示出和描述了本申请的示例性实施例。应可理解的是，本申请不限于这里描述的详细结构、设置方式或实现方法；相反，本申请意图涵盖包含在所附权利要求的精神和范围内的各种修改和等效设置。

Claims (12)

1.一种控制芯片的瞬时故障注入方法，其特征在于，包括：

获取待检测的控制芯片的采样参数；

控制所述控制芯片运行在预设状态；

基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计, 包括：确定目标信号；基于所述采样参数中的采样时间单位和采样时间精度确定翻转时间点；基于所述采样参数中的采样周期在所述翻转时间点周期性的将所述控制芯片的目标信号进行信号翻转；以及对所述目标信号的信号翻转率进行统计；

根据统计结果确定注入时间；

在所述注入时间将瞬时故障注入目标控制芯片。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获取待检测的控制芯片的采样参数，包括：

获取待检测的控制芯片的采样周期；和/或

获取待检测的控制芯片的采样时间单位；和/或

获取待检测的控制芯片的采样时间精度。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，获取待检测的控制芯片的采样周期，包括：

根据待检测的控制芯片的芯片参数确定所述采样周期；和/或

获取用户的输入以确定所述采样周期；和/或

通过默认参数生成所述采样周期。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，控制所述控制芯片运行在预设状态，包括：

控制所述控制芯片的目标信号的输出值为预设值。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述目标信号的翻转率进行统计，包括：

对所述目标信号的信号翻转总次数进行统计；和/或

对所述目标信号的翻转信号总个数进行统计。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据统计结果确定注入时间，包括：

根据统计结果确定所述目标信号在多个时间范围的注入成功率；

根据所述注入成功率由所述多个时间范围中确定所述注入时间。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，根据所述注入成功率由所述多个时间范围中确定所述注入时间，包括：

根据所述注入成功率由所述多个时间点中确定注入时间点；和/或

根据所述注入成功率由所述多个时间点中确定注入时间区间。

8.一种控制芯片的瞬时故障注入装置，其特征在于，包括：

参数模块，用于获取待检测的控制芯片的采样参数；

状态模块，用于控制所述控制芯片运行在预设状态；

统计模块，用于基于所述采样参数对所述控制芯片的信号翻转率进行统计, 包括：确定目标信号；基于所述采样参数中的采样时间单位和采样时间精度确定翻转时间点；基于所述采样参数中的采样周期在所述翻转时间点周期性的将所述控制芯片的目标信号进行信号翻转；以及对所述目标信号的信号翻转率进行统计；

时间模块，用于根据统计结果提取注入时间；

注入模块，用于在所述注入时间将瞬时故障注入目标控制芯片。

9.一种控制芯片的瞬时故障注入时间确定方法，其特征在于，包括：

获取待检测的控制芯片的采样参数；

控制所述控制芯片运行在预设状态；

确定目标信号，基于所述采样参数对所述目标信号进行信号翻转，并对所述目标信号的信号翻转率进行统计，其中基于所述采样参数对所述目标信号进行信号翻转，包括：基于所述采样参数中的采样时间单位和采样时间精度确定翻转时间点；以及基于所述采样参数中的采样周期在所述翻转时间点周期性的将所述控制芯片的目标信号进行信号翻转；

根据统计结果确定所述目标信号在多个时间范围的注入成功率；以及

根据所述注入成功率由所述多个时间范围中确定所述注入时间。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，控制所述控制芯片运行在预设状态，包括：

控制所述控制芯片的目标信号的输出值为预设值。

11.如权利要求9所述的方法，其特征在于，对所述目标信号的翻转率进行统计，包括：

对所述目标信号的信号翻转总次数进行统计；和/或

对所述目标信号的翻转信号总个数进行统计。

12.如权利要求9所述的方法，其特征在于，根据所述注入成功率由所述多个时间范围中确定所述注入时间，包括：

根据所述注入成功率由所述多个时间点中确定注入时间点；和/或

根据所述注入成功率由所述多个时间点中确定注入时间区间。