CN117517769B - 调试电路、调试电路的控制方法及射频功率检测电路 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例提供一种调试电路、调试电路的控制方法及射频功率检测电路,调试电路包括:与射频电路传输线耦合且设置有隔离点和检测点的测试线,隔离点位置根据测试线和传输线的设计距离确定,检测点连接功率检测子电路;第一可变电阻单元,第一端连接传输线,第二端连接测试线;第二可变电阻单元,第一端连接测试线,第二可变电阻单元的第二端接地;控制单元,控制单元分别连接第一可变电阻单元的控制端和第二可变电阻单元的控制端,控制单元用于调整第一可变电阻单元和第二可变电阻单元的阻值,以使得在测试线和传输线的实际距离下,隔离点的电压为零。本申请有利于提高功率测试的准确度。
Description
技术领域
本申请实施例属于电子电路技术领域,尤其涉及一种调试电路、调试电路的控制方法及射频功率检测电路。
背景技术
在进行射频功率检测时,可利用微带线与射频电路中的导线耦合,并对该微带线的电压进行检测从而实现对射频电路的功率检测,而微带线上的隔离点的电压是否为零会直接影响微带线电压测试的准确度,进而影响功率检测的准确度。目前,通常是在生产前对微带线和导线的距离进行设计,在该设计的距离条件下微带线上预设的隔离点的电压为零,然而,由于在生产时微带线与导线的距离可能达不到设计精度,以及实际使用微带线进行射频功率检测时测试条件的改变等,可能导致根据设计距离确定的隔离点有误,进而影响功率检测的准确度。
发明内容
本申请实施例提供一种调试电路、调试电路的控制方法及射频功率检测电路,以期提高功率测试的准确度。
第一方面,本申请实施例提供一种调试电路,所述调试电路包括:
测试线,所述测试线与射频电路的传输线相互耦合,所述测试线设置有隔离点和检测点,所述隔离点的位置是根据预设的所述测试线和所述传输线的设计距离确定的,所述检测点用于连接功率检测子电路,所述功率检测子电路用于检测所述隔离点和所述检测点之间的电压,以对所述射频电路进行功率检测;
第一可变电阻单元,所述第一可变电阻单元的第一端连接所述传输线,所述第一可变电阻单元的第二端连接所述测试线;
第二可变电阻单元,所述第二可变电阻单元的第一端连接所述测试线,所述第二可变电阻单元的第二端接地;
控制单元,所述控制单元分别连接所述第一可变电阻单元的控制端和所述第二可变电阻单元的控制端,所述控制单元用于调整所述第一可变电阻单元的阻值和所述第二可变电阻单元的阻值,以使得在所述测试线和所述传输线的实际距离下,所述隔离点的电压为零。
在一种可能的实施方式中,所述第一可变电阻单元包括:多个第一电阻和多个第一开关;所述多个第一电阻串联后分别连接所述传输线和所述测试线,所述多个第一开关分别与所述多个第一电阻并联,所述控制单元分别连接所述多个第一开关的控制端,在所述调整所述第一可变电阻单元的阻值方面,所述控制单元具体用于控制所述多个第一开关的导通状态以调整所述第一可变电阻单元的阻值。
在一种可能的实施方式中,所述第一可变电阻单元包括:多个第一电阻和第一选通开关;所述第一选通开关的第一端分别连接所述多个第一电阻的第一端;所述第一选通开关的第二端连接所述传输线,所述多个第一电阻的第二端分别连接所述测试线,或者,所述第一选通开关的第二端连接所述测试线,所述多个第一电阻的第二端分别连接所述传输线;所述第一选通开关用于选择导通所述多个第一电阻与所述传输线和所述测试线之间的连接通路,在所述调整所述第一可变电阻单元的阻值方面,所述控制单元具体用于控制所述第一选通开关的导通状态以调整所述第一可变电阻单元的阻值。
在一种可能的实施方式中,所述第一选通开关为单刀多掷开关。
在一种可能的实施方式中,所述第一可变电阻单元为可变电阻。
在一种可能的实施方式中,所述多个第一电阻包括多个阻值不同的电阻。
在一种可能的实施方式中,所述调试电路还包括:电压检测单元;所述电压检测单元分别连接所述隔离点和所述控制单元,所述电压检测单元用于检测所述隔离点的电压,以及用于向所述控制单元传输检测结果。
在一种可能的实施方式中,在所述调整所述第一可变电阻单元的阻值和所述第二可变电阻单元的阻值方面,所述控制单元具体用于:在所述检测结果为所述隔离点的电压不为零时,调整所述第一可变电阻单元的阻值和所述第二可变电阻单元的阻值。
第二方面,本申请实施例提供一种调试电路的控制方法,应用于所述调试电路的控制单元,所述调试电路包括:测试线,所述测试线与射频电路的传输线相互耦合,所述测试线设置有隔离点和检测点,所述隔离点的位置是根据预设的所述测试线和所述传输线的设计距离确定的,所述检测点用于连接功率检测子电路,所述功率检测子电路用于检测所述隔离点和所述检测点之间的电压,以对所述射频电路进行功率检测;第一可变电阻单元,所述第一可变电阻单元的第一端连接所述传输线,所述第一可变电阻单元的第二端连接所述测试线;第二可变电阻单元,所述第二可变电阻单元的第一端连接所述测试线,所述第二可变电阻单元的第二端接地;控制单元,所述控制单元分别连接所述第一可变电阻单元的控制端和所述第二可变电阻单元的控制端,所述方法包括:
调整所述第一可变电阻单元和所述第二可变电阻单元的阻值,以使得在所述测试线和所述传输线的实际距离下,所述隔离点的电压为零。
第三方面,本申请实施例提供一种射频功率检测电路,包括如第一方面所述的任一调试电路和功率检测子电路。
第四方面,本申请实施例提供一种调试电路的控制装置,应用于所述调试电路的控制单元,所述调试电路包括:测试线,所述测试线与射频电路的传输线相互耦合,所述测试线设置有隔离点和检测点,所述隔离点的位置是根据预设的所述测试线和所述传输线的设计距离确定的,所述检测点用于连接功率检测子电路,所述功率检测子电路用于检测所述隔离点和所述检测点之间的电压,以对所述射频电路进行功率检测;第一可变电阻单元,所述第一可变电阻单元的第一端连接所述传输线,所述第一可变电阻单元的第二端连接所述测试线;第二可变电阻单元,所述第二可变电阻单元的第一端连接所述测试线,所述第二可变电阻单元的第二端接地;控制单元,所述控制单元分别连接所述第一可变电阻单元的控制端和所述第二可变电阻单元的控制端,所述调试电路的控制装置包括:
调整模块,用于调整所述第一可变电阻单元和所述第二可变电阻单元的阻值,以使得在所述测试线和所述传输线的实际距离下,所述隔离点的电压为零。
第五方面,本申请提供一种计算机可读存储介质,其中,所述计算机可读存储介质存储用于电子数据交换的计算机程序,其中,所述计算机程序使得计算机执行如本申请实施例第二方面任一方法中所描述的部分或全部步骤。
第六方面,本申请提供一种计算机程序,其中,所述计算机程序可操作来使计算机执行如本申请实施例第二方面任一方法中所描述的部分或全部步骤。该计算机程序可以为一个软件安装包。
可以看出,本申请实施例中,调试电路包括:与射频电路的传输线相互耦合且设置有隔离点和检测点的测试线,该隔离点的位置是根据预设的测试线和传输线的设计距离确定的,检测点连接用于检测隔离点和检测点之间的电压以对射频电路进行功率检测的功率检测子电路;第一端连接传输线且第二端连接测试线的第一可变电阻单元;第一端连接测试线以及第二端接地的第二可变电阻单元;分别连接第一可变电阻单元的控制端和第二可变电阻单元的控制端的控制单元,且该控制单元用于调整第一可变电阻单元的阻值和第二可变电阻单元的阻值,以使得在测试线和传输线的实际距离下,隔离点的电压为零。可见,调试电路通过控制单元对设置在测试线和传输线之间的第一可变电阻单元的阻值,以及设置在传输线和地之间的第二可变电阻单元的阻值进行调整,从而将隔离点的电压调整为零,有利于保证功率检测子电路基于检测点进行电压检测的准确度,进而提高功率检测的准确度。
附图说明
利用附图对本申请实施例作进一步说明,但附图中的实施例不构成对本申请实施例的任何限制,对于本领域的普通技术人员,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据以下附图获得其它的附图。
图1是本申请实施例提供的第一种调试电路的组成结构示意图;
图2是本申请实施例提供的第二种调试电路的组成结构示意图;
图3是本申请实施例提供的第三种调试电路的组成结构示意图;
图4是本申请实施例提供的第四种调试电路的组成结构示意图;
图5是本申请实施例提供的一种调试电路的控制方法的流程示意图;
图6是本申请实施例提供的一种射频功率检测电路的组成结构示意图;
图7是本申请实施例提供的第一种调试电路的控制装置的组成结构示意图;
图8是本申请实施例提供的第二种调试电路的控制装置的组成结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本申请实施例的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请实施例一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请实施例中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请实施例保护的范围。
在本申请实施例的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请实施例和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请实施例的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本申请实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解,本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
请参见图1,图1是本申请实施例提供的第一种调试电路10的组成结构示意图。如图1所示,所述调试电路10包括:
测试线30,所述测试线30与射频电路50的传输线20相互耦合,所述测试线30设置有隔离点和检测点,所述隔离点的位置是根据预设的所述测试线30和所述传输线20的设计距离确定的,所述检测点用于连接功率检测子电路40,所述功率检测子电路40用于检测所述隔离点和所述检测点之间的电压,以对所述射频电路50进行功率检测;
第一可变电阻单元11,所述第一可变电阻单元11的第一端连接所述传输线20,所述第一可变电阻单元11的第二端连接所述测试线30;
第二可变电阻单元12,所述第二可变电阻单元12的第一端连接所述测试线30,所述第二可变电阻单元12的第二端接地;
控制单元13,所述控制单元13分别连接所述第一可变电阻单元11的控制端和所述第二可变电阻单元12的控制端,所述控制单元13用于调整所述第一可变电阻单元11的阻值和所述第二可变电阻单元12的阻值,以使得在所述测试线30和所述传输线20的实际距离下,所述隔离点的电压为零。
其中,射频电路50例如可以包括射频电源以及功率放大器等一种或多种射频器件,传输线20即可以是射频电路50中的导线。具体的,测试线30和传输线20均可以是微带线。
具体实现中,当传输线20中通电流时,在传输线20电流的影响下,测试线30会受到磁场和电场的双重作用。此时测试线30上某一点的电场值为:△E×d,磁场值为:;其中,△E为导线上某一点的电场强度,d为测试线30和传输线20之间的距离,μ为磁导率,ε为介电常数,l为测试线30的长度,/>为传输线20电流。为了便于描述,本申请实施例将测试线的两个端点分别称为第一端点31和第二端点32,在第一端点31处,电场强度和磁场强度大小相等,方向相同;在第二端点32处,电场强度和磁场强度大小相等,方向相反,因此,根据测试线30上点的电场值和磁场值建立等式,则可确定出测试线30和传输线20之间的距离,与磁导率、介电常数、测试线30长度以及传输线20所在射频电路50的电阻的第一关系,即:/>。
其中,R为主电路电阻,即传输线20所在射频电路50的电阻。由于磁场强度在测试线30的两端呈现一正一负的情况,因此测试线30上会存在磁场强度为零的点,该点则是隔离点(即测试线30的物理隔离点),此时隔离点检测出来的电压就为零,在此基础上,检测该测试线30中测试点与隔离点之间的电压,则可得到测试线30的电压,根据测试线30的电压则可计算出射频电路50的功率。因此,想要确定功率,则需要确定出测试线30上电压为零的隔离点,当测试线30和传输线20之间的距离满足预先确定的距离条件(即距离为设计距离)时,设计出的测试线30上的隔离点则电压为零,即预先设计的隔离点能够用于准确进行功率检测。然而在实际生产时,测试线30和传输线20之间的实际距离可能达不到预设的设计距离的精度,使得实际距离无法满足设计距离的条件,此时,由于实际距离和设计距离的差异,原本根据设计距离设置的隔离点的电压也无法维持在0,因此,需要对电路进行调试,从而使得预先确定的隔离点的电压为零。
其中,为了测试的方便,在进行测试线30上隔离点和检测点的测试时,可直接将第一端点31设置为隔离点,并将第二端点32设置为检测点,并根据隔离点与检测点之间的距离即测试线30的长度以及主电路电阻等,基于前述第一关系,则可确定与该隔离点位置对应的测试线30和传输线20的设计距离,在该设计距离下第一端点31的电压即为零,此时,直接测试检测点即第二端点32的电压,则可得到隔离点与检测点之间的电压,也即测试线30的电压。或者,实际应用中也可以根据需要将隔离点和检测点设置在测试线30的其他位置,例如将第二端点32设置为隔离点,将第一端点31设置为测试点等,此处不做具体限制。
其中,在传输线20和测试线30之间设置第一可变电阻单元11,在测试线30和地之间设置第二可变电阻单元12后,由于第二端点32处的电压,且/>=IR,其中,R1为第一可变电阻单元11的阻值,R2为第二可变电阻单元12的阻值;因此,R=。
基于前述测试线30和传输线20之间的距离,与磁导率、介电常数、测试线30长度以及传输线20所在射频电路50的电阻的第一关系:。
则可进一步确定测试线30和传输线20之间的距离,与磁导率、介电常数、测试线30长度、第一可变电阻单元11的阻值以及第二可变电阻单元12的阻值的第二关系:。
进而,控制单元13调整第一可变电阻单元11的阻值和第二可变电阻单元12的阻值,即调整R1和R2,使得R1和R2与测试线30和传输线20的实际距离d1代入第二关系中作为d的值时,该第二关系的等式成立,则可使得预先设置的隔离点电压为零。
可以看出,本申请实施例中,调试电路10包括:与射频电路50的传输线20相互耦合且设置有隔离点和检测点的测试线30,该隔离点的位置是根据预设的测试线30和传输线20的设计距离确定的,检测点连接用于检测隔离点和检测点之间的电压以对射频电路50进行功率检测的功率检测子电路40;第一端连接传输线20且第二端连接测试线30的第一可变电阻单元11;第一端连接测试线30以及第二端接地的第二可变电阻单元12;分别连接第一可变电阻单元11的控制端和第二可变电阻单元12的控制端的控制单元13,且该控制单元13用于调整第一可变电阻单元11的阻值和第二可变电阻单元12的阻值,以使得在测试线30和传输线20的实际距离下,隔离点的电压为零。可见,调试电路10通过控制单元13对设置在测试线30和传输线20之间的第一可变电阻单元11的阻值,以及设置在传输线20和地之间的第二可变电阻单元12的阻值进行调整,从而将隔离点的电压调整为零,有利于保证功率检测子电路40基于检测点进行电压检测的准确度,进而提高功率检测的准确度。
在一种可能的实施方式中,参见图2,所述第一可变电阻单元11包括:多个第一电阻111和多个第一开关112;所述多个第一电阻111串联后分别连接所述传输线20和所述测试线30,所述多个第一开关112分别与所述多个第一电阻111并联,所述控制单元13分别连接所述多个第一开关112的控制端,在所述调整所述第一可变电阻单元11的阻值方面,所述控制单元13具体用于控制所述多个第一开关112的导通状态以调整所述第一可变电阻单元11的阻值。
具体实现中,如图2所示,第二可变电阻单元12可以与第一可变电阻单元11的结构类似,同样包括多个串联的电阻(为了便于描述,本申请实施例中将第二可变电阻单元12中设置的电阻称为第二电阻121),且采用并联开关(为了便于描述,本申请实施例中将第二可变电阻单元12中设置的开关称为第二开关122)的方式来调整第二可变电阻单元12的阻值。
其中,控制单元13控制第一开关112断开,则可使得与该第一开关112并联的第一电阻111接入电路中,控制第一开关112闭合,则可断开该第一开关112并联的第一电阻111与电路的连接。实际第一可变电阻单元11的阻值则为每个闭合的第一开关112所并联的第一电阻111的阻值之和。
具体实现中,一个第一可变电阻单元11中包括的多个第一电阻111的阻值可以相同也可以不同,本可能的实施方式中,多个第一电阻111可以包括多个阻值不同的电阻,通过差异化设置第一电阻111的阻值,控制单元13可根据实际需要更好的选择第一电阻111来调整第一可变电阻单元11的阻值。
特别的,为了提高调整的精度,还可设置第一可变电阻单元11内多个第一电阻111的阻值之间存在量级差异,例如,设置多个阻值在0.1-1单位范围内的第一电阻111,以及设置多个阻值在1-10单位范围内的第一电阻111等,在进行阻值调整时,则可控制多个阻值为不同量级的第一电阻串联,从而使得第一可变电阻单元11的阻值调整更加精细。
此外,第一可变电阻单元11内多个第一电阻111的阻值可以和第二可变电阻单元12内多个第二电阻121的阻值相同,也可以不同,也就是说,第一可变电阻单元11的阻值可调范围和第二可变电阻单元12的阻值可调范围可以相同也可以不同,可以根据需要进行设置,例如基于第二关系,为了在较小的阻值调整范围内进行更大范围的调整,可以设置R1的调整范围更大,而R2的调整范围更小等。
另外,需要说明的是,图2中各电阻和开关的数量仅为示例说明,实际应用中电阻和开关的数量可以更多或更少,此处不做具体限制,例如第一电阻111和第一开关112的数量可以为4。
可见,本可能的实施方式中,第一可变电阻单元11包括多个第一电阻111和多个第一开关112;多个第一电阻111串联后分别连接传输线20和测试线30,多个第一开关112分别与多个第一电阻111并联,控制单元13分别连接多个第一开关112的控制端,在调整第一可变电阻单元11的阻值方面,控制单元13具体用于控制多个第一开关112的导通状态以调整第一可变电阻单元11的阻值,有利于提高第一可变电阻单元11阻值调整的灵活性。
在一种可能的实施方式中,参见图3,所述第一可变电阻单元11包括:多个第一电阻111和第一选通开关113;所述第一选通开关113的第一端分别连接所述多个第一电阻111的第一端;所述第一选通开关113的第二端连接所述传输线20,所述多个第一电阻111的第二端分别连接所述测试线30,或者,所述第一选通开关113的第二端连接所述测试线30,所述多个第一电阻111的第二端分别连接所述传输线20;所述第一选通开关113用于选择导通所述多个第一电阻111与所述传输线20和所述测试线30之间的连接通路,在所述调整所述第一可变电阻单元11的阻值方面,所述控制单元13具体用于控制所述第一选通开关113的导通状态以调整所述第一可变电阻单元11的阻值。
具体实现中,如图3所示,第二可变电阻单元12也可以与第一可变电阻单元11的结构类似,同样包括多个第二电阻121,且多个第二电阻121通过第二选通开关123进行连接。当然,第一可变电阻单元11和第二可变电阻单元12的结构也可以不同,可根据实际需要进行设置,此处不做具体限制,例如将阻值调整需要范围更小的可变电阻单元(例如第二可变电阻单元12)的结构设置为图3所示的结构,而将阻值调整需求范围更大的可变电阻单元(例如第一可变电阻单元11)的结构设置为图2所述的结构。
具体的,如图3所示,本可能的实施方式中,第一选通开关113为单刀多掷开关。
本可能的实施方式中,多个第一电阻111可以包括多个阻值不同的电阻,通过差异化设置第一电阻111的阻值,控制单元13可根据实际需要更好的选择第一电阻111来调整第一可变电阻单元11的阻值。特别的,为了更好的适应可能的阻值调整需求,还可以设置多个第一电阻111的阻值之间存在量级差异,进一步提高阻值调整的范围和精确度。
此外,在实际应用中,也可不使用第一选通开关113,而是直接设置多个阻值不同的第一电阻111,且该多个第一电阻111分别串联多个第三开关后再分别与传输线20和测试线30连接,此时,单个第三开关仅控制单个第一电阻111与传输线20和测试线30的连接,多个第一电阻111之间互不影响,即使单个第三开关故障,控制单元13仍然可以通过控制其他第三开关的通断对第一可变电阻单元11的阻值进行调整,有利于提高对第一可变电阻单元11的阻值进行调整的可靠性。
另外,需要说明的是,图3中电阻的数量仅为示例说明,实际应用中电阻的数量可以更多或更少,此处不做具体限制,例如电阻和开关的数量可以为5。
可见,本可能的实施方式中,第一可变电阻单元11包括:多个第一电阻111和第一选通开关113;第一选通开关113的第一端分别连接多个第一电阻111的第一端;第一选通开关113的第二端连接传输线20,多个第一电阻111的第二端分别连接测试线30,或者,第一选通开关113的第二端连接测试线30,多个第一电阻111的第二端分别连接传输线20;第一选通开关113用于选择导通多个第一电阻111与传输线20和测试线30之间的连接通路,在调整第一可变电阻单元11的阻值方面,控制单元13具体用于控制第一选通开关113的导通状态以调整第一可变电阻单元11的阻值,可通过较小的电路面积提高可变电阻的阻值调整灵活性。
在一种可能的实施方式中,所述第一可变电阻单元11为可变电阻。
可见,本可能的实施方式中,直接采用可变电阻作为第一可变电阻单元11,有利于减少调试电路10中的电路器件,从而减小调试电路10的实现复杂度。
在一种可能的实施方式中,参见图4,所述调试电路10还包括:电压检测单元14;所述电压检测单元14分别连接所述隔离点和所述控制单元13,所述电压检测单元14用于检测所述隔离点的电压,以及用于向所述控制单元13传输检测结果。
在本可能的实施方式中,在所述调整所述第一可变电阻单元11的阻值和所述第二可变电阻单元12的阻值方面,所述控制单元13具体用于:在所述检测结果为所述隔离点的电压不为零时,调整所述第一可变电阻单元11的阻值和所述第二可变电阻单元12的阻值。
其中,控制单元13可以在检测到隔离点电压不为零,即不符合设计要求时,才对第一可变电阻单元和第二可变电阻单元12的阻值进行调整,若隔离点电压为零,则无需对第一可变电阻单元和第二可变电阻单元12的阻值进行调整。
此外,控制单元13还可基于检测到的隔离点的实际电压大于0或者小于0,确定实际距离和设计距离的大小关系,并进一步根据第二关系,确定调整后第一可变电阻单元11的阻值R1与第二可变电阻单元12的阻值R2。
可见,在本可能的实施方式中,调试电路10还包括:电压检测单元14;电压检测单元14分别连接隔离点和控制单元13,电压检测单元14用于检测隔离点的电压,以及用于向控制单元13传输检测结果,基于电压检测单元14可准确的判断隔离点的电压,从而提高对第一可变电阻单元11和第二可变电阻单元12的阻值调整的准确度。
请参见图5,图5是本申请实施例提供的一种调试电路10的控制方法的流程示意图,该调试电路10的控制方法可应用于如图1、图2、图3和图4中所示的任一调试电路10,且其具体可以由调试电路10中的控制单元13执行,所述调试电路10包括:测试线30,所述测试线30与射频电路50的传输线20相互耦合,所述测试线30设置有隔离点和检测点,所述隔离点的位置是根据预设的所述测试线30和所述传输线20的设计距离确定的,所述检测点用于连接功率检测子电路40,所述功率检测子电路40用于检测所述隔离点和所述检测点之间的电压,以对所述射频电路50进行功率检测;第一可变电阻单元11,所述第一可变电阻单元11的第一端连接所述传输线20,所述第一可变电阻单元11的第二端连接所述测试线30;第二可变电阻单元12,所述第二可变电阻单元12的第一端连接所述测试线30,所述第二可变电阻单元12的第二端接地;控制单元13,所述控制单元13分别连接所述第一可变电阻单元11的控制端和所述第二可变电阻单元12的控制端,所述方法包括如下步骤:
步骤101,调整第一可变电阻单元和第二可变电阻单元的阻值,以使得在测试线和传输线的实际距离下,隔离点的电压为零。
其中,上述实施例中关于调试电路10的描述均可援引到该调试电路10的控制方法中对应的步骤,例如,具体实现中,步骤101具体可以是在电压检测单元14的检测结果为隔离点的电压不为零时,才调整第一可变电阻单元11的阻值和第二可变电阻单元12的阻值,此处不再赘述。
可见,本申请实施例中,调试电路10的控制可以调整设置在测试线30和传输线20之间的第一可变电阻单元11的阻值,以及设置在测试线30和地之间的第二可变电阻单元12的阻值,从而使得在测试线30和传输线20的实际距离下,隔离点的电压为零,有利于提高功率测试的准确度。
此外,参见图6,本申请实施还提供一种射频功率检测电路1,具体可包括本申请实施例中所描述的任一个调试电路10以及功率检测子电路40。
可见,本申请实施例中,射频功率检测电路1包括调试电路10,该调试电路10包括:与射频电路50的传输线20相互耦合且设置有隔离点和检测点的测试线30,该隔离点的位置是根据预设的测试线30和传输线20的设计距离确定的,检测点连接用于检测隔离点和检测点之间的电压以对射频电路50进行功率检测的功率检测子电路40;第一端连接传输线20且第二端连接测试线30的第一可变电阻单元11;第一端连接测试线30以及第二端接地的第二可变电阻单元12;分别连接第一可变电阻单元11的控制端和第二可变电阻单元12的控制端的控制单元13,且该控制单元13用于调整第一可变电阻单元11的阻值和第二可变电阻单元12的阻值,以使得在测试线30和传输线20的实际距离下,隔离点的电压为零。可见,射频功率检测电路1中,调试电路10通过控制单元13对设置在测试线30和传输线20之间的第一可变电阻单元11的阻值,以及设置在传输线20和地之间的第二可变电阻单元12的阻值进行调整,从而将隔离点的电压调整为零,有利于提高射频功率检测电路进行功率检测的准确度。
请参见图7,图7是本申请实施例提供的第一种调试电路的控制装置的组成结构示意图;该调试电路的控制装置60可应用于如图1、图2、图3和图4所示的任一调试电路的控制电路,所述调试电路包括:测试线,所述测试线与射频电路的传输线相互耦合,所述测试线设置有隔离点和检测点,所述隔离点的位置是根据预设的所述测试线和所述传输线的设计距离确定的,所述检测点用于连接功率检测子电路,所述功率检测子电路用于检测所述隔离点和所述检测点之间的电压,以对所述射频电路进行功率检测;第一可变电阻单元,所述第一可变电阻单元的第一端连接所述传输线,所述第一可变电阻单元的第二端连接所述测试线;第二可变电阻单元,所述第二可变电阻单元的第一端连接所述测试线,所述第二可变电阻单元的第二端接地;控制单元,所述控制单元分别连接所述第一可变电阻单元的控制端和所述第二可变电阻单元的控制端,所述调试电路的控制装置包括:
调整模块601,用于调整所述第一可变电阻单元和所述第二可变电阻单元的阻值,以使得在所述测试线和所述传输线的实际距离下,所述隔离点的电压为零。
同样的,上述实施例中关于调试电路的描述均可援引到该调试电路的控制装置中对应功能模块的功能描述,例如,具体实现中,调整模块601具体可用于:在电压检测单元的检测结果为隔离点的电压不为零时,才调整第一可变电阻单元的阻值和第二可变电阻单元的阻值,此处不再赘述。
在采用集成的单元的情况下,本申请实施例提供的第二种调试电路的控制装置的组成结构示意图,如图8所示。在图8中,调试电路的控制装置包括:处理模块710和通信模块711。处理模块710用于对调试电路的控制装置的动作进行控制管理,例如,调整模块601执行的步骤,和/或用于执行本申请所描述的技术的其它过程。通信模块711用于支持调试电路的控制装置与其他设备之间的交互。如图8所示,调试电路的控制装置还可以包括存储模块712,存储模块712用于存储调试电路的控制装置的程序代码和数据。
其中,处理模块710可以是处理器或控制器,例如可以是中央处理器(CentralProcessing Unit,CPU),通用处理器,数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP),ASIC,FPGA或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。其可以实现或执行结合本申请公开内容所描述的各种示例性的逻辑方框,模块和电路。所述处理器也可以是实现计算功能的组合,例如包含一个或多个微处理器组合,DSP和微处理器的组合等等。通信模块711可以是收发器、RF电路或通信接口等。存储模块712可以是存储器。
本申请实施例还提供一种计算机存储介质,其中,该计算机存储介质存储用于电子数据交换的计算机程序,该计算机程序使得计算机执行如上述方法实施例中记载的任一方法的部分或全部步骤,上述计算机包括调试电路的控制单元。
本申请实施例还提供一种计算机程序产品,上述计算机程序产品包括计算机程序,上述计算机程序可操作来使计算机执行如上述方法实施例中记载的任一方法的部分或全部步骤。
该计算机程序产品可以为一个软件安装包,上述计算机包括调试电路的控制单元。
应理解,在本申请的各种实施例中,上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的方法、装置和系统,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的;例如,所述模块的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式;例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或模块的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的,作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中,也可以是各个模块单独物理包括,也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能模块的形式实现。
上述以软件功能模块的形式实现的集成的模块,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能模块存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory,简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后需要强调的是,本申请实施例不限于上述实施方式,以上仅为本申请实施例的较佳实施例而已,并不用以限制本申请实施例,凡在本申请实施例的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请实施例的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种调试电路,其特征在于,所述调试电路包括:
测试线,所述测试线与射频电路的传输线相互耦合,所述测试线设置有隔离点和检测点,所述隔离点的位置是根据预设的所述测试线和所述传输线的设计距离确定的,所述检测点用于连接功率检测子电路,所述功率检测子电路用于检测所述隔离点和所述检测点之间的电压,以对所述射频电路进行功率检测;
第一可变电阻单元,所述第一可变电阻单元的第一端连接所述传输线,所述第一可变电阻单元的第二端连接所述测试线;
第二可变电阻单元,所述第二可变电阻单元的第一端连接所述测试线,所述第二可变电阻单元的第二端接地;
控制单元,所述控制单元分别连接所述第一可变电阻单元的控制端和所述第二可变电阻单元的控制端,所述控制单元用于调整所述第一可变电阻单元的阻值和所述第二可变电阻单元的阻值,以使得在所述测试线和所述传输线的实际距离下,所述隔离点的电压为零;
其中,所述第一可变电阻单元包括:多个第一电阻和多个第一开关;所述多个第一电阻串联后分别连接所述传输线和所述测试线,所述多个第一开关分别与所述多个第一电阻并联,所述控制单元分别连接所述多个第一开关的控制端,在所述调整所述第一可变电阻单元的阻值方面,所述控制单元具体用于控制所述多个第一开关的导通状态以调整所述第一可变电阻单元的阻值,所述多个第一电阻包括多个阻值不同的电阻;
所述第二可变电阻单元包括:多个第二电阻和多个第二开关;所述多个第二电阻串联后分别连接所述测试线和接地,所述多个第二开关分别与所述多个第二电阻并联,所述控制单元分别连接所述多个第二开关的控制端,在调整所述第二可变电阻单元的阻值方面,所述控制单元具体用于控制所述多个第二开关的导通状态以调整所述第二可变电阻单元的阻值,所述多个第二电阻包括多个阻值不同的电阻;
其中,所述第一可变电阻单元调整后的阻值和所述第二可变电阻单元调整后的阻值是所述控制单元根据所述实际距离和所述设计距离的大小关系以及预设的第二关系确定的,所述预设的第二关系为所述传输线和所述测试线之间的所述实际距离与所述第一可变电阻单元的阻值和所述第二可变电阻单元的阻值之间的关系,所述实际距离和所述设计距离的大小关系是所述控制单元基于检测到的所述隔离点的实际电压确定的。
2.根据权利要求1所述的调试电路,其特征在于,所述调试电路还包括:电压检测单元;
所述电压检测单元分别连接所述隔离点和所述控制单元,所述电压检测单元用于检测所述隔离点的电压,以及用于向所述控制单元传输检测结果。
3.根据权利要求2所述的调试电路,其特征在于,在所述调整所述第一可变电阻单元的阻值和所述第二可变电阻单元的阻值方面,所述控制单元具体用于:在所述检测结果为所述隔离点的电压不为零时,调整所述第一可变电阻单元的阻值和所述第二可变电阻单元的阻值。
4.一种调试电路的控制方法,应用于所述调试电路的控制单元,所述调试电路包括:测试线,所述测试线与射频电路的传输线相互耦合,所述测试线设置有隔离点和检测点,所述隔离点的位置是根据预设的所述测试线和所述传输线的设计距离确定的,所述检测点用于连接功率检测子电路,所述功率检测子电路用于检测所述隔离点和所述检测点之间的电压,以对所述射频电路进行功率检测;第一可变电阻单元,所述第一可变电阻单元的第一端连接所述传输线,所述第一可变电阻单元的第二端连接所述测试线;第二可变电阻单元,所述第二可变电阻单元的第一端连接所述测试线,所述第二可变电阻单元的第二端接地;控制单元,所述控制单元分别连接所述第一可变电阻单元的控制端和所述第二可变电阻单元的控制端,其中,所述第一可变电阻单元包括:多个第一电阻和多个第一开关;所述多个第一电阻串联后分别连接所述传输线和所述测试线,所述多个第一开关分别与所述多个第一电阻并联,所述控制单元分别连接所述多个第一开关的控制端,所述多个第一电阻包括多个阻值不同的电阻;所述第二可变电阻单元包括:多个第二电阻和多个第二开关;所述多个第二电阻串联后分别连接所述测试线和接地,所述多个第二开关分别与所述多个第二电阻并联,所述控制单元分别连接所述多个第二开关的控制端,所述多个第二电阻包括多个阻值不同的电阻;其特征在于,所述方法包括:
调整所述第一可变电阻单元和所述第二可变电阻单元的阻值,以使得在所述测试线和所述传输线的实际距离下,所述隔离点的电压为零;其中,调整所述第一可变电阻单元和所述第二可变电阻单元的阻值,包括:控制所述多个第一开关的导通状态以调整所述第一可变电阻单元的阻值,控制所述多个第二开关的导通状态以调整所述第二可变电阻单元的阻值,其中,所述第一可变电阻单元调整后的阻值和所述第二可变电阻单元调整后的阻值是所述控制单元根据所述实际距离和所述设计距离的大小关系以及预设的第二关系确定的,所述预设的第二关系为所述传输线和所述测试线之间的所述实际距离与所述第一可变电阻单元的阻值和所述第二可变电阻单元的阻值之间的关系,所述实际距离和所述设计距离的大小关系是所述控制单元基于检测到的所述隔离点的实际电压确定的。
5.一种射频功率检测电路,其特征在于,包括如权利要求1-3任一项所述的调试电路和功率检测子电路。
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