CN117454821A - 一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统 - Google Patents

一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统 Download PDF

Info

Publication number
CN117454821A
CN117454821A CN202311523746.6A CN202311523746A CN117454821A CN 117454821 A CN117454821 A CN 117454821A CN 202311523746 A CN202311523746 A CN 202311523746A CN 117454821 A CN117454821 A CN 117454821A
Authority
CN
China
Prior art keywords
ceramic capacitor
surface temperature
temperature rise
frequency
different frequencies
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202311523746.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN117454821B (zh
Inventor
李向杰
刘冬宁
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guangdong University of Technology
Original Assignee
Guangdong University of Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guangdong University of Technology filed Critical Guangdong University of Technology
Priority to CN202311523746.6A priority Critical patent/CN117454821B/zh
Publication of CN117454821A publication Critical patent/CN117454821A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN117454821B publication Critical patent/CN117454821B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30—Circuit design
    • G06F30/36—Circuit design at the analogue level
    • G06F30/367—Design verification, e.g. using simulation, simulation program with integrated circuit emphasis [SPICE], direct methods or relaxation methods
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2119/00—Details relating to the type or aim of the analysis or the optimisation
    • G06F2119/08—Thermal analysis or thermal optimisation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

本发明公开了一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统，该方法包括：确定陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度；计算得到陶瓷电容器在不同频率下的表面温升；构建陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型；检测待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升；当待测陶瓷电容器表面温度发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器施加的频率。本发明解决了陶瓷电容器在使用过程中受到杂波的频率过高时，会导致陶瓷电容器内部产生较大的内生热，严重时热量会导致陶瓷电容器温度很高，烧毁陶瓷电容器的问题。

Description

一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统
技术领域
本发明涉及陶瓷电容器技术领域，具体是一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统。
背景技术
陶瓷电容器是电子电路中应用非常常见的电子元件之一，由于陶瓷电容器在不同频率时表现出来的特性不同，因此其产生的内生热以及对环境温度所形成的影响也不同，且陶瓷电容器对用电频率比较敏感，陶瓷电容器在使用过程中可能会受到杂波的影响，如果杂波的频率过高时，将会导致陶瓷电容器内部产生较大的内生热，严重时热量会导致陶瓷电容器温度很高，烧毁陶瓷电容器，甚至导致电器起火，造成火灾。
发明内容
针对上述缺陷，本发明提出了一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统，目的在于解决陶瓷电容器在使用过程中受到杂波的频率过高时，会导致陶瓷电容器内部产生较大的内生热，严重时热量会导致陶瓷电容器温度很高，烧毁陶瓷电容器的问题。
为达此目的，本发明采用以下技术方案：
一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法，包括以下步骤：
步骤S1：确定陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度；
步骤S2：根据陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度，计算得到陶瓷电容器在不同频率下的表面温升；
步骤S3：基于陶瓷电容器在不同频率下的表面温升，构建陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，其中，陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型表达式如下：
其中，Ti表示在第i个频率点时陶瓷电容器的表面温升值；Fi表示第i个频率点时陶瓷电容器的频率值；K表示陶瓷电容器的比值系数；n表示频率点的总个数；
步骤S4：检测待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升；
步骤S5：当待测陶瓷电容器表面温度发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器施加的频率。
优选地，在步骤S2中，陶瓷电容器在不同频率下的表面温升具体的计算公式为：陶瓷电容器在不同频率下的表面温升＝陶瓷电容器在不同频率下的表面温度-陶瓷电容器在不同频率下的环境温度。
优选地，在步骤S5中，还包括以下步骤：
当待测陶瓷电容器用电频率发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器表面温升。
本申请的另一方面提供了一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算系统，所述系统包括：
确定模块，用于确定陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度；
第一计算模块，用于根据陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度，计算得到陶瓷电容器在不同频率下的表面温升；
构建模块，用于基于陶瓷电容器在不同频率下的表面温升，构建陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，其中，陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型表达式如下：
其中，Ti表示在第i个频率点时陶瓷电容器的表面温升值；Fi表示第i个频率点时陶瓷电容器的频率值；K表示陶瓷电容器的比值系数；n表示频率点的总个数；
检测模块，用于检测待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升；
第二计算模块，用于当待测陶瓷电容器表面温度发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器施加的频率。
优选地，在第一计算模块中，陶瓷电容器在不同频率下的表面温升具体的计算公式为：陶瓷电容器在不同频率下的表面温升＝陶瓷电容器在不同频率下的表面温度-陶瓷电容器在不同频率下的环境温度。
优选地，还包括第三计算模块，所述第三计算模块用于当待测陶瓷电容器用电频率发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器表面温升。
本申请实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
本方案中通过构建陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，并根据检测的待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升，能够计算出施加在待测陶瓷电容器上杂波的频率，便于电子工程师在电子电路设计时更好地控制施加在待测陶瓷电容器上杂波的频率的范围，从而保证待测陶瓷电容器的温升保持在正常范围内，防止陶瓷电容器内部的热量过高，导致陶瓷电容器的烧毁。
附图说明
图1是一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法的步骤流程图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施方式，实施方式的示例在附图中示出，其中，相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法，包括以下步骤：
步骤S1：确定陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度；
步骤S2：根据陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度，计算得到陶瓷电容器在不同频率下的表面温升；
步骤S3：基于陶瓷电容器在不同频率下的表面温升，构建陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，其中，陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型表达式如下：
其中，Ti表示在第i个频率点时陶瓷电容器的表面温升值；Fi表示第i个频率点时陶瓷电容器的频率值；K表示陶瓷电容器的比值系数；n表示频率点的总个数；
步骤S4：检测待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升；
步骤S5：当待测陶瓷电容器表面温度发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器施加的频率。
本方案的一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法，如图1所示，第一步是确定陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度，本实施例中，通过选择能调节电频率的陶瓷电容器测试仪和带热电偶的温度计，使用该陶瓷电容器测试仪调节大量不同的电频率，并且使用带热电偶的温度计测量不同的电频率下该陶瓷电容器周围的环境温度和表面的温度，有利于后续计算不同的电频率下该陶瓷电容器的表面温升。第二步是根据陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度，计算得到陶瓷电容器在不同频率下的表面温升，具体的，通过计算陶瓷电容器在不同频率下的表面温升，有利于后续结合对应的电频率，总结出陶瓷电容器表面温升与电频率之间的联系。第三步是基于陶瓷电容器在不同频率下的表面温升，构建陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，其中，陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型表达式如下： 其中，Ti表示在第i个频率点时陶瓷电容器的表面温升值；Fi表示第i个频率点时陶瓷电容器的频率值；K表示陶瓷电容器的比值系数；n表示频率点的总个数，具体地，陶瓷电容器的比值系数K的取值根据陶瓷电容器规格的不同而不同。通过陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型的构建，便于电子工程师在设计电子电路时快速地计算出合适电子电路设计的陶瓷电容器表面温升或频率，选用正确的陶瓷电容器及准确使用用电频率作为参考。第四步是检测待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升，本实施例中，额定频率可以看作常用频率，在常用频率下，待测陶瓷电容器内部产生的热量是正常的，因此，通过检测待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升，有利于后续计算待测陶瓷电容器施加的频率。第五步是当待测陶瓷电容器表面温度发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器施加的频率，一种实施例中，假设一待测陶瓷电容器的规格为Y5R-1000pF-1KV，取K为1，其额定频率为30KHz，取Fii1为30KHz，在额定频率下该待测陶瓷电容器的温升不高于15℃，取Ti-1为15℃，在待测陶瓷电容器使用过程中，可能受到杂波的影响，电子工程师在设计电子电路时希望待测陶瓷电容器的温升能够控制在30℃，取Ti为30℃，因此，在已知K为1、Fi-1为30KHz、Ti-1为15℃以及Ti为30℃的情况下，代入陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型表达式，求出施加在待测陶瓷电容器上杂波的频率Fi为60KHz。电子工程师通过控制施加在待测陶瓷电容器上杂波的频率不超过60KHz，能够保证待测陶瓷电容器的温升保持在30℃及其以下，防止陶瓷电容器内部的热量过高，导致陶瓷电容器的烧毁。进一步说明，当待测陶瓷电容器的温升超过30℃，则证明施加在待测陶瓷电容器上杂波的频率超过了60KHz，这样方便电子工程师寻找杂波的频率超过60KHz的原因。
本方案中通过构建陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，并根据检测的待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升，能够计算出施加在待测陶瓷电容器上杂波的频率，便于电子工程师在电子电路设计时更好地控制施加在待测陶瓷电容器上杂波的频率的范围，从而保证待测陶瓷电容器的温升保持在正常范围内，防止陶瓷电容器内部的热量过高，导致陶瓷电容器的烧毁。
优选的，在步骤S2中，陶瓷电容器在不同频率下的表面温升具体的计算公式为：陶瓷电容器在不同频率下的表面温升＝陶瓷电容器在不同频率下的表面温度-陶瓷电容器在不同频率下的环境温度。
本实施例中，在计算陶瓷电容器在不同频率下的表面温升的过程中，需要考虑陶瓷电容器在不同频率下测试周围环境温度和实时表面温度的因素。
优选的，在步骤S5中，还包括以下步骤：当待测陶瓷电容器用电频率发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器表面温升。
本实施例中，除了通过陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型计算陶瓷电容器施加的频率外，当待测陶瓷电容器用电频率发生变化时，还可以计算待测陶瓷电容器表面温升，通过计算当前待测陶瓷电容器表面温升，让电子工程师在电子电路设计时更好地控制待测陶瓷电容器表面温升在正常范围内，防止陶瓷电容器内部的热量过高，导致陶瓷电容器的烧毁。
本申请的另一方面提供了一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算系统，所述系统包括：
确定模块，用于确定陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度；
第一计算模块，用于根据陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度，计算得到陶瓷电容器在不同频率下的表面温升；
构建模块，用于基于陶瓷电容器在不同频率下的表面温升，构建陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，其中，陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型表达式如下：
其中，Ti表示在第i个频率点时陶瓷电容器的表面温升值；Fi表示第i个频率点时陶瓷电容器的频率值；K表示陶瓷电容器的比值系数；n表示频率点的总个数；
检测模块，用于检测待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升；
第二计算模块，用于当待测陶瓷电容器表面温度发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器施加的频率。
本方案的一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算系统，通过确定模块、第一计算模块、构建模块、检测模块和第二计算模块的相互配合，能够计算出施加在待测陶瓷电容器上杂波的频率，便于电子工程师在电子电路设计时更好地控制施加在待测陶瓷电容器上杂波的频率的范围，从而保证待测陶瓷电容器的温升保持在正常范围内，防止陶瓷电容器内部的热量过高，导致陶瓷电容器的烧毁。
优选的，在第一计算模块中，陶瓷电容器在不同频率下的表面温升具体的计算公式为：陶瓷电容器在不同频率下的表面温升＝陶瓷电容器在不同频率下的表面温度-陶瓷电容器在不同频率下的环境温度。本实施例中，在计算陶瓷电容器在不同频率下的表面温升的过程中，需要考虑陶瓷电容器在不同频率下测试周围环境温度和实时表面温度的因素。
优选的，还包括第三计算模块，所述第三计算模块用于当待测陶瓷电容器用电频率发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器表面温升。
本实施例中，通过设置第三计算模块，能够计算出当前待测陶瓷电容器表面温升，让电子工程师在电子电路设计时更好地控制待测陶瓷电容器表面温升在正常范围内，防止陶瓷电容器内部的热量过高，导致陶瓷电容器的烧毁。
此外，在本发明的各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施方式，可以理解的是，上述实施方式是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (6)

1.一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法，其特征在于：包括以下步骤：
步骤S1：确定陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度；
步骤S2：根据陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度，计算得到陶瓷电容器在不同频率下的表面温升；
步骤S3：基于陶瓷电容器在不同频率下的表面温升，构建陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，其中，陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型表达式如下：
其中，Ti表示在第i个频率点时陶瓷电容器的表面温升值；Fi表示第i个频率点时陶瓷电容器的频率值；K表示陶瓷电容器的比值系数；n表示频率点的总个数；
步骤S4：检测待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升；
步骤S5：当待测陶瓷电容器表面温度发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器施加的频率。
2.根据权利要求1所述的一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法，其特征在于：在步骤S2中，陶瓷电容器在不同频率下的表面温升具体的计算公式为：陶瓷电容器在不同频率下的表面温升＝陶瓷电容器在不同频率下的表面温度-陶瓷电容器在不同频率下的环境温度。
3.根据权利要求1所述的一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法，其特征在于：在步骤S5中，还包括以下步骤：
当待测陶瓷电容器用电频率发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器表面温升。
4.一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算系统，其特征在于：使用如权利要求1-3任意一项所述基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法，所述系统包括：
确定模块，用于确定陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度；
第一计算模块，用于根据陶瓷电容器在不同频率下的环境温度和表面温度，计算得到陶瓷电容器在不同频率下的表面温升；
构建模块，用于基于陶瓷电容器在不同频率下的表面温升，构建陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，其中，陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型表达式如下：
其中，Ti表示在第i个频率点时陶瓷电容器的表面温升值；Fi表示第i个频率点时陶瓷电容器的频率值；K表示陶瓷电容器的比值系数；n表示频率点的总个数；
检测模块，用于检测待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升；
第二计算模块，用于当待测陶瓷电容器表面温度发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器施加的频率。
5.根据权利要求4所述的一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算系统，其特征在于：在第一计算模块中，陶瓷电容器在不同频率下的表面温升具体的计算公式为：陶瓷电容器在不同频率下的表面温升＝陶瓷电容器在不同频率下的表面温度-陶瓷电容器在不同频率下的环境温度。
6.根据权利要求4所述的一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算系统，其特征在于：还包括第三计算模块，所述第三计算模块用于当待测陶瓷电容器用电频率发生变化时，则根据待测陶瓷电容器在额定频率下的表面温升以及陶瓷电容器表面温升与频率的关联数学模型，计算得到待测陶瓷电容器表面温升。
CN202311523746.6A 2023-11-15 2023-11-15 一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统 Active CN117454821B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311523746.6A CN117454821B (zh) 2023-11-15 2023-11-15 一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311523746.6A CN117454821B (zh) 2023-11-15 2023-11-15 一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN117454821A true CN117454821A (zh) 2024-01-26
CN117454821B CN117454821B (zh) 2024-04-02

Family

ID=89592843

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202311523746.6A Active CN117454821B (zh) 2023-11-15 2023-11-15 一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN117454821B (zh)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4661790A (en) * 1983-12-19 1987-04-28 Motorola, Inc. Radio frequency filter having a temperature compensated ceramic resonator
US20040060925A1 (en) * 2000-11-24 2004-04-01 Yanling Zhou Ceramic heater and manufacturing method of ceramic heater
JP2005223253A (ja) * 2004-02-09 2005-08-18 Murata Mfg Co Ltd 積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法
WO2019080275A1 (zh) * 2017-10-27 2019-05-02 顺德职业技术学院 变频喷气增焓热泵热水器频率动态优化及控制方法
CN111751636A (zh) * 2019-03-29 2020-10-09 南京南瑞继保电气有限公司 一种高压换流阀阻尼电容器的等效温升试验方法
CN112903427A (zh) * 2021-01-22 2021-06-04 武汉红视热像科技有限公司 一种对材料表面温升动态控制的力学试验系统及方法
CN113843121A (zh) * 2020-06-28 2021-12-28 宝山钢铁股份有限公司 外涂线钢管的变频率感应加热装置及方法
CN116295902A (zh) * 2023-02-15 2023-06-23 维沃移动通信有限公司 电子设备的环境温度检测方法及装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4661790A (en) * 1983-12-19 1987-04-28 Motorola, Inc. Radio frequency filter having a temperature compensated ceramic resonator
US20040060925A1 (en) * 2000-11-24 2004-04-01 Yanling Zhou Ceramic heater and manufacturing method of ceramic heater
JP2005223253A (ja) * 2004-02-09 2005-08-18 Murata Mfg Co Ltd 積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法
WO2019080275A1 (zh) * 2017-10-27 2019-05-02 顺德职业技术学院 变频喷气增焓热泵热水器频率动态优化及控制方法
CN111751636A (zh) * 2019-03-29 2020-10-09 南京南瑞继保电气有限公司 一种高压换流阀阻尼电容器的等效温升试验方法
CN113843121A (zh) * 2020-06-28 2021-12-28 宝山钢铁股份有限公司 外涂线钢管的变频率感应加热装置及方法
CN112903427A (zh) * 2021-01-22 2021-06-04 武汉红视热像科技有限公司 一种对材料表面温升动态控制的力学试验系统及方法
CN116295902A (zh) * 2023-02-15 2023-06-23 维沃移动通信有限公司 电子设备的环境温度检测方法及装置

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
王光庆 等: "行波型超声波电机的温度特性", 中国电机工程学报, 25 March 2008 (2008-03-25), pages 98 - 104 *
袁永华 等: "重复频率激光辐照涂层金属材料的温升", 强激光与粒子束, 15 August 1997 (1997-08-15), pages 477 - 480 *
赵正涛 等: "多层陶瓷电容器在脉冲条件下寿命特性的研究", 强激光与粒子束, 15 October 2006 (2006-10-15), pages 1753 - 1756 *
郭超 等: "基于温度反馈的超声波电动机速度控制系统", 微特电机, 28 May 2012 (2012-05-28), pages 62 - 64 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN117454821B (zh) 2024-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107449521B (zh) 温度补偿的方法、终端设备及计算机可读存储介质
US12066335B2 (en) Single calibration temperature based temperature sensing with differential signal generation
CN114924109B (zh) 低功耗芯片电流的测试方法、电路及其装置
CN112904116B (zh) 一种冲击电流作用下避雷器阀片动态特性评估系统及方法
CN108852013A (zh) 用于烹饪器具的绝对湿度检测装置、方法及烹饪器具
CN117454821B (zh) 一种基于陶瓷电容器温升的用电频率计算方法及系统
CN110568801A (zh) 基于数字电位器的低阻值可变电阻器
CN113741576A (zh) 电路板温度检测位置选取、检测方法、装置、设备及介质
CN108469218B (zh) 一种电容测距方法、系统、装置及可读存储介质
TW201508440A (zh) 功率偵測器電路
JP6098418B2 (ja) 信号制御回路、情報処理装置及びデューティ算出方法
CN114509185A (zh) 低温环境声表面波温度传感器测量精度分区系统及方法
CN102620849A (zh) 一种高精度无线测温终端及其测温方法
TW201917972A (zh) 電子裝置及過溫檢測方法
CN113686458A (zh) 一种测温电路、测温设备及测温方法
CN203561476U (zh) 电压力锅及其压力检测装置
KR101452615B1 (ko) 온도 측정 방법
CN112578275A (zh) 一种高海拔环境下的低压断路器热性能检测方法及系统
CN111938420A (zh) 一种湿度控制系统、控制方法及蒸汽烹饪装置
CN205317354U (zh) 一种具有cpu温度探测的自动报警风扇
CN117490887A (zh) 芯片温度检测的矫正方法及装置
CN115808897A (zh) 一种关于多士炉mcu内部rc的温度补偿方法
CN208076442U (zh) 用于烹饪器具的绝对湿度检测装置及烹饪器具
Liu et al. Study on Calibration Method of IC Aging Test Systems under Comprehensive Working Conditions
KR20180120377A (ko) 열전도도를 고려한 체온 측정 장치 및 방법

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant